KR970003535A - 반도체소자의 콘택 제조방법 - Google Patents

반도체소자의 콘택 제조방법 Download PDF

Info

Publication number
KR970003535A
KR970003535A KR1019950019653A KR19950019653A KR970003535A KR 970003535 A KR970003535 A KR 970003535A KR 1019950019653 A KR1019950019653 A KR 1019950019653A KR 19950019653 A KR19950019653 A KR 19950019653A KR 970003535 A KR970003535 A KR 970003535A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
adhesive layer
aluminum alloy
semiconductor device
layer
contact hole
Prior art date
Application number
KR1019950019653A
Other languages
English (en)
Inventor
선호정
Original Assignee
김주용
현대전자산업 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 김주용, 현대전자산업 주식회사 filed Critical 김주용
Priority to KR1019950019653A priority Critical patent/KR970003535A/ko
Publication of KR970003535A publication Critical patent/KR970003535A/ko

Links

Landscapes

  • Internal Circuitry In Semiconductor Integrated Circuit Devices (AREA)

Abstract

본 발명은 반도체소자의 콘택제조방법에 관한 것으로, 실리콘 기판 또는 도전층의 상부에 콘택홀을 형성한 후, 콘택홀의 상부에 확산 방지층을 형성하고 확산 방지층의 상부에 다시 티타늄의 조성비가 우수한 즉, Ti : N의 비가 1 이상이 되는 티타늄 나이트라이드층을 점착층으로 사용함으로써, 알루미늄 합금의 고온 증착 또는 리플로우시 접착능력을 향상시킴과 동시에, 알루미늄과의 반응을 억제하여 용이하게 안정된 콘택 매립을 달성할 수 있으며, 이로 인해 반도체소자의 신뢰도 및 수율을 향상시키고 금속배선 공정을 단순화 시킬 뿐만 아니라 64DRAM급 이상의 고집적 반도체소자에서도 알루미늄 합금 배선을 사용가능하게 하여 반도체소자 제조에 따른 경비를 절감할 수 있다.

Description

반도체소자의 콘택 제조방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명에 따라 콘택홀의 상부에 확산방지 금속층을 형성한 상태의 단면도, 제2도는 제1도의 확산방지 금속층 상부에 점착층으로 티타늄 나이트라이드층을 형성시킨 상태의 단면도, 제3A도 및 제3B도는 제2도의 티타늄 나이트라이드 접착층 상부에 2단계 증착법에 의하여 콘택매립을 달성한 상태의 금속콘택홀의 단면도, 제4A도 및 제4B도는 티타늄 나이트라이드 점착층 상부에 알루미늄 합금을 저온 증착한 후, 리플로우법에 의하여 콘택 매립을 완성한 상태의 금속 콘택홀의 단면도.

Claims (6)

  1. 반도체 소자의 콘택 제조방법에 있어서, 실리콘 기판 또는 도전층의 소정부위 상부에 금속 콘택홀을 형성하는 단계와, 전체구조 상부에 티타늄과 나이트라이드막을 증착하여 확산방지층을 형성하는 단계와, 상기 확산 방지층 상부에 티타늄의 조성비가 우수한 티타늄 나이트라이드 점착층을 형성하는 단계와, 상기 점착층 상부에 알루미늄 합금을 증착하여 금속 콘택홀의 내부를 매립하는 단계로 구성되는 것을 특징으로 하는 반도체소자의 콘택 제조방법.
  2. 제1항에 있어서, 상기 티타늄 나이트라이드 점착층 증착시 반응성 스퍼터링법으로 증착하는 것을 특징으로 하는 반도체소자의 콘택 제조방법.
  3. 제1항에 있어서, 상기 티타늄 나이트라이드 점착층의 Ti : N의 조성비는 1.1 : 0.9 내지 1.8 : 0.2의 범위가 되도록 하는 것을 특징으로 하는 반도체소자의 콘택 제조방법.
  4. 제1항에 있어서, 상기 점착층 상부에 알루미늄 합금을 증착할 시, 2단계 증착법 또는 저온 증착후 고온 리플로우법 중 어느 하나를 사용하는 것을 특징으로 하는 반도체소자의 콘택 제조방법.
  5. 제1항 또는 제4항에 있어서, 상기 알루미늄 합금을 증착시 스퍼터링 방법으로 증착하는 것을 특징으로 하는 반도체소자의 콘택 제조방법.
  6. 제1항에 있어서, 상기 티타늄 나이프라이드 점착층 증착 후, 알루미늄 합금층 형성을 동일 스퍼터링 클러스터 시스템내에서 징공단절없이 실시하는 것을 특징으로 하는 반도체소자의 콘택 제조방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019950019653A 1995-06-30 1995-06-30 반도체소자의 콘택 제조방법 KR970003535A (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019950019653A KR970003535A (ko) 1995-06-30 1995-06-30 반도체소자의 콘택 제조방법

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019950019653A KR970003535A (ko) 1995-06-30 1995-06-30 반도체소자의 콘택 제조방법

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR970003535A true KR970003535A (ko) 1997-01-28

Family

ID=66526865

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019950019653A KR970003535A (ko) 1995-06-30 1995-06-30 반도체소자의 콘택 제조방법

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR970003535A (ko)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR940007985A (ko) 반도체장치의 배선층 형성방법
KR940016484A (ko) 반도체장치 및 그 제조방법
KR930003256A (ko) 반도체 집적 회로에 금속화 배선층을 형성하는 방법
KR970003535A (ko) 반도체소자의 콘택 제조방법
KR970003513A (ko) 반도체 소자의 금속배선 형성방법
KR960030372A (ko) 반도체 소자의 금속배선 형성방법
KR950030264A (ko) 반도체소자 금속배선 형성방법
KR970018230A (ko) 금속배선의 장벽금속 형성 방법
KR970072313A (ko) 반도체 금속박막의 배선방법
KR950021108A (ko) 반도체 소자의 금속배선 형성방법
KR980005554A (ko) 반도체 소자의 금속 배선 형성방법
KR0144021B1 (ko) 텅스텐 접합층을 이용한 콘택홀 매립 방법
KR100414745B1 (ko) 반도체소자의금속배선형성방법
KR940001277A (ko) 반도체장치의 제조방법
KR960005797A (ko) 반도체소자 배선 형성방법
KR100223748B1 (ko) 반도체 소자의 금속배선 형성방법
KR950021065A (ko) 반도체 소자의 금속배선 형성방법
KR100227150B1 (ko) 반도체 소자의 금속 배선 형성방법
KR970063490A (ko) 반도체 장치의 금속배선 형성방법
KR960035803A (ko) 반도체 소자의 제조방법
KR930024100A (ko) 반도체소자의 금속배선 형성방법
KR970053527A (ko) 반도체 소자의 금속배선 형성방법
KR960026241A (ko) 반도체 소자 제조방법
KR970063497A (ko) 반도체 소자의 금속 배선층 형성 방법
KR940016691A (ko) 반도체 소자의 금속박막 증착방법

Legal Events

Date Code Title Description
WITN Withdrawal due to no request for examination