JP2010244393A - パフォーマンス評価装置、及びパフォーマンス評価方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】パフォーマンス評価装置200は、評価対象プログラムに予め設定された測定区間の測定開始時点を示す測定開始信号SIG_STARTの到達から測定区間の測定終了時点を示す測定終了信号SIG_STOPの到達まで、評価対象プログラムの実行に伴って生じるイベントをカウントするイベントカウンタ部10と、反復して実行される測定区間の反復回数を、測定開始信号SIG_START及び測定終了信号SIG_STOPの少なくとも一方に基づいてカウントする反復回数カウンタ部20と、を備える。
【選択図】図1
Description
以下、図面を参照して本発明の実施の形態について説明する。図1は、マイクロプロセッサの概略的なブロック図である。図2は、評価対象のプログラムのパフォーマンス評価の手順を示す概略的なフローチャートである。図3は、マイクロプロセッサの動作を示す概略的なタイミングチャートである。
以下、図面を参照して本発明の実施の形態について説明する。図4は、マイクロプロセッサの概略的なブロック図である。図5は、マイクロプロセッサの動作を示す概略的なタイミングチャートである。
110 CPU
120 ブレーク判定部
200 パフォーマンス測定部
10 イベントカウンタ部
11 セレクタ
13 カウンタ部
14 レジスタ
15 カウンタ
20 反復回数カウンタ部
23 カウンタ部
25 カウンタ
29 ブレーク信号生成部
30 レジスタ
31 比較器
Claims (13)
- 評価対象プログラムに予め設定された測定区間の測定開始時点を示す測定開始信号の到達から前記測定区間の測定終了時点を示す測定終了信号の到達まで、前記評価対象プログラムの実行に伴って生じるイベントをカウントする第1カウンタ部と、
反復して実行される前記測定区間の反復回数を、前記測定開始信号及び前記測定終了信号の少なくとも一方に基づいてカウントする第2カウンタ部と、
を備えるパフォーマンス評価装置。 - 前記第2カウンタ部は、前記測定開始信号及び前記測定終了信号に応じた値を有する測定状態値の変化に基づいて、反復して実行される前記測定区間の反復回数をカウントすることを特徴とする請求項1に記載のパフォーマンス評価装置。
- 前記第1カウンタ部は、
互いに異なる内容の前記イベントの発生を通知する複数のイベント信号のうち、予め選択されたイベントに対応するイベント信号を選択し、選択した前記イベント信号をカウントすることを特徴とする請求項1又は2に記載のパフォーマンス評価装置。 - 前記第1カウンタ部は、
前記測定状態値を保持するレジスタと、
前記測定状態値の変化に応じて、前記イベントに対応するイベント信号のカウントを開始及び停止するカウンタと、
を備えることを特徴とする請求項2に記載のパフォーマンス評価装置。 - 前記第1カウンタ部は、
互いに異なる内容の前記イベントの発生を通知する複数の前記イベント信号のうち、予め選択されたイベントに対応するイベント信号を選択するセレクタを更に備えることを特徴とする請求項4に記載のパフォーマンス評価装置。 - 前記第2カウンタ部は、反復して実行される前記測定区間の反復回数に応じたカウント値が予め設定された値に到達したことを検出することを特徴とする請求項1乃至5のいずれか一項に記載のパフォーマンス評価装置。
- 評価対象プログラムを実行するCPUと、
前記評価対象プログラムに予め設定された測定区間の測定開始時点及び測定終了時点を検出して、測定開始信号及び測定終了信号を生成する信号生成部と、
前記測定開始信号の到達から前記測定終了信号の到達まで、前記評価対象プログラムの実行に伴って生じるイベントをカウントする第1カウンタ部と、
反復して実行される前記測定区間の反復回数を、前記測定開始信号及び前記測定終了信号の少なくとも一方に基づいてカウントする第2カウンタ部と、
を備える半導体集積装置。 - 前記第2カウンタ部は、前記測定開始信号及び前記測定終了信号に応じた値を有する測定状態値の変化に基づいて、反復して実行される前記測定区間の反復回数をカウントすることを特徴とする請求項7に記載の半導体集積装置。
- 前記第1カウンタ部は、
互いに異なる内容の前記イベントの発生を通知する複数のイベント信号のうち、予め選択された前記イベントに対応する前記イベント信号を選択し、選択した前記イベント信号をカウントすることを特徴とする請求項7又は8に記載の半導体集積装置。 - 前記第1カウンタ部は、
前記測定状態値を保持するレジスタと、
前記測定状態値に応じて、前記イベントに対応するイベント信号のカウントを開始及び停止するカウンタと、
を備えることを特徴とする請求項8に記載の半導体集積装置。 - 前記第1カウンタ部は、
互いに異なる内容の前記イベントの発生を通知する複数の前記イベント信号のうち、予め選択されたイベントに対応するイベント信号を選択するセレクタを更に備えることを特徴とする請求項10に記載の半導体集積装置。 - 前記第2カウンタ部は、反復して実行される前記測定区間の反復回数に応じたカウント値が予め設定された値に到達したことを検出することを特徴とする請求項7乃至11のいずれか一項に記載の半導体集積回路。
- 評価対象プログラムに予め設定された測定区間の測定開始時点を示す測定開始信号の到達から前記測定区間の測定終了時点を示す測定終了信号の到達まで、前記評価対象プログラムの実行に伴って生じるイベントをカウントし、
反復して実行される前記測定区間の反復回数を、前記測定開始信号及び前記測定終了信号の少なくとも一方に基づいてカウントする、
パフォーマンス評価方法。
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