KR960038764A - 발광 소자의 수명 예측 방법 및 이를 이용한 발광 구동 장치 - Google Patents

발광 소자의 수명 예측 방법 및 이를 이용한 발광 구동 장치 Download PDF

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Abstract

전류 검출기는 발광 소자(레이저 다이오드) 를 통해 흐르는 구동 전류 Im를 검출하며; 온도 센서는 발광 소자의 부근에 배재되며; 마이크로 컴퓨터에는 전류 검출기 및 온도 센서의 출력이 공급되며; 온도 T1에서의 구동전류값 IT1 및 온도 T2(〉 T1) 에서의 구동 전류값 IT2에 기초해서 획득된 발광 소자에 대한 특정 온도 보정계수가 메모리에 기억되며; 검출된 온도 Ti에 수명 임계 전류 Id가 계산되고; 검출된 온도 Ti에 대한 수명 임계 전류 Id가 검출된 전류에 의해서 초과될시에, 구동기가 제어되어 발광 소자에 대한 구동 전류의 공급을 억제한다. 동작 온도가 또한 고려되기 때문에, 발광 소자의 수명이 정확히 예측될 수 있어, 잘못된 데이타기록/재생이 방지된다.

Description

발광 소자의 수명 예측 방법 및 이를 이용한 발광 구동 장치
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명에 따른 발광 구동 장치를 APC 시스템에 적용한 예를 도시한 개략도, 제2도는 발광 소자의 수명이 어떻게 예측되는지의 예를 도시한 흐름도, 제4도는 구동 전류와 온도 보정 계수간의 관계를 도시한 챠트, 제5도는 평균 온도 보정 계수와 특정 온도 보정 계수간의 관계를 도시한 챠트.

Claims (22)

  1. 발광 소자의 구동 전류에 기초해서 발광 소자의 수명 상태를 예측하는 수명 예측 방법에 있어서, 발광 소자가 선정된 광출력을 제공하도록 제1의 구동 전류를 공급하고, 상기 제1의 구동 전류의 값을 기준값으로서 설정하는 단계와, 발광 소자의 수명 상태를 결정하는 수명 임계 전류로서 기준값의 n배인 구동 전류값을 설정하는 단계와; 발광 소자가 선정된 광출력을 제공하도록 제2의 구동 전류를 공급하고, 상기 제2의 구동 전류의 값을 수명 임계전류와 비교하는 단계 및; 비교의 결과에 따라 발광 소자의 수명을 결정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 발광 소자의 수명 예측 방법.
  2. 제1항에 있어서, 상기 발광 소자는 레이저 다이오드를 포함하는 것을 특징으로 하는 발광 소자의 수명 예측 방법.
  3. 제1항에 있어서, 상기 n의 값은 1.2 내지 1.3의 범위내에 있는 것을 특징으로 하는 발광 소자의 수명 예측 방법.
  4. 제1항에 있어서, 상기 기준값은 발광 소자가 상온에서 선정된 광출력을 제공할 수 있는 구동 전류값인 것을 특징으로 하는 발광 소자의 수명 예측 방법.
  5. 발광 소자의 구동 전류에 기초해서 발광 소자의 수명 상태를 예측하는 수명 예측 방법에 있어서, 발광 소자가 선정된 광출력을 제공하도록 제1의 구동 전류를 공급하고, 상기 제1의 구동 전류의 값을 기준값으로서 설정하는 단계와; 상기 기준값에 발광 소자의 온도 보정 계수와 동일한 형태의 발광 소자의 온도 보정 계수의 평균값인 보덩 전류값을 가산하므로 보정된 기준값을 획득하는 단계와; 발광 소자의 수명 상태를 결정하는 수명 임계 전류로서 보정된 기준값의 n배인 구동 전류값을 설정하는 단계와; 발광 소자가 선정된 광출력을 제공하도록 제2의 구동 전류를 공급하고, 상기 제2의 구동 전류의 값을 수명 임계전류와 비교하는 단계 및, 비교의 결과에 따라 발광 소자의 수명을 결정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 발광 소자의 수명 예측 방법.
  6. 제5항에 있어서, 상기 발광 소자는 레이저 다이오드를 포함하는 것을 특징으로 하는 발광 소자의 수명 예측 방법.
  7. 제5항에 있어서, 상기 온도 보정 계수의 평균값은 0.8인 것을 특징으로 하는 발광 소자의 수명 예측 방법.
  8. 제5항에 있어서. 상기 n의 값은 1.2내지 1.3의 범위내에 있는 것을 특징으로 하는 발광 소자의 수명 예측 방법.
  9. 제5항에 있어서, 상기 기준값은 발광 소자가 상온에서 선정된 광 출력을 제공할 수 있는 구동 전류값인 것을 특징으로 하는 발광 소자의 수명 예측 방법.
  10. 발광 소자의 구동 전류에 기초해서 발광 소자의 수명 상태를 예측하는 수명 예측 방법에 있어서. 발광소자가 선정된 광출력을 제공하도록 제1의 구동전류를 공급하고, 상이 제1의 구동 전류의 값을 기준값으로서 설정하는 단계와; 상기 기준값에 발광 소자에 대한 특정 온도 보정 계수인 보정 전류값을 가산하므로 보정된 기준값을 획득하는 단계와; 발광 소자의 수명 상태를 결정하는 수명 임계 전류로서 보정된 기준값의 n배인 구동 전류값을 설정하는 단계와; 발광 소자가 선정된 광출력을 제공하도록 제2의 구동 전류를 공급하고, 상기 제2의 구동 전류의 값을 수명 임계 전류와 비교하는 단계 및; 비교의 결과에 따라 발광 소자의 수명을 결정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 발광 소자의 수명 예측 방법.
  11. 제10항에 있어서, 상기 발광 소자는 레이저 다이오드를 포함하는 것을 특징으로 한는 발광 소자의 수명예측 방법.
  12. 제10항에 있어서, 온도 보정 계수 η는 이하식에 의해 주어지는데, η=(IT2-IT1)/(T2-T1)[mA/℃〕여기서 IT1은 제1의 온도 T1에서의 구동 전류값이고, IT2는 제1의 온도 T1과는 상이한 제2의 온도 T2에서의 구동 전류값인 것을 특징으로 하는 발광 소자의 수명 예측 방법.
  13. 제10항에 있어서, 상기 n의 값은 1.2 내지 1.3의 범위내에 있는 것을 특징으로 하는 발광 소자의 수명 예측 방법.
  14. 제10항에 있어서, 상기 기준값은 발광 소자가 상온에서 선정된 광 출력을 제공할 수 있는 구동 전류값인 것을 특징으로 하는 발광 소자의 수명 예측 방법.
  15. 발광 소자가 주어진 광출력을 제공하는 방식으로 발광소자의 구동 전류를 제어하는 발광 구동 장치에 있어서, 발광 소자의 광출력을 검출하는 광 검출 수단과,; 상기 광 검출 수단의 출력을 발광 소자의 광 출력의 기준 광출력값과 비교하는 비교 수단과; 발광 소자가 기준 광출력값에 대응하는 광 출력을 제공하기 위해 상기 비교 수단의 출력에 따라 발광 소자에 구동 전류를 공급하는 구동 수단과; 구동 전류의 값을 검출하는 전류 검출 수단과; 발광 소자의 동작 온도를 검출하는 온도 검출 수단 및; 상기 정류 검출 수단 및 상기 온도 검출 수단의 출력에 기초해서 발광 소자의 수명을 예측하고 예측의 결과에 따라 발광 소자에 구동 전류의 공급을 중지시키는 제어 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 발광 두동 장치.
  16. 제15항에 있어서, 상기 제어 수단은 상기 전류 검출 수단의 출력에 기초해서 발광 소자에 공급된 제1의 구동 전류를 획득하기 위해 발광 소자가 선정된 광 출력을 제공하도록 기준 광출력값을 상기 비교수단에 공급하며; 기준값으로서 제1의 구동 전류의 값을 설정하며; 상기 전류 검출 수단 및 상기 온도 검출 수단의 출력에 기초해서 발광 소자에 대한 특정 온도 보정 계수를 계산하며; 계산된 온도 보정 계수에 의해 보정 전류를 구동 하며; 보정 전류값을 기준값에 가산하므로 보정된 기준값을 획득하며; 발광 소자의 수명 상태를 결정하기 위해 수명 임계 전류로서 상기 보정된 기준값의 n배인 구동 전류값을 설정하며; 상기 전류 검출 수단의 출력에 기초해서 발광 소자에 공급된 제2의 구동 전류를 획득하기 위해 발광 소자가 선정된 광출력을 제공하도록 기준 광출력값을 상기 비교 수단에 공급하며; 상기 제2의 구동 전류의 값을 상기 수명 임계 전류와 비교하고; 비교의 결과에 따라 발광 소자에 대한 구동 전류의 공급이 중지되도록 상기 구동 수단을 제어하는 것을 특징으로 하는 발광 구동 장치.
  17. 제16항에 있어서, 온도 보정 계수 η는 이하 식에 의해 주어지는데, η=(IT2-IT1)/(T2-T1)〔mA/℃〕 여기서, IT1은 전류 검출 수단 및 상기 온도 검출 수단의 출력으로부터 획득된 제1의온도 T1에서의 구동 전류값이고, IT2 는 제1의 온도 IT1와는 상이한 제2의 온도 T2에서의 구동 전류값인 것을 특징으로 하는 발광 구동 장치.
  18. 제17항에 있어서, 상기 온도 보정 계수 η는 상기 제어 수단에 의해 메모리 수단에 기억되는 특징으로 하는 발광 구동 장치.
  19. 제16항에 있어서, n의 값은 1.2 내지 1.3의 범위내에 있는 특징으로 하는 발광 구동 장치.
  20. 제16항에 있어서, 상기 기준값은 발광 소자가 상온에서 선정된 광출력을 제공할 수 있는 구동 전류값인 것을 특징으로 하는 발광 구동 장치.
  21. 제15항에 있어서, 디스플레이 수단을 더 포함하고, 발광 소자가 수명이 다된 상태라고 판단될시에, 상기 제어 수단이 디스플레이 수단을 제어하여 발광 소자의 수명이 다되었음을 표시하는 정보를 디스플레이 하는 것을 특징으로 하는 발광 구동 장치.
  22. 제15항에 있어서, 상기 발광 소자는 레이저 다이오드를 포함하는 것을 특징으로 하는 발광 구동 장치.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019960010089A 1995-04-05 1996-04-04 발광소자의열화추정방법및이를이용한발광구동장치 KR100394169B1 (ko)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100773815B1 (ko) * 2006-11-07 2007-11-06 인터피온반도체주식회사 온도보상된 주파수 특성을 가지는 전자식 안정기 제어회로
KR100828013B1 (ko) * 2005-11-01 2008-05-08 세이코 엡슨 가부시키가이샤 발광 장치, 구동 회로, 구동 방법 및 전자 기기
KR20150080214A (ko) * 2013-12-31 2015-07-09 엘지디스플레이 주식회사 유기 발광 디스플레이 장치와 이의 구동 방법

Families Citing this family (52)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5742566A (en) * 1995-11-27 1998-04-21 Sony Corporation Optical recording methods and apparatus using light modulation technique based on detecting temperature of the medium
US5844928A (en) * 1996-02-27 1998-12-01 Lucent Technologies, Inc. Laser driver with temperature sensor on an integrated circuit
JPH10163558A (ja) * 1996-11-29 1998-06-19 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 半導体レーザ駆動装置
US5931900A (en) * 1997-08-25 1999-08-03 I2 Technologies, Inc. System and process for inter-domain interaction across an inter-domain connectivity plane
WO2003067510A1 (en) * 2000-11-28 2003-08-14 Ceyx Technologies, Inc. Laser temperature performance compensation
US6671248B2 (en) * 2000-05-18 2003-12-30 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Apparatus and method of controlling laser power
JP2002197709A (ja) * 2000-10-18 2002-07-12 Sony Corp 記録再生装置、状態検出方法、および、データ出力方法、情報処理装置、および、情報処理方法、並びに記録媒体
JP2002150590A (ja) * 2000-11-10 2002-05-24 Pioneer Electronic Corp 光学式記録媒体による記録装置及び方法
US7099251B2 (en) * 2001-10-15 2006-08-29 Shinano Kenshi Kabushiki Kaisha Method of controlling laser power and optical disk player
USRE43685E1 (en) 2002-01-08 2012-09-25 Tecey Software Development Kg, Llc Apparatus and method for measurement for dynamic laser signals
GB0204212D0 (en) * 2002-02-22 2002-04-10 Oxley Dev Co Ltd Led drive circuit
US7116689B2 (en) * 2002-08-16 2006-10-03 Pitman Edward A Method for estimating age rate of a laser
US6891866B2 (en) * 2003-01-10 2005-05-10 Agilent Technologies, Inc. Calibration of laser systems
JP2004253032A (ja) * 2003-02-19 2004-09-09 Sony Corp レーザ駆動装置、光学式ヘッド装置及び情報処理装置
JP2004254240A (ja) * 2003-02-21 2004-09-09 Fujitsu Ltd レーザダイオード管理装置およびレーザダイオード管理方法
JP3797980B2 (ja) * 2003-05-09 2006-07-19 ファナック株式会社 レーザ加工装置
GB2405496B (en) * 2003-08-27 2007-02-07 Agilent Technologies Inc A method and a system for evaluating aging of components, and computer program product therefor
JP4500025B2 (ja) * 2003-09-04 2010-07-14 株式会社日立エルジーデータストレージ 光ディスク装置及び光ディスク装置の制御方法
GB2406210A (en) * 2003-09-16 2005-03-23 Agilent Technologies Inc control apparatus and method for an electromagnetic radiation device
GB0322823D0 (en) * 2003-09-30 2003-10-29 Oxley Dev Co Ltd Method and drive circuit for controlling leds
US6998587B2 (en) * 2003-12-18 2006-02-14 Intel Corporation Apparatus and method for heating micro-components mounted on a substrate
JP2005251855A (ja) * 2004-03-02 2005-09-15 Fanuc Ltd レーザ装置
US7132805B2 (en) * 2004-08-09 2006-11-07 Dialight Corporation Intelligent drive circuit for a light emitting diode (LED) light engine
US7824353B2 (en) * 2004-09-01 2010-11-02 Matta Joel M Surgical support for femur
CN100530378C (zh) * 2004-11-10 2009-08-19 松下电器产业株式会社 光信息记录再生装置
US7400662B2 (en) * 2005-01-26 2008-07-15 Avago Technologies Fiber Ip Pte Ltd Calibration of laser systems
TWI319842B (en) * 2005-01-26 2010-01-21 Threshold current modifying device and method thereof
US7609736B2 (en) * 2005-09-30 2009-10-27 Symbol Technologies, Inc. Laser power control arrangements in electro-optical readers
US20070116076A1 (en) * 2005-11-21 2007-05-24 Frank Wang Controlling optical power and extincation ratio of a semiconductor laser
US7961584B2 (en) 2006-01-26 2011-06-14 Tian Holdings, Llc Operating current modifying device and method
CN101743669A (zh) * 2007-07-13 2010-06-16 三菱电机株式会社 光发送器
US7880995B2 (en) * 2008-01-31 2011-02-01 Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. Method, system, and computer program product for thermally assisted recording systems
JP5056549B2 (ja) * 2008-04-04 2012-10-24 日亜化学工業株式会社 光半導体素子の寿命予測方法および光半導体素子の駆動装置
US20100007588A1 (en) * 2008-07-09 2010-01-14 Adaptive Micro Systems Llc System and method for led degradation and temperature compensation
JP2010034240A (ja) * 2008-07-28 2010-02-12 Panasonic Electric Works Co Ltd 照明装置
JP2010079945A (ja) * 2008-09-24 2010-04-08 Hitachi Ltd 光ディスク記録再生装置および光ディスク記録再生装置の光ピックアップの温度特性補正方法
KR101038214B1 (ko) 2008-12-23 2011-06-01 (주)이오닉스테크놀러지 열화 감지센서
EP2502567A4 (en) * 2009-11-16 2014-11-26 Hitachi Medical Corp DEVICE FOR MEASURING THE LIGHT OF AN ORGANISM AND METHOD FOR DISPLAYING INFORMATION REGARDING THE UTILITY / INUTILITY OF REPLACING AN ELECTROLUMINESCENT PART
JP5752910B2 (ja) 2010-09-30 2015-07-22 オリンパス株式会社 内視鏡装置及びその動作制御方法
JP2013077367A (ja) 2011-09-30 2013-04-25 Sharp Corp 情報記録装置、情報記録装置の制御方法、計算機、及び映像記録装置
US8451696B2 (en) 2011-10-31 2013-05-28 HGST Netherlands B.V. Temperature sensor in a thermally assisted magnetic recording head
US8705323B2 (en) 2011-10-31 2014-04-22 HGST Netherlands B.V. TAR temperature sensor having faster response time
WO2013140280A2 (en) 2012-03-22 2013-09-26 Koninklijke Philips N.V. Lighting system with lifetime indicator and method for estimating the remaining life time of a lighting system
CN103389474A (zh) * 2012-05-08 2013-11-13 北京七彩亮点环能技术股份有限公司 一种led电参测量及老化测试仪
US9993658B2 (en) * 2012-08-16 2018-06-12 Yolo Medical Inc. Light applicators, systems and methods
JP6443851B2 (ja) 2014-08-04 2018-12-26 キヤノン株式会社 被検体情報取得装置、被検体情報取得方法およびプログラム
JP6934129B2 (ja) * 2015-03-19 2021-09-15 ソニーグループ株式会社 半導体発光素子組立体の駆動方法
JP6360090B2 (ja) 2016-03-10 2018-07-18 ファナック株式会社 機械学習装置、レーザ装置および機械学習方法
JP6382883B2 (ja) 2016-04-22 2018-08-29 ファナック株式会社 実効的駆動時間を算出するレーザ装置
CN105954664B (zh) * 2016-04-25 2019-07-19 Oppo广东移动通信有限公司 一种发光元件的老化确定方法、装置及移动终端
WO2020217355A1 (ja) * 2019-04-24 2020-10-29 三菱電機株式会社 劣化診断装置および光トランシーバの劣化診断方法
US20230119309A1 (en) * 2021-10-20 2023-04-20 Simmonds Precision Products, Inc. Laser diode drive systems

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4685097A (en) * 1985-07-25 1987-08-04 Laser Magnetic Storage International Company Power control system for a semiconductor laser
JPH07111782B2 (ja) * 1986-08-13 1995-11-29 ソニー株式会社 光デイスクの記録再生装置
US5436880A (en) * 1994-01-10 1995-07-25 Eastman Kodak Company Laser power control in an optical recording system using partial correction of reflected signal error

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100828013B1 (ko) * 2005-11-01 2008-05-08 세이코 엡슨 가부시키가이샤 발광 장치, 구동 회로, 구동 방법 및 전자 기기
KR100773815B1 (ko) * 2006-11-07 2007-11-06 인터피온반도체주식회사 온도보상된 주파수 특성을 가지는 전자식 안정기 제어회로
KR20150080214A (ko) * 2013-12-31 2015-07-09 엘지디스플레이 주식회사 유기 발광 디스플레이 장치와 이의 구동 방법

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