KR960042420A - 파라메트릭 곡선 발생 장치 - Google Patents

파라메트릭 곡선 발생 장치 Download PDF

Info

Publication number
KR960042420A
KR960042420A KR1019960018720A KR19960018720A KR960042420A KR 960042420 A KR960042420 A KR 960042420A KR 1019960018720 A KR1019960018720 A KR 1019960018720A KR 19960018720 A KR19960018720 A KR 19960018720A KR 960042420 A KR960042420 A KR 960042420A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
register
parametric
curve
stack memory
control points
Prior art date
Application number
KR1019960018720A
Other languages
English (en)
Other versions
KR100202044B1 (ko
Inventor
도시아끼 미나미
다쯔히꼬 야마자끼
하야오 오즈
유지 하라
Original Assignee
미따라이 후지오
캐논 가부시끼가이샤
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 미따라이 후지오, 캐논 가부시끼가이샤 filed Critical 미따라이 후지오
Publication of KR960042420A publication Critical patent/KR960042420A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100202044B1 publication Critical patent/KR100202044B1/ko

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F17/00Digital computing or data processing equipment or methods, specially adapted for specific functions
    • G06F17/10Complex mathematical operations
    • G06F17/17Function evaluation by approximation methods, e.g. inter- or extrapolation, smoothing, least mean square method
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F17/00Digital computing or data processing equipment or methods, specially adapted for specific functions

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Data Mining & Analysis (AREA)
  • Computational Mathematics (AREA)
  • Mathematical Analysis (AREA)
  • Mathematical Optimization (AREA)
  • Pure & Applied Mathematics (AREA)
  • Software Systems (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Databases & Information Systems (AREA)
  • Algebra (AREA)
  • Image Generation (AREA)
  • Complex Calculations (AREA)

Abstract

제한된 규모의 하드웨어를 가지면서 1/2 분할 연산을 고속으로 실행할 수 있는 베제 곡선을 전개하는 파라메트릭 곡선 발생 장치가 기술되어 있다. 가산기는 (P0+P1)/2 등을 계산하며, 그 결과는 각각 레지스터 내에 저장된다. 그 후, 가산기가 레지스터의 내용을 계산하며, 그 결과가 레지스터 내에 저장된다. 컨버전스 판별 회로는 데이타가 집속되었는지의 여부를 판별하며, 그 판별 결과에 따라 다음 처리가 변한다. 스택 메모리는 레지스터를 통해 데이타를 저장한다.

Description

파라메트릭 곡선 발생 장치
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 3차 베제 곡선을 2개로 분할하는 것을 도시한 구성도, 제2도는 파라메트릭 곡선 발생 장치의 구성을 도시한 블록도, 제3도는 파라메트릭 곡선 발생 장치의 구성을 도시한 블록도, 제7도는 본 발명에 따른 다른 구성을 도시한 블록도.

Claims (11)

  1. 임시 파라메트릭 곡선을 발생하는 파라메트릭 발생 장치에 있어서, 상기 곡선의 제어점의 좌표값을 저장하는 제1 레지스터; 상기 레지스터에 저장된 제어점들을 2개로 분할하여 2개의 곡선 세트의 제어점을 형성하는 1/2분할 회로; 상기 1/2분할 회로에 의해 형성된 2개의 곡선 세트의 제어점을 저정하는 제2레지스터; 다수 세트의 제어점을 순차적으로 저장하는 스택 메모리; 상기 제1 및 제2레지스터와 상기 스택 메모리 사이에 위치되어야 한 세트의 제어점을 저장하는 제3레지스터; 및 상기 제2레지스터 내에 저장된 제어점에 기초하여 상기 1/2분할 회로에 의해 제어점의 1/2분할을 행하는지의 여부를 판정하는 판별 회로를 포함하며, 원하는 파라메트릭 곡선은 상기 제1레지스터 이전에 주어진 제어점에대해 1/2분할을 반복함으로써 발생되는 것을 특징으로 하는 파라메트릭 발생 장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 1/2분할 회로에 의해 형성된 2세트의 제어점들 중 한세트가 상기 판별 회로에 의한판별 결과에 따라 임시적으로 저장되는 경우, 상기 세트는 상기 제3 레지스터 내에 일단 저장된 후 상기 스택 메모리 내에 저장되는 것을 특징으로 하는 파라메트릭 발생 장치.
  3. 제1항에 있어서, 임시적으로 저장된 한 세트의 곡선의 제어점들이 상기 판별 회로에 의한 판별 결과에 따라 상기 제1 레지스터에 전송되는 경우, 상기 제3레지스터의 내용이 전송되는 것을 특징으로 하는 파라메트릭 발생 장치.
  4. 제1항에 있어서, 상기 1/2분할 회로에 의한 1/2분할 및 상기 제3레지스터와 상기 스택 메모리 사이의 전송은 동시에 병렬로 실행되는 것을 특징으로 하는 파라메트릭 발생 장치.
  5. 제1항에 있어서, 상기 스택 메모리는 제어점을 동시에 판독 및 기록하도록 구성되는 것을 특징으로 하는파라메트릭 발생 장치.
  6. 제1항에 있어서, 상기 1/2분할 회로는 3개의 가산기로 구성되며, 상기 제어점의 1/2분할은 3개의 클럭 사이클 내에 종료되는 것을 특징으로 하는 파라메트릭 발생 장치.
  7. 제1항에 있어서, 상기 각 레지스터 및 상기 스택 메모리는 정수부 및 소수부로 구성되는 것을 특징으로 하는 파라메트릭 발생 장치.
  8. 제1항에 있어서, 상기 발생된 곡선은 베제(Bezier) 곡선인 것을 특징으로 하는 파라메트릭 발생 장치.
  9. 제8항에 있어서, 상기 베제 곡선은 x 및 y 좌표를 갖는 2차원 공간에 속하며 상기 레지스터 및 상기 스택메모리는 상기 x 및 y 좌표 각각에 대해 제공되는 것을 특징으로 하는 파라메트릭 발생 장치.
  10. 제1항에 있어서, 상기 발생된 곡선을 출력하는 출력 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 파라메트릭 발생 장치.
  11. 제10항에 있어서, 상기 출력 수단은 프린터인 것을 특징으로 하는 파라메트릭 발생 장치.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019960018720A 1995-05-31 1996-05-30 파라메트릭 곡선 발생 장치 KR100202044B1 (ko)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP95-134192 1995-05-31
JP7134192A JPH08329261A (ja) 1995-05-31 1995-05-31 パラメータ曲線発生器

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR960042420A true KR960042420A (ko) 1996-12-21
KR100202044B1 KR100202044B1 (ko) 1999-06-15

Family

ID=15122592

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019960018720A KR100202044B1 (ko) 1995-05-31 1996-05-30 파라메트릭 곡선 발생 장치

Country Status (5)

Country Link
US (1) US5900884A (ko)
EP (1) EP0745945A3 (ko)
JP (1) JPH08329261A (ko)
KR (1) KR100202044B1 (ko)
TW (1) TW311998B (ko)

Families Citing this family (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5717905A (en) * 1994-12-15 1998-02-10 Kao Corporation CAD system and bezier-curve data converting apparatus and method thereof in said CAD system
US6067094A (en) * 1998-04-07 2000-05-23 Adobe Systems Incorporated Brushstroke envelopes
JP3270928B2 (ja) * 1999-09-30 2002-04-02 コナミ株式会社 フィールドマップ生成方法、ビデオゲームシステム、及び記録媒体
AU768344B2 (en) * 2000-02-10 2003-12-11 Canon Kabushiki Kaisha Animating character outlines
JP2003051020A (ja) * 2001-08-06 2003-02-21 Sharp Corp 曲線近似方法及び曲線近似装置と、それに用いる曲線近似プログラム
US7212205B2 (en) 2002-11-12 2007-05-01 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Curved surface image processing apparatus and curved surface image processing method
US7015917B2 (en) * 2003-07-18 2006-03-21 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Curved surface subdivision apparatus
JP4866013B2 (ja) * 2005-03-31 2012-02-01 富士通株式会社 文字画像生成プログラム、そのシステム、及びその方法
JP5247671B2 (ja) * 2009-12-22 2013-07-24 ルネサスエレクトロニクス株式会社 表示データ補正装置、及び、それを使用する表示パネルドライバ、表示装置
JP5877381B2 (ja) 2010-06-30 2016-03-08 パナソニックIpマネジメント株式会社 曲線分割装置、曲線分割方法、曲線分割プログラム及び集積回路
JP5767516B2 (ja) 2010-10-08 2015-08-19 キヤノン株式会社 画像処理装置、画像処理方法、及びプログラム
US9224219B2 (en) * 2012-12-21 2015-12-29 Citrix Systems, Inc. Systems and methods for presenting a free-form drawing
US10347016B2 (en) * 2016-01-12 2019-07-09 Monotype Imaging Inc. Converting font contour curves
US10936792B2 (en) 2017-12-21 2021-03-02 Monotype Imaging Inc. Harmonizing font contours

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE68927786D1 (de) * 1988-06-29 1997-04-03 Fujitsu Ltd Verfahren und Gerät zur Annäherung einer Kurve mit einer polygonalen Linie
US5023828A (en) * 1988-07-20 1991-06-11 Digital Equipment Corporation Microinstruction addressing in high-speed CPU
US4989210A (en) * 1988-08-30 1991-01-29 Unisys Corporation Pipelined address check bit stack controller
JPH02176879A (ja) * 1988-12-28 1990-07-10 Toshiba Corp パラメータ曲線発生器
US5241654A (en) * 1988-12-28 1993-08-31 Kabushiki Kaisha Toshiba Apparatus for generating an arbitrary parameter curve represented as an n-th order Bezier curve
JPH03127186A (ja) * 1989-10-12 1991-05-30 Mitsubishi Electric Corp 描画方式
JP2734711B2 (ja) * 1990-01-12 1998-04-02 日本電気株式会社 曲線発生装置
JPH0458378A (ja) * 1990-06-28 1992-02-25 Mitsubishi Heavy Ind Ltd ベジエ曲線を分割して展開する方法
US5128887A (en) * 1991-01-31 1992-07-07 Hewlett-Packard Company Numerical accuracy indicator for rounded numeric value display method

Also Published As

Publication number Publication date
US5900884A (en) 1999-05-04
KR100202044B1 (ko) 1999-06-15
JPH08329261A (ja) 1996-12-13
EP0745945A3 (en) 1999-04-14
TW311998B (ko) 1997-08-01
EP0745945A2 (en) 1996-12-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR960042420A (ko) 파라메트릭 곡선 발생 장치
US4218751A (en) Absolute difference generator for use in display systems
Knežević et al. Low-latency ECDSA signature verification—A road toward safer traffic
US11032074B2 (en) Cryptosystem and method using isogeny-based computations to reduce a memory footprint
JPH01265347A (ja) アドレス生成装置
KR910006838A (ko) 디지탈 가산 회로
JP3683598B2 (ja) データ駆動型情報処理装置
KR970004107B1 (ko) 파라미터곡선발생기
JPH01220528A (ja) パリテイ発生器
JPH02235185A (ja) 図形再生方法
KR0119725B1 (ko) 선형변환 방법을 이용한 영상처리용 병렬기억장치
SU1667041A1 (ru) Устройство дл ввода информации
Günther et al. K-layer straightline crossing minimization by speeding up sifting
JPH01173237A (ja) Ramアクセス方式
CN113986199A (zh) 一种基于余数系统的同态乘法硬件计算系统及计算方法
JP2835366B2 (ja) 高速フーリエ変換用アドレス情報発生装置
JPS5617454A (en) Information processor
US20040081317A1 (en) Encryption circuit achieving higher operation speed
JPS6188334A (ja) 除算回路
Laporta et al. A binary algorithm with low divergence for modular inversion on SIMD architectures
KR960011762A (ko) 영상 처리 전용 소자의 제어 회로
KR940017139A (ko) 디지탈 정현파 발생회로
JPS63192144A (ja) アドレスの生成回路
JPH0285908A (ja) 正弦関数発生方法
JPS61138337A (ja) 計数回路

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20060313

Year of fee payment: 8

LAPS Lapse due to unpaid annual fee