KR910020912A - 반도체기억장치 - Google Patents
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Abstract
내용 없음
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명의 제1실시예를 나타낸 등가회로도, 제2도는 제1도의 셀구조를 나타낸 평면도, 제3도는 제2도의 3-3선에 따른 단면도, 제5도는 제1도에 도시된 펄스발생회로의 일례를 나타낸 회로구성도.
Claims (10)
- 선택트랜지스터(Q1)와, 이 선택트랜지스터(Q1)의 일단에 접속되는 기억노오드(SN) 및 이 기억노오드(SN)에 절연물을 매개하여 설치된 플레이트전극(PL)을 갖추고서, 상기 플레이트전극(PL)중 상기 기억노오드(SN)와 대응되는 부분에 기억노오드(SN)에 기억된 정보에 따라 반전층이 형성되는 캐패시터(SC), 상기 플레이트전극(PL)에 펄스신호를 공급하는 펄스발생수단(11)을 구비하여 구성된 것을 특징으로 하는 반도체기억장치.
- 제1항에 있어서, 상기 캐패시터(SC)는 상기 기억노오드(SN)가 게이트전극으로서 작용하고 상기 플레이트전극(PL)중 기억노오드(SN)와 대응되는 부분이 채널영역으로서 작용하는 박막트랜지스터구조로 되어 것을 특징으로 하는 반도체기억장치.
- 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 기억노오드(SN) 및 플레이트전극(PL)은 폴리실리콘 혹은 아몰퍼스 실리콘으로 구성되고, 또한 그 저불순물농도영역이 상기 채널영역으로 되어 있는 것을 특징으로 하는 반도체기억장치.
- 제1항에 있어서, 상기 펄스발생수단(11)은 기억정보의 독출시에 상기 플레이트전극(PL)을 승압시키는 펄스신호를 출력하는 것을 특징으로 하는 반도체기억장치.
- 제1항에 있어서, 상기 펄스발생수단(11)은 기억정보의 독출시에 선택트랜지스터(Q1)의 선택 이전에 상기 플레이트전극(PL)을 승압시키고, 선택트랜지스터(Q1)의 선택이 해제되기 이전에 상기 플레이트전극(PL)을 강압시킴으로써, 독출시에 "1"기억레벨을 승압시키며, 독출후에 기억정보를 기억노오드(SN)에 재기록시키는 펄스신호를 출력하는 것을 특징으로 하는 반도체기억장치.
- 선택트랜지스터(Q1)와, 이 선택트랜지스터(Q1)의 일단에 접속되는 기억노오드(SN) 및 이 기억노오드(SN)에 절연물을 매개하여 설치된 플레이트전극(PL)을 갖추고서, 상기 기억노오드(SN)가 게이트전극으로 작용하고 상기 플레이트전극(PL)중 기억노오드(SN)에 대응되는 부분이 채널영역으로 작용하는 박막트랜지스터구조의 캐패시터(SC), 정보의 독출시에 상기 플레이트전극(PL)을 하이레벨로 만드는 펄스발생수단(11)을 구비하여 구성된 것을 특징으로 하는 반도체기억장치.
- MOS형의 선택트랜지스터(Q1)와, 이 선택트랜지스터(Q1)의 한쪽 확산층상에 형성되며 기억노오드를 구성하는 제1반도체층(13), 이 제1반도체층(13)상에 절연막을 매개하여 설치되고 상기 제1반도체층(13)과 대응되는 부분이 저불순물농도의 채널영역(CH)으로 되며 그 이외의 부분은 고불순물농도의 플레이트전극(PL)으로 되고 기억정보의 독출시에 하이레벨로 되는 제2반도체층(14)을 구비하여 구성된 것을 특징으로 하는 반도체기억장치.
- 제7항에 있어서, 상기 제1, 제2반도체층(13, 14)이 폴리실리콘으로 구성되어 있는 것을 특징으로 하는 반도체기억장치.
- 제7항에 있어서, 상기 제2반도체층(14)이 아몰퍼스 실리콤으로 구성되어 있는 것을 특징으로 하는 반도체기억장치.
- 제7항에 있어서, 상기 제1, 제2반도체층(13, 14)이 단결정실리콘으로 구성되어 있는 것을 특징으로 하는 반도체기억장치.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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