KR940004384A - 반사 방지막 및 레지스트 패턴의 형성 방법 - Google Patents
반사 방지막 및 레지스트 패턴의 형성 방법 Download PDFInfo
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Abstract
(목적) 정재파 효과를 충분히 저감할 수 있음과 동시에 인터 믹싱을 발생시키는 경우 없이, 더구나, 물 및 현상액에 대한 용해성도 양호한 신규 반사 방지막, 및 해상도, 현상성, 패턴 형상 등이 우수한 레지스트 패턴의 형성 방법을 제공한다.
(구성) 반사 방지막은 불포화 카르복실산 단량체 및(또는) 불포화 술폰산 단량체와 플루오로알킬(메타)아크릴레이트의 공중합체(염)을 함유한다.
레지스트 패턴은 기판상에 레지스트막을 형성하고, 이 레지스트막 위에 상기 반사 방지막을 형성한 다음, 방사선을 조사하여 현상함으로써 형성된다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 레지스트 패턴의 단면 형상의 설명도.
Claims (2)
- 하기 식(1)로 표시되는 적어도 1종의 반복 단위 및(또는) 하기 식(2)로 표시되는 적어도 1종의 반복 단위와 하기 식(3)으로 표시되는 적어도 1종의 반복 단위를 갖는 공중합체 또는 그 염을 함유함을 특징으로 하는 반사 방지막.[식(1) 및 (2)에 있어서, R1내지 R4는 서로 동일하거나 상이한 것으로 수소원자 또는 유기기를 나타내며, A는 카르복실기 또는 술포기를 나타낸다][식(3)에 있어서, R5는 수소원자 또는 유기기를 나타내고, Rf는 플루오로알킬기를 나타내고, B는 알킬렌기 또는 플루오로알킬렌기를 나타낸다]
- 기판상에 레지스트를 도포하여 레지스트막을 형성하고, 이 레지스트막에 소정 패턴 형상으로 방사선을 조사하고, 이어서 현상함으로써 레지스트 패턴을 형성함에 있어서, 미리 상기 레지스트막 위에 제1항 기재의 반사 방지막을 형성한 다음, 방사선을 조사하는 것을 특징으로 하는 레지스트 패턴의 형성 방법.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20020038283A (ko) * | 2000-11-17 | 2002-05-23 | 박종섭 | 포토레지스트 단량체, 그의 중합체 및 이를 함유하는포토레지스트 조성물 |
KR101082695B1 (ko) * | 2005-03-17 | 2011-11-15 | 제이에스알 가부시끼가이샤 | 반사 방지막 형성용 조성물, 적층체 및 레지스트 패턴의형성 방법 |
US8895229B2 (en) | 2006-10-13 | 2014-11-25 | Jsr Corporation | Composition for formation of upper layer film, and method for formation of photoresist pattern |
Families Citing this family (30)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0723677B1 (en) * | 1993-10-12 | 2000-03-22 | Clariant Finance (BVI) Limited | Top anti-reflective coating films |
JP3099646B2 (ja) * | 1994-09-01 | 2000-10-16 | ブラザー工業株式会社 | インクジェット装置の製造方法 |
US5525457A (en) * | 1994-12-09 | 1996-06-11 | Japan Synthetic Rubber Co., Ltd. | Reflection preventing film and process for forming resist pattern using the same |
EP0794199A3 (en) * | 1996-03-07 | 1999-10-20 | Wako Pure Chemical Industries, Ltd | Novel functional polymers |
US5652317A (en) * | 1996-08-16 | 1997-07-29 | Hoechst Celanese Corporation | Antireflective coatings for photoresist compositions |
US5708095A (en) * | 1996-08-30 | 1998-01-13 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Graft copolymers containing sulfonate and phosphonate groups having particular utility as pigmented ink dispersants |
US5879863A (en) * | 1997-01-22 | 1999-03-09 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Pattern forming method |
US6190839B1 (en) | 1998-01-15 | 2001-02-20 | Shipley Company, L.L.C. | High conformality antireflective coating compositions |
US6242161B1 (en) * | 1998-05-29 | 2001-06-05 | Jsr Corporation | Acrylic copolymer and reflection-preventing film-forming composition containing the same |
US6316113B1 (en) | 1999-06-16 | 2001-11-13 | Xerox Corporation | Flexible loop leveling blade for flow coating process for manufacture of polymeric printer roll and belt components |
JP3509760B2 (ja) * | 2001-02-08 | 2004-03-22 | 株式会社半導体先端テクノロジーズ | 半導体装置の製造方法 |
KR20030059970A (ko) * | 2002-01-04 | 2003-07-12 | 주식회사 몰커스 | 패턴 무너짐 현상을 극복하기 위한 유기 난반사 방지막조성물 및 이를 이용한 패턴 형성방법 |
JP3851594B2 (ja) * | 2002-07-04 | 2006-11-29 | Azエレクトロニックマテリアルズ株式会社 | 反射防止コーティング用組成物およびパターン形成方法 |
KR101041285B1 (ko) | 2004-01-15 | 2011-06-14 | 제이에스알 가부시끼가이샤 | 액침용 상층막 형성 조성물 및 포토레지스트 패턴 형성방법 |
JP4355944B2 (ja) * | 2004-04-16 | 2009-11-04 | 信越化学工業株式会社 | パターン形成方法及びこれに用いるレジスト上層膜材料 |
US20060008730A1 (en) * | 2004-07-09 | 2006-01-12 | Puy Michael V D | Monomers for photoresists bearing acid-labile groups of reduced optical density |
US20060008731A1 (en) * | 2004-07-09 | 2006-01-12 | Michael Van Der Puy | Novel photoresist monomers and polymers |
WO2006035790A1 (ja) | 2004-09-30 | 2006-04-06 | Jsr Corporation | 共重合体および上層膜形成組成物 |
KR100574993B1 (ko) * | 2004-11-19 | 2006-05-02 | 삼성전자주식회사 | 포토레지스트용 탑 코팅 조성물과 이를 이용한포토레지스트 패턴 형성 방법 |
JP4322205B2 (ja) * | 2004-12-27 | 2009-08-26 | 東京応化工業株式会社 | レジスト保護膜形成用材料およびこれを用いたレジストパターン形成方法 |
JP4724427B2 (ja) * | 2005-01-27 | 2011-07-13 | 富士フイルム株式会社 | 塗布組成物、光学フィルム、反射防止フィルム、偏光板およびそれらを用いたディスプレイ装置 |
US20090035704A1 (en) * | 2007-08-03 | 2009-02-05 | Hong Zhuang | Underlayer Coating Composition Based on a Crosslinkable Polymer |
US8039201B2 (en) * | 2007-11-21 | 2011-10-18 | Az Electronic Materials Usa Corp. | Antireflective coating composition and process thereof |
US20100015550A1 (en) * | 2008-07-17 | 2010-01-21 | Weihong Liu | Dual damascene via filling composition |
US20100272658A1 (en) | 2009-04-27 | 2010-10-28 | Akzo Nobel Chemicals International B.V. | Enhanced efficiency of sunscreen compositions |
US8445181B2 (en) | 2010-06-03 | 2013-05-21 | Az Electronic Materials Usa Corp. | Antireflective coating composition and process thereof |
KR101807198B1 (ko) * | 2010-11-09 | 2017-12-11 | 주식회사 동진쎄미켐 | 극자외선 리소그라피용 포토레지스트 탑코트 조성물과 이를 이용하는 패턴 형성 방법 |
US8563672B2 (en) * | 2010-12-17 | 2013-10-22 | E I Du Pont De Nemours And Company | Process for producing fluorinated copolymers of (meth)acrylates and (meth)acrylic acid amine complexes |
FR2986004B1 (fr) * | 2012-01-25 | 2014-03-14 | Seppic Sa | Nouveau polymere epaississant reduisant le caractere collant des formules cosmetiques a base de glycerine |
JP6640864B2 (ja) * | 2015-09-30 | 2020-02-05 | 富士フイルム株式会社 | ネガ型のパターン形成方法、電子デバイスの製造方法、及び有機溶剤を含有する現像液を用いるネガ型パターン形成用のレジスト材料用積層体 |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB1175420A (en) * | 1967-02-15 | 1969-12-23 | Minnesota Mining & Mfg | Fluorine-Containing Polymers |
JPS6029724B2 (ja) * | 1977-05-13 | 1985-07-12 | 旭硝子株式会社 | 撥水撥油性の優れた重合体の製造方法 |
JPH02202904A (ja) * | 1989-02-02 | 1990-08-13 | Daikin Ind Ltd | 含フツ素メタクリル酸エステル系重合体及びレジスト材料 |
DE4027594A1 (de) * | 1990-08-31 | 1992-03-05 | Herberts Gmbh | Wasserverduennbares copolymerisat, dessen herstellung und verwendung, sowie waessrige ueberzugsmittel |
EP0522990B1 (en) * | 1991-06-28 | 1996-09-25 | International Business Machines Corporation | Top antireflective coating films |
US5139879A (en) * | 1991-09-20 | 1992-08-18 | Allied-Signal Inc. | Fluoropolymer blend anti-reflection coatings and coated articles |
US5118579A (en) * | 1991-09-20 | 1992-06-02 | Allied-Signal Inc. | Fluoropolymer blends for coatings |
-
1993
- 1993-08-04 EP EP93306164A patent/EP0583918B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1993-08-04 DE DE69323812T patent/DE69323812T2/de not_active Expired - Lifetime
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- 1993-08-13 US US08/105,622 patent/US5410005A/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20020038283A (ko) * | 2000-11-17 | 2002-05-23 | 박종섭 | 포토레지스트 단량체, 그의 중합체 및 이를 함유하는포토레지스트 조성물 |
KR101082695B1 (ko) * | 2005-03-17 | 2011-11-15 | 제이에스알 가부시끼가이샤 | 반사 방지막 형성용 조성물, 적층체 및 레지스트 패턴의형성 방법 |
US8895229B2 (en) | 2006-10-13 | 2014-11-25 | Jsr Corporation | Composition for formation of upper layer film, and method for formation of photoresist pattern |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE69323812T2 (de) | 1999-08-26 |
DE69323812D1 (de) | 1999-04-15 |
EP0583918A2 (en) | 1994-02-23 |
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US5410005A (en) | 1995-04-25 |
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EP0583918A3 (en) | 1995-04-19 |
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