JP7385147B2 - 検査スケジュール作成装置及び検査スケジュール作成用プログラム - Google Patents
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims description 139
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims description 176
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 57
- 238000003860 storage Methods 0.000 claims description 45
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 35
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 claims description 13
- 230000004044 response Effects 0.000 claims description 11
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 9
- 230000006870 function Effects 0.000 claims description 2
- 230000000875 corresponding effect Effects 0.000 claims 2
- 230000001276 controlling effect Effects 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 18
- 238000000034 method Methods 0.000 description 16
- 230000008569 process Effects 0.000 description 14
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 8
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 6
- 238000011161 development Methods 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
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- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Debugging And Monitoring (AREA)
Description
この装置では、ソフトウエアの流れを確認する場合、各周辺デバイスとのデータ通信がなされたときのデータ通信履歴情報が、キーの押下が検出されたときの当該キーのキー種別情報が、ログ領域にそれぞれ書き込まれる。この後、キーの押下による処理が実行されると、実行された処理の内容がログ領域に書き込まれる。それらのログ情報はログ領域に時系列で書き込まれる。不具合が発生した場合、ログ情報表示要求が有れば、ログ情報がディスプレイ装置に表示される。操作上で異常な処理の流れになっていれば、ソフトウエアの不具合の原因を早期に発見することができることになる。
この方法は、被検査コンピュータ装置2,3,…の検査時に発生したエラー検査項目や被検査コンピュータ装置2,3の種類、生産時期、検査ラインごとの様々な付加価値情報を被検査コンピュータ装置2,3……から検査設備コンピュータ装置1に送信する。すると、検査設備コンピュータ装置1は、これらの付加価値情報を記憶装置に順次蓄積し、解析し、発生頻度の高い検査項目を自動強化し、より効果的な検査フローを自動作成して被検査コンピュータ装置2,3,…に送信する。これにより、被検査コンピュータ装置2,3,…がエラー検査項目に対してより効果的な検査フローを適用する。
Claims (7)
- 検査対象の外部記憶装置において過去に発生した多種の不具合事象に関し、各不具合事象の識別情報とその不具合事象が発生した場合の、前記外部記憶装置に与えられた命令に対応して行われた処理を示す処理情報と不具合の検出に用いられた検査パターンとが1セットの不具合情報とされて、記憶された不具合情報データベースと、
検査対象の前記外部記憶装置において行われたソフトウエアの変更内容情報に基づき、前記不具合情報データベースを検索して前記ソフトウエアの変更内容情報に含まれる処理情報と同じ処理情報を有する不具合情報を特定する不具合情報特定手段と、
前記不具合情報特定手段により特定された不具合情報に含まれている検査パターンを選択しこの検査パターンを用いて行う検査のスケジュールを作成する検査スケジュール作成手段と、
を具備することを特徴とする検査スケジュール作成装置。 - 1セットの不具合情報には、重要度情報が含まれており、
前記検査スケジュール作成手段は、前記不具合情報特定手段により特定された不具合情報に含まれている重要度情報に基づき、複数の検査パターンの実行順位を制御してスケジュールを作成することを特徴とする請求項1に記載の検査スケジュール作成装置。 - 1セットの不具合情報に含まれる重要度情報を、当該不具合事象の不具合重大性指標と、当該不具合事象の発生頻度指標と、当該不具合事象の顧客影響度指標とに基づき算出して、対応する1セットの不具合情報に含ませて不具合情報データベースを作成する不具合情報データベース作成手段を具備することを特徴とする請求項2に記載の検査スケジュール作成装置。
- 前記検査スケジュール作成手段は、リード命令とライト命令の少なくとも一方を含む検査パターンを用いてスケジュールを作成する場合には、検査を行う範囲を限定した命令として検査パターンを組み込み、前記スケジュールを作成することを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の検査スケジュール作成装置。
- 前記検査パターンは、多種類の様々な命令を1または複数含んで構成されることを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の検査スケジュール作成装置。
- 検査対象の外部記憶装置において過去に発生した多種の不具合事象に関し、各不具合事象の識別情報とその不具合事象が発生した場合の、前記外部記憶装置に与えられた命令に対応して行われた処理を示す処理情報と不具合の検出に用いられた検査パターンとが1セットの不具合情報とされて、記憶された不具合情報データベースとを備えた検査スケジュール作成装置のコンピュータを、
検査対象の前記外部記憶装置において行われたソフトウエアの変更内容情報に基づき、前記不具合情報データベースを検索して前記ソフトウエアの変更内容情報に含まれる処理情報と同じ処理情報を有する不具合情報を特定する不具合情報特定手段、
前記不具合情報特定手段により特定された不具合情報と1セットに含まれている検査パターンを選択しこの検査パターンを用いて行う検査のスケジュールを作成する検査スケジュール作成手段、
として機能させることを特徴とする検査スケジュール作成用プログラム。 - 前記コンピュータを更に、
1セットの不具合情報に含まれる重要度情報を、当該不具合事象の不具合重大性指標と、当該不具合事象の発生頻度指標と、当該不具合事象の顧客影響度指標とに基づき算出して、対応する1セットの不具合情報に含ませて不具合情報データベースを作成する不具合情報データベース作成手段として機能させることを特徴とする請求項6に記載の検査スケジュール作成用プログラム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2022036599A JP7385147B2 (ja) | 2022-03-09 | 2022-03-09 | 検査スケジュール作成装置及び検査スケジュール作成用プログラム |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2022036599A JP7385147B2 (ja) | 2022-03-09 | 2022-03-09 | 検査スケジュール作成装置及び検査スケジュール作成用プログラム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2023131701A JP2023131701A (ja) | 2023-09-22 |
JP7385147B2 true JP7385147B2 (ja) | 2023-11-22 |
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ID=88064684
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2022036599A Active JP7385147B2 (ja) | 2022-03-09 | 2022-03-09 | 検査スケジュール作成装置及び検査スケジュール作成用プログラム |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP7385147B2 (ja) |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008129661A (ja) | 2006-11-16 | 2008-06-05 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | 回帰テストにおいて実施すべきテストケースの優先度を決定するための情報処理装置、方法、及びプログラム |
-
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- 2022-03-09 JP JP2022036599A patent/JP7385147B2/ja active Active
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2008129661A (ja) | 2006-11-16 | 2008-06-05 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | 回帰テストにおいて実施すべきテストケースの優先度を決定するための情報処理装置、方法、及びプログラム |
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