KR950006870A - 노어형 불 휘발성 메모리 제어회로 - Google Patents
노어형 불 휘발성 메모리 제어회로 Download PDFInfo
- Publication number
- KR950006870A KR950006870A KR1019940019352A KR19940019352A KR950006870A KR 950006870 A KR950006870 A KR 950006870A KR 1019940019352 A KR1019940019352 A KR 1019940019352A KR 19940019352 A KR19940019352 A KR 19940019352A KR 950006870 A KR950006870 A KR 950006870A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- data
- cell
- writing
- type nonvolatile
- control circuit
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
- G11C16/06—Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
- G11C16/34—Determination of programming status, e.g. threshold voltage, overprogramming or underprogramming, retention
- G11C16/3436—Arrangements for verifying correct programming or erasure
- G11C16/3468—Prevention of overerasure or overprogramming, e.g. by verifying whilst erasing or writing
- G11C16/3486—Circuits or methods to prevent overprogramming of nonvolatile memory cells, e.g. by detecting onset or cessation of current flow in cells and using the detector output to terminate programming
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
- G11C16/06—Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
- G11C16/10—Programming or data input circuits
- G11C16/12—Programming voltage switching circuits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
- G11C16/06—Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
- G11C16/26—Sensing or reading circuits; Data output circuits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
- G11C16/06—Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
- G11C16/34—Determination of programming status, e.g. threshold voltage, overprogramming or underprogramming, retention
- G11C16/3436—Arrangements for verifying correct programming or erasure
- G11C16/3454—Arrangements for verifying correct programming or for detecting overprogrammed cells
- G11C16/3459—Circuits or methods to verify correct programming of nonvolatile memory cells
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
- G11C16/06—Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
- G11C16/34—Determination of programming status, e.g. threshold voltage, overprogramming or underprogramming, retention
- G11C16/3436—Arrangements for verifying correct programming or erasure
- G11C16/3468—Prevention of overerasure or overprogramming, e.g. by verifying whilst erasing or writing
Landscapes
- Read Only Memory (AREA)
Abstract
본 발명의 목적은 써 넣기가 불충분한 셀에 대하여만 선택적으로 다시 써 넣기 한다.
그 구성은 비트선 전위가 하이레벨(H)인 때는 다시 써넣기 모드로 된다. 이때에는 센스앰프(20)와 해당셀의 각각이 액티브 상태로 제어된다. 그렇게 하면 센스앰프(20)의 래치데이터가 하이레벨(H)이기 위한 해당셀의 전자가 FN터널하여 그 셀에 데이터「0」가 써넣기가 충분한 셀은 비트선 전위(BLR)가 로우레벨(L)로 되고, 같은 워드선에 써넣기 충분한 셀이 접속되어 있었다 하여도 그 셀에는 다시 써넣기가 되지 않는다. 써넣기가 충분한 셀에 대해서는 다시 써넣기 처리가 되지 않으므로 각 셀의 임계레벨이 가지런하고, 임계레벨 분포가 브로드 하게 되는 것은 아니다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명에 관계되는 노어형 불 휘발성 메모리의 제어회로의 일예를 나타내는 주요부분의 계통도이다.
제4도는 제어수단의 구체예를 나타내는 접속도이다.
Claims (4)
- 워드선 단위에서 데이터 써넣기 및 조합을 반복하도록 한 터널전류에 의한 데이터의 써넣기 및 소거를 행하는 노어형 불 휘발성 메모리의 제어회로에 있어서, 비트선마다 센스앰프를 가지는 셀 제어수단이 설치되고, 데이터의 써넣기가 충분한 셀에 대응하는 비트선에는 상기 셀 제어수단으로부터 데이터 조합후의 다시 써 넣기시에 데이터 써 넣기를 금지하는 반선택전위가 공급되도록 구성된 것을 특징으로 하는 노어형 불 휘발성 메모리의 제어회로.
- 제1항에 있어서, 바이트 단위로 데이터의 써 넣기 및 조합을 행할 때는 상기 셀 제어수단에서는 데이터의 써 넣기에는 사용되지 않은 셀에 대하여 데이터 써 넣기를 금지하는 반 선택전위가 공급되도록 구성된 것을 특징으로 하는 노어형 불 휘발성 메모리 제어회로.
- 제1항에 있어서, 상기 셀 제어수단의 페이지 프로그램 판정회로를 가지고, 이 페이지 프로그램 판정회로에는 각 페이지에 대응한 제어선이 공통으로 설치되고, 데이터 써 넣기 직후에 행해지는 데이터 조합시 상기 제어선에 생기는 상기 비트선 전위에 관련하는 전위의 변화에 의거해서 상기 셀에 대한 데이터의 써 넣기 불충분 상태를 페이지 단위로 판정하도록 구성된 것을 특징으로 하는 노어형 불 휘발성 메모리 제어회로.
- 제1항에 있어서, 페이지 단위로 데이터를 조합한 결과 데이터의 써 넣기가 불충분한 셀이 존재한 때에는 상기 셀 제어수단의 출력에 의거해서 그 셀만이 다시 써 넣기 되도록 구성된 것을 특징으로 하는 노어형 불 휘발성 메모리 제어회로.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP93-199798 | 1993-08-11 | ||
JP5199798A JPH0757484A (ja) | 1993-08-11 | 1993-08-11 | Nor型不揮発性メモリ制御回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR950006870A true KR950006870A (ko) | 1995-03-21 |
Family
ID=16413804
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019940019352A KR950006870A (ko) | 1993-08-11 | 1994-08-05 | 노어형 불 휘발성 메모리 제어회로 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5521868A (ko) |
EP (1) | EP0638906B1 (ko) |
JP (1) | JPH0757484A (ko) |
KR (1) | KR950006870A (ko) |
DE (1) | DE69429794D1 (ko) |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100566465B1 (ko) * | 1995-01-31 | 2006-03-31 | 가부시끼가이샤 히다치 세이사꾸쇼 | 반도체 메모리 장치 |
JPH0917196A (ja) * | 1995-06-30 | 1997-01-17 | Nec Corp | テストモード設定回路 |
KR100193898B1 (ko) * | 1996-06-29 | 1999-06-15 | 김영환 | 플래쉬 메모리 장치 |
JPH10222994A (ja) * | 1997-02-06 | 1998-08-21 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体記憶装置の読み出し電圧制御装置 |
JPH11214640A (ja) | 1998-01-28 | 1999-08-06 | Hitachi Ltd | 半導体記憶素子、半導体記憶装置とその制御方法 |
US6188608B1 (en) | 1999-04-23 | 2001-02-13 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Nonvolatile semiconductor memory device |
JP3359615B2 (ja) * | 1999-04-23 | 2002-12-24 | 松下電器産業株式会社 | 不揮発性半導体記憶装置 |
JP2004343128A (ja) * | 2004-06-01 | 2004-12-02 | Hitachi Ltd | 半導体記憶素子、半導体記憶装置とその制御方法 |
US20090296506A1 (en) * | 2008-05-28 | 2009-12-03 | Macronix International Co., Ltd. | Sense amplifier and data sensing method thereof |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5053990A (en) * | 1988-02-17 | 1991-10-01 | Intel Corporation | Program/erase selection for flash memory |
US5172338B1 (en) * | 1989-04-13 | 1997-07-08 | Sandisk Corp | Multi-state eeprom read and write circuits and techniques |
KR960002006B1 (ko) * | 1991-03-12 | 1996-02-09 | 가부시끼가이샤 도시바 | 2개의 기준 레벨을 사용하는 기록 검증 제어기를 갖는 전기적으로 소거 가능하고 프로그램 가능한 불휘발성 메모리 장치 |
US5357462A (en) * | 1991-09-24 | 1994-10-18 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Electrically erasable and programmable non-volatile semiconductor memory with automatic write-verify controller |
US5138576A (en) * | 1991-11-06 | 1992-08-11 | Altera Corporation | Method and apparatus for erasing an array of electrically erasable EPROM cells |
US5361227A (en) * | 1991-12-19 | 1994-11-01 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Non-volatile semiconductor memory device and memory system using the same |
-
1993
- 1993-08-11 JP JP5199798A patent/JPH0757484A/ja active Pending
-
1994
- 1994-08-02 US US08/284,228 patent/US5521868A/en not_active Expired - Fee Related
- 1994-08-05 KR KR1019940019352A patent/KR950006870A/ko not_active Application Discontinuation
- 1994-08-11 EP EP94401844A patent/EP0638906B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1994-08-11 DE DE69429794T patent/DE69429794D1/de not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US5521868A (en) | 1996-05-28 |
EP0638906A3 (en) | 1995-04-19 |
JPH0757484A (ja) | 1995-03-03 |
DE69429794D1 (de) | 2002-03-21 |
EP0638906A2 (en) | 1995-02-15 |
EP0638906B1 (en) | 2002-02-06 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6728913B1 (en) | Data recycling in memory | |
KR100370909B1 (ko) | 1칩 마이크로 컴퓨터와 그 데이타 리프레시 방법 | |
KR970023451A (ko) | 불휘발성 반도체 메모리 장치 | |
KR960006084A (ko) | 불휘발성 반도체 기억장치와 그 소거방법 | |
EP0704852A3 (en) | Nonvolatile semiconductor memory cell capable of saving overwritten cell and its saving method | |
ATE235094T1 (de) | Stabilisierkreise für mehrere digitale bits | |
KR960005370B1 (ko) | 비휘발성 반도체 메모리 장치를 소거하고 검증하기 위한 방법 및 장치 | |
JP2534733B2 (ja) | 不揮発性半導体記憶装置 | |
KR900013522A (ko) | 반도체 불휘발성 기억장치와 그것을 사용한 정보처리시스템 | |
KR950006870A (ko) | 노어형 불 휘발성 메모리 제어회로 | |
KR970017665A (ko) | 가변 기록 및 소거 시간 주기를 갖는 비휘발성 반도체 메모리 장치 | |
EP0913833A3 (en) | Non-volatile semiconductor memory device | |
KR970063271A (ko) | 불휘발성 반도체 기억 장치 | |
US5153854A (en) | EEPROM memory system having selectable programming voltage for low power readability | |
DE69630228D1 (de) | Flash-speichersystem mit reduzierten störungen und verfahren dazu | |
KR960030428A (ko) | 반도체 비휘발성 기억장치 | |
KR100252253B1 (ko) | 전기 소거식 프로그램어블 롬 | |
KR950012472A (ko) | 비휘발성 반도체 메모리 장치 | |
KR19980079365A (ko) | 플래쉬 메모리 및 마이크로컴퓨터 | |
JPH0131313B2 (ko) | ||
JPH10334073A (ja) | 1チップマイクロコンピュータ | |
KR970017668A (ko) | 반도체 불휘발성 기억장치 및 그것을 사용한 컴퓨터시스템 | |
JP3028567B2 (ja) | Eeprom内蔵マイクロコンピュータ | |
CN101026009A (zh) | 页面缓冲器及相关读方法 | |
JPS59191196A (ja) | 不揮発性半導体記憶装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
WITN | Application deemed withdrawn, e.g. because no request for examination was filed or no examination fee was paid |