KR960704321A - 비-소멸성 강유전체 메모리(non-volatile memory) - Google Patents
비-소멸성 강유전체 메모리(non-volatile memory) Download PDFInfo
- Publication number
- KR960704321A KR960704321A KR1019960700188A KR19960700188A KR960704321A KR 960704321 A KR960704321 A KR 960704321A KR 1019960700188 A KR1019960700188 A KR 1019960700188A KR 19960700188 A KR19960700188 A KR 19960700188A KR 960704321 A KR960704321 A KR 960704321A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- ferroelectric capacitor
- memory
- bit line
- capacitor
- voltage source
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/22—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using ferroelectric elements
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Dram (AREA)
Abstract
비-소멸성 강유전체 메모리(336)는 정전압원(85), 비트선(79), 비트선(79)과 정전압원(85)사이에 연결된 제1 강유전체 커패시터(76)를 가지는 메모리 셀(70), 기준전압원(105) 및 비트선(79)과 기준전압원(105)사이에 연결된 래치(74)를 포함한다. 래치(74)는 단일작동으로 커패시터(76)를 판독 및 재기록하기 위하여 강유전체 커패시터(76)와 동일한 논리 상태로 비트선(79)을 구동시킨다. 기준전압은 Q1/CD와 QSW/CD+Q1/CD사이이고, Q1는 상기 제1강유전체 커패시터(76)의 성형용량이고 CD는 상기 비트선(79)의 용량이고 그리고 QSW는 상기 제1강유전체 커패시터(76)의 스위칭 전하이다. 한 실시예에서 기준전압은 제1커패시터(128)의 면적보다는 작지만 제1커패시터(128)의 면적의 1/2보다는 큰 면적을 가지는 강유전체 의사 커패시터(141)로 제공된다.
Description
「발명의 명칭」
비-소멸성 강유전체 메모리(NON-VOLATILE MEMORY)
[도면의 간단한 설명]
제5도는 본 발명에 따른 감지 및 복귀회로를 가지는, 제1도의 1T, 1CT셀을 조합하는 본 발명에 따른 메모리 배열의 바람직한 실리예의 회로도,
제11도는 본 발명에 따른 감지 및 복귀회로를 가지는 2T, 2C셀 메모리를 조합하는 본 발명에 따른 메모리 배열의 바람직한 실시예의 회로도.
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
Claims (10)
- 정전압원(85), 비트선(79), 논리"1"상태에 대응하는 제1분극 상태와 논리"O"상태에 대응하는 제2분극상태를 가질 수 있는 제1강유전체 커패시터(76)를 포함하는 메모리 셀(70), 상기 제1강유전체 커패시터(76)가 판독될 때 상기 강유전체 커패시터(76)로부터 상기 비트선(79)으로 전하가 전송되게 허용하기 위한 스위치 수단(78), 및 상기 제1강유전체 커패시터(76)가 판독될 때 상기 비트선(79)상에 놓여진 신호를 감지하고 증폭하기 위한 감지증폭기(72)를 가지되, 상기 제1강유전체 커패시터(76)가 상기 비트선(79)과 정전압원(85)사이에 연결되어 있는 비-소멸성 강유전체 메모리에 있어서, 상기 메모리는 기준전압원(105)을 추가로 포함하고, 상기 감지 증폭기는 상기 기준전압원(105)과 상기 비트선(70)사이에 연결된 래치를 포함하는 것이 특징인 비-소멸성 강유전체 메모리.
- 제1항에 있어서, 상기 전하가 상기 강유전체 커패시터(76)에서 상기 비트선(79)으로 전송될 때 상기 강유전체 커패시터(76)의 논리상태가 파괴되는 메모리로서, 메모리는 단일의 전자적 작동으로 상기 전하 전송 이전에 상기 강유전체 커패시터(76)에 의해 결정된 논리 상태로 상기 비트선(79)을 구동시키고 및 상기 전하 전송 이전의 상태로 상기 강유전체 커패시터(76)를 복귀시키기 위한 판독/기록 회로수단(111)이 특징인 메모리.
- 제1항에 있어서, 상기 기준전압원(140)은 제2강유전체 커패시터(141)를 포함하는 것이 특징인 메모리.
- 제3항에 있어서, 상기 제2강유전체 커패시터(141)는 상기 제1강유전체 커패시터(138)의 면적보다 작지만 상기 제1강유전체 커패시터(128)의 면적의 1/2보다는 큰 면적을 가지는 것이 특징인 메모리.
- 제1항에 있어서, 상기 기준전압원(170)은 선형 커패시터(172)를 포함하는 것이 특징인 메모리.
- 제1항에 있어서, 상기 메모리 셀(70)은 1트랜지스터(78), 1커패시터(76)셀인 것이 특징인 메모리.
- 제1항에 있어서, 상기 메모리 셀은 2트랜지스터(216, 218), 2커패시터(212, 217)메모리 셀인 것이 특징인 메모리.
- 제1항에 있어서, 상기 감지증폭기(72)는 상기 제1커패시터(76)가 논리"1"상태일 때 상기 비트선(79)을 제2전압으로 만들기 위한 수단을 포함하고, 상기 정전압은 상기 제1전압과 상기 제2전압 사이의 중간인 것이 특징인 메모리.
- 제1항에 있어서 성기 기준전압은 Q1/CD와 QSW/CD+Q1/C|D사이이고, 이 때 Q1은 제1강유전체 커패시터(76)의 선형용량이고, CD는 상기 비트선(79)의 용량이고 및 QSW는 상기 제1강유전체 커패시터(76)의 스위칭 전하인 것이 특징인 메모리.
- 제1항에 있어서, 상기 스위치 수단(35)은 상기 제1강유전체 커패시터(31)와 상기 정전압원(38)사이에 연결되는 것이 특징인 메모리.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US08092233 | 1993-07-15 | ||
US08/092,233 US5406510A (en) | 1993-07-15 | 1993-07-15 | Non-volatile memory |
PCT/US1994/007403 WO1995002883A1 (en) | 1993-07-15 | 1994-06-30 | Non-volatile memory |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR960704321A true KR960704321A (ko) | 1996-08-31 |
KR100345892B1 KR100345892B1 (ko) | 2002-11-22 |
Family
ID=22232295
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019960700188A KR100345892B1 (ko) | 1993-07-15 | 1994-06-30 | 비휘발성메모리 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5406510A (ko) |
EP (1) | EP0708968A1 (ko) |
JP (1) | JPH09500475A (ko) |
KR (1) | KR100345892B1 (ko) |
WO (1) | WO1995002883A1 (ko) |
Families Citing this family (47)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5648114A (en) * | 1991-12-13 | 1997-07-15 | Symetrix Corporation | Chemical vapor deposition process for fabricating layered superlattice materials |
JPH07111085A (ja) * | 1993-10-14 | 1995-04-25 | Sharp Corp | 不揮発性半導体記憶装置 |
US5729488A (en) * | 1994-08-26 | 1998-03-17 | Hughes Electronics | Non-destructive read ferroelectric memory cell utilizing the ramer-drab effect |
TW378323B (en) * | 1994-09-22 | 2000-01-01 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Ferroelectric memory device |
KR960038973A (ko) * | 1995-04-25 | 1996-11-21 | 이데이 노부유키 | 강유전체기억장치 |
SG79200A1 (en) * | 1995-08-21 | 2001-03-20 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Ferroelectric memory devices and method for testing them |
US5592411A (en) * | 1995-11-02 | 1997-01-07 | Motorola, Inc. | Non-volatile register and method for accessing data therein |
US5721699A (en) * | 1996-03-18 | 1998-02-24 | Symetrix Corporation | Ferroelectric memory with feedback circuit |
US5885648A (en) * | 1996-04-19 | 1999-03-23 | Raytheon Company | Process for making stoichiometric mixed metal oxide films |
JPH09288891A (ja) * | 1996-04-19 | 1997-11-04 | Matsushita Electron Corp | 半導体メモリ装置 |
JP3602939B2 (ja) | 1996-11-19 | 2004-12-15 | 松下電器産業株式会社 | 半導体記憶装置 |
US20050122765A1 (en) * | 1997-11-14 | 2005-06-09 | Allen Judith E. | Reference cell configuration for a 1T/1C ferroelectric memory |
US5986919A (en) * | 1997-11-14 | 1999-11-16 | Ramtron International Corporation | Reference cell configuration for a 1T/1C ferroelectric memory |
US5969980A (en) * | 1997-11-14 | 1999-10-19 | Ramtron International Corporation | Sense amplifier configuration for a 1T/1C ferroelectric memory |
US5978251A (en) * | 1997-11-14 | 1999-11-02 | Ramtron International Corporation | Plate line driver circuit for a 1T/1C ferroelectric memory |
US5880989A (en) * | 1997-11-14 | 1999-03-09 | Ramtron International Corporation | Sensing methodology for a 1T/1C ferroelectric memory |
US6028783A (en) * | 1997-11-14 | 2000-02-22 | Ramtron International Corporation | Memory cell configuration for a 1T/1C ferroelectric memory |
US6002634A (en) * | 1997-11-14 | 1999-12-14 | Ramtron International Corporation | Sense amplifier latch driver circuit for a 1T/1C ferroelectric memory |
US5892728A (en) * | 1997-11-14 | 1999-04-06 | Ramtron International Corporation | Column decoder configuration for a 1T/1C ferroelectric memory |
US5956266A (en) * | 1997-11-14 | 1999-09-21 | Ramtron International Corporation | Reference cell for a 1T/1C ferroelectric memory |
US5995406A (en) * | 1997-11-14 | 1999-11-30 | Ramtron International Corporation | Plate line segmentation in a 1T/1C ferroelectric memory |
US5995407A (en) * | 1998-10-13 | 1999-11-30 | Celis Semiconductor Corporation | Self-referencing ferroelectric memory |
KR100295666B1 (ko) * | 1998-10-28 | 2001-08-07 | 김영환 | 혼성메모리장치 |
US6031754A (en) * | 1998-11-02 | 2000-02-29 | Celis Semiconductor Corporation | Ferroelectric memory with increased switching voltage |
WO2000033316A1 (fr) * | 1998-12-02 | 2000-06-08 | Seiko Epson Corporation | Procede de commande de memoire ferroelectrique remanente (feram) et dispositif de commande de cellule memoire |
US6201731B1 (en) | 1999-05-28 | 2001-03-13 | Celis Semiconductor Corporation | Electronic memory with disturb prevention function |
US6147895A (en) * | 1999-06-04 | 2000-11-14 | Celis Semiconductor Corporation | Ferroelectric memory with two ferroelectric capacitors in memory cell and method of operating same |
US6061266A (en) * | 1999-06-17 | 2000-05-09 | Hewlett-Packard Company | Ferroelectric random access memory device including active read/write circuit |
US6141237A (en) * | 1999-07-12 | 2000-10-31 | Ramtron International Corporation | Ferroelectric non-volatile latch circuits |
US6362675B1 (en) * | 1999-07-12 | 2002-03-26 | Ramtron International Corporation | Nonvolatile octal latch and D-type register |
JP4350222B2 (ja) * | 1999-08-26 | 2009-10-21 | Okiセミコンダクタ株式会社 | 強誘電体メモリ装置の動作方法 |
JP2001076493A (ja) * | 1999-09-03 | 2001-03-23 | Nec Corp | 強誘電体記憶装置 |
US6587365B1 (en) | 2000-08-31 | 2003-07-01 | Micron Technology, Inc. | Array architecture for depletion mode ferroelectric memory devices |
TW492006B (en) * | 2001-01-20 | 2002-06-21 | Macronix Int Co Ltd | Sensing method of non-volatile ferroelectric memory |
US6650158B2 (en) | 2001-02-21 | 2003-11-18 | Ramtron International Corporation | Ferroelectric non-volatile logic elements |
JP2004047943A (ja) * | 2002-03-20 | 2004-02-12 | Fujitsu Ltd | 半導体装置 |
US6809949B2 (en) * | 2002-05-06 | 2004-10-26 | Symetrix Corporation | Ferroelectric memory |
US6590798B1 (en) * | 2002-05-08 | 2003-07-08 | Texas Instruments Incorporated | Apparatus and methods for imprint reduction for ferroelectric memory cell |
JP3731128B2 (ja) * | 2002-11-25 | 2006-01-05 | 松下電器産業株式会社 | 不揮発性メモリセルおよびその制御方法 |
US6845033B2 (en) * | 2003-03-05 | 2005-01-18 | International Business Machines Corporation | Structure and system-on-chip integration of a two-transistor and two-capacitor memory cell for trench technology |
KR100483028B1 (ko) * | 2003-03-19 | 2005-04-15 | 주식회사 하이닉스반도체 | 강유전체 메모리 셀 및 이를 이용한 메모리 장치 |
US20050114588A1 (en) * | 2003-11-26 | 2005-05-26 | Lucker Jonathan C. | Method and apparatus to improve memory performance |
KR100597629B1 (ko) * | 2003-12-22 | 2006-07-07 | 삼성전자주식회사 | 강유전체 메모리 장치 및 그에 따른 구동방법 |
US7088605B2 (en) * | 2004-07-02 | 2006-08-08 | Macronix International Co., Ltd. | FeRAM memory design using ROM array architecture |
JP2010033642A (ja) * | 2008-07-28 | 2010-02-12 | Toshiba Corp | 半導体記憶装置 |
DE102010009994A1 (de) | 2010-03-02 | 2011-09-08 | Dspace Digital Signal Processing And Control Engineering Gmbh | Verfahren zur Optimierung eines Steuerungsprogramms für Aktuatoren |
US11749329B1 (en) | 2022-05-20 | 2023-09-05 | Micron Technology, Inc. | Off-state word line voltage control for fixed plate voltage operation |
Family Cites Families (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4128773A (en) * | 1977-11-07 | 1978-12-05 | Hughes Aircraft Company | Volatile/non-volatile logic latch circuit |
US4873664A (en) * | 1987-02-12 | 1989-10-10 | Ramtron Corporation | Self restoring ferroelectric memory |
US4910708A (en) * | 1987-07-02 | 1990-03-20 | Ramtron Corporation | Dram with programmable capacitance divider |
US4853893A (en) * | 1987-07-02 | 1989-08-01 | Ramtron Corporation | Data storage device and method of using a ferroelectric capacitance divider |
US4914627A (en) * | 1987-07-02 | 1990-04-03 | Ramtron Corporation | One transistor memory cell with programmable capacitance divider |
US4809225A (en) * | 1987-07-02 | 1989-02-28 | Ramtron Corporation | Memory cell with volatile and non-volatile portions having ferroelectric capacitors |
US4893272A (en) * | 1988-04-22 | 1990-01-09 | Ramtron Corporation | Ferroelectric retention method |
US4888733A (en) * | 1988-09-12 | 1989-12-19 | Ramtron Corporation | Non-volatile memory cell and sensing method |
JPH0713877B2 (ja) * | 1988-10-19 | 1995-02-15 | 株式会社東芝 | 半導体メモリ |
JPH088339B2 (ja) * | 1988-10-19 | 1996-01-29 | 株式会社東芝 | 半導体メモリ |
US5038323A (en) * | 1990-03-06 | 1991-08-06 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Non-volatile memory cell with ferroelectric capacitor having logically inactive electrode |
US5086412A (en) * | 1990-11-21 | 1992-02-04 | National Semiconductor Corporation | Sense amplifier and method for ferroelectric memory |
US5198706A (en) * | 1991-10-15 | 1993-03-30 | National Semiconductor | Ferroelectric programming cell for configurable logic |
-
1993
- 1993-07-15 US US08/092,233 patent/US5406510A/en not_active Expired - Lifetime
-
1994
- 1994-06-30 KR KR1019960700188A patent/KR100345892B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1994-06-30 WO PCT/US1994/007403 patent/WO1995002883A1/en not_active Application Discontinuation
- 1994-06-30 EP EP94920833A patent/EP0708968A1/en not_active Ceased
- 1994-06-30 JP JP7504587A patent/JPH09500475A/ja not_active Ceased
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO1995002883A1 (en) | 1995-01-26 |
EP0708968A1 (en) | 1996-05-01 |
KR100345892B1 (ko) | 2002-11-22 |
US5406510A (en) | 1995-04-11 |
JPH09500475A (ja) | 1997-01-14 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR960704321A (ko) | 비-소멸성 강유전체 메모리(non-volatile memory) | |
JP2693967B2 (ja) | メモリセル | |
US6924997B2 (en) | Ferroelectric memory and method of operating same | |
WO2000075929A1 (en) | Ferroelectric memory with two ferroelectric capacitors in memory cell and method of operating same | |
TW328589B (en) | Non-volatile ferroelectric memory device and driving method thereof | |
KR970012697A (ko) | 데이터 저장 요소에서의 데이터 판독 및 복원 방법 | |
KR920001549A (ko) | 반도체기억장치 및 그 독출, 기록, 동작방법 | |
JP2002093153A5 (ko) | ||
KR970003265A (ko) | 반도체기억장치 | |
KR950006869A (ko) | 반도체 기억장치 | |
KR970051144A (ko) | 반도체 기억 장치 | |
KR970003204A (ko) | 강유전체 기억장치 | |
KR970012682A (ko) | 강유전체 메모리장치 및 그 검사방법 | |
JP4049519B2 (ja) | 強誘電体記憶装置 | |
JP2007004839A (ja) | 半導体記憶装置 | |
US20020051377A1 (en) | Ferroelectric random access memory device | |
KR870004450A (ko) | 반도체 기억장치 | |
KR890008826A (ko) | 다이나믹 랜덤 액세스 메모리에 있어서의 센스앰프 구동장치 및 센스앰프 구동방법 | |
KR970012696A (ko) | 강유전체 메모리 장치 | |
KR960012004A (ko) | 강유전체메모리장치 | |
KR930005017A (ko) | 반도체 dram 장치 | |
KR910005463A (ko) | 정보를 일시적으로 유지할 수 있는 불휘발성 메모리 셀을 포함하는 집적회로 | |
KR870002589A (ko) | 센스증폭기와 프로그래밍회로 각각에 독립으로 칼럼 트랜스퍼 게이트 트랜지스터 그롤을 갖게한 반도체 기억장치 | |
EP0377840A3 (en) | Nonvolatile semiconductor memory device having reference potential generating circuit | |
KR960042732A (ko) | 반도체 메모리 셀 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |