KR970013313A - 데이터 전송 장치 및 다이나믹 반도체 메모리 디바이스 - Google Patents

데이터 전송 장치 및 다이나믹 반도체 메모리 디바이스 Download PDF

Info

Publication number
KR970013313A
KR970013313A KR1019960037469A KR19960037469A KR970013313A KR 970013313 A KR970013313 A KR 970013313A KR 1019960037469 A KR1019960037469 A KR 1019960037469A KR 19960037469 A KR19960037469 A KR 19960037469A KR 970013313 A KR970013313 A KR 970013313A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
circuit
complementary output
output signal
transfer gate
data
Prior art date
Application number
KR1019960037469A
Other languages
English (en)
Other versions
KR100201245B1 (ko
Inventor
요시하루 아이모또
도오루 기무라
요시까즈 야베
Original Assignee
가네꼬 히사시
닛본덴기 가부시끼가이샤
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 가네꼬 히사시, 닛본덴기 가부시끼가이샤 filed Critical 가네꼬 히사시
Publication of KR970013313A publication Critical patent/KR970013313A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100201245B1 publication Critical patent/KR100201245B1/ko

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/401Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1051Data output circuits, e.g. read-out amplifiers, data output buffers, data output registers, data output level conversion circuits
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1006Data managing, e.g. manipulating data before writing or reading out, data bus switches or control circuits therefor

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Dram (AREA)
  • Static Random-Access Memory (AREA)
  • Electronic Switches (AREA)
  • Logic Circuits (AREA)
  • Dc Digital Transmission (AREA)

Abstract

제1 및 제2 전원 전압(GND, Vcc)에 의해 전원을 받는 데이터 전송 장치에 있어서, 데이터 출력 회로(1')는 제1 상보 출력 신호를 발생하며, 큰 부하 용량을 갖는 데이터 전송 회로(3')는 제1 상보 출력 신호를 전송하여, 제2 상보 출력 신호를 발생하고, 증폭기 회로(5')는 제2 상보 출력 신호를 증폭하여 제3 상보 출력 신호를 발생한다. 제1 전송 게이트 회로(2)는 데이터 출력 회로와 데이터 전송 회로 사이에 접속된다. 제2 전송 게이트 회로(4)는 데이터 전송 회로와 증폭기 회로 사이에 접속된다. 제1, 제2 및 제3 상보 출력 신호는 제1 전압과 제2 전압 사이의 대략 중간 레벨 된다.

Description

데이터 전송 장치 및 다이나믹 반도체 메모리 디바이스
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제12도는 본 발명에 따른 데이터 전송 장치의 제1실시예를 도시한 블록 회로도.

Claims (25)

  1. 제1 전원 전압(GND) 및 이 제1 전원 전압보다 높은 제2 전원 전압(Vcc)에 의해 전원을 받는 데이터 전송 장치에 있어서, 제1상보 출력 신호를 발생하는 데이터 출력 회로(1') : 큰 부하 용량을 갖는 것으로서, 상기 제1 상보 출력 신호를 전송하여 제2 상보 출력 신호를 발생하는 데이터 전송 회로(3') : 상기 제2 상보 출력 신호를 증폭하여 제3 상보 출력 신호를 발생하는 증폭기 회로(5') : 상기 데이터 출력 회로와 상기 데이터 전송 회로 사이에 접속된 제1 전송 게이트회로(2) : 상기 데이터 전송 회로와 상기 증폭기 회로 사이에 접속된 제2 전송 게이트 회로(4) : 및 상기 제1, 제2 및 제3 상보 출력 신호가 상기 제1 전압과 제2 전압 사이의 대략 중간 레벨이 되게 하는 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 데이터 전송 장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 수단은 상기 제1, 제2 및 제3 상보 신호의 라인을 상기 중간레벨로 프리차징하는 프리차징 회로를 포함하는 것을 특징으로 하는 데이터 전송 장치.
  3. 제2항에 있어서, 상기 수단은 상기 제1 상보 출력 신호를 등화하는 제1 등화기 회로 : 상기 제2 상보 출력 신호를 등화하는 제2 등화기 회로 : 및 상기 제3 상보 출력 신호를 등화하는 제3 등화기 회로를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 데이터 전송 장치.
  4. 제1항에 있어서, 상기 데이터 출력 회로, 상기 데이터 전송 회로 및 상기 증포기기 회로 각각은 상기 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 데이터 전송 장치.
  5. 제1항에 있어서, 상기 제1 및 제2 전송 게이트 회로와 상기 수단에 접속된 제어 회로(6)를 더 포함하며, 상기 제어 회로는 상기 수단을 제어하기 위한 제1 제어 신호(S1), 상기 제1 제어 신호의 발생 후에 상기 제1 전송 게이트 회로를 턴온 하기 위한 제2 제어 신호(S2) 및 사익 제2 제어 신호의 발생 후에 상기 제2 전송 게이트 회로를 턴온하기 위한 제3 제어 신호(S3)을 발생하는 것을 특징으로 하는 데이터 전송 장치.
  6. 제1항에 있어서, 상기 제1 및 제2 전송 게이트 회로는 N 채널 MOS 트랜지스터를 포함하며, 상기 N 채널 MOS 트랜지스터는 상기 제2 전압보다 높은 전압에 의해 제어되는 것을 특징으로 하는 데이터 전송 장치.
  7. 제1항에 있어서, 부가된 전송 게이트 회로(2A) 및 부가된 데이터 전송 회로(3'A)로 구성된 적어도 하나의 직렬 회로를 더 포함하며, 상기 직렬 회로는 상기 데이터 전송 회로와 상기 증폭기 회로 사이에 접속되며, 상기 부가된 데이터 전송 회로는 제4 상보 출력 신호를 발생하며, 상기 수단은 상기 제4 상보 출력 신호가 대략 상기 중간 레벨로 되게하는 것을 특징으로 하는 데이터 전송 장치.
  8. 제1항에 있어서, 제3 전송 게이트 회로(2B), 부가된 데이터 전송 회로(3'B), 제4 전송 게이트 회로(4B) 및 부가된 증폭기 회로(5'B)로 구성된 적어도 하나의 직렬 회로를 더 포함하며, 상기 직렬 회로는 상기 증폭기 회로에 접속되며, 상기 부가된 데이터 전송 회로는 제4 상보 출력 신호를 발생하며, 상기 부가된 증폭기 회로는 제5 상보 출력 신호를 발생하며, 상기 수단은 상기 제4 및 제5 상보 출력 신호가 대략 상기중간 레벨로 되게 하는 것을 특징으로 하는 데이터 전송 장치.
  9. 제1 전원 전압(GND) 및 이 제1 전원 전압보다 높은 제2 전원 전압(Vcc)에 의해 전원을 받는 데이터 전송 장치에 있어서, 제1 상보 출력 신호를 발생하는 제1 데이터 출려 회로(1') 및 제2 상보 출력 신호를 발생하기 위한 제1 증폭기 회로(5")를 포함하는 제1 입력/출력 회로 : 제3 상보 출력 신호를 발생하는 제2 데이터 출력 회로(1") 및 제4 상보 출력 신호를 발생하기 위한 제2 증폭기 회로(5')를 포함하는 제2 입력/출력 회로 : 큰 부하 용량을 갖는 것으로서, 상기 제1 상보 출력 신호를 전송하여 제5 상보 출력 신호를 발생하며, 상기 제3 상보 출력 신호를 전송하며 제6 상보 출력 신호를 발생하는 데이터 전송 회로(3') : 상기 제1 입력/출력 회로와 상기 데이터 전송회로 사이에 접속된 제1 전송 게이트 회로(2) : 상기 데이터 전송 회로와 상기 제2 입력/출력 회로 사이에 접속된 제2 전송 게이트 회로 : 및 상기 제1, 제2, 제3, 제4, 제5 및 제6 상보 출력 신호가 상기 제1 전압과 제2 전압 사이의 대략 중간 레벨로 되게 하는 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 데이터 전송 장치.
  10. 제9항에 있어서, 상기 수단은 상기 제1, 제2, 제3, 제4, 제5 및 제6 상보 신호의 라인들을 상기 중간 레벨로 프리차징하는 프리차징 회로를 포함하는 것을 특징으로 하는 데이터 전송 장치.
  11. 제10항에 있어서, 상기 수단은 상기 제1 상보 출력 신호를 등화하는 제1 등화기 회로 : 상기 제2 상보 출력 신호를 등화하는 제2 등화기 회로 : 상기 제3 상보 출력 신호를 등화하는 제3 등화기 회로 : 상기 제4 상보 출력 신호를 등화하는 제4 등화기 회로 : 및 상기 제5 및 제6 상보 출력 신호를 등화하는 제5 등화기 회로를 포함하는 것을 특징으로 하는 데이터 전송 장치.
  12. 제9항에 있어서, 상기 제1 및 제2 데이터 출력 회로, 상기 데이터 전송 회로 및 상기 제1 및 제2 증폭기 회로 각각은 상기 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 데이터 전송 장치.
  13. 제9항에 있어서, 상기 제1 및 제2 전송 게이트 회로와 상기 수단에 접속된 제어 회로(6)를 더 포함하며, 상기 제어 회로는 상기 수단을 제어하기 위한 제1 제어 신호(S1), 상기 제1 제어 신호의 발생 후에 상기 제1 및 제2 전송 게이트 회로 중 하나를 턴온하기 위한 제2 제어 신호(S2), 및 상기 제2 제어 신호의 발생 후에 상기 제1 및 제2 전송 게이트 회로 중 다른 하나를 턴온하기 위한 제3 제어 신호(S3)을 발생하는 것을 특징으로 하는 데이터 전송 장치.
  14. 제9항에 있어서, 상기 제1 및 제2 전송 게이트 회로는 N 채널 MOS 트랜지스터를 포함하며, 상기 N 채널 MOS 트랜지스터는 상기 제2 전압보다 높은 전압에 의해 제어되는 것을 특징으로 하는 데이터 전송 장치.
  15. 제9항에 있어서, 부가된 전송 게이트 회로(2A) 및 부가된 데이터 전송 회로(3'A)로 구성된 적어도 하나의 직렬 회로를 더 포함하며, 상기 직렬 회로는 상기 데이터 전송 회로와 상기 제2 입력/출력 회로 사이에 접속되며, 상기 부가된 데이터 전송 회로는 제6 및 제7 상보 출력 신호를 발생하며, 상기 수단은 상기 제5 및 제6 상보 출력 신호가 대략 상기 중간 레벨로 되게 하는 것을 특징으로 하는 데이터 전송 장치.
  16. 제9항에 있어서, 제3 전송 게이트 회로(2B), 부가된 데이터 전송 회로(3'B), 제4 전송 게이트 회로(4B) 및 제3 입력/출력 회로로 구성된 적어도 하나의 직렬 회로를 더 포함하며, 상기 직렬 회로는 상기 입력/출력 회로에 접속되며, 상기 부가된 데이터 전송 회로는 제5 및 제6 상보 출력 신호를 발생하며, 상기 제3 입력/출력 회로는 제7 및 제8 상보 출력 신호를 발생하며, 상기 수단은 상기 제5 내지 제8 상보 출력 신호가 대략 상기 중간 레벨로 되게 하는 것을 특징으로 하는 데이터 전송 장치.
  17. 제1 전원 전압(GND) 및 이 제1 전원 전압 보다 높은 제2 전원 전압(Vcc)에 의해 전원을 받는 다이나믹 반도체 메모리 디바이스에 있어서, 복수의 비트 라인 쌍(BL1, BL1) : 상기 비트 라인 중 선택된 라인에 접속되어 제1 상보 출력 신호를 발생하는 감지증폭기(11) : 큰 부하 용량을 갖는 것으로서, 상기 제1 상보 출력 신호를 전송하여 제2 상보 출력 신호를 발생하는 데이터 전송 회로(13') : 사익 제2 상보 출력 신호를 증폭하여 제3 상보 출력 신호를 발생하는 독출 증폭기 회로(15') : 상기 감지 증폭기와 상기 데이터 라인 회로 사이에 접속된 제1 전송 게이트 회로(12) : 상기 데이터 전송 라인 회로와 상기 독출 증폭기 회로 사이에 접속된 제2 전송 게이트 회로(14) : 및 상기 제1, 제2 및 제3 상보 출력 신호가 상기 제1 전압과 제2 전압 사이의 대략 중간 레벨로 되게 하는 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 다이나믹 반도체 메모리 디바이스.
  18. 제17항에 있어서, 상기 수단은 상기 제1, 제2 및 제3 상보 신호의 라인들을 상기 중간 레벨로 프리차징하는 프리차징 회로를 포함하는 것을 특징으로 하는 다이나믹 반도체 메모리 디바이스.
  19. 제18항에 있어서, 상기 수단은 상기 제1 상보 출력 신호를 등화하는 제1 등화기회로 : 상기 제2 상보 출력 신호를 등화하는 제2 등화기 회로 : 및 상기 제3 상보 출력 신호를 등화하는 제3 등화기 회로를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 다이나믹 반도체 메모리 디바이스.
  20. 제17항에 있어서, 상기 감지 증폭기, 상기 데이터 라인 회로 및 상기 독출 증폭기 각각은 상기 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 다이나믹 반도체 메모리 디바이스.
  21. 제17항에 있어서, 상기 제1 및 제2 전송 게이트 회로 및 상기 수단에 접속된 제어회로(16)를 더 포함하며, 상기 제어 회로는 상기 수단을 제어하기 위한 제1 제어 신호(S1), 상기 제1 제어 신호의 발생 후에 상기 감지 증폭기를 활성화시키기 위한 제2 제어 신호(S2), 상기 제2 제어 신호의 발생 후에 상기 제1 전송 게이트 회로를 턴온하기 위한 제3 제어 신호(S3), 상기 제3 제어 신호의 발생 후에 상기 제2 전송 게이트 회로를 턴온하기 위한 제4 제어 신호(S4), 및 상기 제4 제어 신호의 발생 후에 상기 독출 증폭기를 활성화시키기 위한 제5 제어 신호(S5)를 발생하는 것을 특징으로 하는 다이나믹 반도체 메모리 디바이스.
  22. 제18항에 있어서, 상기 데이터 라인 회로에 접속된 기입 증폭기(17)를 더 포함하며, 상기 제어 회로는 상기 감지 증폭기를 활성화시키기 위한 제7 제어 신호(S2) 및 상기 제7 제어 신호의 발생 후에 상기 제1 전송 게이트 회로를 턴온하기 위한 제8 제어 신호(S3)를 발생하는 것을 특징으로 하는 다이나믹 반도체 메모리 디바이스.
  23. 제17항에 있어서, 상기 제1 및 제2 전송 게이트 회로는 N 채널 MOS 트랜지스터를 포함하며, 상기 N채널 MOS 트랜지스터는 상기 제2 전압보다 높은 전압에 의해 제어되는 것을 특징으로 하는 다이나믹 반도체 메모리 디바이스.
  24. 제17항에 있어서, 부가된 데이터 라인 회로(13'A) 및 제3 전송 게이트 회로(14A)로 구성된 적어도 하나의 직렬 회로를 더 포함하며, 상기 직렬 회로는 상기 제2 전송 게이트 회로와 상기 독출 증폭기 회로 사이에 접속되며, 상기 부가된 데이터 전송 회로는 제4 상보 출력 신호를 발생하며, 상기 수단은 상기 제4 상보 출력 신호가 대략 상기 중간 레벨로 되게하는 것을 특징으로 하는 다이나믹 반도체 메모리 디바이스.
  25. 제17항에 있어서, 상기 제2 전송 게이트 회로에 접속된 제1 증폭기 회로(18) : 및 상기 제1 증폭기 회로에 접속된 제3 전송 게이트 회로(18)를 도 포함하며, 상기 디바이스는 부가된 데이터 라인 회로(13'B), 제4 전송 게이트 회로(14B), 제2 증폭기 회로(18B) 및 제5 전송 게이트 회로(19B)로 구성된 적어도 하나의 직렬 회로를 더 포함하며, 상기 직렬 회로는 상기 독출 증폭기 회로에 접속되며, 상기 부가된 데이터 라인 회로는 제4 상보 출력 신호를 발생하며, 상기 수단은 상기 제4 상보 출력 신호가 대략 상기 중간 레벨로 되게하는 것을 특징으로 하는 다이나믹 반도체 메모리 디바이스.
KR1019960037469A 1995-08-31 1996-08-31 데이터 전송 장치 및 다이나믹 반도체 메모리 디바이스 KR100201245B1 (ko)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7248674A JP2776327B2 (ja) 1995-08-31 1995-08-31 データ転送装置
JP95-248674 1995-08-31

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR970013313A true KR970013313A (ko) 1997-03-29
KR100201245B1 KR100201245B1 (ko) 1999-06-15

Family

ID=17181654

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019960037469A KR100201245B1 (ko) 1995-08-31 1996-08-31 데이터 전송 장치 및 다이나믹 반도체 메모리 디바이스

Country Status (3)

Country Link
US (1) US5815442A (ko)
JP (1) JP2776327B2 (ko)
KR (1) KR100201245B1 (ko)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100486239B1 (ko) * 1998-09-02 2005-07-07 삼성전자주식회사 등화 속도가 향상된 반도체 메모리장치

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7057957B2 (en) * 2004-03-26 2006-06-06 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company High speed and low power sense amplifier
US7606093B2 (en) * 2007-01-22 2009-10-20 United Memories, Inc. Optimized charge sharing for data bus skew applications

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS592996B2 (ja) * 1976-05-24 1984-01-21 株式会社日立製作所 半導体記憶回路
JP2685357B2 (ja) * 1990-12-14 1997-12-03 株式会社東芝 半導体記憶装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100486239B1 (ko) * 1998-09-02 2005-07-07 삼성전자주식회사 등화 속도가 향상된 반도체 메모리장치

Also Published As

Publication number Publication date
JP2776327B2 (ja) 1998-07-16
JPH0969771A (ja) 1997-03-11
US5815442A (en) 1998-09-29
KR100201245B1 (ko) 1999-06-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR930001226A (ko) 고속 센싱 동작을 수행하는 센스 앰프
KR100322540B1 (ko) 입출력 센스앰프가 차지하는 면적을 최소화하는 메모리 장치
KR920001542A (ko) 감지 증폭기를 갖는 반도체 메모리
KR20000039961A (ko) 반도체 집적회로의 증폭기
US5502681A (en) Column start signal generation circuit for memory device
EP0271067A2 (en) Method of sensing data at high speed, and dynamic semiconductor memory apparatus for realizing the method
KR930003143A (ko) 분할된 입출력 라인을 갖는 데이타 전송회로
KR100304084B1 (ko) 멀티뱅크 구성의 반도체 메모리장치
KR100548560B1 (ko) 메모리 장치용 비트라인 프리차지 신호 발생기
JP2004111031A (ja) 能動負荷回路を具備する半導体メモリ装置及びそれに関連した方法
KR970013313A (ko) 데이터 전송 장치 및 다이나믹 반도체 메모리 디바이스
JP3926037B2 (ja) ダイナミック型ram
KR950014255B1 (ko) 고속동작을 위한 데이타 패스 구조를 갖는 반도체 메모리소자
US5361236A (en) Serial access memory
KR100338336B1 (ko) 반도체 기억 장치 및 그 제어 방법
KR980004981A (ko) 다뱅크구조에서 데이터 입출력라인 로딩 축소장치
JPH0689577A (ja) 半導体記憶装置
US5822260A (en) Semiconductor memory device
US7079435B2 (en) Sense amplifier circuit to write data at high speed in high speed semiconductor memory
KR970051133A (ko) 고속 감지 증폭기
KR970023402A (ko) 반도체 메모리 장치의 데이타 고속 전송회로
KR0145859B1 (ko) 승압전압이 사용되는 컬럼선택수단을 구비하는 반도체 메모리
KR100388225B1 (ko) 센서앰프 출력 조정회로
KR100190761B1 (ko) 비트라인 감지 증폭기
KR100383263B1 (ko) 반도체 메모리 장치 및 이 장치의 배치 방법

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20100223

Year of fee payment: 12

LAPS Lapse due to unpaid annual fee