CN110763974B - 突波量测装置与突波量测方法 - Google Patents

突波量测装置与突波量测方法 Download PDF

Info

Publication number
CN110763974B
CN110763974B CN201810840135.7A CN201810840135A CN110763974B CN 110763974 B CN110763974 B CN 110763974B CN 201810840135 A CN201810840135 A CN 201810840135A CN 110763974 B CN110763974 B CN 110763974B
Authority
CN
China
Prior art keywords
signal
counting
circuit
generate
input signal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN201810840135.7A
Other languages
English (en)
Other versions
CN110763974A (zh
Inventor
汪鼎豪
李柏辰
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd
Global Unichip Corp
Original Assignee
Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd
Global Unichip Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd, Global Unichip Corp filed Critical Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd
Priority to CN201810840135.7A priority Critical patent/CN110763974B/zh
Publication of CN110763974A publication Critical patent/CN110763974A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN110763974B publication Critical patent/CN110763974B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2832Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
    • G01R31/2836Fault-finding or characterising
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R29/00Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R19/00 - G01R27/00

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Manipulation Of Pulses (AREA)

Abstract

本发明揭露一种突波量测装置与突波量测方法。突波量测装置包含计数电路系统与侦测电路系统。计数电路系统耦接至待测电路。计数电路系统用以根据送入待测电路的一输入信号执行一第一计数操作以产生一第一计数信号,并根据待测电路送出的一输出信号执行一第二计数操作以产生一第二计数信号。侦测电路系统耦接至待测电路与计数电路系统。侦测电路系统用以根据该输入信号接收第一计数信号与第二计数信号,并根据第一计数信号与第二计数信号产生一突波指示信号。本案所提供的突波量测装置与突波量测方法可用于可通过侦测待测电路的输入信号与输出信号,以判断待测电路的操作是否会误产生突波。

Description

突波量测装置与突波量测方法
技术领域
本案是有关于一种突波量测装置,且特别是有关于可利用计数电路的突波量测装置与突波量测方法。
背景技术
在实际应用中,电子电路常受到噪声干扰。这些噪声通常来自多个不同来源。例如,当延迟线电路所欲调整的延迟时间过大时,可能对其输出信号上造成不必要的突波(glitch),而让电子电路的操作发生故障或让电子电路的效能降低。
发明内容
为了解决上述问题,本案的一些态样是提供一种突波量测装置,其耦接至一待测电路。突波量测装置包含计数电路系统与侦测电路系统。计数电路系统耦接至该待测电路。计数电路系统用以根据送入该待测电路的一输入信号执行一第一计数操作以产生一第一计数信号,并根据该待测电路送出的一输出信号执行一第二计数操作以产生一第二计数信号。侦测电路系统耦接至该待测电路与该计数电路系统。该侦测电路系统用以根据该输入信号接收该第一计数信号与该第二计数信号,并根据该第一计数信号与该第二计数信号产生一突波指示信号。
于一些实施例中,其中在执行该第一计数操作与该第二计数操作前,该计数电路系统用以被该输出信号重置。
于一些实施例中,其中该计数电路系统包含一正反器。该正反器用以被该输出信号触发以输出一电压以重置该计数电路系统。
于一些实施例中,其中该计数电路系统包含第一计数电路与第二计数电路。第一计数电路用以被关联于该输出信号的一电压重置,以根据该输入信号执行该第一计数操作以产生该第一计数信号。第二计数电路用以被该电压重置,以根据该输出信号执行该第二计数操作以产生该第二计数信号。
于一些实施例中,其中该侦测电路系统包含第一正反器、第二正反器与比较电路。第一正反器用以被该输入信号触发以根据该第一计数信号产生一第一数据值。第二正反器用以被该输入信号触发以根据该第二计数信号产生一第二数据值。比较电路用以比较该第一数据值与该第二数据值,并在该第一数据值与该第二数据值不同时产生具有一对应逻辑值的该突波指示信号。
于一些实施例中,其中该比较电路为一异或门电路。
于一些实施例中,其中该待测电路为一延迟线电路,该延迟线电路用以根据一延迟控制信号延迟该输入信号以产生该输出信号。
本案的一些实施态样用于提供一种突波量测方法,其包含下列操作:分别根据关联于一待测电路的一输入信号以及一输出信号执行一第一计数操作与一第二计数操作,以产生一第一计数信号与一第二计数信号,其中该待测电路根据该输入信号产生该输出信号;以及根据该输入信号接收该第一计数信号与该第二计数信号,并根据该第一计数信号与该第二计数信号产生一突波指示信号。
于一些实施例中,其中产生该第一计数信号与该第二计数信号包含:根据该输出信号触发一正反器以产生一第一电压;根据该第一电压重置一第一计数电路,以根据该输入信号执行该第一计数操作以产生该第一计数信号;以及根据该第一电压重置一第二计数电路,以根据该输出信号执行该第二计数操作以产生该第二计数信号。
于一些实施例中,其中产生该突波指示信号包含:根据该输入信号触发一第一正反器,以根据该第一计数信号产生一第一数据值;根据该输入信号触发一第二正反器,以根据该第二计数信号产生一第二数据值;以及在该第一数据值与该第二数据值不同时产生具有一对应逻辑值的该突波指示信号。
综上所述,本案所提供的突波量测装置与突波量测方法可用于可通过侦测待测电路(如延迟线电路)的输入信号与输出信号,以判断待测电路的操作是否会误产生突波。
附图说明
为让本揭示内容的上述和其他目的、特征、优点与实施例能更明显易懂,所附附图的说明如下:
图1为根据本案一些实施例所绘示的一种突波量测装置的示意图;
图2为根据本案的一些实施例所绘示如图1中突波量测装置的电路示意图;
图3为根据本案的一些实施例所绘示如图2中突波量测装置的相关波形示意图;以及
图4为根据本案的一些实施例所绘示的一种突波量测方法的流程图。
具体实施方式
本文所使用的所有词汇具有其通常的意涵。上述的词汇在普遍常用的字典中的定义,在本说明书的内容中包含任一于此讨论的词汇的使用例子仅为示例,不应限制到本揭示内容的范围与意涵。同样地,本揭示内容亦不仅以于此说明书所示出的各种实施例为限。
在本文中,使用第一、第二与第三等等的词汇,是用于描述各种元件、组件、区域、层与/或区块是可以被理解的。但是这些元件、组件、区域、层与/或区块不应该被这些术语所限制。这些词汇只限于用来辨别单一元件、组件、区域、层与/或区块。因此,在下文中的一第一元件、组件、区域、层与/或区块也可被称为第二元件、组件、区域、层与/或区块,而不脱离本案的本意。本文中所使用的“与/或”包含一或多个相关联的项目中的任一者以及所有组合。
关于本文中所使用的“耦接”或“连接”,均可指二或多个元件相互直接作实体或电性接触,或是相互间接作实体或电性接触,亦可指二或多个元件相互操作或动作。
于本文中,用语“电路系统(circuitry)”泛指包含一或多个电路(circuit)所形成的单一系统。用语“电路”泛指由一或多个晶体管与/或一或多个主被动元件按一定方式连接以处理信号的物件。
参照图1,图1为根据本案一些实施例所绘示的一种突波(glitch)量测装置100的示意图。于一些实施例中,突波量测装置100耦接至待测电路100A,以量测待测电路100A基于输入信号SI所产生的输出信号SO上是否出现突波。于不同实施例中,待测电路100A可为各种电路,例如可为后述图2的延迟线电路200A,但本案并不以此为限。
于一些实施例中,突波量测装置100包含计数电路系统110以及侦测电路系统120。计数电路系统110耦接至待测电路100A,以接收输出信号SO以及输入信号SI。计数电路系统110用以根据输入信号SI执行计数操作,以产生计数信号SC1。计数电路系统110用以根据输出信号SO执行另一计数操作,以产生计数信号SC2。
侦测电路系统120耦接至待测电路100A与计数电路系统110,以接收多个计数信号SC1~SC2以及输入信号SI。侦测电路系统120用以根据输入信号SI接收多个计数信号SC1~SC2,并根据这些计数信号SC1~SC2产生突波指示信号SD,其中突波指示信号SD用以指示输出信号SO上出现突波。
举例而言,当输出信号SO上出现突波时,计数信号SC1将不同于计数信号SC2。于此条件下,侦测电路系统120可产生具有对应逻辑值(例如为逻辑1)的突波指示信号SD,以指示输出信号SO上出现突波。此处的详细操作将于后述段落参照图2~图3说明。
以下段落将以说明上述多个电路系统的实施方式,但本案并不以后述实施例为限。
参照图2,图2为根据本案的一些实施例所绘示如图1中突波量测装置100的电路示意图。为易于理解,图1与图2中的类似元件将被指定为相同标号。
于此例中,前述的待测电路100A可为延迟线电路200A,其中延迟线电路200A根据延迟控制信号CN延迟输入信号SI以产生输出信号SO。于一些实施例中,延迟线电路200A可由多级数位电路实施,但本案并不以此为限。
于一些实施例中,计数电路系统110包含计数电路211~212以及正反器213。正反器213耦接至延迟线电路200A的输出以接收输出信号SO。正反器213被输出信号SO触发以输出电压V1至计数电路211~212,以重置计数电路211~212。换言之,在执行相关的计数操作前,计数电路系统110(即计数电路211~212)可先被关联于输出信号SO的电压V1重置。如此,可确保计数电路211~212不会因为输入信号SI与输出信号SO之间的延迟误动作,进而避免侦测电路系统120产生错误的突波指示信号SD。
计数电路211耦接至正反器213以及延迟线电路200A以接收电压V1以及输入信号SI。于一些实施例中,计数电路211被电压V1重置,并在重置后根据输入信号SI执行计数操作以产生计数信号SC1。计数电路212耦接至正反器213以及延迟线电路200A,以接收电压V1以及输出信号SO。于一些实施例中,计数电路212被电压V1重置,并在重置后根据输出信号SO执行计数操作以产生计数信号SC2。
于一些实施例中,计数电路211与计数电路212可由正/负缘触发的上数计数器实施。于一些实施例中,计数电路211与计数电路212可由正/负缘触发的下数计数器实施。于一些实施例中,计数信号SC1~SC2可为多位的信号。上述关于计数电路211与计数电路212的设置方式仅为示例,关于计数电路211与计数电路212的各种设置方式皆为本案所涵盖的内容。
于一些实施例中,侦测电路系统120包含正反器221、正反器222以及比较电路223。正反器221耦接至延迟线电路200A以及计数电路211,以接收输入信号SI以及计数信号SC1。于一些实施例中,正反器221用以被输入信号SI触发以根据计数信号SC1产生数据值D1。正反器222耦接至延迟线电路200A以及计数电路212,以接收输入信号SI以及计数信号SC2。于一些实施例中,正反器222用以被输入信号SI触发以根据计数信号SC2产生数据值D2。换言之,于一些实施例中,正反器221与222设置以在被输入信号SI触发时分别接收计数信号SC1与计数信号SC2,以产生数据值D1~D2。
比较电路223耦接至正反器221以及正反器222,以接收数据值D1与数据值D2。于一些实施例中,比较电路223用以比较数据值D1与数据值D2。在数据值D1与数据值D2不同时,比较电路223产生具有一对应逻辑值(例如为逻辑1)的突波指示信号SD。
于一些实施例中,比较电路223可由异或门电路G1实施,但本案并不以此为限。各种可执行比较电路223的相同操作的电路设置方式皆为本案所涵盖的范围。
上述正反器213、221与222仅以D型正反器为例,但本案并不以此为限。各种型式的正反器皆为本案所涵盖的范围。
参照图3,图3为根据本案的一些实施例所绘示如图2中突波量测装置100的相关波形示意图。为易于理解,图1与图2中的类似元件将被指定为相同标号,且图3仅以3位的下数计数器的操作为例说明,但本案并不以此为限。
如图3所示,于正常操作下,计数电路211与212先根据电压V1重置而产生具有相同信号值“111”的数据值D1与D2。接着,计数电路211根据输入信号SI的上升边缘1~3依序执行下数操作,故正反器221经输入信号SI触发后依序产生信号值为“110”、“101”、“100”的数据值D1。同理,计数电路212根据输出信号SO的上升边缘依序执行下数操作,其中输出信号SO相当于经延迟后的输入信号SI,故正反器222经输入信号SI触发后依序产生信号值为“110”、“101”、“100”的数据值D2。于此条件下,比较电路223判定数据值D1相同于数据值D2而输出具有逻辑0的突波指示信号SD。
于时间T1,延迟控制信号CN的信号值被切换以改变延迟线电路200A的延迟时间。于某些情况下,将造成输出信号SO上误产生突波SG。因此,在输入信号SI的上升边缘4之前,输出信号SO上误产生了两次上升边缘5~6。于此条件下,计数电路212根据此两次上升边缘5~6执行两次下数操作(即由“100”下数两次至“010”)。据此,正反器222经输入信号SI触发后产生信号值为“010”的数据值D2。相对的,计数电路211根据输入信号SI的上升边缘4执行一次下数操作(即由“100”下数一次至“011”)。据此,正反器221经输入信号SI触发后产生信号值为“011”的数据值D1。因此,于此条件下,比较电路223判定数据值D1(即信号值“011”)不同于数据值D2(即信号值“010”)而输出具有逻辑1的突波指示信号SD。
通过上述设置方式,可通过判别突波指示信号SD的逻辑值有效地确认待测电路100A(于本例中为延迟线电路200A)的操作是否会引起突波。如此,可有效地对待测电路100A进行检查与后续修改。
参照图4,图4为根据本案的一些实施例所绘示的一种突波量测方法400的流程图。为易于理解,突波量测方法400将参照前述各附图进行描述。
于操作S410,分别根据关联于待测电路100A的输入信号SI以及输出信号SO执行多个计数操作,以产生计数信号SC1以及SC2。
例如,如先前图1~图2所示,计数电路211可根据送入延迟线电路200A的输入信号SI执行计数操作,以产生计数信号SC1。计数电路212可根据延迟线电路200A所送出的输出信号SO执行另一计数操作,以产生计数信号SC2。
于操作S420,根据输入信号SI接收计数信号SC1与计数信号SC2,并根据计数信号SC1与计数信号SC2产生突波指示信号SD,其中突波指示信号SD指示输出信号SO上出现一突波。
例如,如先前图1~图2所示,侦测电路系统120可被输入信号SI触发以根据计数信号SC1与计数信号SC2产生数据值D1与数据值D2。如图3所示,当数据值D1与数据值D2不同时,侦测电路系统120输出具有对应逻辑值(如为逻辑1)的突波指示信号SD,以指示输出信号SO上具有突波。
上述突波量测方法400的多个步骤仅为示例,并非限定需依照此示例中的顺序执行。在不违背本揭示内容的各实施例的操作方式与范围下,在突波量测方法400下的各种操作当可适当地增加、替换、省略或以不同顺序执行。
综上所述,本案所提供的突波量测装置与突波量测方法可用于可通过侦测待测电路(如延迟线电路)的输入信号与输出信号,以判断待测电路的操作是否会误产生突波。
虽然本案已以实施方式揭露如上,然其并非限定本案,任何熟悉此技艺者,在不脱离本案的精神和范围内,当可作各种的更动与润饰,因此本案的保护范围当视所附的权利要求书所界定的范围为准。

Claims (6)

1.一种突波量测装置,耦接至一待测电路,其特征在于,该突波量测装置包含:
一计数电路系统,耦接至该待测电路,该计数电路系统用以根据送入该待测电路的一输入信号执行一第一计数操作以产生一第一计数信号,并根据该待测电路送出的一输出信号执行一第二计数操作以产生一第二计数信号,该计数电路系统包含:
一第一计数电路,用以被关联于该输出信号的一电压重置,以根据该输入信号执行该第一计数操作以产生该第一计数信号;以及
一第二计数电路,用以被该电压重置,以根据该输出信号执行该第二计数操作以产生该第二计数信号;以及
一侦测电路系统,耦接至该待测电路与该计数电路系统,该侦测电路系统用以根据该输入信号接收该第一计数信号与该第二计数信号,并根据该第一计数信号与该第二计数信号产生一突波指示信号,该侦测电路系统包含:
一第一正反器,用以被该输入信号触发以根据该第一计数信号产生一第一数据值;
一第二正反器,用以被该输入信号触发以根据该第二计数信号产生一第二数据值;以及
一比较电路,用以比较该第一数据值与该第二数据值,并在该第一数据值与该第二数据值不同时产生具有一对应逻辑值的该突波指示信号。
2.根据权利要求1所述的突波量测装置,其特征在于,在执行该第一计数操作与该第二计数操作前,该计数电路系统用以被该电压重置。
3.根据权利要求2所述的突波量测装置,其特征在于,该计数电路系统包含:
一正反器,用以被该输出信号触发以输出该电压以重置该计数电路系统。
4.根据权利要求1所述的突波量测装置,其特征在于,该比较电路为一异或门电路。
5.根据权利要求1所述的突波量测装置,其特征在于,该待测电路为一延迟线电路,该延迟线电路用以根据一延迟控制信号延迟该输入信号以产生该输出信号。
6.一种突波量测方法,其特征在于,包含:
分别根据关联于一待测电路的一输入信号以及一输出信号执行一第一计数操作与一第二计数操作,以产生一第一计数信号与一第二计数信号,其中该待测电路根据该输入信号产生该输出信号,其中产生该第一计数信号与该第二计数信号还包含:
根据该输出信号触发一正反器,以产生一第一电压;
根据该第一电压重置一第一计数电路,以根据该输入信号执行该第一计数操作以产生该第一计数信号;以及
根据该第一电压重置一第二计数电路,以根据该输出信号执行该第二计数操作以产生该第二计数信号;以及
根据该输入信号接收该第一计数信号与该第二计数信号,并根据该第一计数信号与该第二计数信号产生一突波指示信号,其中产生该突波指示信号还包含:
根据该输入信号触发一第一正反器,以根据该第一计数信号产生一第一数据值;
根据该输入信号触发一第二正反器,以根据该第二计数信号产生一第二数据值;以及
在该第一数据值与该第二数据值不同时产生具有一对应逻辑值的该突波指示信号。
CN201810840135.7A 2018-07-27 2018-07-27 突波量测装置与突波量测方法 Active CN110763974B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201810840135.7A CN110763974B (zh) 2018-07-27 2018-07-27 突波量测装置与突波量测方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201810840135.7A CN110763974B (zh) 2018-07-27 2018-07-27 突波量测装置与突波量测方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN110763974A CN110763974A (zh) 2020-02-07
CN110763974B true CN110763974B (zh) 2022-02-18

Family

ID=69327688

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201810840135.7A Active CN110763974B (zh) 2018-07-27 2018-07-27 突波量测装置与突波量测方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN110763974B (zh)

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW381213B (en) * 1998-07-31 2000-02-01 Via Tech Inc Surge detector for power supply
CN1642010A (zh) * 2004-01-01 2005-07-20 华为技术有限公司 时钟锁定和频率偏差的检测装置
TW201031929A (en) * 2009-01-05 2010-09-01 Freescale Semiconductor Inc Clock glitch detection circuit
CN106712768A (zh) * 2016-12-12 2017-05-24 深圳市紫光同创电子有限公司 一种去毛刺频率锁定电路
CN110032479A (zh) * 2017-11-29 2019-07-19 台湾积体电路制造股份有限公司 抖动监测电路

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04248481A (ja) * 1991-02-01 1992-09-03 Advantest Corp Ic試験装置の論理比較回路
JP3338726B2 (ja) * 1993-12-28 2002-10-28 東北電力株式会社 サージ識別装置
IN2014CH00439A (zh) * 2014-01-30 2015-08-07 Mentor Graphics Corp

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW381213B (en) * 1998-07-31 2000-02-01 Via Tech Inc Surge detector for power supply
CN1642010A (zh) * 2004-01-01 2005-07-20 华为技术有限公司 时钟锁定和频率偏差的检测装置
TW201031929A (en) * 2009-01-05 2010-09-01 Freescale Semiconductor Inc Clock glitch detection circuit
CN106712768A (zh) * 2016-12-12 2017-05-24 深圳市紫光同创电子有限公司 一种去毛刺频率锁定电路
CN110032479A (zh) * 2017-11-29 2019-07-19 台湾积体电路制造股份有限公司 抖动监测电路

Also Published As

Publication number Publication date
CN110763974A (zh) 2020-02-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10277213B1 (en) Glitch detection in input/output bus
US8966355B2 (en) Apparatus and method for comparing pairs of binary words
JP2012516629A5 (zh)
US20160098333A1 (en) Detection of fault injection attacks
US20140316725A1 (en) Power noise histogram of a computer system
CN107422193B (zh) 一种测量单粒子翻转瞬态脉冲长度的电路及方法
TWI494573B (zh) 用於判斷第一接腳與第二接腳之連接狀態的檢測電路與檢測方法
CN110763974B (zh) 突波量测装置与突波量测方法
KR100962858B1 (ko) 디지털 시스템, 피검사 모듈에서의 에러 탐지 방법 및 패리티 함수를 조합의 설계 프로세스로 구현하는 방법
US7363568B2 (en) System and method for testing differential signal crossover using undersampling
US7710101B2 (en) Method and system for measuring maximum operating frequency and corresponding duty cycle for an I/O cell
US10128828B2 (en) Synchronous, internal clock edge alignment for integrated circuit testing
US11482992B2 (en) Clock sweeping system
TWI710770B (zh) 突波偵測裝置與突波偵測方法
US11243587B2 (en) Data processing device
JP2011199743A (ja) クロック異常検出回路
US4638482A (en) Random logic error detecting system for differential logic networks
CN111241780A (zh) 用于集成电路的防止故障注入控制信号的方法及集成电路
CN112532214B (zh) 用于判断时钟信号是否准确的检测方法和电路
TWI707544B (zh) 訊號偵測器與訊號偵測方法
US8539327B2 (en) Semiconductor integrated circuit for testing logic circuit
CN111239476B (zh) 信号检测器与信号检测方法
CN111273726B (zh) 占空比偏差补偿电路、方法及芯片
US11177799B2 (en) Debounce circuit with noise immunity and glitch event tracking
WO2020035937A1 (ja) 放射線計測装置

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant