KR970003204A - 강유전체 기억장치 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 강유전체 기억장치에 관한 것으로서 워드선과, 독출비트선과, 플레이트선과, 게이트전극이 워드선에 접속되고, 소스·드레인전극의 한쪽은 독출비트선에 접속되고, 소스·드레인전극의 다른쪽은 강유전체커패시터의 전극의 한쪽에 접속되고, 강유전체 커패시터의 전극의 다른 쪽은 플레이트선에 접속되는 매트릭스 배열의 메모리셀을 포함하는 메모리어레이와, 데이터독출시에 선택된 워드선내의 각각의 독출셀마다 대응하여 비교독출이 행해지고, 또한 서로 역상의 데이터가 기억된 제1의 비교셀 및 제2의 비교셀과, 상기 독출셀이 접속된 독출비트선마다 대응하고, 상기 독출비트선과 상기 제1의 비교셀이 접속된 제1의 비교비트선과의 사이의 전위차를 비교증폭하는 제1의 센스앰프와, 상기 독출비트선과 상기 제2의 비교셀이 접속된 제2의 비교비트선과의 사이의 전위차를 비교증폭하는 제2의 센스앰프와를 가진다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제5도는 본 발명에 관한 강유전체 기억장치에 있어서 제1의 실시예를 나타낸 회로도.
Claims (10)
- 워드선과, 독출비트선과, 플레이트선과, 게이트전극이 워드선에 접속되고, 소스·드레인전극의 한쪽의 독출비트선에 접속되고, 소스·드레인전극의 다른쪽은 강유전체커패시터의 전극의 한쪽에 접속되고, 강유전체 커패시터의 전극의 다른 쪽은 플레이트선에 접속되는 매트릭스배열의 메모리셀을 포함하는 메모리어레와, 데이터독출시에 선택된 워드선내의 각각의 독출셀마다 대응하여 비교독출이 행해지고, 또한 서로 역상의 데이터가 기억된 제1의 비교셀 및 제2의 비교셀과, 상기 독출셀이 접속된 독출비트선마다 대응하고, 상기 독출비트선과 상기 제1의 비교셀이 접속된 제1의 비교비트선과의 사이의 전위차를 비교증폭하는 제1의 센스앰프와, 상기 돌출비트선과 상기 제2의 비교셀이 접속된 제2의 비교비트선과의 사이의 전위차를 비교증폭하는 제2의 센스앰프와를 가지는 강유전체 기억장치.
- 제1항에 있어서, 데이터독출시에, 상기 독출셀의 데이터를 상기 독출비트선에, 상기 제1의 비교셀의 데이터를 상기 제1의 비교비트선에, 상기 제2의 비교셀의 데이터를 상기 제2의 비교비트선에 동시병렬적으로 독출하고, 상기 독출셀의 데이터가 상기 제1의 비교셀의 데이터와 서로 역상(逆相)이고 상기 제2의 비교셀의 데이터와 서로 동상(同相)인 경우에는, 상기 제1의 센스앰프의 비교증폭결과에 의하여 상기 독출셀의 데이터가 독출되고, 상기 독출셀의 데이터가 상기 제1의 비교셀의 데이터와 서로 동상이고 상기 제2의 비교셀의 데이터와 서로 역상인 경우에는 상기 제2의 센스앰프의 비교증폭결과에 의하여 상기 독출셀의 데이터가 독출되는 강유전체 기억장치.
- 제1항에 있어서, 각각의 비트선마다 대응하여 상기 제1 또는 제2의 비교셀의 어느 한쪽이 배설된 절반(折半)비트선구조를 이루는 1쌍의 메모리어레이를 가지고, 상기 1쌍의 메모리어레이는 상기 제1의 센스앰프 및 상기 제2의 센스앰프를 사이에 두고 각각 서로 대면하는 방향으로 배치되고, 상기 데이터독출시에, 상기 1쌍의 메모리어레이의 어느 한쪽의 메모리어레이가 선택되어 독출셀의 데이터가 독출되는 강유전체 기억장치.
- 제1항에 있어서, 상기 독출비트선은 상기 선택된 메모리어레이내의 독출셀이 접속되어 있는 비트선이고, 상기 제1의 비교비트선 및 상기 제1의 비교셀은 상기 독출비트선의 절반방향으로 인접한 비트선 및 당해 비트선에 접속되어 있는 비교셀이고, 상기 제2의 비교비트선 및 상기 제2의 비교셀은 상기 선택되지 않은 메모리어레이내에 있어서 상기 제1의 비교비트선이 연재하는 방향으로 대향배치된 비트선 및 당해 비트선에 접속되어 있는 비교셀인 강유전체 기억장치.
- 제1항에 있어서, 상기 독출비트선은 상기 선택된 메모리어레이내의 독출셀이 접속되어 있는 비트선이고,상기 제1의 비교비트선 및 상기 제1의 비교셀은 상기 선택되지 않은 메모리어레이내에 있어야 상기 독출비트선이 연재하는 방향으로 대향배치된 비트선 및 당해 비트선에 접속되어 있는 비교셀이고, 상기 제2의 비교비트선 및 상기 제2의 비교셀은 상기 제1의 비교비트선의 절반방향으로 인접한 비트선 및 당해 비트선에 접속되어 있는 비교셀인 강유전체 기억장치.
- 제1항에 있어서, 상기 제1의 센스앰프 및 상기 제2의 센스앰프는 각각 상기 독출비트선과 상기 제1의 비교비트선 또는 상기 제2의 비교비트선과의 사이의 전위차를 비교증폭하는 래치형 센스앰프인 강유전체 기억장치.
- 제1항에 있어서, 상기 제1의 비교셀 및 제2의 비교셀은 각각의 워드선과 비트선에 접속된 1개의 선택트랜지스터와, 한쪽의 전극이 상기 선택트랜지스터에 접속된 1개의 강유전체 커패시터와, 상기 강유전체 커패시터와 상기 선택트랜지스터와의 접속부를 소정의 제1의 전위 또는 제2의 전위에 접속하는 접속수단을 가지는 강유전체 기억장치.
- 제1항에 있어서, 상기 데이터독출 전에, 상기 제1의 비교셀을 상기 제1의 전위에 접속함으로써 상기 제1의 비교셀에 원하는 데이터의 기입이 행해지고, 상기 제2의 비교셀을 상기 제2의 전위에 접속함으로써 상기제2의 비교셀에 원하는 데이터의 기입이 행해지는 강유전체 기억장치.
- 제1항에 있어서, 상기 메모리셀과 상기 비교셀과는 동일 사이즈인 강유전체 기억장치.
- 제1항에 있어서, DRAM모드 또는 강유전체모드 중 어느 하나의 모드에서 선택적으로 동작가능하고, DRAM모드의 경우에는 메모리셀의 강유전체 커패시터의 전하축적량에 따라서 데이터의 판정을 행하는 강유전체 기억장치.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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