KR850007714A - Mos 증폭회로 및 이를 사용한 반도체 메모리 - Google Patents
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Abstract
내용 없음
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명자등이 이미 개발된 메인앰프의 1예를 도시한 회로도. 제2도는 본 발명에 관한 MOS 증폭회로의 1실시예를 도시한 회로도. 제3도는 본 발명에 관한 메인앰프가 이용된 다이나믹형 RAM의 1실시예를 도시한 회로도.
Claims (5)
- 증폭회로는, 입력신호를 차동 증폭하는 제1 및 제2절연게이트 전계효과 트랜지스터, 상기 제1절연게이트 전계효과 트랜지스터의 드레인 전류와 대응된 전류가 그 드레인에 공급되는 제3절연게이트 전계효과 트랜지스터, 상기 제2절연게이트 전계효과 트랜지스터의 드레인 전류와 대응된 전류가, 그 드레인에 공급되는 제4절연게이트 전계효과 트랜지스터, 상기 제3절연게이트 전계효과 트랜지스터의 드레인전위를 상기 제4전계효과 트랜지스터의 게이트에 부여하고, 또한 상기 제4절연게이트 전계효과 트랜지스터의 드레인전위를 상기 제3절연게이트 전계효과 트랜지스터의 게이트에 부여하는 정귀환회로, 상기 제3절연게이트 전계효과 트랜지스터의 드레인 전위에 의해서 그 레벨이 결정죄는 제1출력노오드 및 상기 제4절연게이트 전계효과 트랜지스터의 드레인 전위에 의해서 그 레벨이 결정되는 제2출력노오드로 된다.
- 특허청구의 범위 제1항의 증폭회로는, 상기 제1절연게이트 전계효과 트랜지스터의 드레인 전류를 받아, 상기 제3절연게이트 전계효과 트랜지스터의 드레인에 공급되어야 할 전류를 출력하는 제1전류미러회로 및 상기 제2절연게이트 전계효과 트랜지스터의 드레인 전류를 받아서 상기 제4절연게이트 전계효과 트랜지스터의 드레인에 공급하여야 할 전류를 형성하는 제2전류미러회로로 된다.
- 특허청구의 범위 제2항의 증폭회로에 있어서, 제1 및 제2전류미러회로의 각각은, 제1찬넬 도전형 절연게이트 전계효과 트랜지스터로 구성되고, 상기 제1 내지 제4절연게이트 전계효과 트랜지스터는 상기 제 1찬넬 도전형에 대해서, 역도전형의 제2찬넬 도전형의 절연게이트 전계효과 트랜지스터로 된다.
- 특허청구의 범위 제3항의 증폭회로는, 또, 제2찬넬 도전형의 제5절연게이트 전계효과 트랜지스터로되며, 상기 제1 내지 제4절연게이트 전계효과 트랜지스터의 소오스는 공통 접속되고, 상기 제5절연게이트 전계효과 트랜지스터는 상기 공통 접속된 소오스와 회로의 기준전위점과의 사이에 마련되어 있다.
- 반도체 메로리는 다수개의 데이터선, 다수개의 워드선 및 각각의 데이터 입출력 단자가 그에 대응된 데이터선에 결합되어, 각각의 선택단자가 그에 대응된 워드선으로 결합된 다수개의 메모리셀로 되는 메모리 매트릭스, 1대의 공통 데이터선, 선택신호에 응답해서 상기 다수개의 데이터선중의 1조를 상기 1대의 공통데이터선에 결합시키는 키럼스위치회로 및 상기 1대의 공통데이터선에 결합된 1대의 입력단자를 가진 증폭회로로 되고, 상기 증폭회로는, 상기 공동데이터선 사이의 전위차가 그 게이트 사이에 부여되는 1대의 제1, 제2절연게이트 전계효과 트랜지스터와, 상기 제1절연게이트 전계효과 트랜지스터의 드레인전류와 대응된 전류가 그 드레인에 부여되는 제3절연게이트 전계효과 트랜지스터와, 상기 제2절연게이트 전계효과 트랜지스터의 드레인 전류와 대응된 전류가 그 드레인에 부여되는 제4절연게이트 전계효과 트랜지스터와, 상기 제3절연게이트 전계효과 트랜지스터의 드레인 전위를 상기 제4절연게이트 전계효과 트랜지스터의 게이트에 부여하고 또한 상기 제4절연게이트 전계효과 트랜지스터의 드레인전위를 상기 제3절연게이트 전계효과 트랜지스터의 게이트에 부여되는 정귀환회로와, 상기 제3절연게이트 전계효과 트랜지스터의 드레인전위에 의해서, 그 레벨이 결정되는 제1출력노오드와, 상기 제4절연게이트 전계효과 트랜지스터의 드레인전위에 의해서, 그 레벨이 결정되는 제2출력노오드로 된다.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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US5909049A (en) * | 1997-02-11 | 1999-06-01 | Actel Corporation | Antifuse programmed PROM cell |
US6281821B1 (en) * | 1997-09-30 | 2001-08-28 | Jason P. Rhode | Digital-to-analog converter with power up/down transient suppression and automatic rate switching |
JP2001127596A (ja) * | 1999-10-27 | 2001-05-11 | Nec Yamagata Ltd | ラッチ回路及びフリップフロップ回路 |
US6181169B1 (en) * | 1999-10-28 | 2001-01-30 | Integrated Technology Express, Inc. | High-speed rail-to-rail comparator |
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JPS5342633A (en) * | 1976-09-30 | 1978-04-18 | Toshiba Corp | Voltage sense circuit of semiconductor memory device |
US4247791A (en) * | 1978-04-03 | 1981-01-27 | Rockwell International Corporation | CMOS Memory sense amplifier |
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US4277702A (en) * | 1979-12-21 | 1981-07-07 | Hughes Aircraft Company | Charge comparator output driver |
JPS57198594A (en) * | 1981-06-01 | 1982-12-06 | Hitachi Ltd | Semiconductor storage device |
JPS58139506A (ja) * | 1982-02-13 | 1983-08-18 | Mitsubishi Electric Corp | 差動増幅回路 |
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