KR960008835A - 반도체 기억 장치 - Google Patents

반도체 기억 장치 Download PDF

Info

Publication number
KR960008835A
KR960008835A KR1019950026832A KR19950026832A KR960008835A KR 960008835 A KR960008835 A KR 960008835A KR 1019950026832 A KR1019950026832 A KR 1019950026832A KR 19950026832 A KR19950026832 A KR 19950026832A KR 960008835 A KR960008835 A KR 960008835A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
digit
digit line
control means
pair
digit lines
Prior art date
Application number
KR1019950026832A
Other languages
English (en)
Other versions
KR100204934B1 (ko
Inventor
야스히로 다카이
Original Assignee
가네꼬 히사시
닛폰 덴기 가부시키가이샤
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 가네꼬 히사시, 닛폰 덴기 가부시키가이샤 filed Critical 가네꼬 히사시
Publication of KR960008835A publication Critical patent/KR960008835A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100204934B1 publication Critical patent/KR100204934B1/ko

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/401Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
    • G11C11/4063Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
    • G11C11/407Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
    • G11C11/409Read-write [R-W] circuits 
    • G11C11/4091Sense or sense/refresh amplifiers, or associated sense circuitry, e.g. for coupled bit-line precharging, equalising or isolating
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/401Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
    • G11C11/406Management or control of the refreshing or charge-regeneration cycles

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Dram (AREA)
  • Static Random-Access Memory (AREA)

Abstract

디지트 선 쌍을 차단하면서 고속 감지를 행한 후, 디지트 선이 액서스하는 목적 메모리 셀에 접속, 메모리 셀에 접속되는 디지트 선 만이 감지 증폭기에 관련해서 메모리 셀에 정보를 재기록하는 감지 증폭기에 전기적으로 접속된다. 일녀의 밸런싱 및 선 충전 과정에서 선 충전은 디지트 선 쌍에 충분한 전위의 밸런스가 설정된 후에 행해진다. 이로인해 전력 소비를 줄이기 위해 선 충전 전원 및/또는 디지트 선에 과 충전 전류가 흐르지 않는다.

Description

반도체 기억 장치
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명에 의한 반도체 기억 장치의 첫번째 실시예를 도시한 회로도.

Claims (10)

  1. 반도체 기억 장치에 있어서; 복수의 메모리 셀과; 상기 복수의 메모리 셀과 관련해서 정보를 기록하고 판독하는 복수의 디지트 선 쌍과; 각각 대응하는 디지트 선 쌍에 관한 정보의 검출 및 증폭 작용을 하는, 복수의 디지트 선 쌍의 각각에 대응해서 제공된 복수의 감지 증폭기와; 상기 디지트 선 쌍의 각각의 디지트 선중의 하나와, 대응하는 감지 증폭기의 내부 절점의 하나간의 접속을 제어하는 제1스위칭 수단과; 상기 디지트 선 쌍의 각각의 디지트 선중의 다른 하나와, 대응하는 감지 증폭기의 내부 절점 중 다른 하나간의 접속을 제어하는 제2스위칭 수단과; 상기 제1 및 제2스위칭 수단에 의한 접속 제어 작동 후의 상기 복수의 디지트 선 쌍을 리셋한 공통 전위 레벨에 상기 복수의 디지트 선 쌍의 모든 디지트 선을 세팅하기 위한 제어를 하는 밸런싱 제어 수단; 및 상기 밸런싱 제어 수단에 의해 공통 전위 레벨에 상기 모든 디지트 선을 세팅한 후, 상기 복수의 디지트 선 쌍 각각에 대해 선 충전 전위를 공급하는 선 충전 제어 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 기억 장치.
  2. 제1항에 있어서; 상기 밸런싱 제어 수단이, 리셋시, 상기 복수의 디지트 선 쌍의 두 디지트 선 각각간의 단락 제어를 할 수 있는 스위칭 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 기억 장치.
  3. 제2항에 있어서; 상기 밸런싱 제어 수단이 나아가 인접 디지트 선 쌍의 인접 디지트 선을 단락하는 것을 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 기억 장치.
  4. 제2항에 있어서; 상기 밸런싱 제어 수단에 의해 공통 전위 레벨에 모든 상기 디지트를 세팅한 후 상기 선 충전 제어 수단이 선 충전 전원과, 상기 선 충전 전원의 출력을 상기 복수의 디지트 선 쌍 각각에 공급하는 선 충전 전원선과, 상기 선 충전 전원과 상기 선 충전 전원선간의 단락 제어를 하는 스위칭 소자를 구성하는 것을 특징으로 하는 반도체 기억 장치.
  5. 제1항에 있어서; 상기 밸런싱 제어 수단과 상기 선 충전 제어 수단이 동작의 셀프 디프레싱 모드에서 활성 상태인 것을 특징으로 하는 반도체 기억 장치.
  6. 반도체 기억 장치에 있어서; 복수의 디지트 선 쌍과; 상기 복수이 디지트 서 쌍의 각각의 하나의 디지트 선에 접속된 복수의 메모리 셀을 포함하는 제1메모리 셀 그룹과; 상기 복수의 디지트 선 쌍의 다른 하나의 디지트 선에 각각 접속된 복수의 메모리 셀을 포함하는 제2메모리 셀 그룹과; 각각 대응하는 디지트 선 쌍에 관한 정보의 검출 및 증폭 작용을 하는 복수의 디지트 선 쌍의 각각에 대응해서 제공된 복수의 감지 증폭기와; 상기 디지트 선 쌍의 각각의 디지트 선 중의 하나와, 대응하는 감지 증폭기의 내부 절점의 하나간의 접속을 제어하는 제1스위칭 수단과; 상기 디지트 선 쌍의 각각의 디지트 선 중의 다른 하나와, 대응하는 감지 증폭기의 내부 결점 중 다른 하나간의 접속을 제어하는 제2스위칭 수단과; 상기 감지 증폭기의 상기 각각의 내부 절점간의 전기적 접속과 상기 제1메모리 셀 그룹의 선택 및 판독 작동 후에 상기 제1 및 제2스위칭 수단에 의해 대응하는 디지트 선 상이 차단되는 제어를 하는 수단과; 상기 감지 증폭기의 증폭 후에 상기 제1스위칭 수단에 의한 상기 복수의 디지트 선 쌍의 디지트 선 중 하나와 상기 복수의 디지트 선 쌍의 상기 각각의 내부 절점간에 설정된 전기적 접속에 의해 상기 제1메모리 셀 그룹에의 재기록을 제어하는 수단과; 재기록의 완성 후, 상기 제2스위칭 수단에 의해 상기 복수의 디지드 선 쌍의 다른 하나의 디지트 선과 상기 감지 증폭기의 각각의 내부 절점 간에 설정된 전기적 접속을 제어하는 수단과; 상기 제어 수단에 의한 전기적 접속 설정후에 공통 전위레벨에 상기 복수의 디지트 선 쌍의 디지트 선 모두를 셋팅하는 제어를 수행하는 밸런싱 제어 수단 및; 상기 제어 수단에 의해 공통 전위 레벨에 상기 디지트 선 모두를 세팅한 후 상기 복수의 디지트 선 쌍의 각각에 선 충전 전위를 공급하는 선 충전 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 기억 장치.
  7. 제1항에 있어서; 상기 밸런싱 제어 수단이 상기 복수의 디지트 선 쌍의 각각의 두 디지트 선 간의 단락 제어를 하는 스위칭 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 기억 장치.
  8. 제7항에 있어서, 상기 밸런싱 제어 수단이 나아가 인접 디지트 선 쌍의 인접 디지트 선을 단락하는 것을 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 기억 장치.
  9. 제7항에 있어서, 상기 선 충전 제어 수단이 상기 밸런싱 제어 수단에 의해 공통 전위 레벨에 상기 디지트 선 모두를 세팅한 후 상기 선 충전 전원선과 상기 선 충전 전원의 출력간의 단락을 제어하는 스위칭 소자와, 각각의 상기 복수의 디지트 선 쌍에 상기 선 충전 전원의 출력을 공급하는 선 충전 전원 공급선과, 선 충전 전원을 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 기억 장치.
  10. 제6항에 있어서, 상기 밸런싱 제어 수단과 상기 선 충전 제어 수단이 작동의 셀프 리프레싱 모드에서 활성 상태인 것을 특징으로 하는 반도체 기억 장치.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019950026832A 1994-08-24 1995-08-24 반도체 기억 장치 KR100204934B1 (ko)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6199185A JP2836495B2 (ja) 1994-08-24 1994-08-24 半導体記憶装置
JP94-199185 1994-08-24

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR960008835A true KR960008835A (ko) 1996-03-22
KR100204934B1 KR100204934B1 (ko) 1999-06-15

Family

ID=16403557

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019950026832A KR100204934B1 (ko) 1994-08-24 1995-08-24 반도체 기억 장치

Country Status (4)

Country Link
US (1) US5666318A (ko)
EP (1) EP0703585A3 (ko)
JP (1) JP2836495B2 (ko)
KR (1) KR100204934B1 (ko)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100405244B1 (ko) * 2000-10-31 2003-11-12 삼성광주전자 주식회사 진공청소기의 흡입부 조립체
KR100636914B1 (ko) * 1999-06-30 2006-10-19 주식회사 하이닉스반도체 비트라인 프리챠지 전압 발생회로
AU2010254712B2 (en) * 2009-06-03 2013-01-31 Lg Electronics Inc. Refrigerator

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5995431A (en) * 1997-06-11 1999-11-30 Texas Instruments Incorporated Bit line precharge circuit with reduced standby current
DE19735137C1 (de) * 1997-08-13 1998-10-01 Siemens Ag Schaltungsvorrichtung für die Bewertung des Dateninhalts von Speicherzellen
KR100388318B1 (ko) * 1998-12-24 2003-10-10 주식회사 하이닉스반도체 비트라인디커플링방법

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63140488A (ja) * 1986-12-01 1988-06-13 Mitsubishi Electric Corp ダイナミツク・ランダム・アクセス・メモリ
JPH04214293A (ja) * 1990-12-12 1992-08-05 Sharp Corp 半導体メモリ装置
JPH0541085A (ja) * 1991-08-06 1993-02-19 Nec Corp センスアンプ回路
JPH05166368A (ja) * 1991-12-18 1993-07-02 Sharp Corp 擬似sram
JPH05242672A (ja) * 1992-02-04 1993-09-21 Nec Corp 半導体ダイナミックメモリ
JPH0668673A (ja) * 1992-08-24 1994-03-11 Mitsubishi Denki Eng Kk 半導体記憶装置
JP2814862B2 (ja) * 1992-12-07 1998-10-27 日本電気株式会社 半導体記憶装置
JP3088232B2 (ja) * 1994-01-11 2000-09-18 沖電気工業株式会社 半導体記憶回路

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100636914B1 (ko) * 1999-06-30 2006-10-19 주식회사 하이닉스반도체 비트라인 프리챠지 전압 발생회로
KR100405244B1 (ko) * 2000-10-31 2003-11-12 삼성광주전자 주식회사 진공청소기의 흡입부 조립체
AU2010254712B2 (en) * 2009-06-03 2013-01-31 Lg Electronics Inc. Refrigerator

Also Published As

Publication number Publication date
EP0703585A3 (en) 1998-02-04
EP0703585A2 (en) 1996-03-27
KR100204934B1 (ko) 1999-06-15
US5666318A (en) 1997-09-09
JP2836495B2 (ja) 1998-12-14
JPH0863959A (ja) 1996-03-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR920007440B1 (ko) 반도체 기억장치 및 액세스방법
JPS5812676B2 (ja) センス増幅器
KR950004279A (ko) 저전력 소모 열 선택기를 dram 장치
KR920001539A (ko) 적분 논리 기능을 가진 감지증폭기
KR950027821A (ko) 기준전위발생장치 및 그것을 구비한 반도체메모리장치
KR890008842A (ko) 다이나믹반도체기억장치와 그 구동방법
KR101674907B1 (ko) 중간점 레퍼런스를 포함하는 랜덤 액세스 메모리 아키텍처
KR890004332A (ko) 반도체 기억장치
JP3307423B2 (ja) プログラム可能なメモリ用変調電流又は電流アンバランス型の電流オフセットセンス増幅器
KR19980038934A (ko) 반도체 기억장치
KR960008835A (ko) 반도체 기억 장치
DE59706533D1 (de) Einzelelektron-Speicherzellenanordnung
JPH01503030A (ja) 電流検出差動増幅器
JP2865078B2 (ja) 半導体記憶装置
KR840005888A (ko) 반도체 기억장치(半導體記憶置裝)
KR20030059312A (ko) 자기 저항 메모리 및 자기 저항 메모리내의 메모리 셀을판독하는 방법
MY103940A (en) Semiconductor memory capable of improving data rewrite speed
KR100901933B1 (ko) 3 입력 감지 증폭기 및 동작 방법
CN116168737B (zh) 感测放大电路以及数据读出方法
JPS63161596A (ja) 半導体記憶装置
KR970071795A (ko) 싱글 데이타라인을 갖는 반도체 메모리 장치
KR960019301A (ko) 단일 비트 라인 리드 백 구조를 갖는 메모리 셀
US20010043119A1 (en) Amplifier circuit
KR970060212A (ko) 반도체 메모리 장치
KR100434482B1 (ko) 분리게이트 제어회로 및 제어방법과 이를 이용한 반도체 메모리장치

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20130304

Year of fee payment: 15

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20140228

Year of fee payment: 16

LAPS Lapse due to unpaid annual fee