KR950033668A - 반도체 소자의 콘택 식각 방법 - Google Patents

반도체 소자의 콘택 식각 방법 Download PDF

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KR950033668A
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semiconductor device
contact etching
etching method
present
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KR1019940012184A
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최봉호
정용식
Original Assignee
김주용
현대전자산업 주식회사
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Abstract

본 발명은 콘택 식각 장벽용 감광막 패턴과 패턴 사이에 존재하는 감광막 찌꺼기를 별도의 장비를 사용하지않고 이후에 사용해야 할 절연막 식각 장비에서 인-시취(in-situ)로 제거하는 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 콘택 식각 방법에 관한 것으로, 공정의 단순화 및 이에 따른 불순물 감소록 소자의 생산성향상 및 소자 제조의 수율을 향상시키는 효과가 있다.

Description

반도체 소자의 콘택 식각 방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도의 콘택 식각을 위한 식각장벽용 감광막 패턴형성 단면도, 제2A도 내지 제2D도는 본 발명의 일실시예에 따른 콘택 홀 형성공정도.

Claims (1)

  1. 반도체 소자의 콘택 식각 방법에 있어서, 절연막(21)상에 식각장벽용 감광막(22)패턴을 형성하는 단계; 절연막 식각 장비에서 오픈 부위의 절연막(21)을 전체두께중 일부를 식각하되 절연막 식각 가스에 산소(O2)를 첨부하여 감광막(22)패턴과 패턴 사이에 잔류하는 감광막 찌꺼기(25)를 동시에 제거하는 단계; 상기 절연막 식각 장비에서 절연막 식각 가스를 사용하여 노출된 절연막(21)전체를 제거하는 단계를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 콘택 식각 방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019940012184A 1994-05-31 1994-05-31 반도체 소자의 콘택 식각 방법 KR950033668A (ko)

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