JP2007042839A - レーザ光源の駆動回路および駆動方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】 動作温度上昇によるレーザダイオードの破壊防止機能を高精度かつ構造容易に実現する、レーザ光源の駆動回路および駆動方法を実現する。
【解決手段】 駆動回路1は、フォトダイオード12Bの順方向にバイアスするよう、フォトダイオード12Bへ電流を供給する定電流源2と、フォトダイオード12Bの順方向電圧を検出する検出手段3と、検出手段3が検出した順方向電圧が、所定の基準電圧よりも小さいか否かを判定する判定手段4と、電流源11によるレーザダイオード12Aへの電流の供給を制御する制御手段5と、を備え、制御手段5は、順方向電圧が所定の基準電圧よりも小さいと判定手段4が判定した場合、レーザダイオード12Aへの電流の供給を停止するよう電流源11を制御する。
【選択図】 図1
【解決手段】 駆動回路1は、フォトダイオード12Bの順方向にバイアスするよう、フォトダイオード12Bへ電流を供給する定電流源2と、フォトダイオード12Bの順方向電圧を検出する検出手段3と、検出手段3が検出した順方向電圧が、所定の基準電圧よりも小さいか否かを判定する判定手段4と、電流源11によるレーザダイオード12Aへの電流の供給を制御する制御手段5と、を備え、制御手段5は、順方向電圧が所定の基準電圧よりも小さいと判定手段4が判定した場合、レーザダイオード12Aへの電流の供給を停止するよう電流源11を制御する。
【選択図】 図1
Description
本発明は、レーザダイオードと、このレーザダイオードの発光強度を制御するために近接配置された、レーザダイオードの発する光を受光するフォトダイオードと、からなるレーザ光源の駆動回路および駆動方法に関する。
レーザダイオード(LD)を有するレーザ光源(半導体レーザ)は、その内部に、レーザダイオードの発光強度を制御するための、レーザダイオードの発する光を受光するフォトダイオード(PD)を有する。このようなレーザ光源として、レーザダイオードとフォトダイオードとが互いに近接して配置されたモジュール構造の形を有するものがある(例えば、特許文献1)。レーザ光源の駆動回路では、フォトダイオードによるレーザダイオードの発光強度の検知結果を用いて負帰還制御を実現し、レーザダイオードの発光強度を一定に保つ。
図11は、レーザ光源の一般的な駆動回路を示す回路図である。以降、異なる図面において同じ参照符号が付されたものは同じ機能を有する構成要素であることを意味するものとする。
モジュール112内にはレーザダイオード112Aとフォトダイオード112Bとが近接して配置されており、レーザダイオード112Aとフォトダイオード112Bとは、光学的に結合される。レーザダイオード112Aは、電流源111から供給される電流ILDによって発光する。フォトダイオード112Bは、レーザダイオード112Aが発する光を受光し、レーザダイオード112Aが出力する光パワーに比例した電流IPDを出力する。電流−電圧変換回路113は、入力されたフォトダイオード112Bの出力電流IPDを電圧に変換して出力する。電流−電圧変換回路113は極めて小さな入力インピーダンスを有していることから、電流−電圧変換回路113の出力電圧は、レーザダイオード112Aが出力する光パワーに対して、広い範囲にわたって線形に変化する。比較演算器114は、電流−電圧変換回路113の出力電圧と基準電圧設定器115によって設定された基準電圧Vref1とを比較する。LDドライバ回路116は、比較演算器114の比較結果を用いて、電流−電圧変換回路113の出力電圧と基準電圧Vref1とが一致するよう、電流源111の電流ILDを制御する。
配線基板の配線パターンを直接露光により形成するマスクレス露光装置では、光源として上述のようなレーザ光源、特に青色半導体レーザが使われる。
図12は、一般的な青色半導体レーザの電圧−電流特性を示す図である。このグラフは日亜化学工業株式会社のデータシートから引用したものであり、同社製の青色半導体レーザ(型番:NDHV310APC)の電圧−電流特性を示している。このグラフでは、青色半導体レーザの動作温度をパラメータにとっている。このグラフからわかるように、青色半導体レーザは、順方向の電圧降下が大きいので、通常のLEDに比べて電力損失が大きい。
図13は、一般的な青色半導体レーザの光出力パワー−電流特性を示す図である。このグラフは、同じく日亜化学工業株式会社のデータシートから引用したものであり、同社製の青色半導体レーザ(型番:NDHV310APC)の光出力パワー−電流特性を示している。このグラフでは、青色半導体レーザの動作温度をパラメータにとっている。このグラフからわかるように、青色半導体レーザは、駆動電流が一定の場合、青色半導体レーザの動作温度が高いほど、光出力パワーが減衰する。
上述の青色半導体レーザのような電力損失が大きくかつ動作温度が高いほど光出力パワーが減衰するという特性を有するようなレーザダイオードは、電力損失による発熱で青色半導体レーザの動作温度が上昇すると、光出力パワーが減衰してしまう。
ここで、図11に示したような負帰還制御を用いた駆動回路100で、レーザダイオード112Aの発光強度を一定に保とうとする場合を考える。レーザダイオード112Aの電力損失による発熱のためにその光出力パワーが減衰すると、LDドライバ回路116は、該光出力パワーを一定に保つようにするために、電流源111を制御してレーザダイオード112Aの駆動電流ILDを増加させる。すると、駆動電流ILDの増加により、レーザダイオード112Aはさらに発熱することになり、この発熱のため光出力パワーはさらに減衰する。以後、これが繰り返され、この結果、駆動回路100は熱暴走することになる。駆動回路100の熱暴走により、最終的にはレーザダイオード112Aは破壊される。
上述のような熱暴走によるレーザダイオードの破壊を防ぐ対応策の1つとして、循環する水や気体を用いた冷却システムが挙げられる。
あるいはまた、熱暴走によるレーザダイオードの破壊を防ぐ別の対応策として、異常高温時にレーザダイオードの駆動電流を強制的に停止する駆動回路が挙げられる。図14は、熱暴走を防止する機能を備えたレーザ光源の駆動回路の従来例を示す回路図である。モジュール112内のレーザダイオード112A付近には、温度センサ117が設置される。温度検出器118は、温度センサ117の出力を適切な電圧レベルに変換してこれを比較演算器120へ入力する。比較演算器120は、温度検出器118の出力電圧と基準電圧設定器119によって設定された基準電圧Vref2とを比較する。基準電圧設定器119によって生成される基準電圧Vref2は、レーザダイオード112Aの動作可能最高温度に対応する値である。LDドライバ回路116は、比較演算器120の比較結果に基づき、レーザダイオード112Aの温度が、設定された動作可能最高温度を超えたと判断されたときに、電流源111に対して電流ILDの供給を停止するための信号を、電流源111へ出力する。なお、これ以外の回路構成については図11に示す回路構成と同様なので、同一部分には同一符号を付してその説明を省略する。
レーザ光源特に青色半導体レーザは非常に高価なものであることから、駆動回路が熱暴走してレーザダイオードが破壊されてしまうのは好ましくない。特に、マスクレス露光装置の光源としてレーザ光源が多数に用いられるときにはその経済的損失も甚大である。したがって、熱暴走によるレーザダイオードの破壊を防ぐことは、マスクレス露光装置の安定的な運用という観点以外に、無用な経済的損失を予防するという観点からも非常に重要な課題であるといえる。
しかしながら、上述のような循環する水や気体を用いた冷却システムは、そのほとんどが機械的なシステム構成であり、応答性も電気的なシステムに比べて悪い。また、フィルタの目詰まりや配管パイプの破損などといった機械的故障も発生し易く、これを防ぐためのメンテナンスも面倒なものである。
また、温度センサを用いて異常高温時にレーザダイオードの駆動電流を強制的に停止する機能を有する駆動回路では、温度センサおよびそのための制御系をレーザダイオードごとに個別に設置しなければならない。モジュール内のレーザダイオード付近に温度センサを取り付けることは、コスト的およびスペース的に好ましくない。また、装置全体の回路構成も複雑なものになる。
従って本発明の目的は、上記問題に鑑み、動作温度上昇によるレーザダイオードの破壊防止機能を高精度かつ構造容易に実現する、レーザ光源の駆動回路および駆動方法を提供することにある。
上記目的を実現するために、本発明においては、レーザダイオードと、このレーザダイオードの発光強度を制御するために近接配置された、レーザダイオードの発する光を受光するフォトダイオードと、からなるレーザ光源について、フォトダイオードを順方向にバイアスし、このときのフォトダイオードの順方向電圧が、所定の基準電圧よりも小さいとき、レーザダイオードへの電流の供給を停止するよう、駆動回路を駆動する。特に、順方向にバイアスされるようフォトダイオードへ供給される電流については、レーザダイオードが発する光をフォトダイオードが受光することに起因して生じる電流よりも十分に大きいものとする。なお、フォトダイオードを順方向にバイアスする理由については図3〜5を用いて後述する。
本発明の駆動回路は、好ましくは温度測定モードおよび光パワー測定モードの2つの動作モードを有する。温度測定モードと光パワー測定モードとは切替スイッチを介して切り替えられる。このうち、温度測定モード時においては、駆動回路は、順方向にバイアスされるよう電流が供給されているときのフォトダイオードの順方向電圧が、所定の基準電圧よりも小さいとき、レーザダイオードへの電流の供給を停止するよう制御する。一方、光パワー測定モード時においては、駆動回路は、レーザダイオードが発する光をフォトダイオードが受光することに起因して生じる電流に基づいて、レーザダイオードの発光強度を制御する。
図1は、本発明によるレーザ光源の駆動回路の原理ブロック図である。モジュール12内にはレーザダイオード12Aとフォトダイオード12Bとが近接して配置されおり、レーザダイオード12Aとフォトダイオード12Bとは、光学的に結合されると同時に、熱的にも結合される。レーザダイオード12Aは、電流源11によって供給される電流によって発光する。本発明による駆動回路1は、フォトダイオード12Bの順方向にバイアスするよう、フォトダイオード12Bへ電流を供給する定電流源2と、フォトダイオード12Bの順方向電圧を検出する検出手段3と、検出手段3が検出した順方向電圧が、所定の基準電圧よりも小さいか否かを判定する判定手段4と、電流源11によるレーザダイオード12Aへの電流の供給を制御する制御手段5と、を備える。制御手段5は、順方向電圧が所定の基準電圧よりも小さいと判定手段4が判定した場合、レーザダイオード12Aへの電流の供給を停止するよう電流源11を制御する。
本発明の駆動回路は、好ましくは温度測定モードおよび光パワー測定モードの2つの動作モードを有する。温度測定モードと光パワー測定モードとは切替スイッチを介して切り替えられる。図2は、本発明による、温度測定モードおよび光パワー測定モードを有するレーザ光源の駆動回路の原理ブロック図である。駆動回路1は、光パワー測定モードと温度測定モードとを切り替える切替スイッチ6と、温度測定モード時において、フォトダイオード12Bの順方向にバイアスするよう、フォトダイオード12Bへ電流を供給する定電流源2と、温度測定モード時におけるフォトダイオード12Bの順方向電圧を検出する検出手段3と、検出手段3が検出した順方向電圧が、所定の基準電圧よりも小さいか否かを判定する判定手段4と、電流源11によるレーザダイオード12Aへの電流の供給を制御する制御手段5と、を備える。制御手段5は、光パワー測定モード時においては、レーザダイオード12Aが発する光をフォトダイオード12Bが受光することに起因して生じる電流に基づいて、レーザダイオード12Aの発光強度を制御するために、電流源11によるレーザダイオード12Aへの電流の供給を制御する。一方、制御手段5は、温度測定モード時においては、順方向電圧が基準電圧よりも小さいと判定手段4が判定した場合に、レーザダイオード12Aへの電流の供給を停止するよう電流源11を制御する。
ここで、フォトダイオードを順方向にバイアスする理由について説明する。
図3は、一般的な青色半導体レーザのモニタ電流−光出力パワー特性を示す図である。このグラフは、日亜化学工業株式会社のデータシートから引用したものであり、同社製の青色半導体レーザ(型番:NDHV310APC)のモニタ電流−光出力パワー特性を示している。モニタ電流とはレーザダイオードが発する光をフォトダイオードが受光することに起因して生じる電流のことである。このグラフでは、動作温度TCが25℃の場合のみが示されているが、一般に、このモニタ電流−光出力パワー特性は、温度変化に対して極めて安定であることがよく知られている。
図4は、一般的なフォトダイオードの電圧−電流特性を示す図である。このグラフは、浜松ホトニクス株式会社の技術資料「Si PD technical information.pdf」から引用した、順方向バイアスおよび逆方向バイアスでの電流−電圧特性を示すものである。レーザ光源のモジュールでは、シリコンを原料としたPN接合タイプのフォトダイオードが使用されるのが一般的である。つまり、フォトダイオードを順方向にバイアスすれば、一般的な整流用シリコンダイオードと同等の電流−電圧特性を示すことになる。一般に、PN接合に対して順方向電流を流した場合、このときに生じる順方向電圧は、PN接合の温度と順方向電流の大きさに比例する。特に順方向電流が一定の場合は、シリコンを材料とするPN接合においては、PN接合の温度が1℃上昇するごとに順方向電圧が約2mV〜2.5mV減少することが知られている。また、順方向電流の順方向電圧に対する影響は対数的である。よって、フォトダイオードを外部の定電流源を用いて強制的に順方向にバイアスすれば、フォトダイオードの順方向電圧の変化からフォトダイオードの温度変化を観測できる。
図5は、一般的なフォトダイオードの等価回路を示す回路図である。図中、IPDは、レーザダイオードが発する光をフォトダイオードが受光することに起因して生じる電流(∝レーザダイオードの光出力パワー)を示す。また、DはPN接合ダイオードの性質をモデル化したものである。また、Cjは、PN接合の接合容量を示し、直流電流にとっては無視できる。R2は、もれ抵抗成分であり、実際には無視できるほど大きい。R1は、接触抵抗成分であり、実際には無視できるほど小さい。
上述の図3および4から、レーザダイオードが発する光をフォトダイオードが受光することに起因して生じる電流(図4のISC)は、レーザダイオードの光出力パワー(∝フォトダイオードに対する照度)に比例するものの、順方向の電圧降下に対する照度の影響は少ないことがわかる。すなわち、フォトダイオードを強制的に順方向にバイアスするための上述の外部の定電流源の電流値を、レーザダイオードが発する光をフォトダイオードが受光することに起因して生じる電流よりも十分に大きくしておけば、フォトダイオードにレーザダイオードの発する光が入射しても、フォトダイオードの順方向電圧に対する影響は無視できるほど小さい。図6は、一般的なフォトダイオードを、外部の定電流源を用いて強制的に順方向にバイアスしたときの等価回路を示す回路図である。フォトダイオードを強制的に順方向にバイアスする外部の定電流源IBTの電流値を、レーザダイオードが発する光をフォトダイオードが受光することに起因して生じる電流IPDよりも十分に大きくしておけば、フォトダイオードにレーザダイオードの発する光が入射したとしても、その順方向電圧VTHに対する影響は無視できるほど小さいものとなり、なおかつ、フォトダイオードの順方向電圧の変化を測定することによりフォトダイオードの温度変化を検知することができる。上述のように、フォトダイオードとレーザダイオードとはモジュールの中で極めて近接して配置されており、したがって熱的にもよく結合されているから、フォトダイオードの温度変化は、レーザダイオードの温度変化とみなすことができる。
本発明は、レーザ光源のモジュール内のフォトダイオードの上記特性を利用したものであり、すなわち、フォトダイオードを、レーザダイオードからの光をフォトダイオードが受光することに起因して生じる電流よりも十分に大きい電流でもって順方向にバイアスすることで、フォトダイオード自体に温度センサの機能をさらに持たせたこと最大の特徴とするものである。順方向にバイアスされるよう電流が供給されているときのフォトダイオードの順方向電圧が、所定の基準電圧よりも小さいときは、動作可能な最高温度を超えたものとみなし、レーザダイオードへの電流の供給を停止する。もちろん、フォトダイオードには、レーザダイオードの発する光を受光する、光出力パワーセンサの機能も有している。したがって、フォトダイオードを、光出力パワーセンサの機能と温度センサの機能とで適宜使い分けるのが好ましい。
本発明によれば、レーザ光源の駆動回路においては、動作温度上昇によるレーザダイオードの破壊防止機能を高精度かつ構造容易に実現することができる。本発明では、レーザダイオードに極めて近接して配置されたフォトダイオードを、温度センサとしても使用するので、温度の検出精度が高く、応答も速い。すなわち、ほぼリアルタイムでレーザダイオードの異常高温状態を検知することができるので、レーザダイオードを熱的な破壊から確実に守ることができる。また、別体の温度センサをあらためて取り付ける必要もないので、装置の構造を単純にすることができる。
図7は、本発明の第1の実施例によるレーザ光源の駆動回路を示す回路図である。また、図8は、本発明の第1の実施例によるレーザ光源の駆動回路のモード切替動作を説明する状態遷移図である。
モジュール12内にはレーザダイオード12Aとフォトダイオード12Bとが近接して配置されており、レーザダイオード12Aとフォトダイオード12Bとは、光学的に結合されると同時に、熱的に結合される。レーザダイオード12Aは、電流源11により供給される電流ILDによって発光する。フォトダイオード12Bは、レーザダイオード12Aが出力する光パワーに比例した電流IPDを出力する。
本実施例による駆動回路1は、温度測定モードおよび光パワー測定モードの2つの動作モードを有する。図1を参照して説明した温度測定モードと光パワー測定モードとを切り替えるための切替スイッチ6として、スイッチSW1、SW2およびSW3が設けられる。スイッチSW1、SW2およびSW3は、それぞれP接点とT接点とを有する。P接点は光パワー測定モード時に選択され、T接点は温度測定モード時に選択される。図7では、一例として、駆動回路1が光パワー測定モードにあり、スイッチSW1、SW2およびSW3はP接点が選択されている場合が示されている。また、図7において破線はディジタル制御信号線を示す。ディジタル制御信号はクロック27のクロック信号に同期して処理される。
まず、光パワー測定モード時に主として動作する回路系について説明する。
光パワー測定モード時では、スイッチSW1、SW2およびSW3では、P接点が選択されている。
レーザダイオード12Aは、電流源11から供給される電流ILDによって発光する。フォトダイオード12Bは、レーザダイオード12Aが出力する光パワーに比例した電流IPDを出力する。
PDドライバ回路30は、フォトダイオード12Bを強制的に順方向にバイアスするための定電流源2を制御する。定電流源2は、電流IBTを出力する。光パワー測定モード時にはスイッチSW1ではP接点が選択されるので、定電流源2から出力される電流IBTは、グランドへ流れ込み、フォトダイオード12Bには流れない。
電流−電圧変換回路13は、スイッチSW2のP接点を介して入力されたフォトダイオード12Bの出力電流IPDを電圧に変換して出力する。電流−電圧変換回路13は極めて小さな入力インピーダンスを有していることから、電流−電圧変換回路13の出力電圧は、レーザダイオード12Aが出力する光パワーに対して、広い範囲にわたって線形に変化する。
サンプル・ホールド回路21は、電流−電圧変換回路13の出力電圧を一定の時間間隔でサンプリングして保持する。
比較演算器14は、サンプル・ホールド回路21によって保持された電圧と、基準電圧設定器15によって設定された基準電圧Vref1と、を比較する。LDドライバ回路16は、比較演算器14の比較結果を用いて、サンプル・ホールド回路21によって保持された電圧と基準電圧Vref1とが一致するよう、電流源11の電流ILDを制御する。
電圧増幅器22は、フォトダイオード12Bのアノード・カソード間に発生した電圧を適切なレベルに増幅するためのものである。光パワー測定モード時においては、スイッチSW3ではP接点が選択されているので、電圧増幅器22の入力端子には、フォトダイオード12Bのアノード・カソード間に発生した電圧が印加されるのではなく、基準電圧設定器19によって設定された基準電圧Vref2が印加されることになる。電圧増幅器22の出力電圧V22は、電圧増幅率(ゲイン)をAvとしたとき、Av×Vref2となる。ここで、Av×Vref2=Vref2Cと定義する。基準電圧Vref2Cは、レーザダイオード12Aの通常動作時における適当な温度を代表する電圧であり、その具体的な大きさについては後述する。
比較演算器20は、電圧増幅器22の出力電圧V22と、A接点およびB接点を有するスイッチSW4を経由して印加される基準電圧Vref2AもしくはVref2Bと、を比較する。基準電圧Vref2Aは、基準電圧設定器23によって設定され、基準電圧Vref2Bは、基準電圧設定器24によって設定される。ここでは、「Vref2C>Vref2B>Vref2A」なる関係が常に成り立つものとする。基準電圧Vref2Aは、レーザダイオード12Aの動作可能最高温度(Tmax)に対応する電圧であり、その詳細については後述する。また、基準電圧Vref2Bは、レーザダイオード12Aの復帰温度(Trec)に対応する電圧であり、その詳細については後述する。なお、上述した基準電圧Vref2Cは、レーザダイオード12Aの通常動作時における温度を代表する電圧であり、「Vref2C>Vref2B」を満足する電圧値であれば、どのような値であってもよい。
パワー測定モード時において、レーザダイオード12Aが異常高温状態にない場合は、スイッチSW4ではA接点が常に選択され、したがって、この場合、比較演算器20の出力は常にハイ(High)となる。
続いて、温度測定モード時に主として動作する回路系について説明する。
図8に示すように、光パワー測定モード時において、温度測定モードから光パワー測定モードへ切り替わってから所定の時間が経過したときに、すなわちタイムアウトしたときに、光パワー測定モードから温度測定モードへ切り替わる。
温度測定モード時においては、スイッチSW1、SW2およびSW3ではT接点が選択される。
温度測定モード時であっても、レーザダイオード12Aが異常高温状態にない場合には、電流源11はレーザダイオード12Aに電流ILDを供給し続けていることから、レーザダイオード12Aは発光している。フォトダイオード12Bは、レーザダイオード12Aの発する光を受光して、レーザダイオード12Aが出力する光パワーに比例した電流IPDを出力する。
一方、スイッチSW1ではT接点が選択されているので、定電流源2が出力した電流IBTは、フォトダイオード12Bに流れ込む。このため、フォトダイオード12Bは強制的に順方向にバイアスされることになる。
スイッチSW2ではT接点が選択されているので、電流−電圧変換回路13への入力電流はゼロである。したがって、電流−電圧変換回路13は電圧を出力しない。しかし、サンプル・ホールド回路21が、パワー測定モードから温度測定モードへ切り替わる直前の、パワー測定モード時における電圧を保持しているので、比較演算器14およびLDドライバ回路16は、上述のパワー測定モード時における動作を維持し続け、このため、レーザダイオード12Aへ供給される電流ILDも流れ続けることになる。
上述したように、フォトダイオード12Bを強制的に順方向にバイアスする定電流源2の電流IBTは、レーザダイオード12Aが発する光をフォトダイオードが受光することに起因して生じる電流IPDよりも十分に大きいので、フォトダイオード12Bにレーザダイオード12Aの発する光が入射していても、フォトダイオード12Bの順方向電圧に対する影響は無視できるほど小さいものであり、なおかつ、フォトダイオードの順方向電圧の変化はフォトダイオード12Bの温度変化に対応したものとなる。また、フォトダイオード12Bとレーザダイオード12Aとはモジュール12の中で極めて近接して配置されており、したがって熱的にもよく結合されているので、フォトダイオード12Bの温度変化をレーザダイオード12Aの温度変化とみなすことができる。
スイッチSW3ではT接点が選択されているので、フォトダイオード12Bのアノード・カソード間に発生した電圧は、スイッチSW3のT接点を介して電圧増幅器22の入力端子に印加される。
電圧増幅器22は、フォトダイオード12Bのアノード・カソード間に発生した電圧を適切なレベルに増幅する。
比較演算器20は、電圧増幅器22の出力電圧V22と、A接点およびB接点を有するスイッチSW4を経由して印加される基準電圧Vref2AもしくはVref2Bと、を比較する。なお、この直前までレーザダイオード12Aが異常高温状態になかった場合は、スイッチSW4ではA接点が選択されているはずであり、したがってこの場合、比較演算器20は、電圧増幅器22の出力電圧V22と、A接点を経由して印加される基準電圧Vref2Aと、を比較する。
ここで、電圧増幅器22の出力電圧V22が、レーダダイオード12Aの動作可能最高温度(Tmax)に対応する電圧である基準電圧Vref2Aよりも小さくなった場合を仮定する。この場合、電圧増幅器22の出力電圧V22が基準電圧Vref2Aよりも小さくなることから、比較演算器20の出力は、ハイ(High)からロー(Low)へ切り替わる。上述したように、電圧増幅器22の出力電圧V22が基準電圧Vref2Aよりも小さいということは、レーザダイオード12Aが異常高温状態にあることを意味する。つまり、比較演算器20の出力がハイ(High)からロー(Low)になったときは、レーザダイオード12Aが異常高温状態になったことを意味する。
サンプル・ホールド回路25は、比較演算器20の出力電圧を一定の時間間隔でサンプリングして保持する。サンプル・ホールド回路25の出力はディジタルインタフェース回路26に送られる。
ディジタルインタフェース回路26は、レーザダイオード12Aが異常高温状態になったことを検知すると、LDドライバ回路16に信号を送り、これを受けてLDドライバ回路16は、レーザダイオード12Aへの電流ILDの供給を停止するよう電流源11を制御する。
この電流源11に対する制御と同時に、ディジタルインタフェース回路26は、コントローラ28に信号を送り、これを受けてコントローラ28は、スイッチSW4の接続先をA接点からB接点へ切り替えるよう制御する。この結果、比較演算器20は、電圧増幅器22の出力電圧V22と、B接点を経由して印加される基準電圧Vref2Bと、を比較することになる。基準電圧Vref2Bは、レーザダイオード12Aの復帰温度(Trec)に対応する電圧である。上述のように「Vref2B>Vref2A」なる関係が常に成り立っており、また、レーザダイオード12Aが異常高温状態にあるということは「Vref2A>V22」なる関係が成り立っていることから、「Vref2B>Vref2A>V22」であるといえるので、比較演算器20への2つの入力の電位差はより一層広がる。したがって、電圧増幅器22の出力電圧V22が多少変動することがあっても、基準電圧Vref2Bと電圧V22との大小関係は維持されるので、比較演算器20の出力はロー(Low)を維持する。
レーザダイオード12Aへの電流源11による電流ILDの供給の停止後しばらくの間は、駆動回路1は温度測定モードにとどまる。つまり、図8に示すように、温度測定モード時において、フォトダイオード12Bの順方向電圧が、レーザダイオード12Aの最高許容動作温度(Tmax)に対応する電圧である基準電圧Vref2Aよりも小さい間は、温度測定モードを維持する。
レーザダイオード12Aへの電流源11による電流ILDの供給が停止されてからある程度の時間が経過すると、レーザダイオード12Aの温度は徐々に下がってくる。上述のように、フォトダイオード12Bとレーザダイオード12Aとはモジュール12の中で極めて近接して配置されており、したがって熱的にもよく結合されているから、フォトダイオード12Bの温度も次第に下り、これに対応して、電圧増幅器22の出力電圧V22は徐々に大きくなる。レーザダイオード12Aの温度が下がって復帰温度(Trec)に達すると、電圧増幅器22の出力電圧V22は、レーザダイオード12Aの復帰温度(Trec)に対応する基準電圧Vref2Bよりも大きくなる。この結果、比較演算器20の出力はロー(Low)からハイ(High)に切り替わる。上述したように、電圧増幅器22の出力電圧V22が、「基準電圧Vref2Aよりも大きい基準電圧Vref2B」よりも大きいということは、レーザダイオード12Aが異常高温状態から脱して、少なくとも復帰温度(Trec)以下になったことを意味する。
サンプル・ホールド回路25は、比較演算器20の出力電圧を一定の時間間隔でサンプリングして保持しており、また、サンプル・ホールド回路25の出力はディジタルインタフェース回路26に送られる。
ディジタルインタフェース回路26は、レーザダイオード12Aが異常高温状態から脱し、少なくとも復帰温度(Trec)以下になったことを検知すると、LDドライバ回路16に信号を送り、これを受けてLDドライバ回路16は、レーザダイオード12Aへの電流ILDの供給を再開するよう電流源11を制御する。
この電流源11に対する制御と同時に、ディジタルインタフェース回路26は、コントローラ28に信号を送る。これを受けてコントローラ28は、スイッチSW1、SW2およびSW3の接続先を、T接点からP接点へ切り替えるように制御するとともに、スイッチSW4の接続先をB接点からA接点へ切り替えるよう制御する。この結果、比較演算器20は、電圧増幅器22の出力電圧V22と、A接点を経由して印加される基準電圧Vref2Aと、を比較することになる。上述したように「Vref2B>Vref2A」なる関係が常に成り立っており、また、レーザダイオード12Aが通常の温度状態にあるということは「V22>Vref2B」なる関係が成り立っていることから、「Vref22>Vref2B>Vref2A」であるといえるので、比較演算器20への2つの入力の電位差はより一層広がる。したがって、電圧増幅器22の出力電圧V22が多少変動することがあっても、基準電圧Vref2Aと電圧V22との大小関係は維持されるので、比較演算器20の出力はハイ(High)を維持する。
すなわち、図8に示すように、温度測定モード時において、フォトダイオード12Bの順方向電圧が、「レーザダイオード12Aの動作可能最高温度(Tmax)に対応する電圧である基準電圧Vref2A」よりも大きい「レーザダイオード12Aの復帰温度(Trec)に対応する電圧である基準電圧Vref2B」を超えた時点で、温度測定モードから光パワー測定モードへ切り替わることになる。
これ以降、駆動回路1の動作モードは、光パワー測定モードと温度測定モードとの間で交互に切り替えられる。なお、ディジタルインタフェース回路26は、検出したレーザダイオード12Aの温度に関するデータをディジタル出力するようにしてもよい。
本発明の第1の実施例における、光パワー測定モードおよび温度測定モードと各種基準電圧との関係についてまとめると次の通りである。図9は、本発明の第1の実施例における、光パワー測定モードおよび温度測定モードと各種基準電圧との関係を説明する図である。
図7のレーザダイオード12Aが通常の温度にあるとき、すなわち復帰温度Trec以下にあるときは、駆動回路1は光パワー測定モードにあり、電流源11はレーザダイオード12Aへ電流ILDを供給する。このとき、電圧増幅器22の出力電圧V22は、上述の通りVref2C(ただし、Vref2C>Vref2B)である。図8を参照して説明したように、本実施例では、光パワー測定モードから温度測定モードへは、温度測定モードから光パワー測定モードへ切り替わってから所定の時間が経過したときに自動的に切り替わる。レーザダイオード12Aが通常の温度にある間、すなわち復帰温度Trec以下にある間は、所定の時間が経過すれば光パワー測定モードから温度測定モードへ自動的に切り替わる。温度測定モードに入ると、レーザダイオード12Aの温度(換言すればフォトダイオード12Bの温度)の測定が開始される。このとき、レーザダイオード12Aの異常高温状態が検知されないときは、駆動回路1は温度測定モードから光パワー測定モードへ戻る。
レーザダイオード12Aの温度が上昇していくと、電圧増幅器22の出力電圧V22が徐々に低下していく。電圧増幅器22の出力電圧V22が、レーザダイオード12Aの動作可能最高温度(Tmax)に対応する電圧である基準電圧Vref2A以下になると、電流源11によるレーザダイオード12Aへの電流ILDの供給が停止し、温度測定モードに入る。電圧増幅器22の出力電圧V22が、レーザダイオード12Aの動作可能最高温度(Tmax)に対応する電圧である基準電圧Vref2A以下である間は、レーザダイオード12Aへは電流ILDは供給されないままであり、駆動回路1は温度測定モードを維持する。
レーザダイオード12Aへの電流源11による電流ILDの供給が停止してからある程度の時間が経過すれば、レーザダイオード12Aの温度は下がってくる。これに対応して電圧増幅器22の出力電圧V22は徐々に大きくなる。電圧増幅器22の出力電圧V22が、レーザダイオード12Aの復帰温度(Trec)に対応する電圧である基準電圧Vref2Bよりも大きくなると、レーザダイオード12Aの温度が下がって復帰温度(Trec)に戻ったことを意味するので、電流源11によるレーザダイオード12Aへの電流ILDの供給が再開され、駆動回路1は光パワー測定モードに入る。
これ以降、駆動回路1の動作モードは、光パワー測定モードと温度測定モードとが交互に切り替えられることになる。
上述した本発明の第1の実施例では、フォトダイオード12Bを強制的に順方向にバイアスする定電流源2の電流IBTが、レーザダイオード12Aが発する光をフォトダイオード12Bが受光することに起因して生じる電流IPDよりも十分に大きいので、フォトダイオード12Bにレーザダイオード12Aの発する光が入射しても、フォトダイオード12Bの順方向電圧に対する影響は無視できるほど小さいと近似した。異常高温状態によるレーザダイオード12Aの破壊を防ぐという目的の下では、このような近似で十分である。これに対し、本発明の第2の実施例は、レーザダイオード12Aの温度をより高精度に検出するようにしたものである。図10は、本発明の第2の実施例によるレーザ光源の駆動回路を示す回路図である。
本発明の第2の実施例による駆動回路1は、図7に示した駆動回路1において、ゲインコントローラ29をさらに備えるものである。ゲインコントローラ29は、電圧増幅器22の電圧増幅率(ゲイン)を制御する。なお、これ以外の回路構成については図7に示す回路構成と同様なので、同一部分には同一符号を付してその説明を省略する。
温度測定モード時では、レーザダイオード12Aが発する光をフォトダイオード12Bが受光することに起因して生じる電流IPDと、フォトダイオード12Bを強制的に順方向にバイアスする定電流源2の電流IBTとの合計電流が、図6に示した等価回路におけるダイオードD(すなわちフォトダイオード12BのPN接合をモデル化したもの)に流れ込む。すなわち、上述した第1の実施例では、この合計電流の流入により生じる順方向電圧に基づいて、フォトダイオード12Bの温度変化(すなわち、フォトダイオード12Bに近接配置されるレーザダイオード12Aの温度変化)を検出することになるので、レーザダイオード12Aが発する光をフォトダイオード12Bが受光することに起因して生じる電流IPD分が、温度検出の際の言わば誤差成分となっている。これに対し、本発明の第2の実施例では、上記誤差成分を打ち消すよう、ゲインコントローラ29によって電圧増幅器22の電圧増幅率を調整する。上述したように温度測定モード時では、レーザダイオード12Aが発する光をフォトダイオード12Bが受光することに起因して生じる電流IPDと、フォトダイオード12Bを強制的に順方向にバイアスする定電流源2の電流IBTと、の合計電流に対応した電圧が、電圧増幅器22に入力される。ゲインコントローラ29は、サンプル・ホールド回路21が保持している、直前の光パワー測定モードにおけるIPDに比例した電圧に関する情報を用いて、電圧増幅器22の電圧増幅率を当初設定した値より若干下げることでより正確な温度検出を実現する。
本発明は、レーザダイオードと、このレーザダイオードの発光強度を制御するために近接配置された、レーザダイオードの発する光を受光するフォトダイオードと、からなるレーザ光源の駆動回路および駆動方法に適用することができる。
本発明によれば、レーザ光源の駆動回路において、動作温度上昇によるレーザダイオードの破壊防止機能を高精度かつ構造容易に実現することができる。本発明では、レーザダイオードに極めて近接して配置されたフォトダイオードを、温度センサとしても使用するので、温度の検出精度が高く、応答も速い。すなわち、ほぼリアルタイムでレーザダイオードの異常高温状態を検知することができるので、レーザダイオードを熱的な破壊から確実に守ることができる。また、別体の温度センサをあらためて取り付ける必要もないので、装置の構造を単純にすることができる。
本発明は、特に、マスクレス露光装置の光源としてレーザ光源が多数用いられる場合に非常に有効である。このようなマスクレス露光装置においては、露光対象物に光を照射するための面光源が、複数のレーザ光源が配列されて構成される。
1 レーザ光源の駆動回路
2 定電流源
3 検出手段
4 判定手段
5 制御手段
6 切替スイッチ
11 電流源
12 モジュール
12A レーザダイオード
12B フォトダイオード
2 定電流源
3 検出手段
4 判定手段
5 制御手段
6 切替スイッチ
11 電流源
12 モジュール
12A レーザダイオード
12B フォトダイオード
Claims (9)
- レーザダイオードと、該レーザダイオードの発光強度を制御するために近接配置された、前記レーザダイオードの発する光を受光するフォトダイオードと、からなるレーザ光源の駆動回路であって、
前記フォトダイオードの順方向にバイアスするよう、該フォトダイオードへ電流を供給する定電流源と、
前記フォトダイオードの順方向電圧を検出する検出手段と、
該検出手段が検出した前記順方向電圧が、所定の基準電圧よりも小さいか否かを判定する判定手段と、
前記レーザダイオードへの電流の供給を制御する制御手段と、
を備え、
前記制御手段は、前記順方向電圧が前記所定の基準電圧よりも小さいと前記判定手段が判定した場合、前記レーザダイオードへの電流の供給を停止するよう制御することを特徴とするレーザ光源の駆動回路。 - レーザダイオードと、該レーザダイオードの発光強度を制御するために近接配置された、前記レーザダイオードの発する光を受光するフォトダイオードと、からなるレーザ光源の駆動回路であって、
光パワー測定モードと温度測定モードとを切り替える切替スイッチと、
前記温度測定モード時において、前記フォトダイオードの順方向にバイアスするよう、該フォトダイオードへ電流を供給する定電流源と、
前記温度測定モード時における前記フォトダイオードの順方向電圧を検出する検出手段と、
該検出手段が検出した前記順方向電圧が、第1の基準電圧よりも小さいか否かを判定する第1の判定手段と、
前記レーザダイオードへの電流の供給を制御する制御手段と、
を備え、
前記制御手段は、前記光パワー測定モード時においては、前記レーザダイオードが発する光を前記フォトダイオードが受光することに起因して生じる電流に基づいて、前記レーザダイオードの発光強度を制御し、前記温度測定モード時においては、前記順方向電圧が前記第1の基準電圧よりも小さいと前記第1の判定手段が判定した場合に、前記レーザダイオードへの電流の供給を停止するよう制御することを特徴とするレーザ光源の駆動回路。 - 前記定電流源が前記フォトダイオードへ供給する電流は、前記レーザダイオードが発する光を前記フォトダイオードが受光することに起因して生じる電流よりも十分に大きい請求項1または2に記載のレーザ光源の駆動回路。
- 前記切替スイッチは、前記光パワー測定モード時において、前記温度測定モードから前記光パワー測定モードへ切り替わってから所定の時間が経過したときに、前記光パワー測定モードから前記温度測定モードへ切り替える請求項2に記載のレーザ光源の駆動回路。
- 前記切替スイッチは、前記温度測定モード時において、前記順方向電圧が前記第1の基準電圧よりも小さいと前記第1の判定手段が判定している間は、前記温度測定モードを維持する請求項2に記載のレーザ光源の駆動回路。
- 前記検出手段が検出した前記順方向電圧が、前記第1の基準電圧よりも大きい第2の基準電圧よりも大きいか否かを判定する第2の判定手段をさらに備え、
前記切替スイッチは、前記温度測定モード時において、前記順方向電圧が前記第2の基準電圧よりも大きいと前記第2の判定手段が判定した場合に、前記温度測定モードから光パワー測定モードへ切り替える請求項2に記載のレーザ光源の駆動回路。 - レーザダイオードと、該レーザダイオードの発光強度を制御するために近接配置された、前記レーザダイオードの発する光を受光するフォトダイオードと、からなるレーザ光源の駆動方法であって、
順方向にバイアスされるよう電流が供給されているときの前記フォトダイオードの順方向電圧が、所定の基準電圧よりも小さいとき、前記レーザダイオードへの電流の供給を停止することを特徴とするレーザ光源の駆動方法。 - レーザダイオードと、該レーザダイオードの発光強度を制御するために近接配置された、前記レーザダイオードの発する光を受光するフォトダイオードと、からなるレーザ光源の駆動方法であって、
温度測定モードと光パワー測定モードとを有し、
前記温度測定モード時においては、順方向にバイアスされるよう電流が供給されているときの前記フォトダイオードの順方向電圧が、第1の基準電圧よりも小さいとき、前記レーザダイオードへの電流の供給を停止し、
前記光パワー測定モード時においては、前記レーザダイオードが発する光を前記フォトダイオードが受光することに起因して生じる電流に基づいて、前記レーザダイオードの発光強度を制御することを特徴とするレーザ光源の駆動方法。 - 順方向にバイアスされるよう前記フォトダイオードへ供給された前記電流は、前記レーザダイオードが発する光を前記フォトダイオードが受光することに起因して生じる電流よりも十分に大きい請求項7または8に記載のレーザ光源の駆動方法。
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