KR930020431A - 특수한 배선 구성의 n-mos 메모리 셀을 갖는 반도체 메모리장치 - Google Patents
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Abstract
반도체 메모리장치는 칩의 첫번째 방향에 대해 사선으로 배열되는 각각의 여진트랜지스터(Q1,Q2)의 게이트영역(F,G)을 포함하고, 첫번째 방향에 대해 사선으로 배열되는 각각의 여진트랜지스터의 소스/드레인영역(J,H;K,I)과 첫번째 방향에 대해 실질적인 직선으로 배열되고, 첫번째 방향으로 형성되어 있는 전원공급선(C,Wr)에 여진트랜지스터의 각 소스/드레인영역이 연결되는 윈도우접점(A,B)과 첫번째 방향에 대해 지그재그 방식으로 윈도우접점이 하나씩 배열되고, 전송게이트 트랜지스터(Q3,Q4)의 각각의 소스/드레인영역이 그것에 해당하는 비트선(BL,BLX)에 연결되는 윈도우접점(M1,M2;N1,N2)로 구성된다. 이러한 구성에 의하여 칩 면적의 감소로 초래되는 메모리 셀 영역의 면적을 줄일 수 있고, 각각의 여진트랜지스터가 균일한 특성을 갖도록 하고, 이것에 의해 동작 신뢰도를 향상시킬 수 있다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제6도는 본 발명의 실시예에 의한 반도체 메모리장치에 있어서 각 메모리셀의 배열형태를 나타내고 있는 도면.
제7도는 제6도에 도시한 바와같이 각 메모리셀에 있어서 여진 트랜지스터부의 배선패턴을 나타내고 있는 도면.
제8도는 제6도의 배열형태에 있어서 열방향으로 있는 각각의 여진트랜지스터 소스와 전원공급선 사이의 윈도우접점 공유형태를 나타내고 있는 도면.
Claims (9)
- 칩(Chip)의 격자에 배열된 복수개의 메모리 셀을 포함하고, 각각의 메모리 셀은 2세트의 여진트랜지스터(Q1,Q2)와 쌍으로 교차하는 부하소자(R1,R2)를 갖는 플립플롭과 한쌍의 전송게이트 트랜지스터(Q3,Q4)를 포함하고, 전송게이트 트랜지스터는 플립플롭(flip-flop)의 데이타를 보유하는 한쌍의 노드(node)와 한쌍의 보조비트선(BL,BLX)사이에 각각 연결되고, 이것에 해당하는 워드라인에서 전위에 쉽게 반응하도록 형성되어 있는 반도체 메모리 장치에 있어서, 칩의 첫번째 방향에 대해 사선으로 배열된 각 여진트랜지스터의 게이트 영역(F,G)과 첫번째 방향에 대해 사선으로 배열된 여진트랜지스터의 각 소스/드렝인영역(S,H;K,I)과 첫번째 방향에 대해 실질적인 직선으로 배열되고, 여진트랜지스터의 각소스/드레인영역이 첫번째 방향으로 형성되는 전원공급선(C,Wr)에 연결되는 윈도우접점(A,B)과 첫번째 방향에 대해 지그재그방식으로 하나씩 윈도우 접점이 배열되고, 전송 게이트 트랜지스터의 각 소스/드레인 영역이 그것에 해당하는 비트선에 연결되는 윈도우접점(M1,M2;N1,N2)으로 구성되는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리장치.
- 제1항에 있어서, 각각의 여진트랜지스터의 게이트영역과 그것에 해당하는 소스/드레인영역이 서로 실질적인 직각으로 교차하도록 배열되는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리장치.
- 제2항에 있어서, 각각의 여진트랜지스터의 게이트영역과 그것에 해당하는 소스/드레인영역이 서로 교차하는 배열관계가 인접한 비트선 사이의 거리에 관계없이 일정하게 되도록 형성되는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리장치.
- 제2항에 있어서, 상기 메모리 셀의 격자에서 첫번째 방향에 대해 수직한 두번째 방향으로 배열된 전원공급선(Wc)에 대한 영역(S)이 형성되고, 이 영역은 인접한 메모리 셀 사이의 칼럼피치(Pc)의 폭과 동일한 폭으로 이루어지고, 메모리 셀 배열이 그것들 사이에 전원공급선에 대한 영역을 삽입하게 형성되어 있는 인접한 메모리 셀 사이의 윈도우접점(Ho)을 공유하게 만들어진 것을 특징으로 하는 반도체 메모리장치.
- 제4항에 있어서, 두번째 방향으로 배열된 전원공급선(Wc)이 메모리 셀의 배선패턴에 대해 부분적으로 동일한 배선패턴을 갖도록 형성되어 지는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리장치.
- 제4항에 있어서, 첫번째 방향으로 형성되어 있는 각 열에 있는 각각의 메모리 셀이 첫번째 방향에 대해 실질적인 직선으로 배열되는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리장치.
- 제6항에 있어서, 각각의 열중에서 하나의 열에 있는 각각의 메모리 셀이 같은 방향을 향하여 배열되고, 각각의 여진트랜지스터의 각 소스와 첫번째 방향으로 형성되어 있는 전원공급선(Wr)사이의 윈도우접점(Ho)을 공유하게 되는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리장치.
- 제7항에 있어서, 두개의 인접한 열이 한열의 각 메모리 셀과 다른열의 각 메모리 셀이 서로 반대방향으로 향하도록 배열되고, 첫번째 방향의 전원공급선(Wr)과 두번째 방향의 전원공급선(Wc)을 삽입하도록 형성되어 있는 인접한 메모리 셀에서 각각의 여진트랜지스터의 각 소스 사이에 있는 윈도우접점(Ho)을 공유하도록 배열되는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리장치.
- 제1항에 있어서, 복수개의 메모리 셀중의 하나 하나가 n-MOS 메모리 셀인것을 특징으로 하는 반도체 메모리장치.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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