KR960026217A - 반도체 소자 제조방법 - Google Patents

반도체 소자 제조방법 Download PDF

Info

Publication number
KR960026217A
KR960026217A KR1019940039106A KR19940039106A KR960026217A KR 960026217 A KR960026217 A KR 960026217A KR 1019940039106 A KR1019940039106 A KR 1019940039106A KR 19940039106 A KR19940039106 A KR 19940039106A KR 960026217 A KR960026217 A KR 960026217A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
forming
semiconductor device
silicon substrate
impurity
contact
Prior art date
Application number
KR1019940039106A
Other languages
English (en)
Inventor
박상훈
김동석
Original Assignee
김주용
현대전자산업 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 김주용, 현대전자산업 주식회사 filed Critical 김주용
Priority to KR1019940039106A priority Critical patent/KR960026217A/ko
Publication of KR960026217A publication Critical patent/KR960026217A/ko

Links

Landscapes

  • Electrodes Of Semiconductors (AREA)
  • Internal Circuitry In Semiconductor Integrated Circuit Devices (AREA)

Abstract

본 발명은 반도체 소자의 제조방법에 관한 것으로서, 특히 0.5㎛이하의 초미세 콘택 홀 내부의 노츨된 실리콘 기판상에 소정의 트렌치를 형성하여 콘택 홀에 의한 접촉 저항을 줄일 수 있는 반도체 소자 제조방법에 관한 것으로서, 실리콘 기판 내부에 불순물을 주입하여 확산 영역을 형성하고 절연용 산화막을 형성하는 단계, 콘택 홀을 형성하는 단계 및 소정의 금속 배선을 형성하는 단계로 이루어지는 반도체 소자 제조방법에 있어서, 상기 콘택 홀 형성 단계에서 실리콘 기판 내에 트렌치를 형성하고 불순물을 이온 주입하여, 콘택 홀의 크기는 변화시키지 않는 상태에서 금속 배선과 불순물이온주입영역과의 접촉 면적을 증가시켜 접촉 저항을 감소시킬 수 있다.

Description

반도체 소자 제조방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2도의 (가) 내지 (다)는 본 발명에 따른 반도체 소자 제조방법의 공정도.

Claims (5)

  1. 실리콘 기판 내부에 불순물을 주입하여 확산 영역을 형성하고 절연용 산화막을 형성하는 단계, 콘택 홀을 형성하는 단계 및 소정의 금속 배선을 형성하는 단계로 이루어지는 반도체 소자 제조방법에 있어서, 상기 콘택 홀 형성 단계에서 실리콘 기판의 확산층 내에 트렌치를 형성하고 불순물을 이온 주입하는 것을 특징으로 하는 반도체 소자 제조방법.
  2. 제1항에 있어서, 상기 트렌치 형성 후에 주입하는 불순물은 기 주입된 불순물과 동일한 것을 특징으로 하는 반도체 소자 제조방법.
  3. 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 불순물을 소정의 각도로 기울여서 이온 주입하는 것을 특징으로 하는 반도체 소자 제조방법.
  4. 제3항에 있어서, 상기 각도는 ±10~20°인 것을 특징으로 하는 반도체 소자 제조방법.
  5. 제3항에 있어서, 상기 불순물은 1×1012~1×1017원자/㎠, 20~100kev의 조건으로 이온 주입하는 것을 특징으로 하는 반도체 소자 제조방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019940039106A 1994-12-30 1994-12-30 반도체 소자 제조방법 KR960026217A (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019940039106A KR960026217A (ko) 1994-12-30 1994-12-30 반도체 소자 제조방법

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019940039106A KR960026217A (ko) 1994-12-30 1994-12-30 반도체 소자 제조방법

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR960026217A true KR960026217A (ko) 1996-07-22

Family

ID=66647692

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019940039106A KR960026217A (ko) 1994-12-30 1994-12-30 반도체 소자 제조방법

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR960026217A (ko)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100590201B1 (ko) * 1999-02-02 2006-06-15 삼성전자주식회사 자기정렬 콘택 패드의 제조 방법

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100590201B1 (ko) * 1999-02-02 2006-06-15 삼성전자주식회사 자기정렬 콘택 패드의 제조 방법

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR970013412A (ko) 반도체소자의 제조방법
KR890003028A (ko) 고저항 다결정 실리콘의 제조방법
KR900003967A (ko) 반도체 장치 및 그 제조 방법
KR960032621A (ko) 낮은 면저항을 갖는 접합(Junction) 형성방법
KR960026217A (ko) 반도체 소자 제조방법
EP1035566A2 (en) Method for forming a buried doped layer with connecting portions within a semiconductive device
KR960015794A (ko) 반도체소자 제조방법
KR960026170A (ko) 콘택 홀 제조 방법
KR960026214A (ko) 반도체 소자 제조방법
KR960026179A (ko) 반도체 소자의 콘택구조 및 콘택형성방법
KR950012717A (ko) 반도체 소자 제조 방법
KR940004711A (ko) 폴리실리콘층 형성방법
KR970052981A (ko) 반도체소자의 제조방법
KR930014782A (ko) 얕은 접합 형상을 가진 반도체소자 및 그 제조방법
KR970030317A (ko) 반도체소자 제조 방법
KR920016611A (ko) 금속실리사이드 보호층 제조방법
KR960002898A (ko) 반도체소자의 트랜지스터 및 그 형성방법
KR890005836A (ko) 반도체 메모리 장치의 제조방법
KR950015569A (ko) 반도체장치의 제조방법
KR960026238A (ko) 반도체장치의 금속배선시 콘택부 형성방법 및 그 구조
KR960026224A (ko) 반도체 소자의 콘택홀 형성 방법
KR930003252A (ko) 반도체 장치의 접촉플러그 제조방법
KR970003773A (ko) 반도체소자 제조방법
KR970053890A (ko) 산소 이온 주입을 이용한 래치업 방지형 바이시모스 반도체 장치 및 그 제조 방법
KR940010387A (ko) 반도체 소자 제조방법

Legal Events

Date Code Title Description
WITN Withdrawal due to no request for examination