KR970003838A - 반도체 소자의 금속층 형성방법 - Google Patents

반도체 소자의 금속층 형성방법 Download PDF

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KR970003838A
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KR1019950016414A
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정영석
박인옥
김의식
Original Assignee
김주용
현대전자산업 주식회사
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Abstract

본 발명은 반도체 소자의 금속층 형성방법에 관한 것으로, 접촉 저항을 감소시키기 위하여 콘택홀(Contact hole)형성후 금속증착반응로내에서 증기세정(Vapor Cleaning)을 실시하여 노출된 실리콘기판상에 생성된 자연산화막 및 잔유물을 완전히 제거시키므로써 소자의 전기적 특성을 향상시킬수 있도록 한 반도체 소자의 금속층 형성방법에 관한 것이다.

Description

반도체 소자의 금속층 형성방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2도는 본 발명에 따른 반도체 소자의 금속층 형성방법을 설명하기 위한 소자의 단면도.

Claims (2)

  1. 반도체 소자의 금속층 형성방법에 있어서, 접합부가 형성된 실리콘기판상에 절연층을 형성하고 상기 접합부가 노출되도록 상기 절연층을 패터닝하여 콘택홀을 형성하는 단계와, 상기 단계로부터 상기 실리콘기판을 금속증착반응로내로 로드한 후 중기세정공정을 실시하는 단계와, 상기 단계로부터 인-시투로 티타늄층을 형성하고 계속해서 티타늄나이트라이드층 및 금속층을 순차적으로 형성하는 단계로 이루어지는 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 금속층 형성방법.
  2. 제1항에 있어서, 상기 중기세정공정시 사용되는 가스는 HF/CH3OH, NF3또는 F2/Ar인 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 금속층 형성방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019950016414A 1995-06-20 1995-06-20 반도체 소자의 금속층 형성방법 KR970003838A (ko)

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