JPH05225077A - Eccを保持したメモリ制御回路のハードエラー検出方式 - Google Patents

Eccを保持したメモリ制御回路のハードエラー検出方式

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JPH05225077A
JPH05225077A JP4029380A JP2938092A JPH05225077A JP H05225077 A JPH05225077 A JP H05225077A JP 4029380 A JP4029380 A JP 4029380A JP 2938092 A JP2938092 A JP 2938092A JP H05225077 A JPH05225077 A JP H05225077A
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JP
Japan
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bit error
error
bit
syndrome
address
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP4029380A
Other languages
English (en)
Inventor
Toshikatsu Nagasawa
敏勝 長澤
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NEC Software Shikoku Ltd
Original Assignee
NEC Software Shikoku Ltd
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Publication date
Application filed by NEC Software Shikoku Ltd filed Critical NEC Software Shikoku Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】ECCを保持したメモリにおいて、メモリが1
ビットエラーを発生したとき、ハードエラーかソフトエ
ラーかを判断する制御回路を保持してハードエラーが発
生したらCPUに割込みにより報告を行う。 【構成】1ビット障害の発生した障害アドレスと障害シ
ンドロームを2世代においてメモリ3で保持し、それら
を比較回路a13,b14で比較し、その結果が一致す
れば、ハードエラーと判断し、CPU1に対して障害割
込みを行う。 【効果】ソフトエラーはハードエラーに比べて故障率が
2桁高くなるが、上記により、ソフトエラーかハードエ
ラーかの判別ができ、不必要なメモリを交換しなくてす
み、保守員の作業を低減できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、メモリ制御回路に関
し、特にメモリの読出し時にハードエラーが発生した割
り込みを中央処理装置に報告するハードエラー検出方式
に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、この種のECCを保持したメモリ
制御回路は、1ビットエラー発生時、中央処理装置に障
害割り込みを発生している。そして、ソフトエラーと、
ハードエラーとにかかわらず、1ビットエラーが発生し
たら中央処理装置に報告するかまたはビット訂正を行っ
てなにも報告をしないかのどちらかの処理しか行ってい
ない。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来のECC
を保持したメモリ制御回路は、ソフトエラー、ハードエ
ラーにかかわらず1ビットエラーが発生したら中央処理
装置に報告するかまたはビット訂正を行ってなにも報告
をしないかのどちらかの処理しか行っていなく、障害割
り込みが発生したにしてもソフトエラーの発生する可能
性がハードエラーが発生する可能性に比べて2桁程度高
く、また、ソフトエラーはビット位置より読出し時間に
依存しているため、不良のメモリ素子を特定することが
難かしく、メモリ素子を交換しても再発を防ぐことはで
きないという欠点がある。
【0004】そして、中央処理装置としては1ビットエ
ラー障害報告を受けると、ログアウトを採取し、保守員
がメモリPKGの交換をすることになるが、ソフトエラ
ーが発生したのにもかかわらずPKGを交換するという
問題がある。
【0005】また、ハードエラーは、1ビットエラーが
発生しているメモリ素子があれば、そのアドレスとその
ビットを読み出す度に1ビットエラーが固定的に発生す
るので、早く不良個所を交換しておかないと2ビットエ
ラーに波及するという欠点がある。
【0006】本発明の目的は 1ビット障害の発生した
障害アドレスと障害シンドロームを2世代においてメモ
リ3で保持し、それらを比較回路a13,b14で比較
し、その結果が一致すれば、ハードエラーと判断し、C
PU1に対して障害割込みを行うことにより、上記の欠
点を解消し、ハードエラーならばPKGの交換を早急に
行い、2ビットエラーの発生を未然に防と同時に、不必
要なメモリを交換しなくてすみ、保守員の作業を低減で
きるECCを保持したメモリ制御回路のハードエラー検
出方式を提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明のECCを保持し
たメモリ制御回路のハードエラー検出方式は、メモリ読
出し時のメモリデータとチェックビットとにより1ビッ
トエラー発生時に1ビットエラーを修正する装置でメモ
リより読み出したデータとチェックビットにより検査符
号であるシンドロームを生成するシンドロームジェネレ
ータと、1ビットエラーが検出されると該当するエラー
ビットを検出するシンドロームデコーダと、前記シンド
ロームデコーダの情報により1ビットエラー時に該当ビ
ットの訂正を行うデータコレクタとにより構成されるE
CCを保持したメモリ制御回路のハードエラー検出方式
において、1ビットエラーが発生した読出しアドレスを
格納する第一の格納手段と、同時に1ビットエラーが発
生した前記シンドロームデコーダの値を格納する第二の
格納手段と、前記第一、第二の格納手段により格納した
データの有効性を意味する障害アドレス及びシンドロー
ムデコーダの値を保持する第一の有効保持手段と、次に
1ビットエラーが検出されると1ビットエラーが発生し
た読出しアドレスを格納する第三の格納手段と、同時に
1ビットエラーが発生したシンドロームデコーダの値を
格納する第四の格納手段と、第三、第四の格納手段によ
り格納したデータの有効性を意味する第二の有効保持手
段と、現時点で発生した1ビットエラーと一つ前に発生
した1ビットエラーのアドレスとシンドロームデコーダ
の値とを比較するために第一と第三の格納手段で格納さ
れたアドレスを比較する第一の比較手段と、第二と第四
の格納手段で格納されたシンドロームデコーダの値を比
較する第二の比較手段とを有し、第一、第二の比較手段
により比較した結果が一致し、第一、第二の有効保持手
段のデータの有効状態が有効であった場合、中央処理装
置に割り込み信号を発生している。
【0008】
【実施例】次に、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。
【0009】図1は本発明の一実施例のECCを保持し
たメモリ制御回路のハードエラー検出方式を説明するた
めのブロック図である。
【0010】図1において、本実施例のECCを保持し
たメモリ制御回路のハードエラー検出方式を説明するた
めの構成は、CPU1からアドレスバス100と、デー
タバス101とでECCを有するメモリ制御回路と結び
付いている。
【0011】アドレスバス100からアドレスレジスタ
(A)2に読出しアドレスが設定される。読出しアドレ
スは、メモリ(MEM)3の読出しに使われ、読出しデ
ータは39ビットあり、32ビットの読出しデータと7
ビットのチェックビットとからなる。読出しデータとチ
ェックビットはシンドロームジェネレータ(SG)4に
より検査符号であるシンドローム7ビットを生成する。
シンドロームジェネレータ(SG)4で生成したシンド
ロームを該当した1ビットのエラービットを指示する。
シンドロームデコーダ(SD)5から該当した1ビット
を指示することにより、データコレクタ部(DC)6に
1ビットエラーの発生した該当ビットの訂正を行う。
【0012】電源立ち上げ後の最初の1ビットエラーが
発生したことによって障害アドレスレジスタAa7に障
害アドレスを設定し、また、障害シンドロームデコーダ
を障害シンドロームレジスタSDa8に設定する。障害
アドレスレジスタAa7と障害シンドロームレジスタS
Da8が有効状態になったことで有効レジスタVa9を
論理1にする。次に有効レジスタVa9が、論理1にな
ったことで障害処理ルーチンが起動されて障害発生アド
レスに訂正データを再度書き込む。その後、障害発生ア
ドレスから同じデータを読み出し、その結果、メモリ1
ビット障害が発生した場合、障害アドレスレジスタAb
10に障害アドレスを設定し、また、障害シンドローム
デコーダを障害シンドロームレジスタSDb11に設定
する。障害アドレスレジスタAb10と障害シンドロー
ムレジスタSDb11が有効状態になったことで有効レ
ジスタVb12を論理1にする。有効レジスタVa9と
Vb12が論理1になったことで論理積a15が論理1
になり、障害アドレスと障害シンドロームの比較が開始
される。障害アドレスAa7とAb10とが比較回路a
13により、また、障害シンドロームレジスタSDa8
とSDb11とが比較回路b14により比較され、電源
立ち上げ後、最初の1ビットエラーと次に発生した1ビ
ットエラーのアドレスとデータの位置を比較する。論理
積b16が論理1になった場合、障害アドレスと障害シ
ンドロームが一致したことを示し、ハードエラーが発生
した状態を保持するハードエラーレジスタ(HE)17
が論理1に設定される。ハードエラーレジスタ(HE)
17が設定されたことでCPU1に障害割り込みが発生
する。オペレーティグシステムに障害割り込みとして報
告され、本障害がハードエラーの可能性があり、早くメ
モリ素子を交換しないと2ビットエラーになる可能性が
あることを保守員に知らせて次の処理に移る。また、障
害アドレスと障害シンドロームが一致しない場合、有効
レジスタVa9、Vb12を論理0にして次に1ビット
エラーが発生するのを待つ。次に1ビットエラーが発生
したら上記動作を再度実行し、メモリ(MEM)3のハ
ードエラーかソフトエラーかを判断する。
【0013】次に、本実施例のECCを保持したメモリ
制御回路のハードエラー検出方式の動作について図面を
参照して説明する。
【0014】図2は本実施例のECCを保持したメモリ
制御回路のハードエラー検出方式の動作を示すフローチ
ャートである。
【0015】ここで、CPUの動作、ECCのHW回路
動作、動作概要にわけて説明する。
【0016】図1、図2において、第1フェーズでは
CPU1がリード動作を行った時、1ビットエラーが発
生したらECCのHW回路動作としては、障害アドレス
Aa7に障害アドレスをセット、障害シンドロームレジ
スタSDa8にシンドロームデコーダをセット、有効レ
ジスタVa9に有効状態のセットを行う。そして、1ビ
ットエラーが発生したので、第2フェーズでは、同じ障
害アドレスに、同じ障害データをメモリ(MEM)3に
書き込む。第3フェーズでは、再度障害アドレスからデ
ータを読み出す。その結果、1ビットエラーが発生した
らECCのHW回路動作としては、障害アドレスAb1
0に障害アドレスをセット、障害シンドロームレジスタ
SDb11にシンドロームデコーダをセット、有効レジ
スタVb12に有効状態のセットを行う。第4フェーズ
では、有効レジスタVa9,Vb12の有効状態、か
つ、障害アドレスAa7、Ab10の障害アドレスの一
致、かつ、障害シンドロームレジスタSDa8,SDb
11のシンドロームデコーダの一致を確認する。一致し
たらハードエラーレジスタ(HE)17を論理1にして
CPU1にメモリ(MEM)3のハードエラーが発生し
たことを報告する。
【0017】
【発明の効果】以上説明したように、本発明のECCを
保持したメモリ制御回路のハードエラー検出方式は、ソ
フトエラーかハードエラーかを判断する制御論理をEC
C回路に有し、ハードエラーだけが発生したとき、メモ
リ交換を行うことにより、不必要なメモリの交換作業を
しなくてもよくなり、保守上非常に効果的である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例のECCを保持したメモリ制
御回路のハードエラー検出方式を説明するためのブロッ
ク図である。
【図2】本実施例のECCを保持したメモリ制御回路の
ハードエラー検出方式の動作を示すフローチャートであ
る。
【符号の説明】
1 CPU(中央処理装置) 2 アドレスレジスタ(A) 3 メモリ(MEM) 4 シンドロームジェネレータ(SG) 5 シンドロームデコーダ(SD) 6 データコレクタ(DC) 7 障害アドレスレジスタAa 8 障害シンドロームデコーダSDa 9 有効レジスタVa 10 障害アドレスレジスタAb 11 障害シンドロームデコーダSDb 12 有効レジスタVa 13 比較回路a 14 比較回路b 15 論理積a 16 論理積b 17 ハードエラーレジスタ(HE)

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 メモリ読出し時のメモリデータとチェッ
    クビットとにより1ビットエラー発生時に1ビットエラ
    ーを修正する装置でメモリより読み出したデータとチェ
    ックビットにより検査符号であるシンドロームを生成す
    るシンドロームジェネレータと、1ビットエラーが検出
    されると該当するエラービットを検出するシンドローム
    デコーダと、前記シンドロームデコーダの情報により1
    ビットエラー時に該当ビットの訂正を行うデータコレク
    タとにより構成されるECC(エラーコレクションコー
    ド)を保持したメモリ制御回路のハードエラー検出方式
    において、 1ビットエラーが発生した読出しアドレスを格納する第
    一の格納手段と、同時に1ビットエラーが発生した前記
    シンドロームデコーダの値を格納する第二の格納手段
    と、前記第一、第二の格納手段により格納したデータの
    有効性を意味する障害アドレス及び前記シンドロームデ
    コーダの値を保持する第一の有効保持手段と、次に1ビ
    ットエラーが検出されると1ビットエラーが発生した読
    出しアドレスを格納する第三の格納手段と、同時に1ビ
    ットエラーが発生したシンドロームデコーダの値を格納
    する第四の格納手段と、前記第三、第四の格納手段によ
    り格納したデータの有効性を意味する第二の有効保持手
    段と、現時点で発生した1ビットエラーと一つ前に発生
    した1ビットエラーのアドレスとシンドロームデコーダ
    の値とを比較するために前記第一と第三の格納手段で格
    納されたアドレスを比較する第一の比較手段と、前記第
    二と第四の格納手段で格納されたシンドロームデコーダ
    の値を比較する第二の比較手段とを有し、前記第一、第
    二の比較手段により比較した結果が一致し、前記第一、
    第二の有効保持手段のデータの有効状態が有効であった
    場合、中央処理装置に割り込み信号を発生することを特
    徴とするECCを保持したメモリ制御回路のハードエラ
    ー検出方式。
JP4029380A 1992-02-17 1992-02-17 Eccを保持したメモリ制御回路のハードエラー検出方式 Withdrawn JPH05225077A (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015011385A (ja) * 2013-06-26 2015-01-19 富士通セミコンダクター株式会社 監視回路、半導体装置およびメモリの監視方法
JP2019509575A (ja) * 2016-03-23 2019-04-04 エイアールエム リミテッド プログラム・ループ制御
JP2020042398A (ja) * 2018-09-07 2020-03-19 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体装置及び解析システム
US11321166B2 (en) 2019-10-03 2022-05-03 Fanuc Corporation Device for determining soft error occurred in a memory having stacked layers, and computer readable medium storing program thereon for determining the soft error

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2015011385A (ja) * 2013-06-26 2015-01-19 富士通セミコンダクター株式会社 監視回路、半導体装置およびメモリの監視方法
JP2019509575A (ja) * 2016-03-23 2019-04-04 エイアールエム リミテッド プログラム・ループ制御
JP2020042398A (ja) * 2018-09-07 2020-03-19 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体装置及び解析システム
US11321166B2 (en) 2019-10-03 2022-05-03 Fanuc Corporation Device for determining soft error occurred in a memory having stacked layers, and computer readable medium storing program thereon for determining the soft error

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Legal Events

Date Code Title Description
A300 Withdrawal of application because of no request for examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 19990518