JP6382883B2 - 実効的駆動時間を算出するレーザ装置 - Google Patents

実効的駆動時間を算出するレーザ装置 Download PDF

Info

Publication number
JP6382883B2
JP6382883B2 JP2016086430A JP2016086430A JP6382883B2 JP 6382883 B2 JP6382883 B2 JP 6382883B2 JP 2016086430 A JP2016086430 A JP 2016086430A JP 2016086430 A JP2016086430 A JP 2016086430A JP 6382883 B2 JP6382883 B2 JP 6382883B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light source
time
lifetime
light output
drive current
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2016086430A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2017195343A (ja
Inventor
哲史 鍵和田
哲史 鍵和田
宏 瀧川
宏 瀧川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fanuc Corp
Original Assignee
Fanuc Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fanuc Corp filed Critical Fanuc Corp
Priority to JP2016086430A priority Critical patent/JP6382883B2/ja
Priority to DE102017108317.0A priority patent/DE102017108317A1/de
Priority to CN201710256700.0A priority patent/CN107306008B/zh
Priority to US15/491,153 priority patent/US10033150B2/en
Publication of JP2017195343A publication Critical patent/JP2017195343A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6382883B2 publication Critical patent/JP6382883B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/0014Measuring characteristics or properties thereof
    • H01S5/0021Degradation or life time measurements
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/0014Monitoring arrangements not otherwise provided for
    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G1/00Control arrangements or circuits, of interest only in connection with cathode-ray tube indicators; General aspects or details, e.g. selection emphasis on particular characters, dashed line or dotted line generation; Preprocessing of data
    • G09G1/005Power supply circuits
    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2360/00Aspects of the architecture of display systems
    • G09G2360/14Detecting light within display terminals, e.g. using a single or a plurality of photosensors
    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/02Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes by tracing or scanning a light beam on a screen
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/09Processes or apparatus for excitation, e.g. pumping
    • H01S3/091Processes or apparatus for excitation, e.g. pumping using optical pumping
    • H01S3/094Processes or apparatus for excitation, e.g. pumping using optical pumping by coherent light
    • H01S3/0941Processes or apparatus for excitation, e.g. pumping using optical pumping by coherent light of a laser diode
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/10Controlling the intensity, frequency, phase, polarisation or direction of the emitted radiation, e.g. switching, gating, modulating or demodulating
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/04Processes or apparatus for excitation, e.g. pumping, e.g. by electron beams
    • H01S5/042Electrical excitation ; Circuits therefor
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/06Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
    • H01S5/068Stabilisation of laser output parameters
    • H01S5/0683Stabilisation of laser output parameters by monitoring the optical output parameters
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/20Structure or shape of the semiconductor body to guide the optical wave ; Confining structures perpendicular to the optical axis, e.g. index or gain guiding, stripe geometry, broad area lasers, gain tailoring, transverse or lateral reflectors, special cladding structures, MQW barrier reflection layers
    • H01S5/22Structure or shape of the semiconductor body to guide the optical wave ; Confining structures perpendicular to the optical axis, e.g. index or gain guiding, stripe geometry, broad area lasers, gain tailoring, transverse or lateral reflectors, special cladding structures, MQW barrier reflection layers having a ridge or stripe structure
    • H01S5/2201Structure or shape of the semiconductor body to guide the optical wave ; Confining structures perpendicular to the optical axis, e.g. index or gain guiding, stripe geometry, broad area lasers, gain tailoring, transverse or lateral reflectors, special cladding structures, MQW barrier reflection layers having a ridge or stripe structure in a specific crystallographic orientation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/40Arrangement of two or more semiconductor lasers, not provided for in groups H01S5/02 - H01S5/30
    • H01S5/4025Array arrangements, e.g. constituted by discrete laser diodes or laser bar
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N9/00Details of colour television systems
    • H04N9/12Picture reproducers
    • H04N9/31Projection devices for colour picture display, e.g. using electronic spatial light modulators [ESLM]
    • H04N9/3191Testing thereof
    • H04N9/3194Testing thereof including sensor feedback

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Semiconductor Lasers (AREA)
  • Optical Head (AREA)
  • Lasers (AREA)

Description

本発明は、レーザ光源あるいはレーザ発振のための励起光源として使用される光源を備えたレーザ装置に関する。
レーザ装置は、レーザ光源あるいはレーザ発振のための励起光源として使用される光源を備えている。特許文献1、特許文献2、特許文献3、特許文献4、特許文献5および特許文献6には、レーザ装置の光源の残存寿命を予測することが開示されている。
具体的には、特許文献1には、特定の光出力を発光させるための駆動電流値を基準値にすると共に、この基準値のn倍の駆動電流を発光素子交換のための劣化閾値として設定し、それにより、発光素子の寿命を予測することが開示されている。
さらに、特許文献2には、各レーザ発振器の出力が一定になるよう、かつ、前記加工点のパワーが所定のパワーになるように制御し、また、励起用のレーザダイオードの寿命予測を行っていることが開示されている。
さらに、特許文献3には、半導体レーザの劣化による発熱量増加の時系列データに基づいて半導体レーザの寿命予測を行うことが開示されている。
さらに、特許文献4には、パワーセンサが出力した信号が予め定められた条件を満たす場合に電源が励起光源に供給している電流値と、メモリに保存された稼動時間とを用いて、励起光源の寿命を推定することが開示されている。
さらに、特許文献5には、電源が供給する電流と強度測定部が測定する強度との関係を複数サンプリングして作成された電流強度特性と、この電流強度特性に対して理想的な電流強度特性との差に基づいて、レーザ光源の交換時期を予測することが開示されている。
さらに、特許文献6には、レーザダイオードに所定の劣化閾値電流を超える駆動電流が流れた時間の累積時間が、周辺温度毎に予め定められている閾値時間を越えた場合に、レーザダイオードの寿命が近いと判定することが開示されている。
特開平8−279642号公報 特開2005−294493号公報 特開2005−317178号公報 特開2006−222411号公報 特開2011−86496号公報 特許第5166488号公報
保証や保守の観点からレーザ装置の実効的駆動時間は、レーザ装置の主要部分である光源にとって重要である。光源に一定の標準的な駆動電流のみが供給されている場合には、レーザ装置の駆動時間を求めることは容易である。しかしながら、レーザ装置は、低出力から高出力、および連続レーザ出力からパルスレーザ光出力まで、種々の光出力条件で使用されることが多い。このため、レーザ装置の実際の駆動時間を正確に求めるのは困難である。
また、特許文献1、特許文献2、特許文献3、特許文献4、特許文献5および特許文献6には、低出力から高出力、および連続レーザ出力からパルスレーザ光出力まで、種々の光出力条件で光源を駆動した場合に適用可能な実効的駆動時間を算出することは開示されていない。
さらに、光源の交換時期を予め見越して予算を確保するために、光源の劣化が始まる前の寿命前期から、レーザ装置の残存寿命を把握するのが望ましい。そして、光源の寿命後期においては、交換されるべき光源の準備や光源を交換するタイミングを計るために、残存寿命をさらに高精度で把握することが要求される。
しかしながら、従来技術においては、劣化速度が次第に加速する場合には残存寿命を高精度で把握するのは困難であった。また、レーザ装置に応じて光源の劣化速度は異なるので、残存寿命を把握するのはさらに困難であった。また、特許文献3および特許文献5では、劣化が顕在化するまで残存寿命が推定できないという問題もある。
本発明はこのような事情に鑑みてなされたものであり、低出力から高出力、および連続レーザ出力からパルスレーザ光出力まで、種々の光出力条件で使用しても常時正確に光源の実効的駆動時間を算出すると共に、光源の残存寿命を正確に算出することのできるレーザ装置を提供することを目的とする。
前述した目的を達成するために1番目の発明によれば、レーザ光源あるいは励起光源として機能する光源と、前記光源に駆動電流を注入して前記光源を駆動する電源と、前記電源を制御する制御部と、前記光源の寿命負荷率を記録する第一記録部と、該第一記録部の記録結果に基づいて、レーザ装置が実際に駆動される第一時点と該第一時点よりも後の第二時点との間における前記寿命負荷率の時間積分を実効的駆動時間として計算する計算部と、を備え、前記寿命負荷率は、前記光源に標準駆動電流を注入した場合における前記光源の寿命と、前記光源に駆動電流を注入した場合における前記光源の寿命との比である、レーザ装置が提供される。
2番目の発明によれば、1番目の発明において、前記光源の使用開始時点から現在時点までの前記寿命負荷率の時間積分を実効的累積駆動時間として記録する第二記録部を備える。
3番目の発明によれば、1番目の発明において、前記寿命負荷率は、前記光源に注入された標準駆動電流と前記光源に注入された駆動電流との比の累乗項を含む関数である。
4番目の発明によれば、1番目の発明において、パルス波形を有する駆動電流の指令値が入力された場合には、前記駆動電流の指令値に基づいて計算された前記寿命負荷率の時間積分と前記駆動電流の実際値に基づいて計算された前記寿命負荷率の時間積分との比について、前記パルス波形の周波数とデューティとを変数とした補正係数を記録する第三記録部を備え、前記計算部は、前記駆動電流の指令値と前記補正係数とに基づいて前記第一時点と前記第二時点との間における前記寿命負荷率の時間積分を計算するようにした。
5番目の発明によれば、4番目の発明において、前記補正係数が第一所定値よりも大きい場合には、前記駆動電流の指令値を変更する旨の表示または警報を出力するか、もしくは前記補正係数が前記第一所定値よりも小さくなるように前記周波数と前記デューティとの組み合わせを変更するようにした。
6番目の発明によれば、2番目の発明において、前記第一記録部は、さらに、前記光源に標準駆動電流を注入した場合における前記光源の寿命を生涯寿命として記録しており、さらに、前記生涯寿命から前記実効的累積駆動時間を減算した残存寿命を計算するようにした。
7番目の発明によれば、6番目の発明において、前記光源の光出力特性から導出可能な第一性能指数と前記光源の生涯寿命との間の相関関係を記録した第四記録部をさらに具備し、該第四記録部に記録された前記相関関係に基づいて、前記光源の前記生涯寿命を変更するようにした。
8番目の発明によれば、2番目の発明において、前記光源の光出力特性を測定する光出力検出部と、前記標準駆動電流にて累積駆動時間だけ駆動した後において前記光源の前記光出力特性から導出可能な第二性能指数と前記光源の期待される残存寿命との間の相関関係を記録した第五記録部とをさらに具備し、前記制御部からの指令により、所定のスケジュールに沿って前記光源の光出力特性を測定したときの測定結果から導出された前記第二性能指数と前記光出力特性を測定するときまでの実効的累積駆動時間と前記第五記録部に記録された記録結果とに基づいて第一推定残存寿命を推定し、該第一推定残存寿命と、前記光源の光出力特性を測定するときまで前記第一記録部に記録された前記光源の前記生涯寿命から前記実効的累積駆動時間を減算した残存寿命との間の偏差が第二所定値以上である場合には、前記偏差がゼロまたは略ゼロになるように、前記生涯寿命を変更するようにした。
9番目の発明によれば、2番目の発明において、前記光源の光出力特性を測定する光出力検出部と、該光出力検出部により検出された前記光出力特性を時間に関連付けて記録する第六記録部と、該第六記録部の記録結果に基づいて前記計算部により計算された第三時点と該第三時点よりも後の第四時点との間の実効的駆動時間を記録する第七記録部と、前記光源の光出力特性から導出可能な第三性能指数についての前記駆動時間に伴う劣化の進行を示した劣化曲線のデータテーブルを記録した第八記録部とを備え、前記制御部からの指令により、所定のスケジュールに沿って前記光源の光出力特性を測定する際に、前記第三時点における前記第三性能指数と前記第四時点における前記第三性能指数との間の偏差を前記実効的駆動時間で除算した前記第三性能指数の劣化速度と、前記第八記録部に記録された前記劣化曲線とを照合して第二推定残存寿命を推定し、該第二推定残存寿命が所定の時間よりも短くなった時点よりも後、または前記第三性能指数の劣化速度が第三所定値よりも大きくなった時点よりも後においては、前記第四時点のときに前記第一記録部に記録された前記光源の前記生涯寿命を前記第二記録部に記録された前記実効的累積駆動時間と前記第二推定残存寿命との和に変更するようにした。
10番目の発明によれば、6番目の発明において、前記生涯寿命から前記実効的累積時間を減算した前記残存寿命が所定の時間以下になった場合には、表示部に表示された前記残存寿命の色を変化させること、および前記表示部に表示された前記残存寿命を点滅させることのうちの少なくとも一方を実行する。
11番目の発明によれば、2番目の発明において、前記光源の光出力特性を測定する光出力検出部と、前記光出力特性と、該光出力特性を測定したときまでの前記実効的累積駆動時間と、前記光出力特性を測定したときにおける前記残存寿命とを外部に送信する通信部とを備え、前記制御部からの指令により、所定のスケジュールに沿って前記光源の光出力特性を測定する際に、前記送信部は、前記光源の光出力特性の測定結果とその時点までの前記実効的駆動時間と前記残存寿命とを、前記通信部を通じて、前記レーザ装置とは別の場所に設置された受信部に送信する。
1番目の発明においては、標準駆動電流以外の条件で使用した場合であっても、標準駆動電流で駆動した場合の駆動時間と同等の負荷(寿命消費)を与える実効的駆動時間を、レーザ装置の使用中においても、容易かつ正確に把握することができる。また、低出力から高出力、および連続レーザ出力からパルスレーザ光出力まで、種々の光出力条件で光源を駆動した場合であっても実効的駆動時間を正確に算出できる。さらに、寿命負荷率を簡易に求めることができる。
2番目の発明においては、標準駆動電流以外の条件で使用した場合であっても、実効的累積駆動時間を、レーザ装置の使用中においても、容易かつ正確に把握することができる。
3番目の発明においては、光源への電流値を変数とする累乗項を含む関数を用いて寿命負荷率を計算している。このため、関数に必要な係数等のみを求めればよく、実験等に基づいて寿命負荷率のデータテーブル全体を設定する必要がない。従って、データテーブルの作成工数を削減できる。
4番目の発明においては、高い周波数でパルス駆動した場合等においては、オーバーシュート等により、制御部からの駆動電流指令値の波形が駆動電流実際値の波形に対してずれる可能性がある。寿命に対する負荷の大きさは駆動電流実際値の波形によって定まるので、高速に変化する駆動電流の実際波形を常に測定するのは容易ではない。4番目の発明においては、駆動電流指令値の波形の寿命負荷率と駆動電流実際値の波形との寿命負荷率の差を補正する補正係数のデータテーブルを周波数およびデューティ毎に予め設定しておく。このため、高速で変化する駆動電流実際値の波形を測定することなしに、駆動電流指令値の波形から実効的駆動時間を正確に計算出来る。
5番目の発明においては、寿命への負荷が大きい駆動電流指令値の条件から寿命への負荷が小さい駆動電流指令値の条件に変更することにより、光源の寿命を長くすることができる。さらに、ユーザの意志により、手動切替モードと自動切替モードとを切替えられるようにすることで多くのユーザに受け入れやすくできる。
6番目の発明においては、実効的累積駆動時間の計算開始時点の残存寿命である生涯寿命から、実効的累積駆動時間を減算している。このため、平均寿命(平均的な生涯寿命)に対する推定残存寿命や、標準駆動条件における保証寿命に対する寿命消費率等を、レーザ装置の使用中においても、容易かつ正確に把握することができる。
7番目の発明においては、第一性能指数と光源の生涯寿命との間の相関関係に基づいて、生涯寿命を変更している。これにより、光源の個体差の影響を排除しつつ、光源毎の生涯寿命を設定でき、残存寿命の予測精度を向上させられる。第一性能指数は、例えば標準駆動電流を注入したときの初期光出力である。
8番目の発明においては、光源の初期光出力特性から推定された劣化の個体差を用いて残存寿命を補正する代わりに、定期的に測定した光出力特性からその時点における実際の劣化状態に基づいた個体差を用いて残存寿命を補正している。このため、より高精度に残存寿命を予測できる。第二性能指数は、例えば標準駆動電流を注入した時の光源2の光出力である。
9番目の発明においては、光源の特性の劣化が顕在化する寿命後期において、その時点の光出力特性だけでなく、その劣化速度も考慮して残存寿命を推定している。このため、残存寿命の予測精度が特に重要になる寿命後期において、残存寿命の予測精度をさらに向上させられる。第三性能指数は、例えば所定の光出力を得るための駆動電流である。
10番目の発明においては、光源の寿命によりシステムがダウンする前に予防保全を図ることができる。
11番目の発明においては、光源の光出力特性から導出可能な第一性能指数と前記光源の寿命との相関関係を示すデータテーブル、第五記録部、第八記録部に記録するデータテーブルに関する情報等を複数のレーザ装置から継続的に収集することができ、データテーブルの精度が向上し、結果として寿命予測の精度向上を図ることができる。また残存寿命が少なくなってきた状況を適確に把握して、顧客への注意喚起や交換する光源の事前準備が可能になり、レーザ装置が駆動できない時間を最小限に抑えることができる。
添付図面に示される本発明の典型的な実施形態の詳細な説明から、本発明のこれら目的、特徴および利点ならびに他の目的、特徴および利点がさらに明解になるであろう。
本発明に基づくレーザ装置の機能ブロック図である。 駆動電流の比と寿命負荷率との間の関係を示す図である。 時間と駆動電流指令値との間の関係を示す図である。 時間と駆動電流実際値との間の関係を示す図である。 補正係数のマップの一例を示す図である。 本発明に基づく一つの実施例におけるレーザ装置の動作を示すフローチャートである。 標準駆動電流を注入したときの光源の初期光出力と期待される生涯寿命との間の関係を示す図である。 標準駆動電流を注入したときの光源の光出力と、期待される残存寿命との間の関係を示す図である。 相対的駆動時間と、所定の光出力を得るための駆動電流との間の関係を示す図である。
以下、添付図面を参照して本発明の実施形態を説明する。以下の図面において同様の部材には同様の参照符号が付けられている。理解を容易にするために、これら図面は縮尺を適宜変更している。
図1は、本発明に基づくレーザ装置の機能ブロック図である。図1に示されるように、本発明におけるレーザ装置1は、レーザ光源あるいは励起光源として機能する一つまたは複数の光源2と、光源2を駆動するために光源に駆動電流を注入する一つまたは複数の電源3と、電源3を制御する制御部4と、駆動電流の指令値などを入力する指令部9とを含んでいる。
さらに、レーザ装置1は、各種の計算を実施する計算部6と、計算部6による計算結果および各種のデータを表示する表示部8と、光源2の光出力特性を測定可能な光出力検出部12と、制御部4に供給された計算部6の計算結果および各種のデータを外部の受信部に送信する通信部17とを含んでいる。なお、計算部6はハードウェア回路で構成してもよい。また、光出力検出部12は、後述する第一性能指数〜第三性能指数を検出することもできる。
また、レーザ装置1は後述するデータを記録するための後述する第一記録部5、第二記録部7、第三記録部10、第四記録部11、第五記録部13、第六記録部14、第七記録部15および第八記録部16を含んでいる。これら第一記録部5〜第八記録部16は互いに物理的に分離したメモリであってもよく、また複数の記録部が一体的な単一のメモリを構成していてもよい。従って、単一のメモリが第一記録部5〜第八記録部16全ての機能を兼ね備えていても良い。
第一記録部5は、光源2の寿命負荷率を記録する。例えば、寿命負荷率は、光源2に標準駆動電流Isを注入した場合の光源2の寿命τ(Is)と、光源2に駆動電流Ioを注入した場合の光源2の寿命τ(Io)との比(=τ(Is)/τ(Io))である。この場合には、寿命負荷率をk(Io)で表すことができる。第一記録部5は、例えばこのようにして算出された寿命負荷率をk(Io)を実験データなどから求めて記録する。さらに、第一記録部5は、或る時点Toからの光源2の残存寿命である生涯寿命も記録する。また、第一記録部5は駆動電流Ioと標準駆動電流Isとの比Io/Isを記録してもよい。
なお、標準駆動電流Isは光源2を良好に動作させるのに理想的な一定の値を有する駆動電流である。また、駆動電流Ioは光源2を動作させるときに用いた電流値であり、時間に応じて変化しうる。
また、計算部6は、レーザ装置1が実際に駆動されている第一時点Taと該第一時点Taよりも後の第二時点Tbとの間における寿命負荷率の時間積分を第一時点Taと第二時点Tbとの間の実効的駆動時間として計算する(以下の式を参照されたい)。実効的駆動時間は第二記録部7に記録される。
Figure 0006382883
さらに、第二記録部7は実効的累積駆動時間を記録する。実効的累積駆動時間は、或る時点Toからそれより後の任意の時点Tsまでの寿命負荷率の時間積分であり、以下の式で表される。
Figure 0006382883
なお、時点Toと時点Tsとの間に第一時点Taと第二時点Tbとが存在するのが好ましい。
或る時点Toは、どの時点に設定しても良い。しかしながら、光源2毎に異る時点を或る時点Toとして設定すると生涯寿命がばらつく等の不具合が生じる。このため、光源2が製作されて所定のバーンインを行って出荷可能な製品として完成した時点、あるいは、その後、初めて駆動電流を流してレーザ装置1を駆動させた時点等を或る時点Toに設定するのが好ましい。言い換えれば、各光源2に対して同じ時点を或る時点Toに設定するのが望ましい。例えば時点Toは使用開始時点であり、時点Tsは現在時点である。
また、第二記録部7は、或る時点Toから最後に光源2を駆動した時点Tpまでの時間積分を最新の実効的累積駆動時間として常に更新しながら記録することができる。最新の実効的累積駆動時間は以下の式で表される。
Figure 0006382883
また、時点Tsを所定の実効的駆動時間毎等に設定して、各時点Tsまでの時間積分を実効的累積駆動時間として第二記録部7に追記していっても良い。これによって、時間の経過に伴う実効的累積駆動時間の推移データの取得等が可能になる。
図2は駆動電流の比と寿命負荷率との間の関係を示す図である。寿命負荷率は第一記録部5に記録される。図2に示されるように、駆動電流Ioと標準駆動電流Isとの比Io/Isが1である場合には、寿命負荷率k(Io)も1である。
しかしながら、比Io/Isが1.5である場合、つまり駆動電流が標準駆動電流の1.5倍である場合には、寿命負荷率k(Io)が2.5になる。言い換えれば、駆動電流が標準駆動電流の1.5倍である場合には、標準駆動電流で駆動した場合に比べて、約2.5倍の速さで寿命を消費することになる。従って、同じ駆動時間であっても実効的駆動時間は2.5倍になる。
なお、第一記録部5に記録される実際のデータは、離散的な電流に対するデータであってもよい。テーブルに無い電流値のデータについては、内挿によって容易に算出できる。他の記録部に記録されているデータについても同様である。
ところで、寿命負荷率k(Io)として、光源2に注入された標準駆動電流と光源に注入された駆動電流との比の累乗項を含む関数を使用してもよい。例えば以下の通りである。
Figure 0006382883
ここで、nは整数であり、α、βは所定数である。これらパラメータn、α、βは光源2毎に定まるものとする。このような関数を寿命負荷率として使用した場合には、実験データに基づいて寿命負荷率のデータテーブルを設定する必要がなくなり、データテーブルの作成工数を削減することができる。
第二記録部7に記録される実効的累積駆動時間は、光源2を標準駆動電流以外の電流で駆動した駆動時間を標準駆動電流で駆動した場合の駆動時間に換算している。また、第一記録部5に記録された生涯寿命から実効的累積駆動時間を減算することによって光源2の残存寿命を算出できる。
以上のように、本実施例のレーザ装置1においては、光源2を標準駆動電流以外の電流条件で使用した場合においても、光源2を標準駆動電流で駆動した場合の駆動時間と同等の負荷(寿命消費)を与える実効的駆動時間を常時正確に算出することができる。従って、平均寿命に対する光源の残存寿命や、標準駆動条件における保証寿命に対する寿命消費率等も、レーザ装置1の使用中であっても、何時でも容易にかつ正確に導出できる。その結果、低出力から高出力、および連続レーザ出力からパルスレーザ光出力まで、種々の光出力条件で光源を駆動した場合であっても実効的駆動時間を正確に算出できる。
ところで、図3Aは時間と駆動電流指令値との間の関係を示す図であり、図3Bは時間と駆動電流実際値との間の関係を示す図である。図3Aおよび図3Bから分かるように、駆動電流指令値がパルス波形である場合であっても、駆動電流実際値は完全なパルス波形にはならない。特にパルス波形の周波数が高い場合には、駆動電流指令値に対してオーバーシュートが生じる場合がある。
このため、駆動電流実際値と駆動電流指令値との間の差異を補正するための補正係数を実験等により予め算出している。補正係数m(f、d)は、駆動電流指令値のパルス波形の周波数fとデューティdとを変数とした関数であり、図3Cに示されるようにマップ(データテーブル)の形で第三記録部10に記録されている。なお、補正係数m(f、d)は、電源3に応じて異なるので、電源3毎に異なる補正係数のマップが準備される。
この場合には、実効的駆動時間を以下の式により算出することができる。
Figure 0006382883
この式では、駆動電流実際値を使用していないのが分かるであろう。
従って、高速で変化する駆動電流実際値の波形を測定することなしに、駆動電流指令値から実効的駆動時間を正確に算出することができる。なお、実効的累積駆動時間も同様に算出できるので、駆動電流実際値を測定することなしに、光源2の残存寿命も正確に算出することができる。
ところで、図3Cに示される補正係数m(f、d)のデータテーブルは、パルス電流波形の低電流レベル/高電流レベル=0.9の場合における例である。このため、低電流レベル/高電流レベルが0.9以外の場合のデータテーブルも作成する必要がある。
図3Cに示される補正係数m(f、d)のデータテーブルを参照して、例えば周波数が10kHzで、デューティが30%でパルス駆動した場合を考える。この場合には、駆動電流実際値から算出される寿命は、駆動電流指令値から算出される寿命の1.887倍であることが分かる。このため、実効的駆動時間も1.887倍の速度で増加する。
なお、周波数の低いパルス駆動の場合および一定の駆動電流で連続駆動する場合には、駆動電流指令値と駆動電流実際値との間の差は小さい。このため、この場合には、駆動電流指令値と駆動電流実際値のどちらを使用して実効的駆動時間などを算出してもよい。
図4は本発明に基づく一つの実施例におけるレーザ装置の動作を示すフローチャートである。図4の内容は、パルス波形の駆動電流指令値の周波数およびデューティの組合せを選択する方法を示す。
図4のステップS11において、切替モードが設定され、パルス波形の駆動電流指令値が指令される。そして、ステップS12においてモードの切替が解除されていないと判定された場合には、ステップS13に進む。
ステップS13においては、パルス波形の駆動電流指令値の周波数およびデューティとに基づいて第三記録部10に記録されたデータテーブルから補正係数m(f、d)が読出される。そして、ステップS14においては、補正係数m(f、d)が第一所定値、例えば1.5よりも小さいか否かが判定される。補正係数が第一所定値よりも小さい場合にはステップS18に進み、補正係数が第一所定値よりも小さくない場合にはステップS15に進む。
ステップS15において自動切替モードであることが判明した場合には、ステップS16に進む。ステップS16においては、第三記録部10のテーブルにおいて、読出された補正係数の場所に近くて第一所定値よりも小さくなる新たな補正係数に関連した周波数とデューティとの組み合わせが自動的に選択される。
具体的には、例えば周波数のみを変更して、新たな補正係数を探索するのが好ましい。あるいは、周波数とデューティとの両方、若しくはデューティのみを変更して、新たな補正係数を探索してもよい。
なお、自動切替えモードでない場合には、現在の補正係数および新たな補正係数と、それに関連する周波数およびデューティとを表示部8に表示する(ステップS17)。あるいは、表示部8等を通じて所定の警報を出力しても良い。
次いで、ステップS18において新たな補正係数に関連する周波数およびデューティに変更して、パルス波形の駆動電流を注入する。そして、ステップS19においてパルスレーザ光を出力する。
このように、図4に示される実施形態においては、光源2の寿命への負荷が大きい駆動電流指令値の条件から寿命への負荷が小さい駆動電流指令値の条件に自動的に変更することができ、これにより、光源の寿命を長くすることができる。
さらに、ステップS15に示されるように自動切替モードが選択されているときのみ、駆動電流指令値の条件を自動的に変更できるので、多くのユーザに受け入れられ易くなる。手動切替モードを選択している場合には、良好な加工状態を実現するために補正係数m(f、d)が大きくても、対応する周波数とデューティの組合せを選択したいという要求がありうる。このため、ステップS12に示されるように切替解除モードも選択できるようにしている。従って、補正係数m(f、d)の値に関わらず、指令した周波数とデューティの組合せに基づいて駆動電流を光源2に注入するのが望ましい。
ところで、図1に示される第四記録部11は、光源2の光出力特性から導出可能な第一性能指数と光源2の生涯寿命との相関関係を示すデータテーブルを記録している。そして、第一性能指数と光源2の生涯寿命との相関関係を示すデータテーブルに基づいて、標準駆動電流Isを注入した場合の光源2の生涯寿命を、光源2毎の第一性能指数の差異を考慮して設定する。
第一性能指数は例えば標準駆動電流を注入したときの光源2の初期光出力である。図5は標準駆動電流を注入したときの光源の初期光出力と期待される生涯寿命との間の関係を示す図である。図5に示されるように、標準駆動電流での初期光出力が例えば1kWの場合は期待される生涯寿命は約50000時間である。そして、初期光出力が1.1kWの場合には期待される生涯寿命は約53500時間になり、この新たな生涯寿命を第一記録部5に記録された生涯寿命と置き換える。第四記録部11から生涯寿命を読出すのは最初の1度だけなので第四記録部11は必ずしもレーザ装置1内に装備する必要はない。
ところで、図1に示される第五記録部13は光源2の光出力特性から導出可能な第二性能指数と期待される残存寿命との相関関係を示すデータテーブルを記録している。第二性能指数は、例えば標準駆動電流を注入した時の光源2の光出力である。図6は標準駆動電流を注入したときの光源の光出力と、期待される残存寿命との間の関係を示す図である。
図6には複数の実線が示されている。複数の実線のそれぞれは、標準駆動電流Isにおいて既に駆動された異なる累積駆動時間の場合を示している。図6から分かるように、複数の実線のそれぞれにおいては、光出力が大きくなるほど、期待される残存寿命は長くなる。そして、累積駆動時間が長いほど、期待される残存寿命は短くなる。
制御部4からの指令により、所定のスケジュールに沿って光出力検出部12は光源2の光出力特性の測定を行う。そして、光出力特性測定時までの累積駆動時間から、複数の実線のうちのいずれかを選択する。光出力特性の測定結果から導出した第二性能指数(光出力)と選択された実線とに基づいて、期待される残存寿命を決定する。図6における、期待される残存寿命を適宜、第一推定残存寿命と呼ぶ。
例えば累積駆動時間が20000時間のときに光出力検出部12により検出された光出力が1kWであったとする。この場合、図6における累積駆動時間が20000時間のときの実線が選択される。そして、光出力が1kWであるので、期待される残存寿命、つまり第一推定残存寿命は約88600時間である。
そして、第一記録部5に既に記録されている生涯寿命から実効的累積駆動時間を減算して残存寿命を求める。この残存寿命と第一推定残存寿命との間の偏差が第二所定値以上である場合には、偏差がゼロまたは略ゼロになるように、新たな生涯寿命を算出する。
生涯寿命は累積駆動時間および残存寿命の和であるので、この場合における新たな生涯寿命は108600(=20000+88600)時間である。そして、第一記録部5に記録されている生涯寿命を新たに算出した生涯寿命に置き換える。このように所定のスケジュールに沿って測定した光出力特性からその時点の実際の劣化状態に基づいた個体差で補正することにより、より高精度に残存寿命を予測出来る。
なお、所定のスケジュールにおいては、例えば寿命前期においては比較的長時間毎に測定すると共に、寿命後期においては比較的短時間毎に測定するものであるのが好ましい。つまり、残存寿命が短くなるほど、測定頻度が高くなるのが好ましい。これにより、残存寿命を高度に予測できる。ただし、所定のスケジュールが定期的な測定であってもい。後述する所定のスケジュールも同様である。
ところで、図1に示される第六記録部14は、光出力検出部12により検出された光源2の光出力特性を時間に関連付けて記録する。第六記録部14は、光出力検出部12が定期的に測定した光出力特性のうち、最新の光出力特性およびその測定時点と、該最新の光出力特性よりも一つ前の測定時点およびそのときの光出力特性とを記録すればよい。
さらに、図1に示される第七記録部15は第三時点T3と該第三時点よりも後の第四時点T4との間において計算部6により計算された以下の実効的駆動時間を記録する。第三時点T3および第四時点T4は時点Toと時点Tpとの間にあるのが好ましい。
Figure 0006382883
さらに、図1に示される第八記録部16は、光源2の光出力特性から導出可能な第三性能指数についての駆動時間に伴う光源2の劣化の進行を示した複数の劣化曲線のデータテーブルを記録している。第三性能指数は、例えば所定の光出力を得るための駆動電流である。
図7は相対的駆動時間と、所定の光出力を得るための駆動電流との間の関係を示す図である。図7に示される例においては、所定の光出力を得るための駆動電流の上限が一定値、例えば14Aに設定されている。
そして、制御部4からの指令により、所定のスケジュールに沿って光源2の光出力特性の測定を行う。そして、図7に示される劣化曲線を参照すると、時点T3における所定の光出力を得るための駆動電流値は8.5Aであり、時点T4において所定の光出力を得るための駆動電流値は10Aである。なお、図7に示される例においては、時点T3と時点T4との間における実効的駆動時間は3000時間であるものとする。そして、図7においてY軸方向に延びる矢印の長さは、第三性能指数S(T)の劣化量=|S(T1)−S(T2)|=1.5Aを表している。
この場合、光源2の劣化速度は、第三性能指数S(T)の劣化量=|S(T1)−S(T2)|を実効的駆動時間により除算することで得られる。そして、時点T4において所定の光出力を得るための駆動電流値10Aにおける勾配が、算出された劣化速度に一致する劣化曲線を図7から選択する。
そして、選択された劣化曲線上の時点T4における点から、光源2の残存寿命を推定する。図7においては駆動電流の上限が14Aに設定されている。選択された劣化曲線において駆動電流が14Aになる点に対応する時点から残存寿命を把握できる。図7においては、時点T4(84200時点)と時点T5(79600時間)との間の時間(4600時間)が推定残存寿命(適宜、第二推定残存寿命と呼ぶ)である。
そして、第二推定残存寿命が、所定の時間より短くなった時点、あるいは第三性能指数の劣化速度が第三所定値より大きくなった時点から後においては、第二記録部7に記録された実効的累積駆動時間に第二推定残存寿命を加算して新たな生涯寿命を算出する。そして、第一記録部5に記録された生涯寿命を新たな生涯寿命に置換える。
このように、光源2の特性劣化が顕在化する寿命後期において、その時点の光出力特性だけでなく、その劣化速度をも考慮して残存寿命を推定している。このため、残存寿命の予測精度が特に重要になる寿命後期の残存寿命の予測精度が更に向上させられる。
さらに、残存寿命を表示部8に表示させるのが好ましい。そして、残存寿命が所定の時間以下になった時点で、制御部4からの指令により、残存寿命の表示色の変化および/または残存寿命の表示を点滅させてもよい。さらに、光源2の交換準備を行うことを促す警告を表示部8に出力させてもよい。さらに、警告を出す前に、交換する光源の準備を促す注意報を出すようにしても良い。
前述したように本発明では寿命終期の残存寿命の予測精度を向上させられる。このため、光源2を早く交換し過ぎることなしに、光源2の寿命が尽きる前には確実に光源2を交換することができる。従って、保守コストを下げることができる。
さらに、図1に示される通信部17は、光源2の光出力特性の測定結果とその時点までの実効的累積駆動時間とその時点での残存寿命等を、レーザ装置1から遠方にある外部の受信部まで送信することができる。受信部は複数のレーザ装置のそれぞれの通信部に接続されているのが好ましい。
これにより、第四記録部11、第五記録部13、第八記録部16等に記録されたデータテーブルに関する情報を複数のレーザ装置から継続的に収集することができる。従って、第四記録部11、第五記録部13、第八記録部16等に記録するデータテーブルの精度が向上し、結果として寿命予測の精度向上を更に図ることができる。このように実効的累積駆動時間は非常に重要な情報である。そのため、光源2の個体差等で残存寿命を修正する場合にも、実効的累積駆動時間は一切修正せず、生涯寿命を修正するようにしている。
また、実効的累積駆動時間と光出力特性に加えて、通信部17により残存寿命を送信してもよい。この場合には、残存寿命が少なくなってきた状況をレーザ装置製作業者が適確に把握して、顧客へ注意喚起できたり、交換される光源2の事前準備が可能になる。それゆえ、レーザ装置1が駆動できない時間を最小限に抑えることができる。
さらに、光源2の光出力特性を測定するタイミングだけでなく、予め複数の寿命確認時間を設定しておき、残存寿命が減少して複数の寿命確認時間に到達する毎に、残存寿命を送信するようにしても良い。
典型的な実施形態を用いて本発明を説明したが、当業者であれば、本発明の範囲から逸脱することなしに、前述した変更および種々の他の変更、省略、追加を行うことができるのを理解できるであろう。
1 レーザ装置
2 光源
3 電源
4 制御部
5 第一記録部
6 計算部
7 第二記録部
8 表示部
9 指令部
10 第三記録部
11 第四記録部
12 光出力検出部
13 第五記録部
14 第六記録部
15 第七記録部
16 第八記録部
17 通信部

Claims (11)

  1. レーザ光源あるいは励起光源として機能する光源(2)と、
    前記光源に駆動電流を注入して前記光源を駆動する電源(3)と、
    前記電源を制御する制御部(4)と、
    前記光源の寿命負荷率を記録する第一記録部(5)と、
    該第一記録部の記録結果に基づいて、レーザ装置が実際に駆動される第一時点と該第一時点よりも後の第二時点との間における前記寿命負荷率の時間積分を実効的駆動時間として計算する計算部(6)と、を備え、
    前記寿命負荷率は、前記光源に標準駆動電流を注入した場合における前記光源の寿命と、前記光源に駆動電流を注入した場合における前記光源の寿命との比である、レーザ装置(1)。
  2. 前記光源の使用開始時点から現在時点までの前記寿命負荷率の時間積分を実効的累積駆動時間として記録する第二記録部(7)を備える、請求項1に記載のレーザ装置。
  3. 前記寿命負荷率は、前記光源に注入された標準駆動電流と前記光源に注入された駆動電流との比の累乗項を含む関数である、請求項1に記載のレーザ装置。
  4. パルス波形を有する駆動電流の指令値が入力された場合には、前記駆動電流の指令値に基づいて計算された前記寿命負荷率の時間積分と前記駆動電流の実際値に基づいて計算された前記寿命負荷率の時間積分との比について、前記パルス波形の周波数とデューティとを変数とした補正係数を記録する第三記録部(10)を備え、
    前記計算部は、前記駆動電流の指令値と前記補正係数とに基づいて前記第一時点と前記第二時点との間における前記寿命負荷率の時間積分を計算するようにした、請求項1に記載のレーザ装置。
  5. 前記補正係数が第一所定値よりも大きい場合には、前記駆動電流の指令値を変更する旨の表示または警報を出力するか、もしくは前記補正係数が前記第一所定値よりも小さくなるように前記周波数と前記デューティとの組み合わせを変更するようにした、請求項4に記載のレーザ装置。
  6. 前記第一記録部は、さらに、前記光源に標準駆動電流を注入した場合における前記光源の寿命を生涯寿命として記録しており、
    さらに、前記生涯寿命から前記実効的累積駆動時間を減算した残存寿命を計算するようにした、請求項2に記載のレーザ装置。
  7. 前記光源の光出力特性から導出可能な第一性能指数と前記光源の生涯寿命との間の相関関係を記録した第四記録部(11)をさらに具備し、
    該第四記録部に記録された前記相関関係に基づいて、前記光源の前記生涯寿命を変更するようにした、請求項6に記載のレーザ装置。
  8. 前記光源の光出力特性を測定する光出力検出部(12)と、
    前記標準駆動電流にて累積駆動時間だけ駆動した後において前記光源の前記光出力特性から導出可能な第二性能指数と前記光源の期待される残存寿命との間の相関関係を記録した第五記録部(13)とをさらに具備し、
    前記制御部からの指令により、所定のスケジュールに沿って前記光源の光出力特性を測定したときの測定結果から導出された前記第二性能指数と前記光出力特性を測定するときまでの実効的累積駆動時間と前記第五記録部に記録された記録結果とに基づいて第一推定残存寿命を推定し、
    該第一推定残存寿命と、前記光源の光出力特性を測定するときまで前記第一記録部に記録された前記光源の前記生涯寿命から前記実効的累積駆動時間を減算した残存寿命との間の偏差が第二所定値以上である場合には、前記偏差がゼロまたは略ゼロになるように、前記生涯寿命を変更するようにした、請求項2に記載のレーザ装置。
  9. 前記光源の光出力特性を測定する光出力検出部(12)と、
    該光出力検出部により検出された前記光出力特性を時間に関連付けて記録する第六記録部(14)と、
    該第六記録部の記録結果に基づいて前記計算部により計算された第三時点と該第三時点よりも後の第四時点との間の実効的駆動時間を記録する第七記録部(15)と、
    前記光源の光出力特性から導出可能な第三性能指数についての前記駆動時間に伴う劣化の進行を示した劣化曲線のデータテーブルを記録した第八記録部(16)とを備え、
    前記制御部からの指令により、所定のスケジュールに沿って前記光源の光出力特性を測定する際に、前記第三時点における前記第三性能指数と前記第四時点における前記第三性能指数との間の偏差を前記実効的駆動時間で除算した前記第三性能指数の劣化速度と、前記第八記録部に記録された前記劣化曲線とを照合して第二推定残存寿命を推定し、
    該第二推定残存寿命が所定の時間よりも短くなった時点よりも後、または前記第三性能指数の劣化速度が第三所定値よりも大きくなった時点よりも後においては、前記第四時点のときに前記第一記録部に記録された前記光源の前記生涯寿命を前記第二記録部に記録された前記実効的累積駆動時間と前記第二推定残存寿命との和に変更するようにした、請求項2に記載のレーザ装置。
  10. 前記生涯寿命から前記実効的累積時間を減算した前記残存寿命が所定の時間以下になった場合には、表示部に表示された前記残存寿命の色を変化させること、および前記表示部に表示された前記残存寿命を点滅させることのうちの少なくとも一方を実行する請求項6に記載のレーザ装置。
  11. 前記光源の光出力特性を測定する光出力検出部(12)と、
    前記光出力特性と、該光出力特性を測定したときまでの前記実効的累積駆動時間と、前記光出力特性を測定したときにおける前記残存寿命とを外部に送信する通信部(17)とを備え、
    前記制御部からの指令により、所定のスケジュールに沿って前記光源の光出力特性を測定する際に、前記送信部は、前記光源の光出力特性の測定結果とその時点までの前記実効的駆動時間と前記残存寿命とを、前記通信部を通じて、前記レーザ装置とは別の場所に設置された受信部に送信する、請求項2に記載のレーザ装置。
JP2016086430A 2016-04-22 2016-04-22 実効的駆動時間を算出するレーザ装置 Expired - Fee Related JP6382883B2 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2016086430A JP6382883B2 (ja) 2016-04-22 2016-04-22 実効的駆動時間を算出するレーザ装置
DE102017108317.0A DE102017108317A1 (de) 2016-04-22 2017-04-19 Lasergerät zum berechnen effektiver ansteuerzeit
CN201710256700.0A CN107306008B (zh) 2016-04-22 2017-04-19 激光装置
US15/491,153 US10033150B2 (en) 2016-04-22 2017-04-19 Laser apparatus for calculating effective driving time

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2016086430A JP6382883B2 (ja) 2016-04-22 2016-04-22 実効的駆動時間を算出するレーザ装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2017195343A JP2017195343A (ja) 2017-10-26
JP6382883B2 true JP6382883B2 (ja) 2018-08-29

Family

ID=60021421

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2016086430A Expired - Fee Related JP6382883B2 (ja) 2016-04-22 2016-04-22 実効的駆動時間を算出するレーザ装置

Country Status (4)

Country Link
US (1) US10033150B2 (ja)
JP (1) JP6382883B2 (ja)
CN (1) CN107306008B (ja)
DE (1) DE102017108317A1 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20230266168A1 (en) 2020-08-18 2023-08-24 Cymer, Llc Predictive calibration scheduling apparatus and method

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5166488A (en) 1974-12-04 1976-06-09 Iida Sankyo Tasetsutentaimaano suitsuchitai
JPH01318274A (ja) * 1988-06-20 1989-12-22 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 高信頼度半導体レーザの選別方法
JP4046778B2 (ja) 1995-04-05 2008-02-13 ソニー株式会社 光学ディスク記録再生装置
JP3732345B2 (ja) * 1998-02-10 2006-01-05 株式会社沖データ 駆動回路、ledヘッド及びプリンタ
JP4310826B2 (ja) * 1998-10-23 2009-08-12 ソニー株式会社 パルス駆動半導体レーザの駆動方法
JP2005317178A (ja) 2004-03-29 2005-11-10 Sharp Corp 記録再生装置、記録媒体、記録再生装置の駆動方法、半導体レーザの寿命予測方法、プログラム、プログラム記録媒体、半導体レーザ
JP2005294493A (ja) 2004-03-31 2005-10-20 Toshiba Corp レーザプロセスおよびレーザアニール装置
TWI234912B (en) * 2004-04-12 2005-06-21 Mediatek Inc Automatic laser control method and device thereof
US20060159140A1 (en) * 2005-01-17 2006-07-20 Fanuc Ltd Laser oscillator and method of estimating the lifetime of a pump light source
JP2006222411A (ja) 2005-01-17 2006-08-24 Fanuc Ltd レーザ発振器及びレーザ発振器の励起光源の寿命推定方法
EP2071568A1 (en) * 2007-12-13 2009-06-17 Harman/Becker Automotive Systems GmbH Temperature sensing in an optical reproducing / recording device
JP5056549B2 (ja) * 2008-04-04 2012-10-24 日亜化学工業株式会社 光半導体素子の寿命予測方法および光半導体素子の駆動装置
JP2010109023A (ja) * 2008-10-29 2010-05-13 Fuji Xerox Co Ltd 画像処理装置および光源寿命判定プログラムならびに画像形成装置
JP2011086496A (ja) 2009-10-15 2011-04-28 Hitachi High-Technologies Corp 有機el用マスククリーニング装置、有機elディスプレイの製造装置、有機elディスプレイおよび有機el用マスククリーニング方法
JP5166488B2 (ja) 2010-07-05 2013-03-21 竹中オプトニック株式会社 レーザダイオードの寿命予測システム
JP2012028412A (ja) * 2010-07-20 2012-02-09 Furukawa Electric Co Ltd:The 2次元面発光レーザアレイ素子、面発光レーザ装置および光源
JP6204363B2 (ja) * 2012-09-07 2017-09-27 ギガフォトン株式会社 レーザ装置及びレーザ装置の制御方法
JP5811248B2 (ja) * 2013-10-15 2015-11-11 ウシオ電機株式会社 光源装置およびプロジェクタ

Also Published As

Publication number Publication date
US10033150B2 (en) 2018-07-24
CN107306008A (zh) 2017-10-31
US20170310074A1 (en) 2017-10-26
CN107306008B (zh) 2019-06-11
DE102017108317A1 (de) 2017-10-26
JP2017195343A (ja) 2017-10-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5056549B2 (ja) 光半導体素子の寿命予測方法および光半導体素子の駆動装置
EP2491763B1 (en) Knowledge-based driver apparatus for high lumen maintenance and end-of-life adaptation
JP6374447B2 (ja) 温度を含む駆動条件を考慮した実効的駆動時間と残存寿命が算出可能なレーザ装置
JP6360090B2 (ja) 機械学習装置、レーザ装置および機械学習方法
JP6328683B2 (ja) 小型チラーが使用可能なレーザ装置
JP2002202242A (ja) 技術的システムの老化による変化の検出方法,その装置,プログラム,記録媒体,検出システム,摩耗モデルの決定装置
US7146292B2 (en) Method and a system for evaluating aging of components, and computer program product therefor
JP2007199052A (ja) 寿命予測監視装置、寿命予測監視方法及び寿命予測監視プログラム
EP1681750A1 (en) Laser oscillator and method of estimating the lifetime of a pump light source
JP2006308540A (ja) 電子体温計
JP2005317841A (ja) 半導体レーザ装置
JP2010014501A (ja) 電子体温計及び作動制御方法
TW201223322A (en) Laser diode control device
JP6382883B2 (ja) 実効的駆動時間を算出するレーザ装置
US20200052456A1 (en) Laser apparatus
JP2010122163A (ja) 電子体温計
US11133773B2 (en) Electronic device, control system for power conversion device, machine learning device, and method of controlling cooling fan
JP2010038671A (ja) コンデンサの寿命監視装置
JP2013225557A (ja) 劣化判定装置、発光装置及び劣化判定方法
JP2009049031A (ja) レーザダイオード制御回路
JP4936398B2 (ja) レーザ樹脂溶着機
JP2008151711A (ja) 炉心監視装置
JP2018147248A (ja) 繰り返し動作機構の寿命予測装置および寿命予測方法
JP2008151712A (ja) 炉心監視装置
JP6155686B2 (ja) ソレノイド弁制御装置

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20180228

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20180306

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20180326

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20180710

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20180802

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6382883

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees