KR960036123A - 횡형 피엔피 트랜지스터의 구조 및 그 제조방법 - Google Patents

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    • H01L29/1004Base region of bipolar transistors

Abstract

이 발명은 횡형 PNP 트랜지스터의 구조 및 그 제조방법에 관한 것으로서, 별도의 마스크와 추가 공정없이 횡형 PNP트랜지스터의 베이스 부분의 농도를 높임으로써 에미터에서 베이스로 주입되는 홀(hole)의 고레벨주입(High Level Injection)현상을 억제하고, 베이스의 저항을 줄여 트랜지스터의 성능을 향상시킨 P타입의 기판에 고농도의 N타입 불순물을 확산시켜 형성한 매입층과; 상기 매입층의 일부에 고농도의 N타입 불순물을 확산시켜 형성한 싱크와; 상기 매입층과 싱크의 상부에 형성된 에피층과; 상기 에프층에 각각 좌우로 형성된 절연층과; 상기 에피층에 각각 형성된 P타입의 에미터영역 및 콜렉트영역과;상기 에피층(44)에 형성된 n타입의 베이스영역으로 이루어진 횡형 PNP트랜지스터의 구조 및 제조방법에 관한 것이다.

Description

횡형 피엔피 트랜지스터의 구조 및 제조방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제3도는 이 발명의 횡형 PNP트랜지스터의 구조이고, 제4도는 (가)~(마)는 제3도의 제조공정 순서를 나타낸 단면도이다.

Claims (4)

  1. P타입의 기판(41)에 고농도의 N타입 불순물을 확산시켜 형성한 매입층(42)과;상기 매입층(42)의 일부에 고농도의 N타입 불순물을 확산시켜 형성한 싱크(43)과;상기 매입(42)과 싱크(43)의 상부에 형성된 에피층(44)과;상기 에피층(44)에 각각 좌우로 형성된 절연층(45);상기 에피층(44)에 각각 형성된 p타입의 에미터영역(46) 및 콜렉트영역(46-1)과;상기 에피층(44)에 형성된 n타입의 베이스영역(47)으로 이루어진 횡형 PNP 트랜지스터의구조.
  2. P타입의 기판(41)에 고농도의 N타입 불순물을 확산시켜 매입층(42)을 형성하는 제1공정과;상기 고농도의 N타입 불순물을 확산시켜 싱크(43)를 형성시키는 제2공정과;상기 매입층(42)과 싱크(43)의 상부에 에피층(44)을 형성하는 제3공정과;상기 에피층(44)의 좌우에 절연층(45)을 형성하는 제4공정과; 상기 에피층(44)의 상부에 P타입의 에미터영역(46)과 콜렉트영역을(46-1)을 형성시키는 제5공정과;상기 에피층(44)의 상부에 P타입의 에미터영역(47)을 형성시키는 제6공정으로 이루어진 것을 특징으로 하는 횡형 PNP트랜지스터의제조방법.
  3. 제2항에 있어서, 상기 제1공정의 N타입 불순물을 비소를 사용하는 것을 특징으로 하는 횡형 PNP트랜지스터의 제조방법.
  4. 제2항에 있어서, 상기 제2공정의 N타입 불순물은 인을 사용하는 것을 특징으로 하는 횡형 PNP트랜지스터의 제조방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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