JP5438417B2 - 装置試験システム - Google Patents
装置試験システム Download PDFInfo
- Publication number
- JP5438417B2 JP5438417B2 JP2009173885A JP2009173885A JP5438417B2 JP 5438417 B2 JP5438417 B2 JP 5438417B2 JP 2009173885 A JP2009173885 A JP 2009173885A JP 2009173885 A JP2009173885 A JP 2009173885A JP 5438417 B2 JP5438417 B2 JP 5438417B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- connection information
- under test
- test
- connection
- unit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims description 141
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 9
- 238000000034 method Methods 0.000 description 24
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 4
- 230000010365 information processing Effects 0.000 description 3
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 3
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 2
- 230000004913 activation Effects 0.000 description 2
- 238000012790 confirmation Methods 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 238000013102 re-test Methods 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Description
本発明の理解を助けるために、まず、本発明がなされるに至った背景を説明する。
装置試験システムは、一般的に試験の対象となる被試験装置が出力する信号を、測定装置により測定し、被試験装置の機能・性能などに関する複数の種類の試験を行う。
試験の対象となる被試験装置の測定に用いられる測定装置は、試験の種類ごとに異なるので、試験実施者は、実施する試験に応じて、必要な測定装置を選択し、選択した測定装置と被試験装置とを適切に接続する必要がある。
しかしながら、多くの種類の試験に用いられ得る測定装置は、数多く存在するので、試験実施者が、すべての測定装置から、試験に応じて適切な測定装置を選択し、被試験装置と接続することは困難なことがある。
また、試験実施者が、試験に用いられる被試験装置および測定装置の故障などの異常に気付かず、そのまま試験を行うと、正確な試験結果が得られないこともある。
以下に説明する装置試験システム1は、このような背景からなされたものであり、試験に用いられる装置の状態および接続態様を表示することにより、効率的に試験を実施することができるよう工夫されている。
以下、本発明の実施形態として、装置試験システム1を説明する。
図1(A)は、本発明に係る装置試験システム1(装置試験システム)の構成を示す図である。
図1(A)に示すように、装置試験システム1は、制御装置12と、n個の測定装置14−1〜14−n(n≧1;ただし、全てのnが常に同数を示すとは限らない)と、試験の対象となる被試験装置18とが、LANなどのネットワーク10に接続され、n個の測定装置14−1〜14−nと、被試験装置18とが、切替装置16を介して接続されて構成される。
以下、試験の対象となり得る複数の被試験装置と、実際に試験の対象となる被試験装置18とを区別せず、「被試験装置18」と記述することがある。
なお、以下、測定装置14−1〜14−nなど、複数ある構成部分のいずれかを示すときは、単に、測定装置14と記載することがある。
以下、各図において、実質的に同じ構成部分・処理には、同じ符号が付される。
装置試験システム1は、これらの構成部分を適切に用いて、被試験装置18に対して様々な試験を行う。
以下、図1(A)に示した制御装置12のハードウェア構成を説明する。
図1(B)は、制御装置12のハードウェア構成を例示する図である。
図1(B)に示すように、制御装置12は、メモリ122およびCPU124などを含む情報処理装置120、キーボードおよび表示装置などを含む外部入出力装置126、データ通信を行うための通信装置128、および、ハードディスクなどの記録媒体132に対してデータの記録を行う記録装置130などから構成される。
つまり、制御装置12は、情報処理、装置試験システム1の各構成部分の制御、および、データ通信が可能なコンピュータとしての構成部分を有している。
以下、装置試験システム1の制御装置12(図1(A),(B))上で実行される制御装置プログラム22を説明する。
図2は、装置試験システム1の制御装置12上で実行される制御装置プログラム22を示す図である。
図2に示すように、制御装置プログラム22は、ユーザインタフェース(UI)部220、装置情報データベース(DB)222、装置状態判定部224、装置状態DB226、接続情報DB228、接続情報更新部230、接続情報画面表示部232、接続情報取得部234、および、装置状態表示部236から構成される。
制御装置プログラム22は、例えば、記憶媒体132(図1(B))を介して、制御装置12のメモリ122にロードされ、制御装置12にインストールされたOS(図示せず)上で、制御装置12のハードウェア資源を、具体的に利用して実行される。
制御装置プログラム22は、測定装置14および被試験装置18の装置状態を判定し、判定結果、および、試験に用いられる測定装置14および被試験装置18の状態および接続態様を、試験実施者などに対して表示する。
なお、以下、測定装置14および被試験装置18を、「装置」と総称することがある。
また、UI部220は、制御装置プログラム22の各構成部分から入力された画面情報を受け入れて、外部入出力装置126に画面を表示させる。
装置情報DB222は、装置試験システム1において実施可能な試験の対象となり得る被試験装置18の装置名、および、各試験に用いられ得る測定装置14の装置名などの装置情報を、装置状態判定部224および接続情報画面表示部232が参照可能に記憶する。
装置状態判定部224が記憶する装置名に対応する装置(以下、「判定対象装置」と記述する)は、様々な試験に用いられ得る各種汎用装置である。
つまり、装置情報DB222に記憶された、装置試験システム1において実施可能な試験に用いられる装置は、これらの汎用装置の一部である。
判定対象装置の状態は、例えば、以下の(1)〜(3)に示す3種類がある。
(1)判定対象装置の電源が正しく作動し、正常な状態(以下、単に「正常状態」と記述する)。
(2)判定対象装置の電源が正しく作動しない、または、判定対象装置が装置試験システム1に存在しない、異常な状態(以下、単に「異常状態」と記述する)。
(3)判定対象装置が、装置試験システム1の構成対象外である状態(以下、単に「対象外」と記述する)。
装置状態情報は、例えば、正常状態を"0"、異常状態を"1"、対象外を"2"のように、整数値のフラグにより示す。
装置状態DB226は、装置状態判定部224から入力された装置状態情報を受け取り、接続情報更新部230および装置状態表示部236が参照可能に記憶する。
接続情報DB228は、あらかじめ設定された接続情報を、接続情報取得部234が参照可能に記憶する。
また、接続情報は、例えば、被試験装置18ごとにあらかじめファイル(RTF形式など)に記述され、それぞれのファイルが、接続情報DB228に記憶される。
また、接続情報DB228は、後述する接続情報更新部230から入力された接続情報を受け取ると、記憶する記憶情報を、受け取った記憶情報に更新する。
接続情報更新部230は、装置状態DB226に記憶された装置状態情報を参照し、装置状態情報が更新されているか否かを、一定の間隔で判定する。
また、接続情報更新部230は、装置状態情報が更新されていると判定すると、装置状態DB226に記憶された装置状態情報に基づいて、接続情報DB228に記憶された接続情報を更新する。
接続情報画面表示部232は、UI部220を介して入力された初期画面表示命令を受け取ると、装置情報DB222に記憶された被試験装置18の装置名を参照して、装置接続情報画面の初期画面を生成し、UI部220を介して、生成した画面を外部入力装置126に表示させる。
装置接続情報画面の初期画面は、例えば、実施可能な試験の対象となる被試験装置18の選択部や、接続情報を表示する接続情報表示部を含む(図3を参照して後述)が、接続情報表示部には、何も表示されていない。
また、接続情報画面表示部232は、UI部220を介して入力された被試験装置18の装置名と、接続情報表示命令とを受け取る。
次に、接続情報画面表示部232は、接続情報取得部234に対して、UI部220を介して入力された被試験装置18の装置名を出力するとともに、接続情報の取得を要求する。
具体的には、例えば、接続情報画面表示部232は、受け取った接続情報ファイルに含まれる文書および画像などを読み込み、読み込んだ文書および画像などを表示させる。
接続情報取得部234は、接続情報画面表示部232から、接続情報の取得要求を受け取ると、接続情報画面表示部232から入力された被試験装置18の装置名と、接続情報DB228に記憶された接続情報とを参照して、入力された被試験装置18に対応する接続情報を取得する。
また、接続情報取得部234は、取得した接続情報を、接続情報画面表示部232に対して出力する。
装置状態表示部236は、UI部220を介して入力された装置状態画面表示命令を受け取ると、装置状態DB226に記憶された装置状態情報を参照して、各装置の状態を示す装置状態一覧画面(図4を参照して後述)を生成し、UI部220を介して、生成した画面を外部入力装置126に表示させる。
以下、図2に示した接続情報画面表示部232が、入出力装置126(図1(B))に表示させる装置接続情報画面を説明する。
なお、以下、試験実施者や装置接続作業者など、外部から何らかの操作を行う者を「ユーザ」と記述する。
図3は、接続情報画面表示部232が、入出力装置126に表示させる装置接続情報画面を例示する図である。
図3に示すように、装置接続情報画面は、被試験装置表示部400、被試験装置選択部402、被試験装置制御部404、接続情報表示部406から構成される。
例えば、図3に示すように、試験の対象となり得る被試験装置18は、U/V、ICS、HF、DLという装置名であり、すべての被試験装置18の電源が切断中である。
被試験装置選択部402は、試験の対象となる被試験装置18を選択するためのボタンを含む。
「U/V」ボタンが押下されると、「U/V」装置に対応する接続情報が、後述する接続情報表示部406に表示される。
被試験装置制御部404は、後述する接続手順に従って被試験装置18を制御するための制御ボタンを含む。
例えば、図3に示すように、接続情報表示部406に、「試験選択」ボタンを押下する旨が表示されていれば、ユーザは、被試験装置制御部404の「試験選択」と表示されたボタンを押下する。
例えば、図3に示すように、接続情報表示部406は、U/V装置に対する試験に用いられる装置の接続手順1〜5、および、取り外し手順を示す。
接続手順1〜5、および、取り外し手順には、それぞれ操作手順や、確認事項などが記載されている。
また、接続手順3には、U/V装置のコネクタJ1〜J4と、U/V装置が接続される装置側のコネクタと、使用するケーブルW11〜W14との接続関係や、その関係を視覚的に示す接続画像408が表示されている。
例えば、図3に示すように、接続画像408のU/V装置を示す部分は、異常を示す細い斜線で塗りつぶされ、コネクタ接続パネルおよび信号切換器を示す部分は、正常を示す太い斜線で塗りつぶされる。
なお、図3では、各装置を示す部分を、細い斜線および太い斜線で塗りつぶしているが、赤や緑など、任意の色で色づけしてもよい。
また、接続手順5では、特に注意すべき事項を記載した部分が四角で囲まれて表示されている。
なお、図3では、特に注意すべき事項などを、四角で囲んで表示しているが、文字の色を変えたり、アンダーラインを付したりするなどの別の方法で表示してもよい。
以下、図2に示した装置状態表示部236が、入出力装置126(図1(B))に表示させる装置状態一覧画面を説明する。
図4は、装置状態表示部236が、入出力装置126に表示させる装置状態一覧画面を例示する図である。
図4に示すように、装置状態一覧画面は、各装置をブロックで表示し(ここでは、簡略化のため、一部の装置名を「********」と表記する)、装置状態情報に基づいて、各ブロックを予め定められたパターンで塗りつぶす。
また、異常状態であるアッテポータ部および電力計(1)などのブロックは、細い斜線により塗りつぶされる。
また、対象外装置の複合機および信号発生器などのブロックは、格子により塗りつぶされる。
図5は、図2に示した装置状態判定部224の処理を示すフローチャートである。
以下、図5を参照して、装置状態判定部224の処理をさらに説明する。
上述したように、UI部220を介して入力された装置状態判定命令を受け取ることによって、装置状態判定部224の処理(S30)が開始する。
処理が開始すると、図5に示すように、ステップ300(S300)において、装置状態判定部224は、装置試験システム1が有する装置名を、装置情報DB222(図2)から取得する。
含まれているときは、S304の処理に進み、それ以外のときは、S312の処理に進む。
ステップ304(S304)において、装置状態判定部224は、ネットワーク10(図1(A))を介して、判定対象装置にアクセスし、装置試験システム1上に存在するか否かを判定する。
ステップ306(S306)において、装置状態判定部224は、ネットワーク10を介して、判定対象装置に対して、電源投入命令を出力し、電源が正しく作動しているか否かを判定する。
正しく作動しているときは、S308の処理に進み、それ以外のときは、S310の処理に進む。
ステップ310(S310)において、装置状態判定部224は、判定対象装置の状態が異常である判定結果を、装置状態DB226に対して出力する。
ステップ312(S312)において、装置状態判定部224は、判定対象装置の状態が対象外である判定結果を、装置状態DB226に対して出力する。
ステップ314(S314)において、装置状態判定部224は、すべての判定対象装置を判定済であるか否かを判定する。
判定済であるときは、処理が終了し、それ以外のときは、S302の処理に進む。
以下、装置試験システム1(図1(A))の全体動作例を説明する。
制御装置12は、コマンドライン入力や画面表示アイコンの起動などにより生成された装置状態画面表示命令を受け取ると、図4に示した装置状態一覧画面を表示する。
また、制御装置12は、コマンドライン入力や画面表示アイコンの起動などにより生成された初期画面表示命令を受け取ると、装置接続情報画面の初期画面を表示する。
ユーザが、装置接続情報画面の初期画面に表示される被試験装置選択部402(図3)のボタンを押下して、被試験装置18を選択すると、制御装置12は、選択された被試験装置18に対応する接続情報を、接続情報表示部406に表示する。
具体的には、例えば、制御装置12(図2)は、接続情報に従って接続された測定装置14、被試験装置18、および、切替装置16をそれぞれ制御して、被試験装置18から試験信号を出力させる。
被試験装置18が試験信号を出力すると、切替装置16は、出力された試験信号を制御して、測定装置14に対して試験信号を出力する。
測定装置14は、切替装置16により制御された被試験装置18からの試験信号を受信し、制御装置12に対して出力する。
Claims (1)
- 1つ以上の被試験装置から選択された被試験装置に対して、1つ以上の試験を行う装置試験システムであって、
制御装置と、
前記被試験装置が出力する信号を測定する1つ以上の測定装置と
を備え、
前記制御装置は、
前記被試験装置および前記測定装置の状態が正常であるか否かを判定する装置状態判定手段と、
前記装置状態判定手段が示す前記被試験装置および前記測定装置の状態を示す装置状態情報を記憶する装置状態情報記憶手段と、
前記被試験装置と前記測定装置との接続態様を示す接続情報を、前記被試験装置ごとに記憶する接続情報記憶手段と、
前記装置状態情報記憶手段に記憶された装置状態情報を参照して前記接続情報記憶手段に記憶された前記接続情報を更新する接続情報更新手段と、
前記選択された被試験装置に対応する前記接続情報を、前記接続情報記憶手段から取得して表示する接続情報表示手段と
を有する
装置試験システム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009173885A JP5438417B2 (ja) | 2009-07-27 | 2009-07-27 | 装置試験システム |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009173885A JP5438417B2 (ja) | 2009-07-27 | 2009-07-27 | 装置試験システム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2011027558A JP2011027558A (ja) | 2011-02-10 |
JP5438417B2 true JP5438417B2 (ja) | 2014-03-12 |
Family
ID=43636476
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009173885A Active JP5438417B2 (ja) | 2009-07-27 | 2009-07-27 | 装置試験システム |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5438417B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5925471B2 (ja) * | 2011-11-29 | 2016-05-25 | 株式会社日立国際電気 | 試験システム |
CN103376375B (zh) * | 2012-04-27 | 2015-10-28 | 上海三菱电梯有限公司 | 电容组内部连接方式辨识与参数设置方法 |
-
2009
- 2009-07-27 JP JP2009173885A patent/JP5438417B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2011027558A (ja) | 2011-02-10 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4563050B2 (ja) | 自動診断方法、自動診断装置及び自動診断のためのグラフィカルユーザインタフェース | |
JP5531829B2 (ja) | プラント制御装置の試験装置 | |
CN104199767B (zh) | 测试方法和装置 | |
US20070022351A1 (en) | Method and apparatus that provide for configuration of hardware resources specified in a test template | |
JP5438417B2 (ja) | 装置試験システム | |
JP2016148618A (ja) | 試験システム | |
JP2016062136A (ja) | 試験装置及び試験プログラム | |
JP2008139243A (ja) | 制御盤試験装置 | |
US6970809B2 (en) | Automated configuration of on-circuit facilities | |
TWI384235B (zh) | 測試裝置 | |
JP2006209338A (ja) | 自動試験装置 | |
JP6050025B2 (ja) | プリント回路基板上に取り付けられた電子回路装置の電気接続を自動的に測定する方法及び装置 | |
JP2010281707A (ja) | 試験装置 | |
JP4904414B2 (ja) | ウィルス検査システム及び方法 | |
JP5096394B2 (ja) | 測定装置及び移動体通信機器試験装置 | |
JP5456574B2 (ja) | 基板検査システム | |
JP2008175681A (ja) | 試験装置 | |
JP2010261809A (ja) | 装置試験システム | |
JP2005352883A (ja) | 回路シミュレーションプログラム及び装置 | |
JP2005190196A (ja) | 巡視点検支援方法、巡視点検支援装置 | |
JP2012220980A (ja) | 装置試験システムおよび装置試験方法 | |
JP6969919B2 (ja) | センサループ精度試験管理システム及びセンサループ精度試験管理方法 | |
JP5462018B2 (ja) | 試験装置 | |
JP2009128259A (ja) | Lsiテスタ | |
JP2011185851A (ja) | 試験システム |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20120626 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20131111 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20131113 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20131125 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20131209 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20131213 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5438417 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |