KR930001064A - 주 기억 장치의 자체 시험 시간 단축 방법 - Google Patents

주 기억 장치의 자체 시험 시간 단축 방법 Download PDF

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KR930001064A KR1019910009597A KR910009597A KR930001064A KR 930001064 A KR930001064 A KR 930001064A KR 1019910009597 A KR1019910009597 A KR 1019910009597A KR 910009597 A KR910009597 A KR 910009597A KR 930001064 A KR930001064 A KR 930001064A
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김홍석
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정몽헌
현대전자산업 주식회사
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    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F12/00—Accessing, addressing or allocating within memory systems or architectures

Abstract

내용 없음

Description

주기억장치의 자체 시험시간 단축방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 종래의 주기억장치의 자체시험 방법의 흐름도.
제2도는 본 발명이 적용되는 시스템의 구성도.
제3도는 본 발명에 의한 주기억장치의 자체시험 시간단축 방법의 흐름도.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
1 : MPU 2 : RAC
3 : ACG 4 : DCSG
5 : DC 6 : 주기억장치

Claims (1)

  1. MPU(Micro Process Unit)(1), ACG(Address Control Generator)(3), RAC(Refresh Address Controler)(2), DCSG(DRAM Control Signal Generator)(4), DC(Data Controler)(5), 및 DRAM 어레이로 구성된 주기억장치(6)을 포함하여 구성되는 시스템의 주기억장치의 자체시험시간 단축방법에 있어서; 시스템 프로그램을 로드시키고 멀티비트 시험모드로의 진입을 위한 제어신호를 발생시켜 멀티비트시험모드로 진입하는 제1단계, 어드레스를 순서대로 발생시키면서 워드단위로 전체데이타에 대해 쓰기동작을 수행하는 제2단계, 어드레스를 순서대로 발생시키면서 워드단위로 읽기 동작을 수행하고 에러를 검색하는 제3단계, 및 재생사이클(Refresh Cycle)을 돌리고 사용자 프로그램을 로드시켜 정상상태로 복귀하는 제4단계에 의해 수행되는 것을 특징으로 하는 주기억장치의 자체 시험 시간 단축 방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019910009597A 1991-06-11 1991-06-11 주기억장치의 자체 시험시간 단축방법 KR930004427B1 (ko)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR960041206A (ko) * 1995-05-26 1996-12-19 이현태 폴리프로필렌의 제조방법
KR100380019B1 (ko) * 1998-03-20 2003-11-28 주식회사 엘지화학 올레핀중합용촉매의제조방법
KR100417257B1 (ko) * 1999-06-04 2004-02-05 주식회사 엘지화학 올레핀 중합 촉매의 제조 방법
KR20200138709A (ko) * 2019-05-28 2020-12-10 차이나 에너지 그룹 닝샤 콜 인더스트리 씨오., 엘티디. 지글러-나타 촉매의 공업적 제조방법

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