KR890017808A - 디램장치 및 제조방법 - Google Patents

디램장치 및 제조방법 Download PDF

Info

Publication number
KR890017808A
KR890017808A KR1019880005322A KR880005322A KR890017808A KR 890017808 A KR890017808 A KR 890017808A KR 1019880005322 A KR1019880005322 A KR 1019880005322A KR 880005322 A KR880005322 A KR 880005322A KR 890017808 A KR890017808 A KR 890017808A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
forming
polycrystalline silicon
pattern
conductive
gate
Prior art date
Application number
KR1019880005322A
Other languages
English (en)
Other versions
KR910002041B1 (ko
Inventor
진대제
김기남
신윤승
Original Assignee
강진구
삼성반도체통신 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 강진구, 삼성반도체통신 주식회사 filed Critical 강진구
Priority to KR1019880005322A priority Critical patent/KR910002041B1/ko
Publication of KR890017808A publication Critical patent/KR890017808A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR910002041B1 publication Critical patent/KR910002041B1/ko

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10BELECTRONIC MEMORY DEVICES
    • H10B12/00Dynamic random access memory [DRAM] devices

Landscapes

  • Semiconductor Memories (AREA)

Abstract

내용 없음

Description

디램장치 및 제조방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제 1 도는 본 발명에 따른 디램셀의 레이아웃 평면도. 제 2 도는 제 1 도를 a-a로 절단한 단면도, 제 3 도 (A)-(D)도는 본 발명에 따른 실시예의 제조공정도.

Claims (6)

  1. 소자 형성영역과 필드 산화막영역이 형성된 제 1 도전형의 반도체 기판상(50)에 하기의 공정을 구비하여 하기 공정의 연속으로 이루어짐을 특징으로 하는 디램의 제조방법.(a) 상기 기판(50)상에 게이트 절연막(55)을 형성하고 그 상부에 다결정 실리콘 게이트(56)를 형성하는 공정 (b) 상기 기판(50) 표면 하부에 제 2 도전형의 소오스 및 드레인 영역(57)(58)을 형성하는 공정 (c) 게이트 보호용 산화막(59)을 형성하고 상기 소오스 및 드레인 영역 상부에 접속창(61)(62)을 형성하는 공정 (d) 스토리지 다결정 실리콘층(63)을 형성하고 그 위에 마스크 패턴을 형성한후 에칭항여 스토리지 다결정 실리콘 패턴(63a)을 형성하는 공정 (e) 캐패시터의 유전물질층(70)을 형성하는 고정 (f) 플레이트 다결정 실리콘(71)을 도포하고 포토마스크 패턴(72)을 형성한 후 상기 포토마스트 패턴(72)을 에칭 마스크로하여 비트라인 접속창 영역(73)의 플레이트 다결정 실리콘(71)과 유전물질층(70)을 에칭하고 스토리지 다결정 실리콘(63a)을 소정두께 에칭하여 전도성의 연결물질을 형성하는 공정 (g) 내부 절연막(74)을 도포하고 비트라인을 접속하기 위한 접속창을 형성하고, 상기 접속창을 통하여 비트라인과 접속되게 다결정 실리콘 비트라인을 형성하는 공정.
  2. 제 1 항에 있어서, 제(d)공정에서 마스크 패턴이 스토리지 노드를 형성할 다결정 실리콘 상부에 제 1 질화막(64)을 형성하는 제 1 단계와, 제 1 질화막의 측벽에 제 2 질화막 스페이서(65)를 형성하는 제 2 단계로 이루어짐을 특징으로 하는 디램장치의 제조방법.
  3. 제 1 항에 있어서, 제(d)공정의 마스크 패터이 포토마스크를 형성하는 제 1 단계와, 포토마스크를 리플로우 하는 제 2 단계로 이루어짐을 특징으로 하는 디램장치의 제조방법.
  4. 제 1 항에 있어서, 제(d)공정 후에 다결정 실리콘을 도포하고 마스크 없이 에칭하여 상기 스토리지 다결정 실리콘 패턴이 측벽에 다결정 실리콘 스페이서를 형성하는 공정을 추가함을 특징으로 하는 디램장치의 제조방법.
  5. 제 1 항에 있어서, 제(f)공정에서 전도성의 연물질은 상기 전도성의 스토리지 노드와 동시에 도포되어, 상기 스토리지 노드의 패턴을 형성하는 제 1 단계와, 상기 셀 플레이트의 패턴을 형성하는 제 2 단계에 의해 형성됨을 특징으로 하는 디램장치의 제조방법.
  6. 반도체 기판과, 상기 전하를 저장하기 위한 스토리지 캐패시터와 상기 스토리지 캐패시터에 전하를 전달하기 위한 게이트, 소오스 및 드레인을 가진 전달트랜지스터를 구비한 디램에 있어서, 기판표면에 채널영역으로 이격되어 형성되는 기판과 반대도전형의 드레인 및 소오스영역과 상기 채널영역 상부에 게이트 절연막으로 이격되어 형성되는 게이트로 구성되는 전달트랜지스터와, 상기 전달트랜지스터의 소오스영역과 접속되고 상기 게이트와 절연막으로 이격되게 기판상에 형성되는 전도성의 스토리지 노드와, 상기 전도성의 스토리지 노드상에 형성되는 전도성의 셀 플레이트와, 상기 스토리지 노드와 상기 셀 플레이트 사이에 형성되는 캐패시터 유전물질층과, 상기 전달트랜지스터의 드레인영역과 접속되고 상기 전달트랜지스터의 게이트와 절연막으로 이격되게 형성되는 전도성의 연결물질과, 상기 연결물질과 접속되고 상기 셀 플레이트와 내부 절연막으로 이격되게 형성되는 전도성의 비트라인을 구비함을 특징으로 하는 디램장치.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019880005322A 1988-05-07 1988-05-07 디램셀의 제조방법 KR910002041B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019880005322A KR910002041B1 (ko) 1988-05-07 1988-05-07 디램셀의 제조방법

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019880005322A KR910002041B1 (ko) 1988-05-07 1988-05-07 디램셀의 제조방법

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR890017808A true KR890017808A (ko) 1989-12-18
KR910002041B1 KR910002041B1 (ko) 1991-03-30

Family

ID=19274215

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019880005322A KR910002041B1 (ko) 1988-05-07 1988-05-07 디램셀의 제조방법

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR910002041B1 (ko)

Also Published As

Publication number Publication date
KR910002041B1 (ko) 1991-03-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR920022525A (ko) 디램셀의 캐패시터 제조 방법 및 그 구조
KR920013728A (ko) 반도체 기억장치 및 그 제조방법
KR890017808A (ko) 디램장치 및 제조방법
KR880003428A (ko) 디 램 셀의 제조방법
KR910020903A (ko) 적층형캐패시터셀의 구조 및 제조방법
KR950007106A (ko) 디램(dram)셀 커패시터 제조방법
KR940008072A (ko) 반도체 소자의 고축적 용량을 갖는 캐패시터 제조 방법
KR930015005A (ko) 디램셀의 제조방법
KR950004547A (ko) 반도체 소자의 제조방법
KR950024334A (ko) 반도체장치 제조방법
KR920022507A (ko) 반도체 메모리 소자의 제조방법
KR950010076A (ko) 반도체소자의 디램셀 제조방법
KR950004538A (ko) 반도체 기억장치 제조방법
KR970053983A (ko) Cob 구조를 구비한 dram 셀의 캐패시터 제조방법
KR930001424A (ko) 반도체 dram 소자의 캐패시터 제조방법
KR890008983A (ko) 반도체 메모리 장치 및 제조방법
KR950004563A (ko) 반도체 기억장치 제조방법
KR950004556A (ko) 스태틱 램 셀 제조방법
KR950021647A (ko) 디램셀 형성방법
KR930014972A (ko) 고집적 소자의 콘택제조방법
KR900017148A (ko) 고집적 트렌치형 디램 셀의 제조방법
KR970018582A (ko) 반도체장치의 제조방법(method for forming semiconductor device)
KR940003045A (ko) Dram 셀의 캐패시터 제조방법
KR900017189A (ko) 적층캐패시터 구조를 갖는 반도체 기억장치 및 그 제조방법
KR940001393A (ko) 반도체메모리장치 및 그 제조방법

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
N231 Notification of change of applicant
E902 Notification of reason for refusal
G160 Decision to publish patent application
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20060207

Year of fee payment: 16

LAPS Lapse due to unpaid annual fee