KR920005155A - 반도체 기억장치의 데이타 증폭장치 - Google Patents
반도체 기억장치의 데이타 증폭장치 Download PDFInfo
- Publication number
- KR920005155A KR920005155A KR1019910012805A KR910012805A KR920005155A KR 920005155 A KR920005155 A KR 920005155A KR 1019910012805 A KR1019910012805 A KR 1019910012805A KR 910012805 A KR910012805 A KR 910012805A KR 920005155 A KR920005155 A KR 920005155A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- transistor
- drain
- gate
- power supply
- supply voltage
- Prior art date
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims 3
- 230000003321 amplification Effects 0.000 claims 3
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 claims 3
- 230000005669 field effect Effects 0.000 claims 2
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 claims 1
- 239000011574 phosphorus Substances 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/10—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
- G11C7/1051—Data output circuits, e.g. read-out amplifiers, data output buffers, data output registers, data output level conversion circuits
- G11C7/1069—I/O lines read out arrangements
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/4063—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
- G11C11/407—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
- G11C11/409—Read-write [R-W] circuits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/10—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
- G11C7/1051—Data output circuits, e.g. read-out amplifiers, data output buffers, data output registers, data output level conversion circuits
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Static Random-Access Memory (AREA)
- Dram (AREA)
Abstract
내용 없음
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제3도는 본 발명의 개략적인 블록도.
제8도는 본 발명을 사용한 다이나믹 램덤액세스 메모리의 블록도.
Claims (6)
- 한쌍의 비트라인(BL,BL)을 통해 메모리셀(1a,1b)로부터 독출된 데이타에 해당하는 입력신호(IN,IN)를 데이타 비스(DB,DB)를 경유하여 수신하고 상기 입력신호를 증폭하며, 전원전압(Vcc)을 근거로 하여 동작하는 전류 미러 회로 수단(2)을 포함하는 반도체 메모리의 데이타 증폭장치에 있어서, 동작전압을 수신하고, 상기 동작전압을 근거로 하여 데이타 버스상의 상기 입력신호의 진폭을 제한하는 진폭제한 수단(3), 및 상기 비트라인 및 상기 진폭제한 수단에 접속되며, 전원선보다 낮고 상기 진폭제한 수단에 인가된 상기 동작 전압으로 주어지는 비트라인 리셋 전위(VBL)를 발생하여 상기 비트라인과 상기 진폭제한 수단에 인가하는 비트라인 리셋 전위 발생수단(5)으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 데이타 증폭 장치.
- 제1항에 있어서, 상기 비트라인 리셋 전위 발생 수단이 상기 전원전압으로 부터 상기 비트라인 리셋 전위를 발생하는 수단(5)으로 이루어지고, 상기 비트라인 리셋 전위에 해당하는 상기 동작 전압이 상기 전원 전압의 약 1/2인 것을 특징으로 하는 데이타 증폭장치.
- 제1 또는 2항에 있어서, 상기 진폭 제한 수단이 상기 제1전원전압보다 낮은 상기 동작 전압을 수신하는 드레인, 상기 데이타 버스의 제1선에 연결된 소오스 및 소정의 인에이블 신호를 수신하는 게이트를 갖는 제1전계효과 트랜지스터(Trl), 및 상기 동작 전압을 수신하는 드레인, 상기 데이타 버스의 제2선에 연결된 소오스 및 상기 소정의 인에이블 신호를 수신하는 게이트를 갖는 제2전계효과 트랜지스터(Tr2)로 이루어지는 것을 특징으로 하는 데이타 증폭장치.
- 제1 내지 3항중 어느 한 항에 있어서, 상기 비트라인 리셋 전위 발생수단이 상기 전원전압을 수신하는 소오스, 소정의 인에이블 신호를 수신하는 게이트 그리고 드레인을 갖는 제1트랜지스터(Tr3), 상기 전원전압을 수신하는 소오스, 접지된 게이트 그리고 드레인을 갖는 제2트랜지스터(Tr4), 상기 전원전압으로 부터 상기 전원전압의 약 1/2인 기준 전압을 발생하는 기준 전압발생 수단(R,R), 상기 제1 및 2트랜지스터의 드레인에 접속된 소오스, 상기 기준 전압을 수신하는 게이트 그리고 드레인을 갖는 제3트랜지스터(Tr5), 상기 제1 및 2트랜지스터의 드레인에 연결된 소오스와, 게이트 그리고 드레인을 갖는 제4트랜지스터(Tr6), 상기 제3트랜지스터의드레인에 접속된 드레인과, 게이트 그리고 접지된 소오스를 갖는 제5트랜지스터(Tr7), 상기 제4트랜지스터의 드레인에 접속된 드레인, 접지된 소오스 및 상기 제5트랜지스터의 게이트에 접속된 게이트를 가지며, 상기 제5 및 6트랜지스터의 게이트가 제5 및 6트랜지스터 중의 한 드레인에 연결된 제6트랜지스터(Tr8), 및 상기 전원전압을 수신하는 소오스, 상기 제5 및 6트랜지스터 중의 한 드레인에 연결된 게이트 및 제4트랜지스터의 게이트에 접속된 드레인을 갖는 제7트랜지스터(Tr9)로 이루어지는 것을 특징으로 하고, 상기 비트라인 리셋전위가 상기 제7트랜지스터의 드레인에서 얻어지는 데이타 증폭장치.
- 제1 내지 4항중 어느 한 항에 있어서, 상기 전류 미러 회로 수단이 상기 전원전압을 수신하는 소오스와, 드레인 및 게이트를 갖는 제1 트랜지스터(Tr11), 상기 전원전압을 수신하는 소오스, 상기 제1트랜지스터의 게이트에 연결된 게이트 그리고 드레인을 갖는 제2 트랜지스터(Tr12), 상기 제1 트랜지스터의 드레인에 연결된 드레인, 상기 입력신호의 제1성분을 수신하는 게이트 그리고 소오스를 갖는 제3 트랜지스터(Tr13), 상기 제2 트랜지스터의 드레인에 연결된 드레인, 상기 입력신호의 제2성분을 수신하는 게이트 그리고 소오스를 갖는 제4 트랜지스터(Tr14) 및 상기 제3 및 4트랜지스터의 소오스에 연결된 드레인, 소정의 인에이블 신호를 수신하는 게이트 및 접지된 소오스를 갖는 제5 트랜지스터로 이루어지는 것을 특징으로 하고, 증폭된 출력신호는 상기 제3 및 4트랜지스터의 드레인에서 얻어지는 데이타 증폭장치.
- 한쌍의 비트라인 (BL,BL)을 경유하여 메모리셀(1a,1b)로부터 독출된 데이타에 해당하는 입력신호(IN,IN)를 데이타 비스(DB,DB)을 통하여 수신하고 상기 입력신호를 증폭하며, 전원전압(Vcc)을 근거로 하여 동작하는 전류 미러 회로 수단(2), 동작전압(Vcc/2)을 수신하고, 상기 동작 전압에 의거하여 소정의 전위 범위로 상기 데이타 버스상의 상기 입력신호의 진폭을 제한하는 진폭제한 수단(3) 및 상기 짖폭제한 수단에 접속되고, 상기 전원 전압으로 부터 상기 전원전압의 약1/2이 되는 상기 동작전압을 발생하는 발생수단(5)으로 이루어진 반도체 메모리의 데이타 증폭장치.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개되는 것임.
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2207167A JP2981263B2 (ja) | 1990-08-03 | 1990-08-03 | 半導体記憶装置 |
JP90-207167 | 1990-08-03 | ||
JP2-207167 | 1990-08-03 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR920005155A true KR920005155A (ko) | 1992-03-28 |
KR960012048B1 KR960012048B1 (ko) | 1996-09-11 |
Family
ID=16535342
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019910012805A KR960012048B1 (ko) | 1990-08-03 | 1991-07-25 | 반도체 기억장치의 데이타 증폭장치 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5222041A (ko) |
EP (1) | EP0469862B1 (ko) |
JP (1) | JP2981263B2 (ko) |
KR (1) | KR960012048B1 (ko) |
DE (1) | DE69118773D1 (ko) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3110113B2 (ja) * | 1991-11-21 | 2000-11-20 | 株式会社東芝 | スタティック型メモリ |
JP3020345B2 (ja) * | 1992-05-19 | 2000-03-15 | 株式会社 沖マイクロデザイン | 半導体記憶回路 |
JPH10312684A (ja) * | 1997-05-13 | 1998-11-24 | Fujitsu Ltd | 半導体集積回路 |
DE10121837C1 (de) * | 2001-05-04 | 2002-12-05 | Infineon Technologies Ag | Speicherschaltung mit mehreren Speicherbereichen |
US7548365B2 (en) * | 2007-06-06 | 2009-06-16 | Texas Instruments Incorporated | Semiconductor device and method comprising a high voltage reset driver and an isolated memory array |
JP5603043B2 (ja) * | 2009-09-15 | 2014-10-08 | ピーエスフォー ルクスコ エスエイアールエル | 半導体装置及び半導体装置を含む情報処理システム |
US8238183B2 (en) | 2009-09-15 | 2012-08-07 | Elpida Memory, Inc. | Semiconductor device and data processing system comprising semiconductor device |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07109707B2 (ja) * | 1985-03-25 | 1995-11-22 | 日立超エル・エス・アイ・エンジニアリング株式会社 | ダイナミツク型ram |
JPH07113863B2 (ja) * | 1985-06-29 | 1995-12-06 | 株式会社東芝 | 半導体集積回路装置 |
CA1242809A (en) * | 1985-12-20 | 1988-10-04 | Mitel Corporation | Data storage system |
JPS6419582A (en) * | 1987-07-15 | 1989-01-23 | Hitachi Ltd | Semiconductor memory device |
JPS6485896A (en) * | 1987-09-29 | 1989-03-30 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | Automatic ship body supporting device for small ship floating dock |
US4954992A (en) * | 1987-12-24 | 1990-09-04 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Random access memory having separate read out and write in bus lines for reduced access time and operating method therefor |
US4962326B1 (en) * | 1988-07-22 | 1993-11-16 | Micron Technology, Inc. | Reduced latchup in precharging i/o lines to sense amp signal levels |
JPH0271493A (ja) * | 1988-09-06 | 1990-03-12 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体メモリ装置 |
US5007012A (en) * | 1988-09-09 | 1991-04-09 | Advanced Micro Devices, Inc. | Fly-by data transfer system |
KR910005599B1 (ko) * | 1989-05-01 | 1991-07-31 | 삼성전자 주식회사 | 고밀도 반도체 메모리장치의 전원 공급전압 변환회로 |
-
1990
- 1990-08-03 JP JP2207167A patent/JP2981263B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1991
- 1991-07-25 US US07/735,004 patent/US5222041A/en not_active Expired - Lifetime
- 1991-07-25 KR KR1019910012805A patent/KR960012048B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1991-07-30 EP EP91306983A patent/EP0469862B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1991-07-30 DE DE69118773T patent/DE69118773D1/de not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR960012048B1 (ko) | 1996-09-11 |
US5222041A (en) | 1993-06-22 |
DE69118773D1 (de) | 1996-05-23 |
EP0469862B1 (en) | 1996-04-17 |
JP2981263B2 (ja) | 1999-11-22 |
EP0469862A3 (en) | 1993-06-16 |
JPH0490191A (ja) | 1992-03-24 |
EP0469862A2 (en) | 1992-02-05 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR930014605A (ko) | 다이나믹형 반도체 기억장치 | |
EP0196110B1 (en) | Sensing amplifier for random access memory | |
KR960042750A (ko) | 직류증폭이득의 설계 자유도가 높은 상보차동증폭기 및 그것을 사용한 반도체메모리장치 | |
KR920005155A (ko) | 반도체 기억장치의 데이타 증폭장치 | |
KR950034259A (ko) | 전류차 감지 방식의 고속 감지 증폭기 | |
KR850007714A (ko) | Mos 증폭회로 및 이를 사용한 반도체 메모리 | |
KR970051189A (ko) | 메모리의 데이타 읽기회로 | |
KR850002638A (ko) | 센스증폭기 | |
KR970031240A (ko) | 출력하한값에 대한 리미트기능을 갖는 증폭회로 및 상보형 증폭회로(amplifier circuit and complementary amplifier circuit with limiting function for output lower limit) | |
KR880006701A (ko) | 집적회로용 디지탈증폭장치 | |
KR980004981A (ko) | 다뱅크구조에서 데이터 입출력라인 로딩 축소장치 | |
KR950012467A (ko) | 센스 증폭기 | |
KR980004951A (ko) | 오판독 동작을 방지할 수 있는 감지 증폭기 회로 | |
KR870007517A (ko) | 반도체 기억장치 | |
KR0168159B1 (ko) | 플래쉬 메모리 장치 | |
KR950020721A (ko) | 반도체 기억소자의 감지 증폭기 | |
KR920000073A (ko) | 게이트어레이 메모리셀을 갖춘 반도체기억회로장치 | |
KR970013313A (ko) | 데이터 전송 장치 및 다이나믹 반도체 메모리 디바이스 | |
KR960035636A (ko) | 전류증폭형 센스 증폭기 | |
KR970063249A (ko) | 복수의 데이타를 동시에 출력하기 위한 다중 비트 라인 구조를 갖는 싱글-칩 메모리 시스템 | |
KR940012399A (ko) | 반도체 메모리 장치의 데이타 처리 방법 및 장치 | |
JPH087575A (ja) | センスアンプ及び半導体記憶装置 | |
KR920010634A (ko) | 센싱동작을 고속화한 dram | |
KR970057523A (ko) | 반도체 메모리 장치 | |
KR980005028A (ko) | 반도체 메모리장치의 감지증폭기 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
G160 | Decision to publish patent application | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20080911 Year of fee payment: 13 |
|
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |