KR960043384A - 레이저 다이오드 및 그 제조방법 - Google Patents

레이저 다이오드 및 그 제조방법 Download PDF

Info

Publication number
KR960043384A
KR960043384A KR1019950011983A KR19950011983A KR960043384A KR 960043384 A KR960043384 A KR 960043384A KR 1019950011983 A KR1019950011983 A KR 1019950011983A KR 19950011983 A KR19950011983 A KR 19950011983A KR 960043384 A KR960043384 A KR 960043384A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
layer
laser diode
bragg reflector
wave guide
semiconductor material
Prior art date
Application number
KR1019950011983A
Other languages
English (en)
Other versions
KR100363239B1 (ko
Inventor
김남헌
Original Assignee
김광호
삼성전자 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 김광호, 삼성전자 주식회사 filed Critical 김광호
Priority to KR1019950011983A priority Critical patent/KR100363239B1/ko
Publication of KR960043384A publication Critical patent/KR960043384A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100363239B1 publication Critical patent/KR100363239B1/ko

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/10Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
    • H01S5/18Surface-emitting [SE] lasers, e.g. having both horizontal and vertical cavities
    • H01S5/185Surface-emitting [SE] lasers, e.g. having both horizontal and vertical cavities having only horizontal cavities, e.g. horizontal cavity surface-emitting lasers [HCSEL]
    • H01S5/187Surface-emitting [SE] lasers, e.g. having both horizontal and vertical cavities having only horizontal cavities, e.g. horizontal cavity surface-emitting lasers [HCSEL] using Bragg reflection
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/20Structure or shape of the semiconductor body to guide the optical wave ; Confining structures perpendicular to the optical axis, e.g. index or gain guiding, stripe geometry, broad area lasers, gain tailoring, transverse or lateral reflectors, special cladding structures, MQW barrier reflection layers
    • H01S5/22Structure or shape of the semiconductor body to guide the optical wave ; Confining structures perpendicular to the optical axis, e.g. index or gain guiding, stripe geometry, broad area lasers, gain tailoring, transverse or lateral reflectors, special cladding structures, MQW barrier reflection layers having a ridge or stripe structure
    • H01S5/2205Structure or shape of the semiconductor body to guide the optical wave ; Confining structures perpendicular to the optical axis, e.g. index or gain guiding, stripe geometry, broad area lasers, gain tailoring, transverse or lateral reflectors, special cladding structures, MQW barrier reflection layers having a ridge or stripe structure comprising special burying or current confinement layers
    • H01S5/2206Structure or shape of the semiconductor body to guide the optical wave ; Confining structures perpendicular to the optical axis, e.g. index or gain guiding, stripe geometry, broad area lasers, gain tailoring, transverse or lateral reflectors, special cladding structures, MQW barrier reflection layers having a ridge or stripe structure comprising special burying or current confinement layers based on III-V materials
    • H01S5/221Structure or shape of the semiconductor body to guide the optical wave ; Confining structures perpendicular to the optical axis, e.g. index or gain guiding, stripe geometry, broad area lasers, gain tailoring, transverse or lateral reflectors, special cladding structures, MQW barrier reflection layers having a ridge or stripe structure comprising special burying or current confinement layers based on III-V materials containing aluminium
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S2301/00Functional characteristics
    • H01S2301/17Semiconductor lasers comprising special layers
    • H01S2301/173The laser chip comprising special buffer layers, e.g. dislocation prevention or reduction

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Geometry (AREA)
  • Semiconductor Lasers (AREA)

Abstract

전류제한층으로 브래그 반사기층을 형성한 레이저 다이오드 및 그 제조방법이 개시되어 있다.
개시된 레이저 다이오드는 기판의 상부에 버퍼층, 하부 크래드층, 제1웨이브가이드층, 활성층 및 제2웨이브가이드층이 순차로 적층 형성되고, 그 상부에 전류제한층과, 상부 크래드층 및 접촉층을 형성 구비하며, 특히 전류제한층은 제2웨이브가이드층 상부에 최초 에피택시 공정과 동일 공정으로 형성되며 전류가 흐를 수 있는 소정 위치에 공동을 가지는 브래그 반사기층이고, 그 상부에 상부 크래드층 및 접촉층이 순차로 형성되어 있는 점에 그 특징이 있다. 따라서, 상부 크래드층을 식각할 필요가 없으며, 2회의 에피택시 공정 및 식각 공정으로 레이저 다이오드를 제조할 수 있다.

Description

레이저 다이오드 및 그 제조방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2도는 본 발명에 따른 레이저 다이오드를 나타낸 개략적인 단면도.

Claims (5)

  1. 기판의 상부에 버퍼층, 하부 크래드층, 제1웨이브가이드층, 활성층 및 제2웨이브가이드층이 순차로 적층 형성되고, 그 상부에 전류제한층과, 상부 크래드층 및 접촉층이 형성 구비되어 있는 레이저 다이오드에 있어서, 상기 전류제한층은 상기제2웨이브가이드층 상부에 최초 에피택시 공정과 동일 공정으로 형성되며 전류가 흐를 수 있는 소정 위치에 공동을 가지는 브래그 반사기층이고, 그 상부에 상기 상부크래드층 및 접촉층이 순차로 형성 구비되는 것을 특징으로 하는 레이저 다이오드.
  2. 제1항에 있어서, 상기 브래그 반사기층은 AlXGa1-XAs 반도체 물질과 AlAs 반도체 물질이 교대로 복수번 적층되어 이루어져 있는 것을 특징으로 하는 레이저 당이오드.
  3. 제1항에 있어서, 상기 제2웨이브가이드층은 상기 브래그 반사기층과 선택적으로 에칭되도록 된 물질로 이루어진 것을 특징으로 하는 레이저 다이오드.
  4. 기판상에 순차로 버퍼층, 하부 크래드층, 제1웨이브 가이드층, 활성층, 제2웨이브가이드층 및 브래그 반사기층을 에피택시 공정에 의해 형성하는 단계와 상기 브래그 반사기층의 중앙부를 식각하여 제한된 범위로 상기 활성층에 전류를 공급하도록 식각단계; 및 상기 브래그 반사기층의 상부 및 식각된 상부에 상부 크래드층과 p형 접촉층을 순차로 형성하는 단계로 이루어진 것을 특징으로 하는 레이저 다이오드 제조방법.
  5. 제4항에 있어서, 상기 브래그 반사기층의 물질로 AlXGa1-XAs 반도체 물질과 AlAs 반도체 물질이 교대로 복수번 적층되어 이루어져 있고, 상기 p형 접촉층은 p-GaAs층인 것을 특징으로 하는 레이저 다이오드 제조방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019950011983A 1995-05-15 1995-05-15 레이저 다이오드 및 그 제조방법 KR100363239B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019950011983A KR100363239B1 (ko) 1995-05-15 1995-05-15 레이저 다이오드 및 그 제조방법

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019950011983A KR100363239B1 (ko) 1995-05-15 1995-05-15 레이저 다이오드 및 그 제조방법

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR960043384A true KR960043384A (ko) 1996-12-23
KR100363239B1 KR100363239B1 (ko) 2003-02-11

Family

ID=37490798

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019950011983A KR100363239B1 (ko) 1995-05-15 1995-05-15 레이저 다이오드 및 그 제조방법

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100363239B1 (ko)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100776931B1 (ko) 2005-10-24 2007-11-20 (주)큐에스아이 반도체 레이저 소자 및 그 제조 방법

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06314854A (ja) * 1993-04-30 1994-11-08 Fujitsu Ltd 面型発光素子とその製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
KR100363239B1 (ko) 2003-02-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6222866B1 (en) Surface emitting semiconductor laser, its producing method and surface emitting semiconductor laser array
WO2003058775A2 (en) Wavelength division multiplexed vertical cavity surface emitting laser array
KR960043384A (ko) 레이저 다이오드 및 그 제조방법
KR20000038997A (ko) Gan계 고반사율 분산 브래그 반사기를 갖는 광소자의 제조방법
KR100584541B1 (ko) 표면광 레이저 및 그 제조방법
KR950012839A (ko) 반도체 레이저 다이오드 및 그의 제조 방법
KR960002991A (ko) 화합물 반도체 레이저 다이오드 및 그 제조 방법
KR100590567B1 (ko) 레이저 다이오드 및 그 제조방법
KR950012878A (ko) 반도체 레이저 소자와 그 제조방법
KR950007214A (ko) 반도체 레이저 소자 및 그의 제조방법
KR930009179A (ko) 레이저 다이오드의 제조방법
JPH06350188A (ja) 半導体レーザ素子
KR950012930A (ko) 반도체 레이저 다이오드 및 그 제조방법
KR960043379A (ko) 화합물 반도체 레이저 다이오드 및 그 제조방법
JPH03145786A (ja) 単一波長半導体レーザの製造方法
KR930011346A (ko) 반도체 레이저 다이오드 및 그 제조방법
KR960043391A (ko) 반도체 레이저다이오드 및 그 제조방법
KR950012879A (ko) 반도체 레이저 어레이 및 이의 제조방법
KR940010434A (ko) 2-스텝 매립형 고출력 반도체 레이저 다이오드 제조방법
KR950010211A (ko) 가시광 레이저 다이오드 및 그의 제조 방법
KR930007018A (ko) 반도체 레이저 다이오드의 제조방법
KR950010224A (ko) 레이저 다이오드 소자 및 그 제조방법
KR950010242A (ko) 반도체 레이저 소자 및 그의 제조 방법
KR930015222A (ko) 반도체 레이저 다이오드 및 그 제조방법
KR950012858A (ko) 반도체 레이저 소자 및 그 제조방법

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20091113

Year of fee payment: 8

LAPS Lapse due to unpaid annual fee