KR910013549A - 트렌치형 기억소자의 트랜지스터와 축전기 연결창 제조방법 - Google Patents

트렌치형 기억소자의 트랜지스터와 축전기 연결창 제조방법 Download PDF

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KR910013549A
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memory device
type memory
trench type
capacitor connection
connection window
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KR1019890018830A
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서재범
박완준
곽덕영
Original Assignee
문정환
금성일렉트론 주식회사
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    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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    • H10B12/01Manufacture or treatment
    • H10B12/02Manufacture or treatment for one transistor one-capacitor [1T-1C] memory cells
    • H10B12/05Making the transistor
    • H10B12/053Making the transistor the transistor being at least partially in a trench in the substrate
    • HELECTRICITY
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    • H01L21/762Dielectric regions, e.g. EPIC dielectric isolation, LOCOS; Trench refilling techniques, SOI technology, use of channel stoppers
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    • H01L21/76801Applying interconnections to be used for carrying current between separate components within a device comprising conductors and dielectrics characterised by the formation and the after-treatment of the dielectrics, e.g. smoothing
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Abstract

내용 없음.

Description

트렌치형 기억소자의 트랜지스터와의 축전기 연결창 제조방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명을 나타낸 것으로,
(가)는 노광시간 조절에 의한 감광제의 부분식각을 나타낸 단면도,
(나)는 완성된 기억소자의 단면도,
(다)는 (나)의 등가회로도.

Claims (1)

  1. 기판(1)위에 트랜지스터를 형성하여 절연물질(5)로 절연시키고 트렌치를 식각하여 감광물질(7)을 덮은후 노광시간을 조절하여 상기 감광물질(7)을 n형 불순물 주입영역(3) (4) 깊이만큼 식각하므로 콘택창(8)을 형성하고, 절연물질(6) 식각후 남아있는 감광물질(7)을 제거하며 n형 다결정 실리콘(9)(l0)을 고불순물 상태로 증착시켜 축전기를 구성하고 이에 절연물질(11)을 증착하여 이 절연물질(6)이 n형 불순물 주입영역(4)과 콘택창(8)에 의해 연결되게함을 특징으로 하는 트렌치형 기억소자의 트랜지스터와 축전기 연결창 제조방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019890018830A 1989-12-18 1989-12-18 트렌치형 기억소자의 트랜지스터와 축전기 연결창 제조방법 KR910013549A (ko)

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