KR890011023A - 갈륨 아세나이드 다결정체의 게터링 - Google Patents

갈륨 아세나이드 다결정체의 게터링 Download PDF

Info

Publication number
KR890011023A
KR890011023A KR1019880017785A KR880017785A KR890011023A KR 890011023 A KR890011023 A KR 890011023A KR 1019880017785 A KR1019880017785 A KR 1019880017785A KR 880017785 A KR880017785 A KR 880017785A KR 890011023 A KR890011023 A KR 890011023A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
gallium arsenide
semiconductor substrate
single crystal
polycrystalline layer
microns
Prior art date
Application number
KR1019880017785A
Other languages
English (en)
Inventor
프란시스 골덴 폴
Original Assignee
아놀드 하비 콜
몬산토 캄파니
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 아놀드 하비 콜, 몬산토 캄파니 filed Critical 아놀드 하비 콜
Publication of KR890011023A publication Critical patent/KR890011023A/ko

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/18Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
    • H01L21/30Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
    • H01L21/322Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to modify their internal properties, e.g. to produce internal imperfections
    • H01L21/3228Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to modify their internal properties, e.g. to produce internal imperfections of AIIIBV compounds, e.g. to make them semi-insulating

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)

Abstract

내용 없음

Description

갈륨 아세나이드 다결정체의 게터링
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음

Claims (6)

  1. 반도체 기판의 디바이스활성영역으로 부터 떨어진 영역으로 디바이스에 유해한 결함, 오염물질 및 불순물을 게터링하기 위한 능력을 구비하여 전자디바이스재조처리 공정에서 사용하기 위한 단결정갈륨아세나이드 반도체 기판에 있어서, 디바이스 형성영역으로부터 기판의 이면층에 0.4에서 20.0미크론까지의 두께의 갈륨아세나이드 다결정체층을 가지는 단결정갈륨아세나이드 반도체 재료를 구비함을 특징으로 하는 반도체 기판.
  2. 특허청구의 범위 제1항에 있어서, 상기 갈륨아세타이드 다결정체층은 갈륨과 아세나이드의 화학증착에 의하여 상기 갈륨아세나이드 반도체 기판상에 적층점을 특징으로 하는 반도체 기판.
  3. 디바이스 활성 형성 영역으로부터 떨어진 영역으로 디바이스에 유해한 결함, 오염 물질 및 불순물을 게터링하기 위한 능력을 가진 전자 디바이스제조용의 단결정 갈륨아세나이드 반도체기판에 있어서, 하나의 거울같은 표면과 다른 표면을 덮는 0.4에서 20.0미크론 까지의 두께의 갈륨아세나이드 다결정체층을 가지는 단결정 갈륨아세나이드 웨이퍼를 구비하여서 구성됨을 특징으로 하는 반도체기판.
  4. 특허청구의 범위 제3항에 있어서, 상기 갈륨아세나이드 다결정체층은 상기 반도체 재료에 삼염화 갈륨(Gacl3) 및 비소의 화학증착에 의해 적층됨을 특징으로 하는 반도체기판.
  5. 전자식 디바이스의 제조 공정에 있어서, 상기 디바이스는 열정처리 조건과 갈륨아세나이드 다결정체의 이면층을 가지는 단결정 갈륨아세나이드 위이퍼를 구비하고 있는 반도체 기판을 사용하여 형성됨을 특징으로하는 전자식 디바이스의 제조방법.
  6. 특허청구의 범위 제5항에 있어서, 상기 갈륨아세나이드 다결정체층의 두께는 0.4에서 20.0미크론 까지임을 특징으로 하는 전자식 디바이스의 제조방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019880017785A 1987-12-30 1988-12-29 갈륨 아세나이드 다결정체의 게터링 KR890011023A (ko)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US13953387A 1987-12-30 1987-12-30
US139.533 1987-12-30

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR890011023A true KR890011023A (ko) 1989-08-12

Family

ID=22487125

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019880017785A KR890011023A (ko) 1987-12-30 1988-12-29 갈륨 아세나이드 다결정체의 게터링

Country Status (3)

Country Link
EP (1) EP0323432A1 (ko)
JP (1) JPH01214127A (ko)
KR (1) KR890011023A (ko)

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CH522290A (de) * 1968-12-20 1972-06-15 Siemens Ag Verfahren zur Getterung schnell diffundierender Verunreinigungen in Halbleiterkristallen

Also Published As

Publication number Publication date
JPH01214127A (ja) 1989-08-28
EP0323432A1 (en) 1989-07-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4614564A (en) Process for selectively patterning epitaxial film growth on a semiconductor substrate
Cullen The preparation and properties of chemically vapor deposited silicon on sapphire and spinel
SG77166A1 (en) Semiconductor substrate having compound semiconductor layer process for its production and electronic device fabricated on semiconductor substrate
KR890012364A (ko) 복합 반도체 결정체
KR840007485A (ko) 압력 감지(壓力感知)반도체 장치와 그 제조방법
KR950034506A (ko) 반도체 영역을 선택적으로 형성하는 방법
EP1045435A3 (en) Chemical vapor deposition of Pb5Ge3O11 thin film for ferroelectric applications
JPS5355986A (en) Manufacture of semiconductor device
GB2106419A (en) Growth of structures based on group iv semiconductor materials
KR950001303A (ko) 박막 적외선 센서구조 및 그 제조 방법
KR930001375A (ko) 반도체 장치 제조방법
KR100257364B1 (ko) 게터링 장치 및 방법
KR890011023A (ko) 갈륨 아세나이드 다결정체의 게터링
KR840008210A (ko) 집적회로의 반도체기판 물질에 관한 게터링(Gettering) 공법
JPS5893273A (ja) 薄膜半導体装置
US3752714A (en) Method for selective epitaxial deposition of intermetallic semiconductor compounds
JPS635518A (ja) 半導体装置の製造方法
KR850007717A (ko) 반도체 기판물질의 개량된 게터링(Gettering) 공법
JPS5768049A (en) Semiconductor device and manufacture thereof
KR910015005A (ko) 반도체 디바이스 제조 방법
JPH01290229A (ja) 半導体ウエハ
KR870010620A (ko) Sos(실리콘적층 샤파이어)반도체의 제조방법
SU451147A1 (ru) Способ получени автоэпитаксиального сло кремни
JPH0562897A (ja) 半導体基板
KR970018219A (ko) 강유전체 박막의 제조 방법

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E601 Decision to refuse application