KR960002559A - 반도체소자의 금속 배선 형성방법 - Google Patents

반도체소자의 금속 배선 형성방법 Download PDF

Info

Publication number
KR960002559A
KR960002559A KR1019940014082A KR19940014082A KR960002559A KR 960002559 A KR960002559 A KR 960002559A KR 1019940014082 A KR1019940014082 A KR 1019940014082A KR 19940014082 A KR19940014082 A KR 19940014082A KR 960002559 A KR960002559 A KR 960002559A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
metal
forming
semiconductor device
metal wiring
silicon substrate
Prior art date
Application number
KR1019940014082A
Other languages
English (en)
Inventor
고재완
전영호
구영모
Original Assignee
김주용
현대전자산업 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 김주용, 현대전자산업 주식회사 filed Critical 김주용
Priority to KR1019940014082A priority Critical patent/KR960002559A/ko
Publication of KR960002559A publication Critical patent/KR960002559A/ko

Links

Landscapes

  • Internal Circuitry In Semiconductor Integrated Circuit Devices (AREA)
  • Electrodes Of Semiconductors (AREA)

Abstract

본 발명은 반도체 제조공정 중 실리콘기판 상의 소정부위에 습식 및 건식식각 공정에 의해 금속 콘택홀이 형성된 상태의 금속 배선 형성방법에 있어서, 금속 콘택을 위해 드러나는 실리콘기판 상에 에피택시 공정을 통하여 상기 금속 콘택홀의 소정부위까지 콘택플러그를 형성하는 단계; 전체 구조 상부에 금속막을 형성하는 단계를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 금속 배선 형성 방법에 관한 것으로, 기존의 금속 콘택 구조가 갖는 고종횡비 특성을 에피택시 성장 공정으로 콘택플러그를 형성함으로써 개선하여 금속막 증착시 기존 방법으로도 우수한 스텝-커버리지를 얻을 수 있어 반도체 소자의 수율 및 신뢰성을 향상시키는 효과를 갖는다.

Description

반도체소자의 금속 배선 형성방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2도는 본 발명의 일실시예에 따라 금속 배선이 형성된 상태를 나타낸 단면도.

Claims (2)

  1. 반도체 제조공정 중 실리콘기판(10)상의 소정부위에 습식 및 건식식각 공정에 의해 금속 콘택홀이 형성된 상태의 금속 배선 형성 방법에 있어서, 금속 콘택을 위해 드러나는 실리콘기판(10)상에 에피택시 공정을 통하여 상기 금속 콘택홀의 소정부위까지 에피택시막(40)을 형성하는 단계; 전체 구조 상부에 금속막(50)을 형성하는 단계를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 반도체소자의 금속 배선 형성방법.
  2. 제1항에 있어서, 상기 에피택시막(40)는 건식식각부위까지 성장시켜 형성하는 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 금속 배선 형성방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019940014082A 1994-06-21 1994-06-21 반도체소자의 금속 배선 형성방법 KR960002559A (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019940014082A KR960002559A (ko) 1994-06-21 1994-06-21 반도체소자의 금속 배선 형성방법

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019940014082A KR960002559A (ko) 1994-06-21 1994-06-21 반도체소자의 금속 배선 형성방법

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR960002559A true KR960002559A (ko) 1996-01-26

Family

ID=66686345

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019940014082A KR960002559A (ko) 1994-06-21 1994-06-21 반도체소자의 금속 배선 형성방법

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR960002559A (ko)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100334961B1 (ko) * 1998-12-30 2002-06-20 박종섭 반도체장치의 다층 금속배선 형성 방법

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100334961B1 (ko) * 1998-12-30 2002-06-20 박종섭 반도체장치의 다층 금속배선 형성 방법

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR880014691A (ko) 반도체 장치의 제조방법
KR940020531A (ko) 콘택홀에 금속플러그 제조방법
KR950021084A (ko) 금속선과 콘택 플러그의 동시 형성방법
US6368946B1 (en) Manufacture of a semiconductor device with an epitaxial semiconductor zone
KR960002559A (ko) 반도체소자의 금속 배선 형성방법
KR960009154A (ko) 반도체소자 및 그 제조방법
KR100187672B1 (ko) 반도체 소자의 콘택홀 형성방법
KR950027954A (ko) 반도체 소자의 콘택홀 형성방법
KR950024267A (ko) 반도체장치의 금속배선시 콘택부 형성방법 및 구조
KR960026181A (ko) 플러그 형성방법
KR910013510A (ko) 이중 트랜치 공정에 의한 기억소자의 제조방법
KR950024264A (ko) 반도체장치의 금속배선시 콘택부 형성방법 및 구조
JPH03191521A (ja) 半導体装置の製造方法
KR960026542A (ko) 트렌치 형성방법
KR910013260A (ko) 디램의 트랜지스터 제조방법
KR960002832A (ko) 반도체 소자의 저장전극 제조방법
KR970054110A (ko) 반도체소자의 제조방법
KR950004413A (ko) 반도체 소자의 콘택제조방법
KR960026221A (ko) 반도체 소자 제조방법
KR970003520A (ko) 미세 반도체 소자의 콘택홀 형성방법
KR940016730A (ko) 반도체 장치의 배선형성방법
KR970008483A (ko) 반도체장치 제조방법
KR970024270A (ko) 금속-샐리사이드 구조를 갖는 반도체장치의 제조방법
KR960019512A (ko) 반도체 소자의 콘택 홀 형성 방법
KR970052361A (ko) 반도체장치의 콘택형성방법

Legal Events

Date Code Title Description
WITN Withdrawal due to no request for examination