KR920004856A - 이벤트 한정 검사 아키텍춰 - Google Patents

Abstract

내용 없음

Description

이벤트 한정 검사 아키텍취

본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음

제1도는 IEEE 1149.1 경계주사 아키텍취를 실행하는 집적회로를 도시한 도면.

제2도는 본 발명의 검사 아키텍취의 블럭도.

제3도는 이벤트 한정 셀의 블럭도.

Claims (23)

1. 검사 기능을 실행하기 위한 검사 회로, 내부 메모리에 기억된 데이타와 비교 회로로의 데이타 입력을 비교하고 이에 응답하여 정합 신호를 발생시키기 위한 내부 메모리를 갖고 있는 비교 회로 및 상기 정합 신호에 응답하여 검사 회로를 제어하기 위해 상기 비교 회로에 결합되는 제어 회로를 포함하는 것을 특징으로 하는 이벤트 한정화 검사 아키텍취.
2. 제1항에 있어서, 상기 내부 메모리가 상기 입력 데이타와 비교되도록 비교 데이타를 기억하기 위한 제1메모리 및 마스크 데이타를 기억하기 위한 제1메모리 및 마스크 데이타를 기억하기 위한 제2메모리를 포함하는 것을 특징으로 하는 이벤트 한정화 검사 아키텍취.
3. 제2항에 있어서, 상기 제1 및 제2메모리들의 전이 레지스터를 포함하는 것을 특징으로 하는 이벤트 한정화 검사 아키텍취.
4. 제3항에 있어서, 상기 제1메모리가 한 입력 및 한 출력을 포함하고, 상기 출력이 기억된 데이타의 재순환을 허용하도록 입력에 선택적으로 결합되는 것을 특징으로 하는 이벤트 한정화 검사 아키텍취.
5. 제3항에 있어서, 상기 제2메모리가 한 입력 및 한 출력을 포함하고, 상기 출력이 기억된 데이타의 재순환을 허용하도록 입력에 선택적으로 결합되는 것을 특징으로 하는 이벤트 한정화 검사 아키텍취.
6. 제3항에 있어서, 각각의 상기 제1및 제2메모리가 한 입력 및 한 출력을 포함하고, 데이타가 상기 제1및 제2메모리들중 한 메모리로 부터 출력되고 상기 제1 및 제2메모리들중 다른 메모리로 입력되게 하도록 상기 제1 및 제2메모리들이 선택적으로 결합되는 것을 특징으로 하는 이벤트 한정화 검사 아키텍취.
7. 검사 기능을 실행하기 위한 검사회로, 내부 메모리에 기억된 데이타와 비교 회로로의 데이타 입력을 비교하고 이에 응답하여 정합 신호를 발생시키기 위한 내부 메모리를 갖고 있는 비교회로, 상기 정합 신호에 응답하여 검사 회로를 제어하기 위해 상기 비교 회로에 결합되는 제어 회로, 검사가 상기 검사 회로에 의해 반복되는 횟수를 표시하는 수를 기억하기 위해 제어 회로에 관련된 제1카운터, 선정된 이벤트가 발생되는 횟수를 표시하는 수를 기억하기 위해 상기 제어 회로에 관련된 제2카운터 및 다수의 카운트 값을 기억하기 위해 상기 제2카운터에 관련된 메모리를 포함하는 것을 특징으로 하는 검사 아키텍취.
8. 아날로그 신호를 이의 디지탈 표시로 변환하기 위한 아닐로그/디지탈 변환기, 선정된 비교 데이타와 상기 디지탈 표시를 비교하고, 숫자표시와 상기 선정된 비교 데이타 사이의 선정된 관계를 표시하는 정합 신호를 발생시키기 위한 회로 및 상기 정합 신호에 응답하여 검사를 실행하기 위한 회로를 포함하는 것을 특징으로 하는 신호 모니터.
9. 제8항에 있어서, 상기 비교 데이타를 기억하기 위한 회로를 포함하는 것을 특징으로 하는 신호 모니터.
10. 제8항에 있어서, 검사를 실행하기 위한 상기 회로가, 상기 디지탈 표시를 기억하기 위한 기억 회로, 상기 기억 회로를 제어하기 위한 제어 회로 및 검색을 위해 상기 기억 회로로 부터 데이타를 전송하기 위한 인터페이스 회로를 포함하는 것을 특징으로 하는 신호 모니터.
11. 제8항에 있어서, 상기 아닐로그/디지탈 변환기에 입력하기 위해 다수의 아날로그 신호들중 한개의 신호를 선택하기 위한 멀티플렉서를 포함하는 것을 특징으로 하는 신호 모니터.
12. 제8항에 있어서, 검사를 실행하기 위한 상기 회로가 외부적으로 발생된 신호에 응답하여 검사를 실행하도록 동작가능한 것을 특징으로 하는 신호 모니터.
13. 제8항에 있어서, 검사를 실행하기 위한 상기 회로가 상기 디지탈 표시를 기호로 압축하기 위한 회로를 포함하는 것을 특징으로 하는 신호 모니터.
14. 제8항에 있어서, 선정된 횟수 동안 상기 검사를 반복하기 위한 회로를 포함하는 것을 특징으로 하는 신호 모니터.
15. 아날로그 신호를 이의 디지탈 표시로 변환하기 위한 아닐로그/디지탈 변환기, 선정된 비교 데이타와 상기 디지탈 표시를 비교하고, 숫자 표시와 상기 선정된 비교 데이타 사이의 선정된 관계를 표시하는 정합 신호를 발생시키기 위한 회로, 상기 디지탈 표시를 기억하고 조작하기 위한 회로, 검사를 실행하기 위하여 기억 및 조작하기 위한 상기 회로를 제어하기 위한 제어 회로 및 검색을 위해 기억 및 조작하기 위한 상기 회로로 부터 데이타를 전송하기 위한 인터페이스 회로를 포함하는 것을 특징으로 하는 신호 모니터.
16. 제15항에 있어서, 선정된 횟수 동안 상기 검사를 반복하기 위한 회로를 포함하는 것을 특징으로 하는 신호 모니터.
17. 제15항에 있어서, 기억 및 조작을 위한 상기 회로가 상기 디지탈 표시를 압축하기 위한 회로를 포함하는 것을 특징으로 하는 신호 모니터.
18. 아날로그 신호를 이의 표시로 변환하는 단계, 선정된 비교 데이타와 상기 디지탈 표시를 비교하는 단계, 숫자 표시와 상기 선정된 비교 데이타 사이의 선정된 관계를 표시하는 정합 신호를 발생시키는 단계 및 상기 정합신호를 발생시키는 단계 및 상기 정합 신호에 응답하여 검사를 실행하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 신호 모니터링 방법.
19. 제18항에 있어서, 한 메모리 내에 상기 비교 데이타를 기억하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 모니터링 방법.
20. 제18항에 있어서, 상기 실행 단계가 상기 정합 신호에 응답하여 상기 디지탈 표시를 기억하고 검색을 위해 상기 기억 회로로 부터 데이타를 전송하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 모니터링 방법.
21. 제18항에 있어서, 디지탈 표시로 변환되도록 다수의 아날로그 신호들중 한개의 신호를 선택하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 모니터링 방법.
22. 제18항에 있어서, 검사를 실행하는 상기 단계가 기로호 상기 디지탈 표시를 압축하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 모니터링 방법.
23. 제18항에 있어서, 선정된 횟수 동안 상기 실행 단계를 반복하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 모니터링 방법.

    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.