KR890005851A - 반도체 장치의 소자분리 방법 - Google Patents

반도체 장치의 소자분리 방법 Download PDF

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KR890005851A
KR890005851A KR870010926A KR870010926A KR890005851A KR 890005851 A KR890005851 A KR 890005851A KR 870010926 A KR870010926 A KR 870010926A KR 870010926 A KR870010926 A KR 870010926A KR 890005851 A KR890005851 A KR 890005851A
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nitride film
semiconductor device
separation method
film layer
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KR870010926A
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오경석
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강진구
삼성반도체통신 주식회사
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Abstract

내용 없음

Description

반도체 장치의 소자분리 방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제 2(A)-(D)도는 본 발명에 따른 제조공정도.

Claims (1)

  1. 반도체 장치의 제조방법에 있어서, 제1도전형의 실리콘 반도체 기판(11)상에 마스킹을 위한 산화막(12)과 제 1질화막층(13)을 형성하고 필드 영역 형성을 위한 창(14)을 형성하는 제 1공정과, 기판 전면에 제 2질화막층(15)을 형성하고 별도의 마스크 없이 상기 제 2질화막층(15)을 건식 식각하여 질화막 스페이서(16)를 형성하는 제 2공정과, 상기 질화막(13)(16)을 산화 마스크로 하여 필드 산화막(17)을 형성하는 제 3공정을 구비하여 상기 공정의 연속으로 이루어짐을 특징으로 하는 반도체 장치의 소자 분리 방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR870010926A 1987-09-30 1987-09-30 반도체 장치의 소자분리 방법 KR890005851A (ko)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100249167B1 (ko) * 1997-06-13 2000-03-15 김영환 격리막 형성 방법

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