CN1804648B - 自动测试装置校准因子的递增产生 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了用于产生自动测试装置的校准数据的方法。在一个实施例中，接收到对自动测试装置(ATE)执行校准过程的请求。该请求与校准参数集合相关联。在接收到该请求之后，对应于校准参数集合的校准数据的一个或多个签名被导出，并且判断对应于所述一个或多个签名的校准数据是否已经产生。随后，产生校准数据的递增集合，其中所产生的校准数据i)对应于所述一个或多个签名，但是ii)还未产生。在另一实施例中，接收到对ATE执行校准过程的请求，并且该请求与指定的测试设置相关联。然后产生对应于所述指定的测试设置的校准数据的递增集合。

Description

自动测试装置校准因子的递增产生
技术领域
本发明涉及自动测试装置的校准，更具体地说，涉及自动测试装置的校准因子的递增产生。
背景技术
在制造和/或销售电子设备(包括诸如电路板、集成电路或片上系统(SOC)之类的系统或组件)之前，通常会对设备进行测试，以判断该设备是否按设计那样被建造或工作。通常，这种测试由自动测试装置(ATE，也被称为“测试器”)来执行。
为了使ATE的结果有意义，ATE需要被校准。就是说，必须量化在不同条件和测试设置下的测试期间，ATE可能引起的固有系统误差。用于量化ATE固有系统误差的数据通常被称为“校准数据”，并且可以包括一个或多个“校准因子”。校准数据一旦产生，就被用于从原始测试数据中去除ATE的固有系统误差。
一种刻画ATE固有系统误差的方法是直接测量它们。通常，这种校准包含：将各种ATE探针耦合到一个或多个已知良好的“校准标准”，执行测量，然后将测量结果与期望的测量结果相比较。
用于刻画ATE固有系统误差的另一种方法是利用数学模型对它们建模。然后可以从模型中计算校准数据(尽管可能仍旧需要使用一个或多个校准标准来获取某些测量结果)。
发明内容
在一个实施例中，用于产生ATE的校准数据的方法包括首先接收对ATE执行校准过程的请求，该请求与校准参数集合相关联。然后，对应于校准参数集合的校准数据的一个或多个签名被导出，并且判断对应于所述一个或多个签名的校准数据是否已经产生。随后，产生校准数据的递增集合，其中所产生的校准数据的递增集合对应于所述一个或多个签名，但是还未产生。
在另一实施例中，用于产生ATE的校准数据的方法包括首先接收对ATE执行校准过程的请求，该请求与指定的测试设置相关联。然后产生对应于所述指定的测试设置的校准数据的递增集合。
这里还公开了其他实施例。
附图说明
在附图中示出了本发明的示例性实施例，在附图中：
图1示出了用于产生ATE的校准数据的第一示例性方法；以及
图2示出了用于产生ATE的校准数据的第二示例性方法。
具体实施方式
除了在首次使用时校准ATE之外，一般还在以下情况下校准ATE：在每次改变ATE的配置时，在每次将ATE用于测试一种新型设备时，当测试设置改变时，当环境条件(例如温度或湿度)改变时，并且还可以周期性地(例如在已经测试了许多设备之后，或者在一定数量的测试小时数之后)校准ATE。
迄今为止，ATE以下述两种方式之一被校准：“作为整体”被校准，或者基于当前载入的测试设置被校准。图1示出了用于产生ATE的校准数据的示例性备选方法100。方法100从接收(102)对ATE执行校准过程的请求开始。但是，与过去的校准方法形成对照，该请求与校准参数集合相关联。在某些情况下，校准参数集合可以被包含在请求内，在其他情况下，校准参数集合可以只被该请求所引用。可以被包括在校准参数集合中的参数类型包括：一条或多条测试路径(例如激励和/或测量路径，以及一条或多条ATE引线的标识)的指示、时间性指示(例如时间戳或龄期(age))、一个或多个测试频率(例如频率范围)、一个或多个调制格式、一个或多个测量带宽、一个或多个测试设置(例如包括少于所有载入的测试设置的子集)、一个或多个功率或电压电平，和/或其他参数。
校准参数集合的参数可以在或不在接收到校准请求时被定义。例如，用户可以请求执行校准过程，并且同时用户可以向用户界面中的一个或多个框提供一个或多个校准参数，或者从用户界面中的一个或多个框中选择校准参数。可替换地，用户可以在请求校准之前，预先指定校准参数集合，或者用于导出校准参数集合的规则。例如，用户可能指定：在每次请求校准时，对所有当前输入的测试设置执行校准，或者对所有新的测试设置执行校准。或者，用户可能指定：在每次请求校准时，重新产生某日期之前的所有校准数据。然后，当用户请求校准时，软件可以访问用户的在先规范，以确定哪些参数应该被包括到当前校准参数集合中。
在另一实施例中，软件可以被配置为周期性地校准ATE，或者响应于某些事件而校准ATE。在这些情况下，软件无需任何用户输入就可以导出校准参数集合。例如，软件可以每24小时发起一次与包括时间戳的校准参数集合相关联的校准请求，所述时间戳指示需要重新产生哪些校准数据。或者，软件可以向ATE询问新的测试设置，然后将校准请求与标识出所有当前载入的测试设置的参数集合相关联。
无论产生请求的方式，或者校准参数集合中的参数类型和数目是怎样的，方法100都继续导出(104)用于对应于参数集合的校准数据的一个或多个签名。在一个实施例中，通过访问ATE的一组校准规则(例如指示对于ATE可以校准什么，以及以什么频率、调制格式等等的一组规则)来导出签名。在与产生签名相同或大致相同的时刻，可以产生基于校准参数集合和校准规则的特定校准任务，其中每个校准任务都与签名中的一个相应签名相关联。
这时，可以使用所产生的一个或多个签名来判断(106)是否已经产生了对应于所述一个或多个签名的校准数据。在一个实施例中，通过使用所述一个或多个签名检索校准数据的数据库来执行该判断。如果这是对ATE的首次校准过程，那么数据库可以为空(即，空集)或者不存在。如果数据库不存在，则它被实例化(instantiate)。
在某些情况下，判断是否已经产生校准数据的步骤可以包括判断是否曾经产生一条特定的校准数据。在其他情况下，判断是否已经产生校准数据的步骤可以包括判断与一条特定校准数据的相关签名包括在一起的时间戳是否处于有效范围内。如果不是，那么虽然该校准数据已经产生，也要将其看作还未产生(即，因为具有正确时间戳的校准数据还未产生)。关于是否已经产生校准数据的判断也可以依赖于出现在校准数据签名中的参数类型，而以其他方式来执行。
在判断对应于导出的一个或多个签名的校准数据是否已经存在之后，产生(108)如下校准数据的递增集合，该递增集合1)对应于所述一个或多个签名，但是2)还未产生。在一个实施例中，通过执行之前产生的校准任务来产生校准数据。在另一实施例中，现在访问校准规则，以确定需要被执行的校准任务的递增集合。
在产生校准数据的递增集合期间或者之后，可以将所产生的校准数据添加到校准数据的现有数据库中，或者被存储到递增数据库中。优选地，所产生的校准数据与其相关的一个或多个签名一道被存储，从而使方法100的后续执行可以检索校准数据，以判断它是否已经存在(并且仍旧有效)。
在某些情况下，可以将校准数据的一个或多个数据库存储在ATE存储器内。在其他情况下，可以在ATE之外存储校准数据的一个或多个数据库，从而释放ATE的资源。
图2示出了用于产生ATE的校准数据的第二示例性方法200。与方法100相同，方法200从接收(202)对ATE执行校准过程的请求开始。但是，在方法200中，该请求与指定的测试设置相关联。然后产生(204)对应于所指定的测试设置的校准数据的递增集合。测试设置可以由用户指定，或者可替换地，由计算机软件(例如判断哪些测试设置是新的的软件)指定。在某些情况下，方法200可以与方法100相结合，从而响应于数据签名和指定的测试设置两者来产生校准数据的递增集合。
在一个实施例中，图1、图2所示的方法或其任意变体可以被实施为存储于机器可读介质(例如，一种或多种固定盘、诸如压缩盘(CD)或数字多功能盘(DVD)之类的可移动介质、随机访问或只读存储器，或其任意组合，无论它们在单个位置中、在单个机器上，或者分布在网络中)上的指令序列。当这些指令序列被诸如计算机系统之类的机器执行时，致使机器执行方法100或200的动作。作为示例，执行指令序列的机器可以是片上系统(SOC)测试器(例如Agilent 93000 SOC测试器)或者集成电路测试器(例如Agilent 84000射频(RF)集成电路测试器)。93000和84000都可以从总部位于美国加州Palo Alto的安捷伦科技有限公司获得。
ATE的成批校准可能极端耗时。因此递增校准的使用可以在设备测试期间节省大量时间。

Claims (13)

1.一种用于产生自动测试装置的校准数据的方法，包括：
接收对所述自动测试装置执行校准过程的请求，所述请求与校准参数集合相关联；
导出用于与所述校准参数集合相对应的校准数据的一个或多个签名；
判断对应于所述一个或多个签名的校准数据是否已经产生；以及
产生以下校准数据的递增集合，所述校准数据的递增集合对应于所述一个或多个签名，但是还未产生。
2.如权利要求1所述的方法，其中通过访问用于所述自动测试装置的一组校准规则来导出所述一个或多个签名。
3.如权利要求2所述的方法，其中通过执行基于对应于所述校准参数集合的校准规则中的一些校准规则的校准任务来产生校准数据。
4.如权利要求1所述的方法，其中所述判断对应于一个或多个签名的校准数据是否已经产生的步骤包括使用所述签名来检索校准数据的数据库；所述方法还包括将所产生的校准数据和相应的签名存储到所述数据库中。
5.如权利要求1所述的方法，其中所述校准数据的数据库最初为空集。
6.如权利要求1所述的方法，其中所述对自动测试装置执行校准过程的请求还与指定的测试设置相关联；并且
其中所述校准数据的递增集合被局限于也对应于所述指定的测试设置的校准数据。
7.如权利要求1所述的方法，其中所述校准参数集合和所述一个或多个签名包括测试路径。
8.如权利要求1所述的方法，其中所述校准参数集合和所述一个或多个签名包括时间性指示。
9.如权利要求8所述的方法，其中所述时间性指示至少包括以下两者之一：时间戳和龄期。
10.如权利要求1所述的方法，其中所述校准参数集合和所述一个或多个签名包括测试频率。
11.如权利要求1所述的方法，其中所述校准参数集合和所述一个或多个签名包括调制格式。
12.如权利要求1所述的方法，其中所述校准参数集合和所述一个或多个签名包括测量带宽。
13.如权利要求1所述的方法，其中所述校准数据包括射频校准数据。
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Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7668512B2 (en) * 2003-01-15 2010-02-23 Avago Technologies Fiber Ip (Singapore) Pte. Ltd. Transceiver with a test mode of operation
US7616036B1 (en) 2005-09-12 2009-11-10 Virage Logic Corporation Programmable strobe and clock generator
US9243938B2 (en) 2010-08-04 2016-01-26 Fluke Corporation Single TEDS electronic data sheet for multiple accelerometers
US9494671B2 (en) * 2013-11-08 2016-11-15 Advantest Corporation Method and apparatus for improving differential direct (DC) measurement accuracy
CN105912341A (zh) * 2016-04-27 2016-08-31 乐视控股（北京）有限公司 一种传感器的校准参数的配置方法及电子设备
CN109782209A (zh) * 2019-03-11 2019-05-21 上海精密计量测试研究所 脉冲功率校准因子校准方法

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0254017A2 (en) * 1986-07-22 1988-01-27 Credence Systems Corporation Calibrated automatic test system
CN2630863Y (zh) * 2003-06-28 2004-08-04 浙江浙大中控技术有限公司 一种测量模块的自动校准装置

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6202186B1 (en) * 1999-01-29 2001-03-13 Credence Systems Corporation Integrated circuit tester having pattern generator controlled data bus
US20040181731A1 (en) * 2000-04-12 2004-09-16 Advantest Corporation Semiconductor test system storing pin calibration data, commands and other data in non-volatile memory
US6567941B1 (en) * 2000-04-12 2003-05-20 Advantest Corp. Event based test system storing pin calibration data in non-volatile memory
US7356430B2 (en) * 2001-05-24 2008-04-08 Test Advantage, Inc. Methods and apparatus for data analysis
US6876938B2 (en) * 2003-01-07 2005-04-05 Guide Technology, Inc. Method to provide a calibrated path for multi-signal cables in testing of integrated circuits
US6931338B2 (en) * 2003-01-07 2005-08-16 Guide Technology, Inc. System for providing a calibrated path for multi-signal cables in testing of integrated circuits
US6804620B1 (en) * 2003-03-21 2004-10-12 Advantest Corporation Calibration method for system performance validation of automatic test equipment
US20040236531A1 (en) * 2003-05-19 2004-11-25 Robert Madge Method for adaptively testing integrated circuits based on parametric fabrication data

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0254017A2 (en) * 1986-07-22 1988-01-27 Credence Systems Corporation Calibrated automatic test system
CN2630863Y (zh) * 2003-06-28 2004-08-04 浙江浙大中控技术有限公司 一种测量模块的自动校准装置

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