KR960016562A - 영상 프로세서용 광원 장치 - Google Patents

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야스히로 사사키
야스아키 모리타
도루 야나기사와
데쯔오 홋타
신사쿠 쯔치다
게이조 시나노
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Abstract

영상 프로세서용 광원 장치는 텔레비전 카메라 아래에 배치된 복수의 LED를 포함하는 광원을 갖는다. 광원에서 방출된 광이 텔레비전 카메라에 직접 투사되지 않도록 광원 위에 차폐 플레이트가 배치된다. 텔레비전 카메라에서 부터 검출될 물체에 충분히 가까이 인접한 위치까지 연장하는 원통형 광 투과 배럴이 제공된다.[선택도] 제2도

Description

영성 프로세서용 광원 장치
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제4도는 방사된 광 빔과 이 광 빔의 반사 빔 사이의 관계를 나타낸 예시 도면,
제5도 내지 제7도는 본 발명에 따른 광원 장치의 다양한 실시에를 나타낸 단면도.

Claims (11)

  1. 텔레비전 카메라를 갖는 영상 프로세서용 광원 장치에 있어서, 상기 텔레비전 카메라 밑에 배치된 광원과; 상기 광원으로 부터 방출된 광이 테레비전 카메라에 직접 투사되지 않도록 광원위에 배치된 차폐 부재와; 텔레비전 카메라에서 부터 검출될 물체에 인접한 위치까지 연장하는 원통형 공 투과 배럴과; 중심부에 개구부를 갖고 광원으로 부터 방출된 광을 확산하기 위해 광원 아래 부분의 광 투과 배럴의 내부벽에 고착된 확산 플레이트를 구비하는 것을 특징으로 하는 영상 프로세서용 광원 장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 광 투과 배럴의 내벽은 광원에서 방출된 광의 확산 반사를 위해 페어 스킨 표면을 갖는 것을 특징으로 하는 영상 프로세서용 광원 장치.
  3. 제1항에 있어서, 상기 광 투과 배럴의 하부 단부는 물체로 부터 2~10㎜ 떨어진 위치에 배치되는 것을 특징으로 하는 영상 프로세서용 광원 장치.
  4. 제1항에 있어서, 광 투과 배럴의 하부에 제공되는 보조 광원을 추가로 구비하는 것을 특징으로 하는 영상 프로세서용 광원 장치.
  5. 제1항에 있어서, 광원의 광을 광 투과 배럴의 하부 단부에 투과하기 위해 광 투고 배럴에 제공된 광 투과 부재를 추가로 구비하는 것을 특징으로 하는 영상 프로세서용 광원 장치.
  6. 제4항에 있어서, 상기 보조 광원은 표면 광원인 것을 특징으로 하는 영상 프로세서용 광원 장치.
  7. 제5항에 있어서, 상기 광 투과 부재는 원통형 아크릴 수지 플레이트인 것을 특징으로 하는 영상 프로세서용 광원 장치.
  8. 제5항에 있어서, 상기 광 투과 부재는 복수의 광섬유인 것을 특징으로 하는 영상 프로세서용 광원 장치.
  9. 제6항에 있어서, 상기 표면 광원은 전자기 발광인 것을 특징으로 하는 영상 프로세서용 광원 장치.
  10. 텔레비전 카메라를 갖는 영상 프로세서용 광원 장치에 있어서, 텔레비전 카메라에서 부터 검출될 물체에 인접한 위치까지 연장하는 원통형 광 투과 배럴과; 광 투과 배럴에 제공된 표면 광원과; 광원에서 방출된 광이 텔레비전 카메라에 직접 투사되지 않도록 상기 표면 광원 위에 배치된 차폐 부재를 구비하는 것을 특징으로 하는 영상 프로세서용 광원 장치.
  11. 제10항에 있어서, 상기 표면 광원은 전자기 발광인 것을 특징으로 하는 영상 프로세서용 광원 장치.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019940016706A 1993-07-15 1994-07-12 영상 프로세서용 광원장치 KR100269731B1 (ko)

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Families Citing this family (25)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5758942A (en) * 1995-12-18 1998-06-02 Micron Technology, Inc. Mechanical vision system using selective wavelength and brightness illumination
EP0821779A1 (en) * 1996-02-19 1998-02-04 Koninklijke Philips Electronics N.V. Device comprising diffuse foreground illumination for detecting an electronic component, and component-mounting machine provided with such a detection device
IE80676B1 (en) * 1996-08-02 1998-11-18 M V Research Limited A measurement system
GB2316168B (en) * 1996-08-06 2000-04-12 M V Research Limited A measurement system
US6022124A (en) 1997-08-19 2000-02-08 Ppt Vision, Inc. Machine-vision ring-reflector illumination system and method
JP3471201B2 (ja) * 1997-09-05 2003-12-02 株式会社東芝 撮像モジュール、および撮像装置
US7740371B1 (en) 1998-03-19 2010-06-22 Charles A. Lemaire Method and apparatus for pulsed L.E.D. illumination for a camera
US6095661A (en) 1998-03-19 2000-08-01 Ppt Vision, Inc. Method and apparatus for an L.E.D. flashlight
DE19851119C2 (de) * 1998-11-06 2001-05-31 Byk Gulden Lomberg Chem Fab Behälter und Vorrichtung zur Blindung der Verabreichung von nicht festen pharmazeutischen Darreichungsformen bei der klinischen Prüfung
JP4147505B2 (ja) * 1999-01-28 2008-09-10 富士機械製造株式会社 保持ヘッド
US6788411B1 (en) 1999-07-08 2004-09-07 Ppt Vision, Inc. Method and apparatus for adjusting illumination angle
DE10009571A1 (de) * 2000-02-29 2001-09-06 Vision Components Ges Fuer Bil Verfahren und Vorrichtung zum Justieren einer Kamera
JP4288553B2 (ja) * 2000-07-25 2009-07-01 富士フイルム株式会社 カメラのストロボ装置
DE10197043T1 (de) * 2000-12-15 2003-11-13 Cyberoptics Corp Kamera mit verbessertem Illuminator
DE10128324A1 (de) * 2001-06-12 2003-01-09 Matsushita Electric Works Europe Ag Gerät zur optischen Prüfung des Inhalts von Blisterpackungen
US6788406B2 (en) * 2001-11-02 2004-09-07 Delaware Capital Formation, Inc. Device and methods of inspecting soldered connections
DE10162270B4 (de) * 2001-12-18 2004-05-13 Siemens Ag Optische Sensorvorrichtung
JP4122187B2 (ja) * 2002-08-08 2008-07-23 松下電器産業株式会社 照明装置、及びこれを備えた認識装置並びに部品実装装置
US20080062424A1 (en) * 2006-09-07 2008-03-13 Mark Richard Shires Compact Ringlight
DE102007043609B4 (de) 2007-09-13 2014-05-28 Ioss Intelligente Optische Sensoren & Systeme Gmbh Integrierte Beleuchtungsvorrichtung für einen optischen Codeleser
TWI380296B (en) * 2008-07-10 2012-12-21 Sunplus Mmedia Inc Optical head that can be easily assembled
US8284305B2 (en) * 2008-11-26 2012-10-09 Parata Systems, Llc System and method for acquiring images
TW201423089A (zh) * 2012-12-12 2014-06-16 Utechzone Co Ltd 檢測裝置
CN103438821B (zh) * 2013-09-11 2015-12-02 凯龙蓝烽新材料科技有限公司 一种蜂窝陶瓷载体透光检测装置及方法
JP2017167222A (ja) * 2016-03-14 2017-09-21 マイクロネット株式会社 顕微鏡用照明装置、顕微鏡用照明装置を備える顕微鏡、顕微鏡用照明装置を備える顕微鏡システム

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4028728A (en) * 1976-04-02 1977-06-07 Western Electric Company, Inc. Method of and video system for identifying different light-reflective surface areas on articles
JPS61293657A (ja) * 1985-06-21 1986-12-24 Matsushita Electric Works Ltd 半田付け外観検査方法
JPH0810196B2 (ja) * 1989-11-17 1996-01-31 松下電器産業株式会社 はんだ外観検査装置
EP0459489B1 (en) * 1990-05-30 1997-01-22 Dainippon Screen Mfg. Co., Ltd. Method of reading optical image of inspected surface and image reading system employable therein
JP2969401B2 (ja) * 1991-10-29 1999-11-02 株式会社新川 ボンデイングワイヤ検査装置

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US5457492A (en) 1995-10-10
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