JP2010261809A - 装置試験システム - Google Patents

Abstract

【課題】試験が実施可能か否かを判定する。
【解決手段】本発明に係る装置試験システムは、１つ以上の被試験装置に対して、それぞれ１つ以上の試験を行う装置試験システムであって、制御装置と、前記被試験装置が出力する信号を測定する１つ以上の測定装置とを含み、前記制御装置は、前記試験で使用される前記１つ以上の測定装置の校正時期を少なくとも示す校正情報に基づいて、前記試験が実施可能か否かを判定する試験実施可否判定手段と、前記試験それぞれが実施可能か否かの判定結果を表示する試験実行可否表示手段とを有する。
【選択図】図２

Description

本発明は、試験の対象となる装置を試験する装置試験システムに関する。

例えば、特許文献１は、複数の制御装置を用いて、複数の被試験装置を自動的に試験する試験自動システムを開示する。

特開２００７−２９２７２３号公報

本発明は、試験に使用する測定装置の使用可否を判定することにより、効率的に試験を実施することができるように改良された装置試験システムを提供することを目的とする。

上記目的を達成するために、本発明に係る装置試験システム（１）は、１つ以上の被試験装置（１８）に対して、それぞれ１つ以上の試験を行う装置試験システムであって、制御装置（１２）と、前記被試験装置が出力する信号を測定する１つ以上の測定装置（１４）とを含み、前記制御装置は、前記試験で使用される前記１つ以上の測定装置の校正時期を少なくとも示す校正情報に基づいて、前記試験が実施可能か否かを判定する試験実施可否判定手段（２３０）と、前記試験それぞれが実施可能か否かの判定結果を表示する試験実行可否表示手段（２２８）とを有する。

好適には、前記制御装置は、前記１つ以上の測定装置の校正情報に基づいて、前記測定装置それぞれが校正時期の過ぎた状態、校正時期までの所定の期間内にある状態、または、これら以外の状態であるかを判定する測定装置状態判定手段（２４０）と、前記測定装置それぞれが前記状態のいずれであるかの判定結果を表示する測定装置状態表示手段（２３８）とをさらに有する。
なお、ここで付された符号は、本願発明の理解を助けることを意図するものであり、本願発明の技術的範囲を限定することを意図するものではない。

本発明に係る装置試験システムによれば、試験に使用する測定装置の使用可否を判定することにより、効率的に試験を実施することができる。

（Ａ）は、本発明に係る装置試験システムの構成を例示する図であり、（Ｂ）は、制御装置のハードウェア構成を例示する図である。 図１（Ａ），（Ｂ）に示した制御装置上で実行される制御装置プログラムの構成を例示する図である。 試験一覧画面を例示する図である。 校正情報一覧画面および校正情報設定画面を例示する図である。 測定装置状態画面を例示する図である。 図２に示した試験実施判定部の処理を示すフローチャートである。 図２に示した装置状態判定部の処理を示すフローチャートである。

［本発明の背景］
本発明の理解を助けるために、まず、本発明がなされるに至った背景を説明する。
装置試験システムは、試験の対象となる被試験装置が出力する信号を、測定装置により測定し、被試験装置の機能・性能などに関する複数の試験を行う。
各試験において正確な測定結果を得るためには、正しく校正されて、使用可能な状態の測定装置を使用する必要がある。
しかしながら、試験実施者が、測定装置が使用可能な状態であるか否かを把握していないと、使用不可能な状態の測定装置を使用して試験を実施し、正確な測定結果を得られないことがある。
以下に説明する装置試験システム１は、このような背景からなされたものであり、実際の試験の開始前にあらかじめ測定装置の使用可否を判定することにより、効率的に試験を実施することができるよう工夫されている。

［装置試験システム］
以下、本発明の実施形態として、装置試験システム１を説明する。
図１（Ａ）は、本発明に係る装置試験システム１（装置試験システム）の構成を示す図である。
図１（Ａ）に示すように、装置試験システム１は、制御装置１２と、ｎ個の測定装置１４−１〜１４−ｎ（ｎ≧１；ただし、全てのｎが常に同数を示すとは限らない）と、ｎ個の被試験装置１８−１〜１８−ｎ（被試験装置）とが、ＬＡＮなどのネットワーク１０に接続され、ｎ個の測定装置１４−１〜１４−ｎと、ｎ個の被試験装置１８−１〜１８−ｎとが、切替装置１６を介して接続されて構成される。

なお、以下、測定装置１４−１〜１４−ｎなど、複数ある構成部分のいずれかを示すときは、単に、測定装置１４と記載することがある。
以下、各図において、実質的に同じ構成部分・処理には、同じ符号が付される。
装置試験システム１は、試験が実施可能か否か、および、試験に使用する測定装置の状態を、試験開始前にあらかじめ判定し、これらの構成部分により、正常に動作する測定装置１４を適切に用いて、被試験装置１８に対して様々な試験を行う。

［ハードウェア構成］
以下、図１（Ａ）に示した制御装置１２のハードウェア構成を説明する。
図１（Ｂ）は、制御装置１２のハードウェア構成を例示する図である。
図１（Ｂ）に示すように、制御装置１２は、メモリ１２２およびＣＰＵ１２４などを含む情報処理装置１２０、キーボードおよび表示装置などを含む外部入出力装置１２６、データ通信を行うための通信装置１２８、および、ハードディスクなどの記録媒体１３２に対してデータの記録を行う記録装置１３０などから構成される。
つまり、制御装置１２は、情報処理、装置試験システム１の各構成部分の制御、および、データ通信が可能なコンピュータとしての構成部分を有している。

［制御装置プログラム２２］
以下、試験システム１の制御装置１２（図１（Ａ），（Ｂ））上で実行される制御装置プログラム２２を説明する。
図２は、試験システム１の制御装置１２上で実行される制御装置プログラム２２を示す図である。
図２に示すように、制御装置プログラム２２は、ユーザインタフェース（ＵＩ）部２２０、装置情報データベース（ＤＢ）２２２、校正情報ＤＢ２２４、試験情報ＤＢ２２６、試験画面表示部２２８、試験実施判定部２３０、装置情報表示部２３２、設定画面表示部２３４、校正情報設定部２３６、装置状態表示部２３８、装置状態判定部２４０、未校正装置表示部２４２、および、未校正装置情報取得部２４４から構成される。
制御装置プログラム２２は、例えば、メモリ１２２（図１（Ｂ））に記憶されて制御装置１２に供給され、必要に応じて、制御装置１２にインストールされたＯＳ（図示せず）上で、制御装置１２のハードウェア資源を、具体的に利用して実行される。
制御装置プログラム２２は、試験の開始前にあらかじめ、試験が実施可能か否か、および、試験に使用する測定装置の状態を判定する。

ＵＩ部２２０は、外部入出力装置１２６（図１（Ｂ））を介して、後述する画面の表示命令や、校正情報の設定命令などを受け入れて、受け入れた命令が示す情報を制御装置プログラム２２の各構成部分に対して出力する。
また、ＵＩ部２２０は、制御装置プログラム２２の各構成部分から入力された画面情報を受け入れて、外部入出力装置１２６に画面を表示させる。
装置情報ＤＢ２２２は、試験の項目番号と、試験の項目名と、試験に使用する測定装置名とを１組にして、実施する全試験についてあらかじめ設定された情報を、以下の表１に示すテーブルで記憶する。

試験項目名の具体例として、例えば、「送信電力」および「送信周波数確度」を挙げることができる。
測定装置名の具体例として、例えば、「オシロスコープ」、「オーディオアナライザ」、「雑音指数アナライザ」などの各種アナライザ、「信号発生器」および「分析器」を挙げることができる。
以下、表１のように、試験項目名は、「試験項目Ａ」などと略記し、測定装置名は、「測定装置Ａ」などと略記する。
また、以下、説明の明確化・具体化のために、全試験の数がＮ個の場合を具体例とし、表１に示すように、試験の項目番号として１からＮの整数を付して説明するが、この具体例は、本願発明の技術的範囲の限定を意図するものではない。
また、装置情報ＤＢ２２２は、試験実施判定部２３０、未校正装置情報取得部２４４の要求に応じて、表１に示す情報（以下、「使用測定装置情報」と記述する）を出力する。

校正情報ＤＢ２２４は、測定装置１４（図１（Ａ））の校正を実施した日、校正の周期、および、次の校正日などの校正時期を示す校正情報を記憶する。
また、校正情報ＤＢ２２４は、校正情報設定部２３６から、校正情報を受け取ると、それに応じて校正情報を更新する。
また、校正情報ＤＢ２２４は、試験実施判定部２３０、装置情報表示部２３２、装置状態判定部２４０、および、未校正装置情報取得部２４４の要求に応じて、校正情報を出力する。

試験情報ＤＢ２２６は、後述する試験実施判定部２３０から入力された試験の実施が可能か否かの判定結果を受け取り、試験情報として記憶する。
また、試験情報ＤＢ２２６は、試験画面表示部２２８の要求に応じて、試験情報を出力する。
また、試験情報ＤＢ２２６は、試験画面表示部２２８から、後述する試験実施情報の変更を受け取ると、それに応じて試験情報を更新する。

試験画面表示部２２８は、ＵＩ部２２０を介して入力された試験一覧画面表示命令を受け取ると、試験実施判定部２３０に対して、試験の実施が可能か否かの判定を要求する。
試験画面表示部２２８は、試験実施判定部２３０から判定終了通知を受け取ると、試験情報ＤＢ２２６に対して、全試験それぞれの実施可否を示す試験情報を要求し、要求に応じて返された試験情報を取得する。
また、試験画面表示部２２８は、取得した試験情報に基づいて、試験の実施可否を示す情報を含む試験一覧画面（図３を参照して後述）を生成し、ＵＩ部２２０を介して、生成した画面を外部入力装置１２６に表示させる。

さらに、試験画面表示部２２８は、ＵＩ部２２０を介して入力された試験実施情報変更命令を受け取ると、試験情報ＤＢ２２６に対して、変更情報を出力する。
試験実施情報は、ある試験を実施するか否かを示し、その変更は、ある試験を実施しないようにする、あるいは、実施しないとされている試験を実施するようにすることである。
試験実施判定部２３０は、試験画面表示部２２８から、試験実施可否の判定要求を受け取ると、装置情報ＤＢ２２２と校正情報ＤＢ２２４に対して、それぞれ使用測定装置情報と校正情報とを要求し、要求に応じて返された使用測定装置情報と校正情報とを取得する。

また、試験実施判定部２３０は、取得した情報に基づいて、試験それぞれが実施可能か否かの判定を行い、試験情報ＤＢ２２６に対して、判定結果を出力する。
また、試験実施判定部２３０は、判定が終了すると、試験画面表示部２２８に対して、判定終了を通知する。
装置情報表示部２３２は、ＵＩ部２２０を介して入力された校正情報一覧画面表示命令を受け取ると、校正情報ＤＢ２２４に対して、校正情報を要求し、要求に応じて返された校正情報を取得する。
また、装置情報表示部２３２は、取得した校正情報に基づいて、測定装置の校正情報一覧画面（図４を参照して後述）を生成し、ＵＩ部２２０を介して、生成した画面を入出力装置１２６に表示させる。

設定画面表示部２３４は、ＵＩ部２２０を介して入力された測定装置名と校正情報設定画面表示命令とを受け取ると、入力された測定装置名の校正情報設定画面（図４を参照して後述）を、ＵＩ部２２０を介して、入出力装置１２６に表示させる。
また、設定画面表示部２３４は、ＵＩ部２２０を介して入力された測定装置名と、校正日や校正周期などの校正情報と、校正情報設定命令とを受け取ると、校正情報設定部２３６に対して、受け取った測定装置名と校正情報とを出力する。
校正情報設定部２３６は、設定画面表示部２３４から入力された測定装置名と校正情報とを受け取り、校正日と校正周期に基づいて次の校正日を計算する。
また、校正情報設定部２３６は、設定画面表示部２３４から入力された測定装置の校正日、校正周期、および、計算した次の校正日などの校正情報を校正情報ＤＢ２２４対して出力する。

装置状態表示部２３８は、ＵＩ部２２０を介して入力された測定装置状態画面表示命令を受け取ると、装置状態判定部２４０に対して、測定装置の状態判定を要求する。
測定装置の状態は、例えば、以下の（１）〜（３）に示す３種類がある。
（１）測定装置の次の校正日を過ぎた状態（以下、「校正期限切れ」と記述する）。
（２）次の校正日までの所定の期間内にある状態（以下、「校正期限間近」と記述する）。
（３）次の校正日までの所定の期間よりも前の状態（以下、「校正不要」と記述する）。
また、装置状態表示部２３８は、装置状態判定部２４０から入力された測定装置の状態判定結果を受け取ると、測定装置それぞれの状態一覧画面（図５を参照して後述）を、ＵＩ部２２０を介して、入出力装置１２６に表示させる。
なお、装置状態表示部２３８は、上述のように測定装置状態画面表示命令を受け取ることなく、制御プログラム２２の起動時などに、装置状態判定部２４０に対して、測定装置の状態判定を要求してもよい。

装置状態判定部２４０は、装置状態表示部２３８から、測定装置の状態判定要求を受け取ると、校正情報ＤＢ２２４に対して、校正情報を要求し、要求に応じて返された校正情報を取得する。
また、装置状態判定部２４０は、取得した情報に基づいて、測定装置それぞれの状態を判定し、装置状態表示部２３８に対して、判定結果を出力する。
未校正装置表示部２４２は、ＵＩ部を介して入力された試験の項目名と未校正装置表示命令とを受け取ると、未校正装置情報取得部２４４に対して、試験の項目名を出力し、項目名に対応する試験が使用する測定装置のうち、校正期限切れの測定装置名の取得を要求する。

また、未校正装置表示部２４２は、未校正装置情報取得部２４４から入力された校正期限切れの測定装置名を受け取ると、当該測定装置名の一覧を、ＵＩ部２２０を介して、入出力装置１２６に表示させる。
未校正装置情報取得部２４４は、未校正装置表示部２４２から入力された試験項目名と、測定装置名の取得要求とを受け取ると、装置情報ＤＢ２２２と校正情報ＤＢ２２４に対して、それぞれ使用測定装置情報と校正情報とを要求し、要求に応じて返された使用測定装置情報と校正情報とを取得する。
また、未校正装置情報取得部２４４は、取得した情報に基づいて、入力された試験項目名に対応する試験が使用する測定装置のうち、校正期限切れの測定装置名を取得し、未校正装置表示部２４２に対して、当該測定装置名を出力する。

［試験一覧画面］
以下、図２で示した試験画面表示部２２８が、入出力装置１２６（図１（Ｂ））に表示させる試験一覧画面を説明する。
図３は、試験画面表示部２２８が、入出力装置１２６に表示させる試験一覧画面を例示する図である。
図３に示すように、試験一覧画面は、被試験装置表示部３００、試験一覧表示部３０２、試験実施可否表示部３０４、および、測定開始ボタン３０６から構成される。
被試験装置表示部３００は、被試験装置名と固有識別番号などの一覧を表示し、さらに実際に試験を行う被試験装置１８（図１（Ａ））は「電源投入中」などと表示する。
例えば、図３に示すように、被試験装置１８の１つである"Ｕ／Ｖ試験"は電源投入中であり、その固有識別番号は"２００７−０１−０００１"である。

試験一覧表示部３０２は、被試験装置１８に対して行われる試験の一覧と、各試験の結果である測定値などを表示する。
試験実施可否表示部３０４は、各試験が実施可能であるか否か、および、実施を行うか否かを表示する。
具体的には、例えば、図３に示すように、試験が実施不可能であると判定された試験の実施可否表示欄には"！"マークが表示される。

また、試験実施者が、各試験の実施可否表示欄をクリックするごとに、"！"マークが表示されている欄では、空白、"×"、"！"マークが、それ以外の欄では、"空白"、"×"マークが交互に表示される。
表示が変更されると、空白のときは試験を実施することを、"×"または"！"マークのときは試験を実施しないことを試験実施情報とする変更命令が、試験画面表示部２２８（図２）に対して出力される。
測定開始ボタン３６０は、試験一覧表示部３０２に表示された試験の開始命令を受け付ける。

［校正情報一覧／設定画面］
以下、図２に示した装置情報表示部２３２が、入出力装置１２６（図１（Ｂ））に表示させる測定装置の校正情報一覧画面と、設定画面表示部２３４が、入出力装置１２６に表示させる校正情報設定画面とを説明する。
図４は、装置情報表示部２３２が、入出力装置１２６に表示させる測定装置の校正情報一覧画面と、設定画面表示部２３４が、入出力装置１２６に表示させる校正情報設定画面とを例示する図である。
図４に示すように、校正情報一覧画面は、校正情報一覧表示部３１０、および、設定ボタン３１２から構成される。
校正情報一覧表示部３１０は、測定装置名と各測定装置の最新の校正実施日、校正周期、および、次の校正日などを表示する。

また、校正情報一覧表示部３１０に表示される測定装置名一覧のうちの一つがクリックされることにより選択されると、図４に示すように、選択された測定装置を表示する行が斜線で塗りつぶされる。
また、校正情報一覧表示部３１０は、測定装置名を表示する行を、測定装置の状態に応じて色分けし、測定装置の状態を識別できるよう表示してもよい。
設定ボタン３１２は、校正情報を設定するための校正情報設定画面の表示命令を受け付ける。
校正情報一覧表示部３１０に表示される測定装置名一覧のうちの一つが選択され、設定ボタン３１２が押下されると、選択された測定装置名と校正情報設定画面表示命令とが、設定画面表示部２３４（図２）に対して出力される。

設定画面表示部２３４（図２）は、測定装置名と校正情報設定画面表示命令を受け取ると、図４に示すように、選択された測定装置の校正情報設定画面３１４を表示する。
校正情報設定画面３１４は、選択された測定装置の校正日や校正周期などの校正情報を設定するためのフォームと、設定した情報を登録するための登録ボタンなどから構成される。
フォームから校正情報が設定され、登録ボタンが押下されると、選択された測定装置名、設定された校正情報、および、校正情報設定命令とが、設定画面表示部２３４に対して出力される。
設定画面表示部２３４は、上述したように、校正情報設定部２３６（図２）に対して、測定装置名と、設定された校正情報とを出力する。

［測定装置状態一覧画面］
以下、図２に示した装置状態表示部２３８が、入出力装置１２６（図１（Ｂ））に表示させる測定装置状態画面を説明する。
図５は、装置状態表示部２３８が、入出力装置１２６に表示させる測定装置状態画面を例示する図である。
図５に示すように、測定装置状態画面は、測定装置状態表示部３２０、状態判定結果表示部３２２、および、状態確認ボタン３２４から構成される。
測定装置状態表示部３２０は、測定装置それぞれをブロックで表示し（ここでは、簡略化のため、一部の測定装置名を「********」と表記する）、測定装置の状態に応じてブロックを所定のパターンで塗りつぶす。

具体的には、例えば、図５に示すように、校正期限切れである「測定装置Ｅ」、「測定装置Ｉ」および「測定装置Ｌ」などは、細い斜線によりブロックが塗りつぶされる。
また、校正期限間近である「測定装置Ｂ」および「測定装置Ｃ」などは、太い斜線によりブロックが塗りつぶされる。
状態判定結果表示部３２２は、校正期限切れと判定された測定装置の一覧と、校正期限切れである旨とを表示する。

状態確認ボタン３２４は、測定装置の状態を表示させる命令を受け付ける。
状態確認ボタン３２４が押下されると、測定装置状態画面表示命令が、装置状態表示部２３８（図２）に対して出力される。
装置状態表示部２３８は、測定装置状態画面表示命令を受け取ると、上述したように、装置状態判定部２４０（図２）から入力された判定結果を、測定装置状態表示部３２０および状態判定結果表示部３２２に表示する。

［試験実施判定部４０の処理］
図６は、図２に示した試験実施判定部４０の処理を示すフローチャートである。
以下、図６を参照して、試験実施判定部４０の処理をさらに説明する。
上述したように、試験画面表示部２２８（図２）から、試験実施可否の判定要求を受け取ることによって、試験実施判定部４０の処理が開始する。
処理が開始すると、図６に示すように、ステップ４００（Ｓ４００）において、試験実施判定部４０は、試験の項目番号ｎを１に初期化する。

ステップ４０２（Ｓ４０２）において、試験実施判定部４０は、試験項目番号ｎの試験で使用されるすべての測定装置名を、装置情報ＤＢ２２４（図２）から取得する。
ステップ４０４（Ｓ４０４）において、試験実施判定部４０は、Ｓ４０２において取得したすべての測定装置の次の校正日を、校正情報ＤＢ２２６（図２）から取得する。
ステップ４０６（Ｓ４０６）において、試験実施判定部４０は、Ｓ４０４において取得した次の校正日が、現在の日付よりも後であるか否かを判定する。
次の校正日がすべて現在の日付よりも後であるときは、Ｓ４０８の処理に進み、それ以外のときはＳ４１０の処理に進む。

ステップ４０８（Ｓ４０８）において、試験実施判定部４０は、試験実施可の判定結果を、試験情報ＤＢ２２８（図２）に対して出力する。
ステップ４１０（Ｓ４１０）において、試験実施判定部４０は、試験実施不可の判定結果を、試験情報ＤＢ２２８に対して出力する。
ステップ４１２（Ｓ４１２）において、試験実施判定部４０は、試験項目番号ｎが、最後の試験番号Ｎと等しいか否かを判定する。
試験項目番号ｎが、最後の試験番号Ｎと等しいときは、処理が終了し、それ以外のときは、Ｓ４１４の処理に進む。
ステップ４１４（Ｓ４１４）において、試験実施判定部４０は、試験番号ｎをｎ＋１に更新する。

［装置状態判定部４２の処理］
図７は、図２に示した装置状態判定部４２の処理を示すフローチャートである。
以下、図７を参照して、装置状態判定部４２の処理をさらに説明する。
上述したように、装置状態表示部２４０（図２）から、測定装置の状態判定要求を受け取ることによって、装置状態判定部４２の処理が開始する。
処理が開始すると、図７に示すように、ステップ４２０（Ｓ４２０）において、装置状態判定部４２は、１つの測定装置の次の校正日を、校正情報ＤＢ２２６（図２）から取得する。

ステップ４２２（Ｓ４２２）において、装置状態判定部４２は、Ｓ４２０において取得した次の校正日が、現在の日付よりも前であるか否かを判定する。
次の校正日が現在の日付よりも前であるときは、Ｓ４２４の処理に進み、それ以外のときは、Ｓ４２６の処理に進む。
ステップ４２４（Ｓ４２４）において、装置状態判定部４２は、校正期限切れの判定結果を、装置状態表示部２４０（図２）に対して出力する。

ステップ４２６（Ｓ４２６）において、装置状態判定部４２は、現在の日付から、Ｓ４２０において取得した次の校正日までの残日数があらかじめ設定された所定の日数以下であるか否かを判定する。
所定の日数以下あるときは、Ｓ４２８の処理に進み、それ以外のときはＳ４３０の処理に進む。
ステップ４２８（Ｓ４２８）において、装置状態判定部４２は、校正間近の判定結果を、装置状態表示部２４０に対して出力する。

ステップ４３０（Ｓ４３０）において、装置状態判定部４２は、校正不要の判定結果を、装置状態表示部２４０に対して出力する。
ステップ４３２（Ｓ４３２）において、装置状態判定部４２は、すべての測定装置について判定済であるか否かを判定する。
判定済であるときは、処理が終了し、それ以外のときは、Ｓ４２０の処理に進む。

［装置試験システム１の全体動作例］
以下、装置試験システム１（図１（Ａ））の全体動作例を説明する。
なお、以下、試験実施者や測定装置１４の校正を行う校正実施者など、外部から何らかの操作を行う者を「ユーザ」と記述する。
制御装置１２は、コマンドラインの入力や画面表示アイコンの起動などにより生成される試験一覧画面の表示命令を受け取ると、図３に示した試験一覧画面を表示する。
ユーザが、図３に示した画面から、各試験を実施するか否かの情報を設定すると、制御装置１２は、設定された情報を記憶する。

ユーザが、図３に示した画面に表示される測定開始ボタンを押下すると、制御装置１２は、測定装置１４、切替装置１６、および、被試験装置１８をそれぞれ制御して、実施すると設定された試験を開始する。
具体的には、制御装置１２は、切替装置１６を制御して、測定装置１４と被試験装置１８を接続させる。
次に、制御装置１２は、被試験装置１８を制御して、試験信号を出力させる。
被試験装置１８は、切替装置１６を介して接続された測定装置１４に対して、試験信号を出力する。

測定装置１４は、切替装置１６を介して接続された被試験装置１８から入力された試験信号を受信し、制御装置１２に対して出力する。
制御装置１２は、図３に示した画面に各試験の試験信号測定結果を表示する。
また、制御装置１２は、コマンドライン入力や画面表示アイコンの起動などにより生成された校正情報一覧画面の表示命令を受け取ると、図４に示した校正情報一覧画面を表示する。

ユーザが、図４に示した測定装置名一覧から、１つの測定装置１４を選択し、設定ボタンを押下すると、制御装置１２は、図４に示した校正情報設定画面を表示する。
ユーザが、校正情報設定画面から、選択した測定装置１４の校正情報を入力すると、制御装置１２は、入力された校正情報を記憶する。
また、制御装置１２は、コマンドライン入力や画面表示アイコンの起動などにより生成された測定装置状態画面表示命令を受け取ると、図５に示した測定装置状態画面を表示する。
また、制御装置１２は、ユーザが、図３に示した試験一覧のうちの１つの試験項目欄をダブルクリックするなどにより生成された未校正装置表示命令を受け取ると、選択した試験で使用される測定装置１４のうち未校正の測定装置１４の一覧を表示する。

［装置試験システム１の特徴］
以下、装置試験システム１の特徴を説明する。
以上説明したように、装置試験システム１は、試験に使用する測定装置の状態を判定することにより、測定装置の状態と試験実施可否を、ユーザ対して表示する。
この表示を参照することにより、試験開始前に、測定装置１４の状態を把握可能なので、校正期限切れの測定装置１４を用いた試験の実施が未然に防がれ、正確な試験結果が得られる。
また、校正期限間近である測定装置を把握し、その測定装置の校正期限までに校正時間を確保できるよう、その測定装置を使用する試験を実施しない期間をあらかじめ設けることにより、効率的に試験を実施することができる。

１・・・装置試験システム、１０・・・ネットワーク、１２・・・制御装置、１４・・・測定装置、１６・・・切替装置、１８・・・被試験装置、１２０・・・情報処理装置、１２２・・・メモリ、１２４・・・ＣＰＵ、１２６・・・外部入出力装置、１２８・・・通信装置、１３０・・・記録装置、１３２・・・記録媒体、２２・・・制御装置プログラム、２２０・・・ＵＩ部、２２２・・・装置情報ＤＢ、２２４・・・校正情報ＤＢ、２２６・・・試験情報ＤＢ、２２８・・・試験画面表示部、２３０・・・試験実施判定部、２３２・・・装置情報表示部、２３４・・・設定画面表示部、２３６・・・校正情報設定部、２３８・・・装置状態表示部、２４０・・・装置状態判定部、２４２・・・未校正装置表示部、２４４・・・未校正装置情報取得部、３００・・・被試験装置表示部、３０２・・・試験一覧表示部、３０４・・・試験実施可否表示部、３０６・・・測定開始ボタン、３１０・・・校正情報一覧表示部、３１２・・・設定ボタン、３１４・・・校正情報設定画面、３２０・・・測定装置状態表示部、３２２・・・状態判定結果表示部、３２４・・・状態確認ボタン

Claims (2)

1. １つ以上の被試験装置に対して、それぞれ１つ以上の試験を行う装置試験システムであって、
   制御装置と、
   前記被試験装置が出力する信号を測定する１つ以上の測定装置と
   を含み、
   前記制御装置は、
   前記試験で使用される前記１つ以上の測定装置の校正時期を少なくとも示す校正情報に基づいて、前記試験が実施可能か否かを判定する試験実施可否判定手段と、
   前記試験それぞれが実施可能か否かの判定結果を表示する試験実行可否表示手段と
   を有する
   装置試験システム。
2. 前記制御装置は、
   前記１つ以上の測定装置の校正情報に基づいて、前記測定装置それぞれが校正時期の過ぎた状態、校正時期までの所定の期間内にある状態、または、これら以外の状態であるかを判定する測定装置状態判定手段と、
   前記測定装置それぞれが前記状態のいずれであるかの判定結果を表示する測定装置状態表示手段と
   をさらに有する
   請求項１に記載の装置試験システム。