JP7263046B2 - 試験装置及びそのプログラム - Google Patents
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例えば、航空機等に搭載される電子機器が故障すると、電子機器を構成する交換可能な複数のモジュールのうち、どのモジュールが故障したかが特定(要因解析)され、特定された故障モジュールの調整、修理又は交換が行われる。
そして、電子機器の機能試験を実施して試験結果が不良であると判定された場合には、作業者が自身の経験等に基づいて要因解析を行い、故障モジュールを推定していた。
そこで、従来、複数のモジュールを備えた機器の試験において、複数の試験結果の良否の組み合わせに基づいて故障モジュールを特定する試験装置が提案されている(特許文献1)。
従来の試験装置として、特許文献1の試験装置について説明する。
特許文献1の試験装置は、故障モジュール候補を特定するための判断基準情報として、試験結果パターン表と、故障モジュール予測順位表とを備えている。
[試験結果パターン表:図8]
まず、試験結果パターン表について図8を用いて説明する。図8は、試験結果パターン表の説明図である。
試験結果パターン表は、複数の試験の結果についてそれらの良否の組み合わせをパターンとして規定するものである。
図8の例では、試験A~試験Eの5種類の試験を行った場合に、試験Aの結果が「否」で試験B~Eの結果が「良」であるものを「試験結果パターンNo.1」、試験Bの結果が「否」で試験A及び試験C~Eの結果が「良」であるものを「試験結果パターンNo.2」、…と規定している。
故障モジュール予測順位表について図9を用いて説明する。図9は、故障モジュール予測順位表の説明図である。
故障モジュール予測順位表は、図8に示した試験結果パターンのそれぞれについて、故障していると予測されるモジュールの順位を示すものである。
図9の例では、ある被試験器について試験A~Eを実施した結果、「試験結果パターンNo.1」が得られた場合(つまり試験Aの結果が「否」で試験B~Eの結果が「良」である場合)は、モジュールM1の故障モジュール予測順位が1位となる。
また、試験結果が「試験結果パターンNo.6」に該当する場合(つまり試験B,Cの結果が「否」であり、試験A,D,Eの結果が「良」である場合)は、モジュールM2の故障モジュール予測順位が1位であり、モジュールM3の故障モジュール予測順位が2位となる。
そして、従来の試験装置では、試験を行った場合に、制御部が試験結果パターン表及び故障モジュール予測順位表を参照して、故障モジュールを特定するようになっていた。
これにより、特許文献1の試験装置では、作業者によらず、故障モジュールを精度良く特定することができるものである。
更に、従来の試験装置では、被試験器毎に、試験結果や故障モジュールの候補の順位を表示するようになっていた。
尚、試験装置に関する従来技術としては、特開2012-58120号公報「試験装置」(特許文献1)、特開2013-186717号公報「試験装置」(特許文献2)がある。
特許文献1には、上述した試験装置が記載されている。
特許文献2には、試験結果に基づいてモジュール毎の平均故障期間を算出し、復旧作業予算を求め、更に校正検定予算を算出して、特定期間内の保守予算を算出することが記載されている。
[実施の形態の概要]
本発明の実施の形態に係る試験装置(本試験装置)及びそのプログラム(本プログラム)は、交換可能なモジュールを複数備えた機器を1つ又は複数有する複数の被試験装置に対して、機器毎に試験を実施する試験装置及びプログラムであって、複数の被試験装置について複数の計測を含む試験を実施して、個々の計測結果を取得すると、当該計測結果に基づいて故障要因を分析して、故障モジュールを特定し、特定期間における複数の被試験装置の試験結果(異常検出状況)を一覧画面で表示するものであり、故障要因を精度よく推定すると共に、試験結果を一目で分かりやすく表示でき、利便性を向上させることができるものである。
本試験装置の構成について図1を用いて説明する。図1は、本試験装置の概略構成図である。
図1に示すように、試験装置1は、被試験器(被試験装置)2とネットワークにより接続され、各種の試験を実施するものである。
試験装置1は、試験コントローラ20と、各種の計測を行うn台の測定器10-1,10-2,…~10-n(測定器10と記載することもある)と、切替部30とを備えている。
切替部30は、試験コントローラ20と切替部制御ラインによって接続され、試験コントローラ20からの切替制御信号に従って、被試験器2に接続する測定器10を切り替える。
後述する実施の形態で説明する各種の処理は、制御部が、記憶部に記憶された処理プログラムを起動することによって実行されるものである。
また、試験コントローラ20は、試験結果を蓄積するデータベース(図示せず)に接続され、データベースへのデータの書き込み/読み出しを行う。
被試験器2は、ネットワークを介して試験コントローラ20に接続し、試験に必要な情報の送受信を行う。
例えば、試験コントローラ20は、被試験器2に各種の試験条件を設定し、被試験器2は、応答を送信する。
そして、複数の被試験器2を構成する複数の機器について、異常検出の件数や故障モジュールの情報を一覧表示するものである。
次に、本試験装置における帳票出力処理の概要について図2を用いて説明する。図2は、帳票出力処理の概要を示すフローチャートである。
図2に示すように、試験コントローラ20は、まず、当該被試験器2を構成する任意の機器を選択する(S1)。そして、当該機器について既に行われた試験について良否判定結果を取得する(S2)。
また、本実施の形態では、便宜上、被試験装置2に対して実施される複数の計測全体を「試験」と称し、試験に含まれる個々の測定や動作確認を「計測」と称するものする。
故障要因分析処理が終了すると、試験コントローラ20は、当該被試験器2に次の機器があるかどうかを判断し(S5)、ある場合には処理S1に戻って次の機器を選択して同様の処理行う。
処理S5において、次の機器がなかった場合には、試験コントローラ20は、故障要因分析結果を帳票出力する(S5)。帳票出力の表示例については、後述する。
このようにして、本試験装置における帳票出力処理が行われるものである。
次に、図2のS4に示した故障要因分析処理について図3を用いて説明する。図3は、故障要因分析処理を示すフローチャートである。
故障要因分析処理は、図2の処理S3で試験結果が「否」であった場合、つまり、試験に含まれるいずれかの計測の結果に異常があった場合に行われ、その異常の要因がどこにあるかを分析して、故障モジュールを推定する処理である。
故障要因分析処理を行うことによって、作業員に依存した要因判定のばらつきをなくし、精度よく異常の要因を特定することが可能となる。
電源投入試験計測結果が「否」であった場合には、試験コントローラ20は、当該機器の故障は「P-BIT(Power ON BIT)異常」と判断して(108)、処理120に移行する。P-BIT異常の場合もそれ以上の試験は行われていないためである。
自己診断機能確認試験計測結果が「否」であった場合には、試験コントローラ20は、当該機器の故障は「I-BIT(Initiate-BIT)異常」と判断して(112)、処理114に移行して、機能確認試験の結果を参照する(114)。
処理110において結果が「良」であった場合には、そのまま処理114に移行する。
また、処理114で機能確認試験結果が「良」であった場合にも、試験コントローラ20は、故障要因分析処理を終了する。
このようにして、本試験装置における故障要因分析処理が行われるものである。
故障分離マトリックスは、図8に示した試験結果パターン表と、図9に示した故障モジュール予測順位表に相当している。
具体的には、試験コントローラ20は、被試験器2を構成する機器毎に対応する故障分離マトリックスとして、試験結果パターン表と故障モジュール予測順位表とを備えている。
試験結果パターン表では、図8と同様に、自己診断機能確認試験及び機能確認試験の計測結果(良/否)の組み合わせに対応して、試験結果パターンが規定されている。
本試験装置の故障分離マトリックスでは、故障モジュールの予測順位を3位まで記憶している。
次に、データベースに記憶された試験結果テーブルについて図4を用いて説明する。図4は、試験結果テーブルの説明図である。
試験結果テーブルは、試験の結果を装置(被試験器2)毎に記憶するものであり、特に、図3に示した故障要因分析処理の結果を記憶している。
故障要因分析結果としては、電源ライン異常、P-BIT異常、I-BIT異常、機能試験異常の項目があり、更に故障モジュール候補も記憶する。また、試験結果テーブルの1行が、1回分の試験の解析結果となっている。
機器シリアル番号は、機器の個体番号であり、例えば同じ機器aという種類の機器であっても、複数の個体があるため、試験当日装置に実装されていた機器aのシリアル番号を記憶しているものである。
つまり、「異常検出」が「1」となっている場合には、当該試験で何らかの異常が検出されたことを示している。
異常が検出されなかった場合には、故障要因分析処理は行われないため、2018/5/30の試験に対応する故障要因分析結果はブランクとなっている。
図4の例では、機器aの2018/5/26の試験では、故障要因はI-BIT異常と判定されたことを示している。
図4の例では、2018/5/26の試験では、故障モジュール(1位、2位、3位)は、M(モジュール)1,M3,M5と推定されたことを示している。
図4において、電源ライン異常、P-BIT異常、I-BIT異常、機能試験異常、故障モジュール候補の項目が、故障要因分析結果となっている。
[帳票出力]
本装置における帳票出力の表示例について説明する。
[試験結果履歴表:図5]
まず、帳票出力の例として、試験結果履歴表について図5を用いて説明する。図5は、試験結果履歴表の説明図である。
試験結果履歴表は、設定された特定期間に複数の装置に対して実施された試験について、異常検出の状況を示すものである。
図5に示すように、試験結果履歴表では、実行履歴の解析件数、異常履歴の抽出件数、電源ライン異常、P-BIT異常、I-BIT異常、機能試験異常の各項目が設けられており、装置(被試験器2)及びその中の機器毎に、項目に該当する件数が表示される。
異常履歴の抽出件数は、当該期間に該当する試験の内、「異常検出」が「1」となって抽出された試験の件数である。
そして、電源ライン異常、P-BIT異常、I-BIT異常、機能試験異常は、検出された異常の故障要因の内訳であり、それぞれの異常が故障要因として判定された件数、つまり試験結果テーブルで各異常に対応して「1」が記憶されている件数である。
そして、例えば、機器aについては、当該期間において12回の試験結果解析を行い、そのうち4回で異常が検出されたことが表示されている。
更に、その4回の異常の故障要因の内訳は、電源ライン異常が0回、P-BIT異常が1回、I-BIT異常が2回、機能試験異常が1回であったことが表示されている。
試験コントローラ20は、帳票出力の際に特定期間が設定されると、機器毎に、試験結果テーブルから当該期間に該当する試験情報を抽出し、試験結果履歴表の項目ごとに該当する件数をカウントアップして、試験結果履歴表に1行で表示する。
これにより、多くの試験結果を一覧表示できるものであり、図5の例では、3つの装置、6つの機器について、延べ66件の試験結果を一括表示している。
更に、異常履歴の抽出件数と、故障要因分析結果については、着色表示を行っている。
これにより、どの機器でどのくらい異常が発生したのか、またその要因は何か、ということが一目で分かるものである。
故障モジュール推定表について図6を用いて説明する。図6は、故障モジュール推定表の一例を示す説明図である。
図6では、図5の試験結果履歴表において、機器aの異常履歴の抽出件数「4」が選択された場合の表示例を示している。
図6に示すように、故障モジュール推定表では、抽出された4件について、試験実施日と、機器シリアル番号と、故障モジュール候補1位(一位)~3位(三位)を表示している。
これにより、作業者は、交換すべきモジュールはどれか、容易に認識できるものである。
また、本試験装置では、試験結果テーブルに集計されたデータをグラフ表示することも可能である。図7は、帳票出力結果のグラフ表示の例を示す図である。
図7に示すように、グラフ出力することで、異常件数の多寡や、故障要因の傾向をビジュアル的に分かりやすく表示できるものである。
本試験装置及び本プログラムによれば、交換可能なモジュールを複数備えた機器を1つ又は複数有する複数の被試験器2(被試験装置、装置)について、機器毎に試験を実施する試験装置及びプログラムであって、複数の被試験器2に対して複数の計測を含む試験を実施して、個々の計測結果を取得すると、当該計測結果に基づいて故障要因を分析して、故障モジュールを特定し、それらをデータベースに記憶しておき、帳票出力の際に特定期間が指定されると、データベースを参照して、特定期間における複数の被試験器2の試験結果として、機器毎の故障要因毎の異常発生件数を含む試験結果履歴表で一覧表示するようにしているので、複数の被試験器2について、どの装置(被試験器2)でどのような異常がどの程度発生しているのか、試験結果を一目で分かりやすく表示でき、利便性を向上させることができる効果がある。
Claims (2)
- 交換可能なモジュールを複数備えた機器を複数有する被試験器に対して前記機器毎に試験を実施する試験装置であって、
試験信号を出力して、前記被試験器からの出力を計測する複数の測定器と、
前記測定器のいずれかと前記被試験器とを接続する切替部と、
前記複数の測定器からの計測結果を入力して解析する制御部とを備え、
前記制御部が、前記機器毎に行われた試験の結果として前記複数の測定器からの計測結果を入力し、前記計測結果に基づいて前記機器の正常/異常を検出し、異常であれば故障要因を分析して記憶しておき、特定期間に行った複数の前記被試験器に対する試験について、前記被試験器に含まれる機器毎の異常検出件数と故障要因とを読み出して、前記複数の被試験器の機器毎の試験結果を試験結果履歴表として表示部に一覧表示するものであり、
前記機器毎に、前記複数の測定器での計測における計測結果の良/否の組み合わせのパターンと、前記パターン毎に対応する故障モジュールの候補を記憶した故障分離マトリックスを備え、
任意の機器の故障要因を分析する際に、当該機器の故障分離マトリックスに基づいて、入力された計測結果の良/否のパターンに対応する故障モジュールの候補を特定して、前記分析対象の機器のシリアル番号に対応して記憶しておき、
前記表示された試験結果履歴表において、異常検出件数が1以上の機器が選択されると、前記選択された機器で異常が検出された試験毎に、故障した機器のシリアル番号と、故障モジュール候補とを読み出して、故障モジュール推定表として表示部に表示することを特徴とする試験装置。 - 交換可能なモジュールを複数備えた機器を複数有する被試験器に対して前記機器毎に試験を実施する試験装置で動作するプログラムであって、
制御部を、前記被試験器からの出力を計測する複数の測定器のいずれかと前記被試験器とを接続するよう切替部に切り替えさせ、前記機器毎に行われた試験の結果として、前記複数の測定器からの計測結果を入力し、前記計測結果に基づいて前記機器の正常/異常を検出し、異常であれば故障要因を分析して記憶し、特定期間に行った複数の前記被試験器に対する試験について、前記被試験器に含まれる機器毎の異常検出件数と故障要因とを読み出して、前記複数の被試験器の機器毎の試験結果を試験結果履歴表として表示部に一覧表示するよう機能させ、
前記機器毎に、前記複数の測定器での計測における計測結果の良/否の組み合わせのパターンと、前記パターン毎に対応する故障モジュールの候補を記憶した故障分離マトリックスを備えた制御部を、任意の機器の故障要因を分析する際に、当該機器の故障分離マトリックスに基づいて、入力された計測結果の良/否のパターンに対応する故障モジュールの候補を特定して、前記分析対象の機器のシリアル番号に対応して記憶しておき、前記表示された試験結果履歴表において、異常検出件数が1以上の機器が選択されると、前記選択された機器で異常が検出された試験毎に、故障した機器のシリアル番号と、故障モジュール候補とを読み出して、故障モジュール推定表として表示部に表示するよう機能させることを特徴とするプログラム。
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Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010271269A (ja) | 2009-05-25 | 2010-12-02 | Hitachi Kokusai Electric Inc | 試験装置 |
JP2012220980A (ja) | 2011-04-04 | 2012-11-12 | Hitachi Kokusai Electric Inc | 装置試験システムおよび装置試験方法 |
JP2013193812A (ja) | 2012-03-16 | 2013-09-30 | Hitachi Kokusai Electric Inc | 在庫管理システム |
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Family Cites Families (3)
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JP2008052376A (ja) * | 2006-08-22 | 2008-03-06 | Fuji Xerox Co Ltd | 画像形成装置、故障診断システム及び故障診断プログラム |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010271269A (ja) | 2009-05-25 | 2010-12-02 | Hitachi Kokusai Electric Inc | 試験装置 |
JP2012220980A (ja) | 2011-04-04 | 2012-11-12 | Hitachi Kokusai Electric Inc | 装置試験システムおよび装置試験方法 |
JP2013193812A (ja) | 2012-03-16 | 2013-09-30 | Hitachi Kokusai Electric Inc | 在庫管理システム |
JP2017142165A (ja) | 2016-02-10 | 2017-08-17 | 株式会社日立国際電気 | 試験システム |
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