KR930005033A - 불휘발성 메모리회로 - Google Patents

불휘발성 메모리회로 Download PDF

Info

Publication number
KR930005033A
KR930005033A KR1019920015246A KR920015246A KR930005033A KR 930005033 A KR930005033 A KR 930005033A KR 1019920015246 A KR1019920015246 A KR 1019920015246A KR 920015246 A KR920015246 A KR 920015246A KR 930005033 A KR930005033 A KR 930005033A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
circuit
nonvolatile memory
signal
precharge
discharge
Prior art date
Application number
KR1019920015246A
Other languages
English (en)
Other versions
KR960002007B1 (ko
Inventor
오사무 미츠모토
가즈히코 미키
Original Assignee
사토 후미오
가부시키가이샤 도시바
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 사토 후미오, 가부시키가이샤 도시바 filed Critical 사토 후미오
Publication of KR930005033A publication Critical patent/KR930005033A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR960002007B1 publication Critical patent/KR960002007B1/ko

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C16/00Erasable programmable read-only memories
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C17/00Read-only memories programmable only once; Semi-permanent stores, e.g. manually-replaceable information cards
    • G11C17/08Read-only memories programmable only once; Semi-permanent stores, e.g. manually-replaceable information cards using semiconductor devices, e.g. bipolar elements
    • G11C17/10Read-only memories programmable only once; Semi-permanent stores, e.g. manually-replaceable information cards using semiconductor devices, e.g. bipolar elements in which contents are determined during manufacturing by a predetermined arrangement of coupling elements, e.g. mask-programmable ROM
    • G11C17/12Read-only memories programmable only once; Semi-permanent stores, e.g. manually-replaceable information cards using semiconductor devices, e.g. bipolar elements in which contents are determined during manufacturing by a predetermined arrangement of coupling elements, e.g. mask-programmable ROM using field-effect devices
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C16/00Erasable programmable read-only memories
    • G11C16/02Erasable programmable read-only memories electrically programmable
    • G11C16/06Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
    • G11C16/26Sensing or reading circuits; Data output circuits
    • G11C16/28Sensing or reading circuits; Data output circuits using differential sensing or reference cells, e.g. dummy cells
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C16/00Erasable programmable read-only memories
    • G11C16/02Erasable programmable read-only memories electrically programmable
    • G11C16/06Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
    • G11C16/30Power supply circuits

Landscapes

  • Read Only Memory (AREA)
  • Semiconductor Memories (AREA)

Abstract

내용 없음.

Description

불휘발성 메모리회로
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명의 제1실시예에 따른 구성을 나타낸 회로도,
제2도는 제1구성의 회로의 동작을 나타내는 각 신호의 타이밍차트,
제3도는 제1도의 회로중 일부 회로의 구체적 구성을 나타낸 회로도.

Claims (4)

  1. 리드셀(12)측과 더미셀(15)측의 2개의 비트선출력을 플립플롭회로(18)에 의해 검출하는 프리챠지/디스챠지방식의 불휘발성 메모리에 있어서, 프리챠지 종료전에 디스챠지를 개시하는 수단을 갖춘 프리챠지신호를 발생시키는 제1논리회로(22)와 디스챠지신호를 발생시키는 제2논리회로(21)를 구비하여 구성된 것을 특징으로 불휘발성 메모리회로.
  2. 제1항에 있어서, 상기 프리챠지신호는 상기 디스챠지신호를 입력으로 한 상기 재1논리회로(22)의 출력인 것을 특징으로 하는 불휘발성 메모리회로.
  3. 제1항에 있어서, 상기 프리챠지신호와 디스챠지신호를 발생시키는 제1및 제2논리회로(22,21)에 입력되는 클럭신호중 제1논리회로(22)의 입력을 지연시키는 지연회로(23)를 설치한 것을 특징으로 하는 불휘발성 메모리회로.
  4. 제1항에 있어서, 상기 프리챠지신호와 디스챠지신호를 발생시키는 제1및 제2논리회로(22,21)의 출력중 제1논리회로(22)의 출력을 지연시키는 지연회로 (24)를 설치한 것을 특징으로 하는 불휘발성 메모리회로.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019920015246A 1991-08-30 1992-08-25 불휘발성 메모리의 독출회로 KR960002007B1 (ko)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP91-219932 1991-08-30
JP21993291A JP2637314B2 (ja) 1991-08-30 1991-08-30 不揮発性メモリ回路

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR930005033A true KR930005033A (ko) 1993-03-23
KR960002007B1 KR960002007B1 (ko) 1996-02-09

Family

ID=16743283

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019920015246A KR960002007B1 (ko) 1991-08-30 1992-08-25 불휘발성 메모리의 독출회로

Country Status (5)

Country Link
US (1) US5270978A (ko)
EP (1) EP0530713B1 (ko)
JP (1) JP2637314B2 (ko)
KR (1) KR960002007B1 (ko)
DE (1) DE69225366T2 (ko)

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001167591A (ja) * 1999-12-08 2001-06-22 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体記憶装置
US5640114A (en) * 1995-12-27 1997-06-17 Vlsi Technology, Inc. Versatile select and hold scan flip-flop
US5703809A (en) * 1996-10-01 1997-12-30 Microchip Technology Incorporated Overcharge/discharge voltage regulator for EPROM memory array
JPH11213684A (ja) * 1998-01-28 1999-08-06 Toshiba Corp 不揮発性半導体メモリ
JP3401522B2 (ja) * 1998-07-06 2003-04-28 日本電気株式会社 ヒューズ回路及び冗長デコーダ回路
KR100527593B1 (ko) * 1998-07-21 2006-02-13 주식회사 하이닉스반도체 비트라인 프리차지 전압(vblp) 및 셀 플레이트전압(vcp) 제어 장치
JP2004158111A (ja) * 2002-11-06 2004-06-03 Toshiba Corp メモリ回路
US6909639B2 (en) * 2003-04-22 2005-06-21 Nexflash Technologies, Inc. Nonvolatile memory having bit line discharge, and method of operation thereof
US7050354B2 (en) * 2003-12-16 2006-05-23 Freescale Semiconductor, Inc. Low-power compiler-programmable memory with fast access timing
DE102015004824A1 (de) * 2015-04-14 2016-10-20 Infineon Technologies Ag Verfahren und Vorrichtung zum Steuern von Strom in einer Array-Zelle

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4571708A (en) * 1984-12-26 1986-02-18 Mostek Corporation CMOS ROM Data select circuit
US4638459A (en) * 1985-01-31 1987-01-20 Standard Microsystems Corp. Virtual ground read only memory
JPS61181000A (ja) * 1985-02-06 1986-08-13 Matsushita Electric Ind Co Ltd ダイナミツクrom回路
FR2610134B1 (fr) * 1987-01-27 1989-03-31 Thomson Semiconducteurs Circuit de lecture pour memoire
JPH0682520B2 (ja) * 1987-07-31 1994-10-19 株式会社東芝 半導体メモリ
JPH07105152B2 (ja) * 1988-03-09 1995-11-13 株式会社東芝 不揮発性メモリ回路装置
KR930000963B1 (ko) * 1988-03-09 1993-02-11 가부시기가이샤 도오시바 불휘발성 메모리 회로장치
JPH0770235B2 (ja) * 1988-06-24 1995-07-31 株式会社東芝 不揮発性メモリ回路装置
JP2573335B2 (ja) * 1988-11-09 1997-01-22 株式会社東芝 不揮発性メモリ
JP2573380B2 (ja) * 1989-12-22 1997-01-22 株式会社東芝 不揮発性半導体メモリ

Also Published As

Publication number Publication date
US5270978A (en) 1993-12-14
EP0530713B1 (en) 1998-05-06
DE69225366D1 (de) 1998-06-10
JPH05109290A (ja) 1993-04-30
EP0530713A3 (ko) 1994-02-02
EP0530713A2 (en) 1993-03-10
KR960002007B1 (ko) 1996-02-09
DE69225366T2 (de) 1998-10-01
JP2637314B2 (ja) 1997-08-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR860009427A (ko) 2-위상 클록신호 공급 쉬프트 레지스터형 반도체 메모리장치
KR920010631A (ko) 동기형 다이나믹 ram
KR950034264A (ko) 지연 고정 루프를 사용한 메모리 기록 제어
KR850003610A (ko) 반도체 메모리 장치
KR870008439A (ko) 반도체장치의 시간지연회로
KR960032493A (ko) 집적 회로 메모리
KR880011803A (ko) 메모리 장치
TW430806B (en) Memory device having row decoder
KR950034777A (ko) 반도체 기억장치
KR930005033A (ko) 불휘발성 메모리회로
KR850003479A (ko) 반도체 집적 회로
KR910003666A (ko) 반도체기억장치의 데이터출력제어회로
KR960042730A (ko) 반도체기억장치
KR870002697A (ko) 다이나믹형 반도체 기억장치용 클럭신호 발생회로
KR890007430A (ko) 반도체 장치의 출력회로
KR970076814A (ko) 어드레스 트랜지션 검출 회로를 갖는 펄스 발생 회로
KR890017702A (ko) 반도체메모리
KR850008567A (ko) 반도체 집적회로
KR910006994A (ko) 센스 앰프회로
KR900017291A (ko) 지연 회로
KR960039000A (ko) 기입 사이클 시간을 감소시키기 위해 펄스 발생기를 갖는 반도체 스태틱 메모리 장치
KR20010045945A (ko) 반도체 메모리의 어드레스 천이 검출 회로
KR100211770B1 (ko) 버스트 어드레스 레지스터
KR950024431A (ko) 스태틱 램(sram)의 어드레스 입력회로
KR840005634A (ko) 클럭 재생회로

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
G160 Decision to publish patent application
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20030130

Year of fee payment: 8

LAPS Lapse due to unpaid annual fee