JP2012220980A

JP2012220980A - 装置試験システムおよび装置試験方法

Info

Publication number: JP2012220980A
Application number: JP2011082588A
Authority: JP
Inventors: Katsunori Iwashita; 勝徳岩下
Original assignee: Hitachi Kokusai Electric Inc
Current assignee: Hitachi Kokusai Electric Inc
Priority date: 2011-04-04
Filing date: 2011-04-04
Publication date: 2012-11-12

Abstract

【課題】被試験装置についての情報を一元管理し、被試験装置のモジュール交換作業を効率良く行う装置試験システムおよび装置試験方法を提供する。
【解決手段】本発明に係る装置試験システムは、交換可能な１つ以上の構成要素を含む被試験装置に対して試験を行う装置試験システムであって、被試験装置および構成要素それぞれは、被試験装置および構成部分それぞれを識別する識別情報を含むＲＦＩＤタグを有し、ＲＦＩＤタグから識別情報を取得する識別情報取得部と、被試験装置に対する試験結果を取得する試験結果取得部と、取得した識別情報に対応する構成要素の在庫情報を取得する在庫情報取得部と、取得した識別情報に対応する構成要素の交換履歴情報を取得する履歴情報取得部と、取得した識別情報と、試験結果と、在庫情報と、交換履歴情報とを統合した統合情報を生成する統合情報生成部とを有する。
【選択図】図４

Description

本発明は、装置試験システムおよび装置試験方法に関する。

例えば、引用文献１は、故障モジュールに対して、調整、交換、修理を施すことで良モジュールとなった場合、その他のモジュールの故障推定率を更新し、更新した故障推定率に基づいて、次に調整等を行うモジュールの優先順位を決定するシステム試験装置を開示する。

特開２００８−２０３９５５号公報

装置試験システムは、電子機器装置などを構成するモジュールの故障を検出するために、対象となる電子機器装置など（以下、「被試験装置」と記述する）に対して、機能および性能などの試験を行い、試験結果の履歴を管理する。
このような装置試験システムにより、故障モジュールが特定されると、モジュール交換作業者などが、故障モジュールを新しいモジュールに交換する。
このような交換作業において、モジュールの在庫情報およびモジュールの交換履歴情報などは、装置試験システムにおける試験結果の履歴とは別に管理されているので、交換作業者は、モジュールの故障時に、在庫情報および交換履歴情報などを迅速に把握できず、作業効率が悪くなる場合がある。
本発明は、上述のような背景からなされたものであり、被試験装置に対する試験結果の履歴だけでなく、被試験装置を構成するモジュールの在庫情報および交換履歴情報などを一元管理し、モジュール交換作業を効率良く行うよう工夫された装置試験システムおよび装置試験方法を提供する。

上記目的を達成するために、本発明に係る装置試験システム（１）は、交換可能な１つ以上の構成要素を含む被試験装置に対して試験を行う装置試験システムであって、前記被試験装置および前記構成要素それぞれは、前記被試験装置および前記構成部分それぞれを識別する識別情報を含むＲＦＩＤ（Radio Frequency IDentification）タグ（２４）を有し、前記ＲＦＩＤタグから前記被試験装置および前記構成要素それぞれの識別情報を取得する識別情報取得部（ＲＦＩＤ読取装置２２，ＲＦＩＤタグ情報取得部３２２）と、前記被試験装置に対する試験結果を取得する試験結果取得部（試験制御部３２０）と、前記取得した識別情報に対応する前記構成要素の在庫情報を取得する在庫情報取得部（３２４）と、前記取得した識別情報に対応する前記構成要素の交換履歴情報を取得する履歴情報取得部（３２６）と、前記取得した識別情報と、前記取得した試験結果と、前記取得した在庫情報と、前記取得した交換履歴情報とを統合した統合情報を生成する統合情報生成部（３２８）とを有する。
なお、ここで付された符号は、本願発明の理解を助けることを意図するものであり、本願発明の技術的範囲を限定することを意図するものではない。

本発明に係る装置試験システムおよび装置試験方法によれば、被試験装置に対する試験結果だけでなく、被試験装置を構成するモジュールの在庫情報および交換履歴情報などを一元管理し、モジュール交換作業を効率良く行うことができる。

本発明に係る装置試験システムの構成を例示する図である。（Ａ）は、図１に示した制御装置および被試験装置用制御装置のハードウェア構成を例示する図であり、（Ｂ）は、図１に示した切替装置に接続された被試験装置の構成を例示する図である。（Ａ）は、図２（Ｂ）に示した被試験装置本体に付与されたＲＦＩＤタグのタグ情報を例示する図であり、（Ｂ）は、図２（Ｂ）に示した被試験装置を構成する各モジュールに付与されたＲＦＩＤタグのタグ情報を例示する図である。（Ａ）は、図１に示した被試験装置用制御装置上で実行される情報管理プログラムの構成を例示する図であり、（Ｂ）は、図１に示した制御装置上で実行される統合情報生成プログラムの構成を例示する図である。（Ａ）は、図４（Ａ）に示した在庫情報記憶部が記憶する在庫情報テーブルを例示する図であり、（Ｂ）は、図４（Ａ）に示した履歴情報記憶部が記憶するモジュール交換履歴情報テーブルを例示する図である。図４（Ｂ）に示した統合情報生成部が生成する統合情報を例示する図である。

［装置試験システム１］
図１は、本発明に係る装置試験システム１の構成を例示する図である。
図１に示すように、装置試験システム１は、制御装置１２と、ｎ個の測定装置１６−１〜１６−ｎ（ｎ≧１；ただし、全てのｎが常に同数を示すとは限らない）と、切替装置２０とが、ＬＡＮなどのネットワーク１０により接続され、測定装置１６−１〜１６−ｎと、被試験装置１８とが、切替装置２０を介して接続され、被試験装置１８を制御する被試験装置用制御装置１４と、被試験装置１８とが、ＬＡＮなどのネットワーク１０により接続される。
被試験装置１８の本体、および、被試験装置１８を構成する各モジュールには、ＲＦＩＤ（Radio Frequency IDentification）タグが付与され、切替装置２０に構成されるＲＦＩＤ読取装置２２により、ＲＦＩＤのタグ情報が読み取られる（図２（Ｂ）および図３を参照して後述）。

なお、以下、測定装置１６−１〜１６−ｎなど、複数ある構成部分のいずれかを示すときは、単に、測定装置１６と記載することがある。
以下、各図において、実質的に同じ構成部分・処理には、同じ符号が付される。
装置試験システム１は、これらの構成部分を用いて、被試験装置１８に対して試験を行い、試験結果、モジュールの在庫情報およびモジュール交換履歴情報などを一元管理する。

［ハードウェア構成］
図２（Ａ）は、制御装置１２および被試験装置用制御装置１４のハードウェア構成を例示する図である。
図２（Ａ）に示すように、制御装置１２および被試験装置用制御装置１４は、メモリ１２２およびＣＰＵ１２４などを含む情報処理装置１２０、キーボードおよび表示装置などを含む外部入出力装置１２６、データ通信を行うための通信装置１２８、および、ハードディスクなどの記録媒体１３２に対してデータの記録を行う記録装置１３０などから構成される。
つまり、制御装置１２および被試験装置用制御装置１４は、情報処理、装置試験システム１の各構成部分の制御、および、これらの間とのデータ通信が可能なコンピュータとしての構成部分を有している。

［被試験装置１８の構成］
図２（Ｂ）は、切替装置２０（図１）に接続された被試験装置１８の構成を例示する図である。
図２（Ｂ）に示すように、被試験装置１８は、例えば、交換可能な構成要素であるモジュールＡ１〜Ａ４から構成され、被試験装置１８本体には、ＲＦＩＤタグ２４−１が付与され、モジュールＡ１〜Ａ４には、ＲＦＩＤタグ２４−２〜２４−５がそれぞれ付与されている。
また、試験内容に応じて予め定められたコネクタ（Ｐ１〜Ｐ４およびＪ１〜Ｊ３など）間を接続ケーブルなどで接続することにより、被試験装置１８と切替装置２０とが接続されると、切替装置２０に取り付けられたＲＦＩＤ読取装置２２が、ＲＦＩＤタグ２４のタグ情報（図３を参照して後述）を読み取る。
なお、本説明における被試験装置１８は４つのモジュールから構成されているが、モジュールの数はこれに限定されるものではなく、被試験装置１８は、任意のモジュール数で構成され得る。

ＲＦＩＤ読取装置２２は、例えば、下記の手順（１）〜（４）により、複数のＲＦＩＤタグ２４−１〜２４−５からの応答（信号）の衝突を回避しながら、各ＲＦＩＤタグ２４−１〜２４−５のタグ情報を読み取る。
この場合において、ＲＦＩＤタグ２４−１〜２４−５それぞれには、ＲＦＩＤタグ２４−１〜２４−５それぞれを一意に識別するために用いられる予め定められた範囲の識別子が付されている。

（１）ＲＦＩＤ読取装置２２は、予め定められた範囲の識別子のうちのいずれかを指定した応答要求を、複数のＲＦＩＤタグ２４−１〜２４−５に対して送信する。
（２）上記（１）において送信された応答要求に含まれる識別子と同じ識別子が付されたＲＦＩＤタグ（例えば、ＲＦＩＤタグ２４−１）は、応答要求に対して応答し、ＲＦＩＤ読取装置２２に対して、タグ情報を送信する。
（３）ＲＦＩＤ読取装置２２は、上記（２）において送信されたＲＦＩＤタグ２４−１のタグ情報を読み取る。
（４）ＲＦＩＤ読取装置２２は、予め定められた範囲の識別子のうち、上記（１）において指定した識別子とは別の識別子を指定して、上記（１）〜（３）を繰返す。
また、ＲＦＩＤ読取装置２２は、予め定められた範囲のすべての識別子について上記（１）〜（３）を行った場合、タグ情報の読み取りを終了する。

なお、ＲＦＩＤ読取装置２２が複数のＲＦＩＤタグ２４のタグ情報を読み取る上述の方法は一例であり、ＲＦＩＤ読取装置２２は、他の方法を用いて複数のＲＦＩＤタグ２４のタグ情報を読み取り得る。

［ＲＦＩＤタグ情報］
図３（Ａ）は、被試験装置１８の本体に付与されたＲＦＩＤタグ２４−１（図２（Ｂ））のタグ情報を例示する図であり、（Ｂ）は、被試験装置１８を構成するモジュール（ここでは、モジュールＡ１）に付与されたＲＦＩＤタグ２４−２（図２（Ｂ））のタグ情報を例示する図である。
図３（Ａ）に示すように、被試験装置１８の本体に付与されたＲＦＩＤタグ２４−１のタグ情報は、例えば、被試験装置名、被試験装置のシリアル番号、製造年月日、取得年月日、管理部門名、被試験装置を構成するモジュール名、および、これらの構成モジュールのシリアル番号を含む。

図３（Ｂ）に示すように、モジュールＡ１に付与されたＲＦＩＤタグ２４−２のタグ情報は、例えば、モジュール名、モジュールのシリアル番号、製造年月日および取得年月日を含む。
上述したように、被試験装置１８と切替装置２０とが接続されると、ＲＦＩＤ読取装置２２（図１，図２（Ｂ））は、図３（Ａ），（Ｂ）に示すようなタグ情報を読み取る。

［ソフトウェア構成］
図４（Ａ）は、図１に示した被試験装置用制御装置１４上で実行される情報管理プログラム３０の構成を例示する図であり、（Ｂ）は、図１に示した制御装置１２上で実行される統合情報生成プログラム３２の構成を例示する図である。
図４（Ａ）に示すように、情報管理プログラム３０は、在庫情報記憶部３００、履歴情報記憶部３０２、在庫情報更新部３０４および履歴情報更新部３０６から構成される。
図４（Ｂ）に示すように、統合情報生成プログラム３２は、試験制御部３２０、ＲＦＩＤタグ情報取得部３２２、在庫情報取得部３２４、履歴情報取得部３２６、統合情報生成部３２８、および出力部３３０から構成される。

情報管理プログラム３０および統合情報生成プログラム３２は、例えば、記憶媒体１３２（図２（Ａ））を介して被試験装置用制御装置１４および制御装置１２のメモリ１２２にロードされ、被試験装置用制御装置１４および制御装置１２で動作するＯＳ（図示せず）上で、被試験装置用制御装置１４および制御装置１２のハードウェア資源を具体的に利用して実行される。
情報管理プログラム３０は、被試験装置１８（図１）を構成するモジュールの在庫情報およびモジュール交換履歴情報を管理する。
統合情報生成プログラム３２は、被試験装置１８に対する試験結果と、情報管理プログラム３０により管理されている在庫情報および交換履歴情報とを一元管理するための統合情報を生成する。
なお、本発明においては、情報管理プログラム３０（図４（Ａ））が、被試験装置用制御装置１４（図１）上で実行される場合が具体例とされるが、これに限定されるものではなく、例えば、制御装置１２上で実行されてもよい。

図５（Ａ）は、図４（Ａ）に示した在庫情報記憶部３００が記憶する在庫情報テーブルを例示する図である。
図５（Ａ）に示すように、在庫情報テーブルは、例えば、被試験装置名、被試験装置を構成するモジュール名、および、各モジュールの在庫数を示す在庫情報の一覧を示す。
在庫情報記憶部３００は、図５（Ａ）に示すような在庫情報テーブルを、後述する在庫情報取得部３２４が参照可能に記憶する。
また、在庫情報記憶部３００は、後述する在庫情報更新部３０４により更新された在庫情報を受け取り、在庫情報テーブルを更新する。

図５（Ｂ）は、図４（Ａ）に示した履歴情報記憶部３０２が記憶するモジュール交換履歴情報テーブルを例示する図である。
図５（Ｂ）に示すように、モジュール交換履歴情報テーブルは、例えば、被試験装置名、被試験装置を構成するモジュール名、および、各モジュールの交換履歴を含むモジュール交換履歴情報の一覧を示す。
交換履歴は、例えば、各モジュールの交換年月日、交換前のモジュールのシリアル番号、交換前のモジュールの製造年月日を示す。
なお、履歴情報記憶部３０２に記憶される交換履歴の数は、任意の数に設定され得る。

図５（Ｂ）に示すように、例えば、モジュールＡ１，Ａ４は、これまでに一度もモジュール交換作業が行われていないので、交換履歴情報は、「−」で示される。
また、例えば、モジュールＡ２の交換履歴情報は、２００９年６月１２日に、シリアル番号「Ａ２＿００１」のモジュールが新たなモジュールに交換され、さらに、２０１１年１月２７日に、シリアル番号「Ａ２＿００２」のモジュールが新たなモジュールに交換されていることを示す。
履歴情報記憶部３０２は、図５（Ｂ）に示すようなモジュール交換履歴情報テーブルを、後述する履歴情報取得部３２６が参照可能に記憶する。
また、履歴情報記憶部３０２は、後述する履歴情報更新部３０６から入力されたモジュール交換履歴情報を受け取り、モジュール交換履歴情報テーブルを更新する。

在庫情報更新部３０４は、被試験装置用制御装置１４の入出力装置１２６（図２（Ａ））を介して、モジュール在庫管理者などから入力された在庫更新情報を受け取り、在庫情報を更新し、在庫情報記憶部３００に対して出力する。
在庫更新情報は、例えば、モジュール在庫管理者がモジュールを新たに購入したことにより増加したモジュールの在庫数、および、モジュール交換作業者がモジュールを交換したことにより減少したモジュールの在庫数を示す。
履歴情報更新部３０６は、被試験装置用制御装置１４の入出力装置１２６（図２（Ａ））を介して、モジュール交換作業者などから入力されたモジュール交換履歴情報を受け取り、履歴情報記憶部３０２に対して出力する。

試験制御部３２０は、測定装置１６および切替装置２０（図１）などを制御して、被試験装置１８に対する試験を行い、各モジュールの試験情報（例えば、試験実施年月日および試験結果（「良」または「不良」など））を、統合情報生成部３２２に対して出力する。
ＲＦＩＤタグ情報取得部３２２は、ＲＦＩＤ読取装置２２（図１，図２（Ｂ））により読み取られた被試験装置１８本体のＲＦＩＤタグ情報（図３（Ａ））、および、被試験装置１８を構成する各モジュールのＲＦＩＤタグ情報（図３（Ｂ））を取得する。
また、ＲＦＩＤタグ情報取得部３２２は、取得したタグ情報を、統合情報生成部３２８に対して出力する。

在庫情報取得部３２４は、在庫情報記憶部３００が記憶する在庫情報テーブル（図５（Ａ））を参照して、後述する統合情報生成部３２８から入力された被試験装置名および構成モジュール名に対応する在庫数を取得する。
具体的には、例えば、在庫情報取得部３２４は、統合情報生成部３２８から被試験装置名「被試験装置Ａ」が入力されると、在庫情報記憶部３００が記憶する在庫情報テーブルから、被試験装置名が「被試験装置Ａ」の在庫情報を取得する。
さらに、在庫情報取得部３２４は、「被試験装置Ａ」の在庫情報から、統合情報生成部３２８から入力された構成モジュール名「Ａ１」，「Ａ２」，「Ａ３」および「Ａ４」に対応する在庫数を取得する。

履歴情報取得部３２６は、履歴情報記憶部３０２が記憶するモジュール交換履歴情報テーブル（図５（Ｂ））を参照して、後述する統合情報生成部３２８から入力された被試験装置名および構成モジュール名に対応するモジュール交換履歴を取得する。
具体的には、例えば、履歴情報取得部３２６は、上述した在庫情報取得部３２４と同様に、モジュール交換履歴情報テーブルから、「被試験装置Ａ」のモジュール交換履歴情報を取得する。
さらに、履歴情報取得部３２６は、上述した在庫情報取得部３２４と同様に、「被試験装置Ａ」のモジュール交換履歴情報から、各構成モジュール名に対応するモジュール交換履歴を取得する。

なお、本説明においては、被試験装置名およびモジュール名を用いて在庫数およびモジュール交換履歴を取得する場合が具体例とされたが、被試験装置名のみを用いて、対応する被試験装置を構成するすべてのモジュールについての情報を取得してもよい。
また、モジュール名が、複数の被試験装置において重複せず、一意に定まる場合は、モジュール名のみを用いて、対応するモジュールについての情報を取得してもよい。

統合情報生成部３２８は、試験制御部３２０から入力された各モジュールの試験情報を受け取る。
また、統合情報生成部３２８は、ＲＦＩＤタグ情報取得部３２２から入力されたタグ情報に含まれる被試験装置名および構成モジュール名を、在庫情報取得部３２４および履歴情報取得部３２６に対して出力する。
また、統合情報生成部３２８は、在庫情報取得部３２４および履歴情報取得部３２６から入力された在庫数およびモジュール交換履歴を受け取る。

また、統合情報生成部３２８は、試験制御部３２０から入力された試験情報と、ＲＦＩＤタグ情報取得部３２２から入力されたタグ情報と、在庫情報取得部３２４および履歴情報取得部３２６から受け取ったモジュールの在庫数およびモジュール交換履歴とを統合し、統合情報（図６を参照して後述）を生成する。
また、統合情報生成部３２８は、生成した統合情報を、出力部３３０に対して出力する。

出力部３３０は、統合情報生成部３２８から入力された統合情報を、入出力装置１２６（図２（Ａ））のディスプレイなどに表示する。
また、出力部３３０は、在庫切れを示すために、在庫数が０を示す部分を異なる色など（例えば、図６においては、斜線で示す）で表示し、在庫補充を推奨するために、在庫数が１を示す部分を異なる色など（例えば、図６においては、縦線で示す）で表示する。
また、出力部３３０は、統合情報、在庫切れおよび在庫補充の推奨などを、ディスプレイで表示するのではなく、被試験装置１８の管理者などにメールにより通知してもよいし、これらを併用してもよい。

［統合情報］
図６は、統合情報生成部３２８により生成された統合情報の構成を例示する図である。
図６に示すように、統合情報は、例えば、被試験装置名、被試験装置のシリアル番号、製造年月日、取得年月日、管理部門名、構成モジュール名、各モジュールのシリアル番号、製造年月日、試験結果、異常検出年月日、交換履歴および在庫数を含む。
統合情報に含まれる被試験装置名、被試験装置のシリアル番号、製造年月日、取得年月日、管理部門名、構成モジュール名および各モジュールのシリアル番号は、ＲＦＩＤタグ情報取得部３２２から入力された被試験装置１８本体のタグ情報（図３（Ａ））から取得される。

また、統合情報に含まれる各モジュールの製造年月日は、ＲＦＩＤタグ情報取得部３２２から入力された各モジュールのタグ情報（図３（Ｂ））から取得される。
また、統合情報に含まれる各モジュールの試験結果および異常検出年月日は、試験制御部３２０から入力された試験情報から取得される。
異常検出年月日は、例えば、試験情報に含まれる試験結果が「不良」を示した場合の試験実施年月日を示す。
なお、統合情報には、任意の数の試験結果および異常検出年月日の履歴が含まれ得る。

また、統合情報に含まれる各モジュールの交換履歴は、履歴情報取得部３２６から入力されたモジュール交換履歴から取得される。
なお、試験実施年月日を異常検出年月日とする代わりに、例えば、履歴情報取得部３２６から入力されたモジュール交換履歴に含まれる交換年月日を異常検出年月日としてもよい。
なお、統合情報には、任意の数のモジュール交換履歴が含まれ得る。
また、統合情報に含まれる各モジュールの在庫数は、在庫情報取得部３２４から入力されたモジュールの在庫数から取得される。

［装置試験システム１の動作例］
以下、装置試験システム１（図１）の動作例を示す。
本動作例においては、装置試験システム１が、装置名「被試験装置Ａ」の被試験装置１８に対して試験を行い、統合情報を生成する場合を具体例として説明する。
装置試験システム１は、被試験装置Ａが接続されると、被試験装置Ａの本体に付与されたＲＦＩＤタグ２４−１（図２（Ｂ））のタグ情報（図３（Ａ））、および、各構成モジュールに付与されたＲＦＩＤタグ２４−２〜２４−５（図２（Ｂ））のタグ情報（図３（Ｂ））を取得する（ＲＦＩＤ読取装置２２（図１），ＲＦＩＤタグ情報取得部３２０（図４））。

装置試験システム１は、被試験装置Ａに対する試験を行い、試験情報を取得する（試験制御部３２０（図４））。
装置試験システム１は、在庫情報テーブル（図５（Ａ））から、被試験装置Ａの各構成モジュールＡ１〜Ａ４の在庫数を取得する（在庫情報取得部３２４（図４））。
装置試験システム１は、モジュール交換履歴情報テーブル（図５（Ｂ））から、被試験装置Ａの各構成モジュールＡ１〜Ａ４のモジュール交換履歴を取得する（履歴情報取得部３２６（図４））。

装置試験システム１は、取得したＲＦＩＤタグ情報、試験情報、在庫数、モジュール交換履歴から、統合情報（図６）を生成する（統合情報生成部３２８（図４））。
装置試験システム１は、生成した統合情報を、入出力装置１２６（図２（Ａ））のディスプレイなどに表示する（出力部３３０（図４））。

［変形例］
本発明においては、電子機器装置などを構成するモジュール単位での試験結果と、モジュール単位での在庫情報および交換履歴情報とを一元管理するための統合情報を生成する場合が具体例とされたが、本発明を、例えば、複数の電子機器装置から構成される電子機器システムに適用することもできる。
この場合、電子機器システムを構成する電子機器装置単位での試験結果と、電子機器装置単位での在庫情報および交換履歴情報とを一元管理するための統合情報が生成される。

１・・・装置試験システム，１０・・・ネットワーク，１２・・・制御装置，１４・・・被試験装置用制御装置，１６・・・測定装置，１８・・・被試験装置，２０・・・切替装置，２２・・・ＲＦＩＤ読取装置，１２０・・・情報処理装置，１２２・・・メモリ，１２４・・・ＣＰＵ，１２６・・・外部入出力装置，１２８・・・通信装置，１３０・・・記録装置，１３２・・・記憶媒体，２４・・・ＲＦＩＤタグ，３０・・・情報管理プログラム，３００・・・在庫情報記憶部，３０２・・・履歴情報記憶部，３０４・・・在庫情報更新部，３０６・・・履歴情報更新部，３２・・・統合情報生成プログラム，３２０・・・試験制御部，３２２・・・ＲＦＩＤタグ情報取得部，３２４・・・在庫情報取得部，３２６・・・履歴情報取得部，３２８・・・統合情報生成部，３３０・・・出力部

Claims

交換可能な１つ以上の構成要素を含む被試験装置に対して試験を行う装置試験システムであって、
前記被試験装置および前記構成要素それぞれは、前記被試験装置および前記構成部分それぞれを識別する識別情報を含むＲＦＩＤ（Radio Frequency IDentification）タグを有し、
前記ＲＦＩＤタグから前記被試験装置および前記構成要素それぞれの識別情報を取得する識別情報取得部と、
前記被試験装置に対する試験結果を取得する試験結果取得部と、
前記取得した識別情報に対応する前記構成要素の在庫情報を取得する在庫情報取得部と、
前記取得した識別情報に対応する前記構成要素の交換履歴情報を取得する履歴情報取得部と、
前記取得した識別情報と、前記取得した試験結果と、前記取得した在庫情報と、前記取得した交換履歴情報とを統合した統合情報を生成する統合情報生成部と
を有する装置試験システム。
前記取得した交換履歴情報は、前記構成要素の交換日を含み、
前記統合情報は、前記交換日を前記構成要素の異常を検出した日とする異常検出日を含む
請求項１に記載の装置試験システム。
交換可能な１つ以上の構成要素を含む被試験装置に対して試験を行う装置試験方法であって、
前記被試験装置および前記構成要素それぞれは、前記被試験装置および前記構成部分それぞれを識別する識別情報を含むＲＦＩＤ（Radio Frequency IDentification）タグを有し、
前記ＲＦＩＤタグから前記被試験装置および前記構成要素それぞれの識別情報を取得する識別情報取得ステップと、
前記被試験装置に対する試験結果を取得する試験結果取得ステップと、
前記取得した識別情報に対応する前記構成要素の在庫情報を取得する在庫情報取得ステップと、
前記取得した識別情報に対応する前記構成要素の交換履歴情報を取得する履歴情報取得ステップと、
前記取得した識別情報と、前記取得した試験結果と、前記取得した在庫情報と、前記取得した交換履歴情報とを統合した統合情報を生成する統合情報生成ステップと
をコンピュータに実行させる装置試験方法。