KR20210016271A - 자동 회로기판 테스트 시스템 및 이에 응용되는 자동 회로기판 테스트 방법 - Google Patents

자동 회로기판 테스트 시스템 및 이에 응용되는 자동 회로기판 테스트 방법 Download PDF

Info

Publication number
KR20210016271A
KR20210016271A KR1020200092001A KR20200092001A KR20210016271A KR 20210016271 A KR20210016271 A KR 20210016271A KR 1020200092001 A KR1020200092001 A KR 1020200092001A KR 20200092001 A KR20200092001 A KR 20200092001A KR 20210016271 A KR20210016271 A KR 20210016271A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
test
module
signal
result data
circuit board
Prior art date
Application number
KR1020200092001A
Other languages
English (en)
Other versions
KR102364055B1 (ko
Inventor
쳉 리 제임스
솅 치에 로
치엔 항 추
Original Assignee
쳉 유에이 프리시젼 인더스트리 캄파니 리미티드
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 쳉 유에이 프리시젼 인더스트리 캄파니 리미티드 filed Critical 쳉 유에이 프리시젼 인더스트리 캄파니 리미티드
Publication of KR20210016271A publication Critical patent/KR20210016271A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR102364055B1 publication Critical patent/KR102364055B1/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
    • G01R31/2806—Apparatus therefor, e.g. test stations, drivers, analysers, conveyors
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2832—Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
    • G01R31/2834—Automated test systems [ATE]; using microprocessors or computers
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317—Testing of digital circuits
    • G01R31/3181—Functional testing
    • G01R31/319—Tester hardware, i.e. output processing circuits
    • G01R31/31917—Stimuli generation or application of test patterns to the device under test [DUT]
    • G01R31/31926—Routing signals to or from the device under test [DUT], e.g. switch matrix, pin multiplexing
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • G01R1/0408—Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • G01R1/0408—Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
    • G01R1/0416—Connectors, terminals
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
    • G01R31/2818—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP] using test structures on, or modifications of, the card under test, made for the purpose of testing, e.g. additional components or connectors
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317—Testing of digital circuits
    • G01R31/3181—Functional testing
    • G01R31/3183—Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences
    • G01R31/318307—Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences computer-aided, e.g. automatic test program generator [ATPG], program translations, test program debugging
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317—Testing of digital circuits
    • G01R31/3181—Functional testing
    • G01R31/3183—Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences
    • G01R31/318314—Tools, e.g. program interfaces, test suite, test bench, simulation hardware, test compiler, test program languages
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317—Testing of digital circuits
    • G01R31/3181—Functional testing
    • G01R31/319—Tester hardware, i.e. output processing circuits
    • G01R31/31903—Tester hardware, i.e. output processing circuits tester configuration
    • G01R31/31905—Interface with the device under test [DUT], e.g. arrangements between the test head and the DUT, mechanical aspects, fixture
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01H—ELECTRIC SWITCHES; RELAYS; SELECTORS; EMERGENCY PROTECTIVE DEVICES
    • H01H47/00—Circuit arrangements not adapted to a particular application of the relay and designed to obtain desired operating characteristics or to provide energising current
    • H01H47/002—Monitoring or fail-safe circuits

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

자동 회로기판 테스트 시스템은 테스트 보드와 연결된 적어도 하나의 테스트 기판 스위치 모듈, 제어 모듈 및 테스트 처리 모듈을 포함한다. 상기 테스트 보드는 제1 신호 인터페이스, 제2 신호 인터페이스, 제3 신호 인터페이스 및 중계기를 포함한다. 제2 신호 인터페이스와 제3 신호 인터페이스는 신호 케이블에 의해 서로 연결된다. 제1 신호 인터페이스는 중계기와 연결된다. 상기 적어도 하나의 테스트 기판 스위치 모듈은 제2 신호 인터페이스 및 제3 신호 인터페이스와 연결된다. 제어 모듈은 상기 적어도 하나의 테스트 기판 스위치 모듈에 연결된다. 테스트 처리 모듈은 적어도 2개의 직렬 포트 버스에 의해 제어 모듈 및 제2 신호 인터페이스에 연결된다.

Description

자동 회로기판 테스트 시스템 및 이에 응용되는 자동 회로기판 테스트 방법 {AUTOMATIC CIRCUIT BOARD TEST SYSTEM AND AUTOMATIC CIRCUIT BOARD TEST METHOD APPLIED THEREIN}
본 발명은 2019년 8월 1일 출원한 중국 특허출원 201910705478.7에 기초하며 이를 우선권으로 주장하는 것으로서, 이의 내용 전반을 본원에 참조로서 수록한다.
본 발명은 일반적으로 자동 테스트 시스템, 더 구체적으로, 신호 개폐를 위한 자동 회로기판 테스트 시스템 및 자동 회로기판 테스트 시스템에 적용되는 자동 회로기판 테스트 방법에 관한 것이다.
종래의 자동 테스트 장치는 반도체 제품, 전자 회로소자 및 인쇄 회로기판의 테스트를 수행하기 위한 자동 메커니즘을 활용한다. 테스트기는 종래의 자동 테스트 장치에서 공통적인 중요 구성요소이다. 테스트기의 기능은 주로 DUT (테스트 대상 소자)에 대해 테스트 신호를 발생하여 관련 파라미터의 측정을 수행할 수 있도록 하는 것이다. 일반적인 방식은 DUT 피드백의 오류율을 검사하기 위한 유사-랜덤 바이너리 시퀀스(PRBS)이다.
현재 시중의 자동 테스트 시스템은 DUT에 대한 유사-랜덤 바이너리 시퀀스 테스트를 수행하는데, 테스트기는 테스트 요건에 따라 필요한 정보와 필요한 테스트 파라미터를 입력하고 그래픽형 유저 인터페이스(GUI)를 조작하여 테스트 프로그램을 변경한다. 또한, 각종 테스트 프로그램을 교환해야 하고 DUT의 회로를 삽입 및 인출하므로, 테스트는 전체적으로 여러 단계의 과정을 거친다.
대만 특허 공보 I479957는 DUT와 자동 테스트 장치 사이에서 교환되는 신호를 추출하는 인쇄 회로기판를 개시한다. 인쇄 회로기판은 제1 다중 터미널, 제2 다중 터미널, 다중 전송 케이블과 추출회로를 포함한다. 제1 다중 터미널은 제1 다중 터미널과 제3 터미널 사이의 어셈블리를 통해 DUT의 삽입 홈 내의 제3 터미널과 접촉한다. 제2 다중 터미널은 제2 다중 터미널과 테스트 구조체의 제4 터미널 사이의 어셈블리를 통해 자동 테스트 장치의 테스트 구조체의 제4 터미널과 접촉한다. 제1 다중 터미널과 제2 다중 터미널은 어셈블리 과정에서 다중 전송 케이블에 의해 연결된다. 전기 제품은 추출 회로에 의해 다중 전송 케이블과 결합된다. DUT와 자동 테스트 장치 간의 교환 신호가 하나의 전송 케이블을 통해 추출 신호를 제공한다. 추출 회로는 레지스터나 레지스터 망을 포함한다. DUT와 자동 테스트 장치 간의 교환 신호에 가해진 손실은 인쇄 회로기판 때문에 6dB 미만이다.
대만 특허 공보 I561839는 DUT 테스트를 위해 업그레이드 가능한 자동 테스트 장치의 집적회로 테스트 인터페이스에 대해 개시한다. 집적회로 테스트 인터페이스는 적어도 하나의 테스트 신호를 수신 혹은 자동 테스트 장치의 테스트기에 전송할 수 있는 적어도 하나의 핀, 상기 적어도 하나의 핀에 결합된 것으로 디지털 신호를 발생하는 다수의 디지털화 장치, 디지털 신호를 처리하는 상기 다수의 디지털화 장치에 결합된 프로세서, 상기 프로세서와 연결된 연결소자, 및 프로세서의 출력 신호를 컴퓨터 장치에 전송하기 위한 컴퓨터 장치를 포함한다. 집적회로 테스트 인터페이스는 테스트기와 자동 테스트 장치의 바늘 테스트기 사이에 배치된다.
이와 같이, 자동 테스트 시스템의 기존 문제점은 자동 테스트 장치가 DUT A 및 DUT B 등 하나의 DUT만 검사할 수 있다는 것이다. 자동 테스트 시스템은 DUT A에 연결되어 테스트 작업을 수행한다. 자동 테스트 시스템은 상기 테스트 작업을 완료한 후 DUT A를 분리한 다음 DUT B에 다시 연결되어 또다시 테스트 작업을 수행한다.
그러나 테스트 대상 제품은 점점 더 다양화되고 있으므로 자동 테스트 시스템의 조작 역시 더욱 정밀해진다. 점점 더 복잡해지는 테스트 요건을 만족하기 위해 상대적으로 더욱 우수한 기능의 자동 테스트 시스템과 자동 테스트 방법이 필요하다.
대만 특허 공보 I479957
따라서, 상기한 문제들을 해결하기 위한 혁신적인 자동 회로기판 테스트 시스템으로서, 테스트 대상인 다수의 제품에 연결될 수 있고 이러한 다수 제품이 신호 경로 개폐에 따라 테스트 되는 방식의 테스트 시스템이 요구된다. 이에, 유연성과 효율이 더 우수한 혁신적인 자동 회로기판 테스트 시스템을 제공하며, 또한 신호 개폐에 주안점을 둔 이러한 혁신적인 자동 회로기판 테스트 시스템은 테스트 흐름도를 간소화하고 테스트시간을 단축시킨다.
본 발명의 목적은 자동 회로기판 테스트 시스템을 제공하는 것이다. 자동 회로기판 테스트 시스템은 테스트 보드에 연결된 적어도 하나의 테스트 기판 스위치 모듈, 제어 모듈 및 테스트 처리 모듈을 포함한다. 테스트 보드는 제1 신호 인터페이스, 제2 신호 인터페이스, 제3 신호 인터페이스 및 중계기(repeater)를 포함한다. 제2 신호 인터페이스와 제3 신호 인터페이스는 신호 케이블에 의해 상호 연결된다. 제1 신호 인터페이스는 중계기와 연결된다. 적어도 하나의 테스트 기판 스위치 모듈은 제2 신호 인터페이스 및 제3 신호 인터페이스에 각각 연결된다. 적어도 하나의 테스트 기판 스위치 모듈은 다수의 릴레이를 포함한다. 제어 모듈은 적어도 하나의 테스트 기판 스위치 모듈을 제어한다. 테스트 처리 모듈은 테스트 보드에서 테스트한 암호화 결과 데이터를 수신하기 위한 것이다. 테스트 처리 모듈은 적어도 2개의 직렬 포트 버스(port bus)에 의해 제어 모듈과 제1 신호 인터페이스에 각각 연결된다. 테스트 처리 모듈은 제어 신호를 제어 모듈에 전송하고 제어 모듈은 상기 제어 신호를 연속 제어 신호로 변환하고, 다시 제어 모듈이 상기 연속 제어 신호를 적어도 하나의 테스트 기판 스위치 모듈에 전송하며, 제어 모듈은 적어도 하나의 테스트 기판 스위치 모듈의 다수의 릴레이를 제어하여 신호 경로를 개폐하고, 테스트 보드는 적어도 하나의 테스트 기판 스위치 모듈에 결과 데이터를 전송하고, 상기 적어도 하나의 테스트 기판 스위치 모듈은 연속 귀환 신호를 통해 제어 모듈에 결과 데이터를 전송하며, 제어 모듈이 상기 연속 귀환 신호를 귀환 신호로 변환하고, 또한 암호 결과 데이터가 상기 귀환 신호를 통해 테스트 처리 모듈에 전송된다.
또 다른 목적은 자동 회로기판 테스트 시스템에 적용되는 자동 회로기판 테스트 방법을 제공하는 것이다. 상기 자동 회로기판 테스트 시스템은, 다수의 릴레이가 포함된 적어도 하나의 릴레이 모듈 및 상기 적어도 하나의 릴레이 모듈과 연결된 소프트웨어 프로텍터가 구비된 적어도 하나의 테스트 대상 스위치 모듈, 제어 모듈, 제어 모듈에 연결된 테스트 처리 모듈, 및 상기의 소프트웨어 프로텍터와 연결된 제3 직렬 포트 버스를 포함한다. 상기 적어도 하나의 테스트 기판 스위치 모듈은 중계기 및 중계기와 연결된 제1 신호 인터페이스를 포함하는 테스트 보드와 연결되어 있다. 자동 회로기판 테스트 방법의 구체적인 단계들을 후술하기로 한다. 먼저, 테스트 모드를 설정한다. 즉, 테스트 처리 모듈은 제3 직렬 포트 버스를 통해 제1 신호 인터페이스와 연결되어 중계기가 테스트 모드에 들어가도록 설정한다. 다음, 테스트 신호 지시를 전송한다. 즉, 테스트 처리 모듈이 제어 신호를 제어 모듈에 전송한다. 다음, 제어 신호를 변환한다. 즉, 제어 모듈이 제어 신호를 수신하고, 상기 제어 신호가 제어 모듈의 마이크로-컨트롤러에 전송되고 또한 연속 제어 신호로 변환된다. 다음, 데이터를 비교한다. 즉, 연속 제어 신호가 제어 모듈의 저장 장치에 전송하고 상기 저장 장치에서 데이터 비교를 수행한다. 또한, 연속 제어 신호는 마이크로-컨트롤러로 귀환된다. 마이크로-컨트롤러는 연속 제어 신호를 적어도 하나의 릴레이 모듈에 전송한다. 다음, 신호 경로를 개폐한다. 즉, 적어도 하나의 릴레이 모듈은 상기 연속 제어 신호를 수신하고, 상기 적어도 하나의 릴레이 모듈이 다수의 릴레이를 제어하여 경로를 개폐하고 이어서 연속 제어 신호를 테스트 보드로 전송한다. 결과 데이터를 수신한다. 즉, 적어도 하나의 릴레이 모듈이 결과 데이터를 수신한 다음 상기 결과 데이터를 연속 귀환 신호를 통해 소프트웨어 프로텍터에 전송한다. 다음, 결과 데이터를 패키지 처리한다. 즉, 소프트웨어 프로텍터가 결과 데이터를 수신하고 상기 결과 데이터는 패키지 처리되어 암호 결과 데이터를 형성하고, 이어서 연속 귀환 신호를 이에 상응하는 귀환 신호로 변환시키며, 상기 암호 결과 데이터는 귀환 신호를 통해 테스트 처리 모듈에 전송된다. 마지막으로 암호 결과 데이터를 저장한다. 즉, 테스트 처리 모듈이 암호 결과 데이터를 수신하며, 상기 암호 결과 데이터가 테스트 처리 모듈에 저장된다.
본 발명의 또 다른 목적은 자동 회로기판 테스트 시스템에 적용된 자동 회로기판 테스트 방법을 제공한다. 여기서 자동 회로기판 테스트 시스템은, 다수의 릴레이를 포함한 적어도 하나의 릴레이 모듈 및 상기 적어도 하나의 릴레이 모듈에 연결된 소프트웨어 프로텍터가 구비된 적어도 하나의 테스트 기판 스위치 모듈, 제어 모듈, 제어 모듈에 연결된 테스트 처리 모듈, 및 상기 소프트웨어 프로텍터에 연결된 제3 직렬 포트 버스를 포함한다. 상기 적어도 하나의 테스트 기판 스위치 모듈은 중계기 및 상기 중계기와 연결된 제1 신호 인터페이스를 포함하는 테스트 보드에 연결되어 있다. 자동 회로기판 테스트 방법의 구체적인 단계들을 후술한다. 먼저, 테스트 모드를 설정한다. 즉, 테스트 처리 모듈은 제3 직렬 포트 버스를 통해 제1 신호 인터페이스와 연결되어 중계기가 테스트 모드에 들어가도록 설정한다. 다음, 테스트 신호 지시를 전송한다. 즉, 테스트 처리 모듈이 제어 신호를 제어 모듈에 전송한다. 다음, 신호 경로를 개폐한다. 즉, 적어도 하나의 릴레이 모듈은 상기 연속 제어 신호를 수신하고, 또한 상기 적어도 하나의 릴레이 모듈이 다수의 릴레이를 제어하여 경로를 개폐한 다음 연속 제어 신호를 테스트 보드로 전송한다. 다음, 테스트를 실행한다. 즉, 테스트 보드가 상기 연속 제어 신호를 수신하며 상기 테스트는 상기 테스트 보드에서 실행된다. 다음, 결과 데이터를 수신한다. 즉, 적어도 하나의 릴레이 모듈이 결과 데이터를 수신한 다음 상기 결과 데이터를 연속 귀환 신호를 통해 소프트웨어 프로텍터에 전송한다. 또한, 결과 데이터를 패키지 처리하여 암호 결과 데이터를 형성하고, 상기 암호 결과 데이터를 역시 연속 귀환 신호를 통해 제어 모듈에 전송한다. 마지막으로 암호 결과 데이터를 저장한다. 즉, 테스트 처리 모듈이 암호 결과 데이터를 수신하며 상기 암호 결과 데이터가 테스트 처리 모듈에 저장된다.
상술한 바와 같이, 신호 개폐를 목적으로 하는 자동 회로기판 테스트 시스템과 상기 자동 회로기판 테스트 시스템에 적용되는 자동 회로기판 테스트 방법은 테스트 흐름도를 간소화하며 테스트 시간을 단축시켜 실용성을 확보한다.
당업자에게 본 발명은 첨부된 도면을 참조하여 하기의 상세한 설명으로부터 더욱 명확해질 것이다.
도 1은 본 발명의 제1 실시 예에 따른 자동 회로기판 테스트 시스템의 개략도이고;
도 2는 도 1의 자동 회로기판 테스트 시스템에 적용되는 자동 회로기판 테스트 방법의 흐름도이며;
도 3은 본 발명의 제1 실시 예에 따른 자동 회로기판 테스트 시스템의 또 다른 개략도이고;
도 4는 제어 모듈이 본 발명의 제1 실시 예에 따른 자동 회로기판 테스트 시스템의 릴레이 모듈에 연결된 것을 도시하는 개략도이며;
도 5는 본 발명에 따른 자동 회로기판 테스트 시스템의 적어도 하나의 테스트 기판 스위치 모듈 내의 적어도 하나의 릴레이 모듈의 개략도이고;
도 6은 본 발명에 따른 자동 회로기판 테스트 시스템의 암호 결과 데이터의 개략도이며;
도 7은 본 발명의 제1 실시 예에 따른 자동 회로기판 테스트 시스템의 테스트 결과의 세부 사항을 도시하는 개략도이며; 및
도 8은 본 발명의 제1 실시 예에 따른 자동 회로기판 테스트 시스템에 적용되는 자동 회로기판 테스트 방법의 흐름도이다.
도 1을 참조하면 본 발명의 제1 실시 예에 따른 자동 회로기판 테스트 시스템(100)이 도시된다. 자동 회로기판 테스트 시스템(100)은 적어도 하나의 테스트 기판 스위치 모듈(10), 제어 모듈(20) 및 상기 제어 모듈(20)에 연결된 테스트 처리 모듈(30)을 포함한다.
도 1, 도 3 및 도 4를 참조하면, 적어도 하나의 테스트 기판 스위치 모듈(10)은 테스트 보드(40)와 연결되어 있다. 테스트 보드(40)는 다수의 신호 인터페이스(42)를 포함한다. 테스트 보드(40)는 제1 신호 인터페이스(42c), 제2 신호 인터페이스(42a), 제3 신호 인터페이스(42b) 및 중계기(41)를 포함한다. 제1 신호 인터페이스(42c)는 관리 데이터 입/출력 0 (MDIO0) 인터페이스이다. 제2 신호 인터페이스(42a)는 관리 데이터 입/출력 1 (MDIO1) 인터페이스이다. 제3 신호 인터페이스(42b)는 관리 데이터 입/출력 2 (MDIO2) 인터페이스이다. 다수의 신호 인터페이스(42)는 제1 신호 인터페이스(42c), 제2 신호 인터페이스(42a) 및 제3 신호 인터페이스(42b)를 포함한다. 제2 신호 인터페이스(42a)와 제3 신호 인터페이스(42b)는 신호 케이블(43)에 의해 서로 연결된다. 제2 신호 인터페이스(42c)는 중계기(41)에 연결된다. 적어도 하나의 테스트 기판 스위치 모듈(10)은 제2 신호 인터페이스(42a)와 제3 신호 인터페이스(42b)에 각각 연결되어 있다. 적어도 하나의 테스트 기판 스위치 모듈(10)에는 적어도 2개의 테스트 기판(13), 다수의 릴레이(111)를 포함한 적어도 하나의 릴레이 모듈(11) 및 상기 적어도 하나의 릴레이 모듈(11)에 연결된 소프트웨어 프로텍터(12)가 구비되어 있다. 상기 적어도 하나의 테스트 기판 스위치 모듈(10)에는 제1 릴레이(111a)와 제2 릴레이(111b)를 포함하는 다수의 릴레이(111)가 구비되어 있다. 제1 실시 예에서, 신호 케이블(43)은 1 대 1 테스트 케이블이다. 신호 케이블(43)은 제2 신호 인터페이스(42a)와 제3 신호 인터페이스(42b)에 연결된다.
본 발명의 제2 실시 예에 따른 자동 회로기판 테스트 시스템(100)은 다수의 신호 인터페이스(42)를 포함한다. 다수의 신호 인터페이스(42)는 관리 데이터 입/출력 1 (MDIO1) 인터페이스, 관리 데이터 입/출력 2 (MDIO2) 인터페이스, 관리 입/출력 3 (MDIO3) 인터페이스, 관리 데이터 입/출력 4 (MDIO4) 인터페이스 및 관리 데이터 입력/출력 5 (MDIO5) 인터페이스를 포함한다. 신호 케이블(43)은 1 대 4 테스트 케이블이다. 상기 다수의 신호 인터페이스(42)의 용량은 다양한 종류의 신호 케이블(43)에 상응하여 사용된다.
제어 모듈(20)은 제어 인터페이스 버스(21) (상호 집적회로, I2C)에 의해 적어도 하나의 테스트 기판 스위치 모듈(10)에 연결된다. 제어 모듈(20)은 적어도 하나의 테스트 기판 스위치 모듈(10)을 제어한다. 제1 실시 예에서, 제어 모듈(20)의 진동 주파수는 24MHz이다. 그러나 제어 모듈(20)의 진동 주파수는 24MHz 이내로 제한되지는 않는다. 제어 모듈(20)의 진동 주파수는 설계자가 설계한 회로에 따라 변화된다.
테스트 처리 모듈(30)은 GUI-PC (그래픽 유저 인터페이스-퍼스널 컴퓨터)이다. 테스트 처리 모듈(30)은 테스트 보드(40)에서 테스트한 암호 결과 데이터(32)를 수신하는데 사용된다. 자동 회로기판 테스트 시스템(100)은 3개의 직렬 포트 버스(31)를 포함하며 상기 버스들은 제1 직렬 포트 버스(31a)(USB 1), 제2 직렬 포트 버스(31b)(USB 2) 및 제3 직렬 포트 버스(31c)(USB 3)이다. 테스트 처리 모듈(30)은 적어도 2개의 직렬 포트 버스(31)에 의해 제어 모듈(20)과 제1 신호 인터페이스(42c)에 각각 연결된다. 제1 실시 예에서, 테스트 처리 모듈(30)은 제2 직렬 포트 버스(31b)(USB 2)와 제3 직렬 포트 버스(31c)(USB 3)에 의해 제어 모듈(20)과 제1 신호 인터페이스(42c)에 각각 연결된다.
구체적으로, 테스트 처리 모듈(30)은 제어 신호(USB 신호)를 제어 모듈(20)에 전송한다. 제어 모듈(20)은 제어 신호(USB 신호)를 연속 제어 신호(I2C 신호)로 변환하고, 이어서 제어 모듈(20)은 상기 연속 제어 신호(I2C 신호)를 적어도 하나의 테스트 기판 스위치 모듈(10)에 전송한다. 제어 모듈(20)은 상기 적어도 하나의 테스트 기판 스위치 모듈(10) 내의 다수의 릴레이(111)를 제어하여 신호 경로를 개폐한다. 테스트 보드(40)는 결과 데이터를 적어도 하나의 테스트 기판 스위치 모듈(10)에 전송한다. 상기 적어도 하나의 테스트 기판 스위치 모듈(10)은 연속 귀환 신호(I2C 귀환 신호)를 통해 결과 데이터를 제어 모듈(20)에 전송한다. 제어 모듈(20)은 상기 연속 귀환 신호(I2C 귀환 신호)를 귀환 신호(USB 귀환 신호)로 변환하고, 암호 결과 데이터(32)는 상기 귀환 신호(USB 귀환 신호)를 통해 테스트 처리 모듈(30)에로 전송된다.
도 2를 참조하면 자동 회로기판 테스트 시스템(100)에 적용되는 자동 회로기판 신호방법의 흐름도를 나타낸다. 상기 자동 회로기판 테스트 방법의 구체적인 단계들은 다음과 같다.
단계 S1: 테스트 모드를 설정한다. 구체적으로, 테스트 처리 모듈(30)을 제3 직렬 포트 버스(31c)를 통해 제1 신호 인터페이스(42c)에 연결하여 중계기(41)가 테스트 모드에 들어가도록 설정한다.
단계 S2: 테스트 신호 지시를 전송한다. 구체적으로, 테스트 처리 모듈(30)이 제어 신호(USB 신호)를 제어 모듈(20)에 전송한다.
단계 S3: 신호 경로를 개폐한다. 구체적으로, 적어도 하나의 테스트 기판 스위치 모듈(10) 내의 적어도 하나의 릴레이 모듈(11)은 상기 연속 제어 신호(I2C 신호)를 수신하고, 상기 적어도 하나의 릴레이 모듈(11)은 다수의 릴레이(111)를 제어하여 경로를 개폐하며, 이어서 상기 적어도 하나의 테스트 기판 스위치 모듈(10) 내의 적어도 하나의 릴레이 모듈(11)은 상기 연속 제어 신호(I2C 신호)를 테스트 보드(40)에 전송한다.
단계 S4: 테스트를 실행한다. 즉, 테스트 보드(40)가 상기 연속 제어 신호(I2C 신호)를 수신하며 상기 테스트 보드(40)에서 테스트가 실행된다.
단계 S5: 결과 데이터를 수신한다. 즉, 적어도 하나의 테스트 기판 스위치 모듈(10) 내의 적어도 하나의 릴레이 모듈(11)이 결과 데이터를 수신하고, 이어서 상기 결과 데이터를 소프트웨어 프로텍터(12)로 전송하며 패키지 처리하여 암호 결과 데이터(32)를 형성하고, 또한 암호 결과 데이터(32)는 연속 귀환 신호(I2C 귀환 신호)를 통해 제어 모듈(20)에 전송된다.
단계 S6: 마지막으로, 암호 결과 데이터(32)를 저장한다. 구체적으로, 테스트 처리 모듈(30)은 암호 결과 데이터(32)를 수신하고 상기 암호 결과 데이터(32)는 테스트 처리 모듈(30)에 저장된다.
본 발명에 따른 자동 회로기판 테스트 시스템(100)의 구조적 특성, 응용기술 수단 및 예상되는 효과를 더 확인하기 위해, 자동 회로기판 테스트 시스템(100)의 사용 방법을 기술하며 이로부터 자동 회로기판 테스트 시스템(100)에 대해 보다 심층적으로 또한, 구체적으로 이해할 수 있을 것이다.
도 1 및 도 3을 참조하면 본 발명의 제1 실시 예에 따른 자동 회로기판 테스트 시스템(100)의 개략도를 나타낸다. 소프트웨어 프로텍터(10)는 컴퓨터 동글(dongle)이다. 적어도 2개의 테스트 기판(13)은 제1 테스트 기판(13a) 및 제2 테스트 기판(13b)을 포함한다. 적어도 2개의 테스트 기판(13)은 제2 신호 인터페이스(42a)와 제3 신호 인터페이스(42b)와 각각 연결되어 있다. 적어도 2개의 테스트 기판(13)은 적어도 하나의 릴레이 모듈(11)과 연결되어 있다. 상기 적어도 하나의 릴레이 모듈(11)은 제어 인터페이스 버스(21) (상호 집적회로, I2C)에 의해 제어 모듈(20)과 연결된다. 소프트웨어 프로텍터(12)는 적어도 하나의 릴레이 모듈(11)에 의해 귀환된 귀환 데이터를 암호화한다.
제1 직렬 포트 버스(31a)(USB 1)는 제1 신호 인터페이스(42c)에 연결된다. 제2 직렬 포트 버스(31b)(USB 2)는 제어 모듈(20)에 연결된다. 제3 직렬 포트 버스(31c)(USB 3)는 소프트웨어 프로텍터(12)에 연결된다. 제1 신호 인터페이스(42c), 제어 모듈(20) 및 소프트웨어 프로텍터(12)는 각각 제1 직렬 포트 버스(31a)(USB 1), 제2 직렬 포트 버스(31b)(USB 2) 및 제3 직렬 포트 버스(31c)(USB 3)에 의해 테스트 처리 모듈(30)에 연결된다. 적어도 하나의 테스트 기판 스위치 모듈(10)은 사용자의 필요에 따라 다수 혹은 적어도 2개의 테스트 기판(13)을 포함한다. 바람직하게는, 자동 회로기판 테스트 시스템(100)은 다수 혹은 적어도 2개의 테스트 기판(13)을 포함한다.
도 4 및 도 5를 참조하면 제1 실시 예에서, 적어도 하나의 릴레이 모듈(11)은 제1 릴레이(111a)와 제2 릴레이(111b)를 포함한다. 제어 모듈(20)은 적어도 하나의 릴레이 모듈(11)과 연결된다. 적어도 하나의 릴레이 모듈(11)은 연속 제어 신호(I2C 신호)를 통해 상기 적어도 하나의 릴레이 모듈(11)의 확장칩(114)의 출력 접속핀(115)을 제어함으로써, 제1 릴레이(111a)와 제2 릴레이(111b)를 포함한 다수의 릴레이(111)의 스위치가 신호 경로를 개폐할 수 있게 한다. 확장칩(114)은 집적회로간 버스 인터페이스(116) (I2C 인터페이스)와 다수의 다용도 입/출력핀(117)(GPI0)을 구비한다.
도 4 및 도 5를 참조하면, 제어 모듈(20)은 제어 전력칩(24)을 포함한다. 제어 전력칩(24)은 3.3V 직류 전압을 제어 모듈(20)의 마이크로-컨트롤러(22)에 공급하기 위해 사용한다. 적어도 하나의 릴레이 모듈(11)은 릴레이 전력칩(112)을 포함한다. 릴레이 전력칩(112)은 3.3V 직류 전압을 확장칩(114)에 공급하기 위해 사용한다. 마이크로-컨트롤러(22)는 제1 커넥터(201)에 연결된다. 제1 커넥터(201)는 제어 인터페이스 버스(21)에 의해 제2 커넥터(202)에 연결된다. 자동 회로기판 테스트 시스템(100)은 또한 전위 변환기(203)를 더 포함한다. 제2 커넥터(202)는 상기 전위 변환기(203)에 연결된다. 전위 변환기(203)는 확장칩(114)에 연결된다.
도 4 내지 도 7을 참조하면, 본 발명의 제1 실시 예에 따른 자동 회로기판 테스트 시스템(100)의 암호 결과 데이터(32)의 개략도는 도 5에 나타낸다. 본 발명의 제1 실시 예에 따른 자동 회로기판 테스트 시스템(100)의 테스트 세부사항(3261)에 관한 개략도는 도 6에 나타낸다. 암호 결과 데이터(32)는 테스트 날짜 및 시간(321), 작업 주문 정보(322), 테스트장 분류(323), 테스트 흐름도(324), 테스트 항목(325) 및 테스트 결과(326)를 포함한다. 테스트 날짜 및 시간(321), 작업 주문 정보(322), 테스트장 분류(323), 테스트 흐름도(324), 테스트 종목(325) 및 테스트 결과(326)는 테스트 처리 모듈(30)에 저장된다. 테스트 결과(326)는 다수의 테스트 세부사항(3261)을 포함한다.
도 4 내지 도 6을 참조하면, 접속 테스트(0) 내지 접속 테스트(2) 범위의 테스트 항목 중에서, 자동 회로기판 테스트 시스템(100)의 테스트 내용은 각종 모듈과 구성요소의 연결 조건들이다. 자동 회로기판 테스트 시스템(100)의 환경적인 설정 조건도 추후 검출한다. 자동 회로기판 테스트 시스템(100)의 테스트 흐름도(324)는 각종 테스트 항목의 흐름도를 나타내며 테스트 결과(326)는 컬럼 형태로 나타낸다.
도 1 내지 도 8을 참조하면, 본 발명의 제1 실시 예에 따른 자동 회로기판 테스트 시스템(100)에 적용되는 자동 회로기판 테스트 방법의 흐름도를 도 7에 나타낸다. 자동 회로기판 테스트 시스템(100)은 코어 연산을 기반으로 한정된다. 자동 회로기판 테스트 방법은 다수의 단계를 포함한다. 자동 회로기판 테스트 시스템(100)에 적용되는 자동 회로기판 테스트 방법의 이들 다수 단계를 하기와 같이 구체적으로 기술한다.
첫째, 테스트 모드 설정 단계(S1)에서, 구체적으로 테스트 처리 모듈(30)은 제3 직렬 포트 버스(31c)를 통해 제1 신호 인터페이스(42c)와 연결되어 중계기(41)가 테스트 모드에 들어가도록 설정한다.
둘째, 테스트 신호 지시 전송 단계(S2)에서, 구체적으로 테스트 처리 모듈(30)은 제어 신호(USB 신호)를 제어 모듈(20)에 전송하고, 또한 제2 직렬 포트 버스(31b)(USB 2)를 통해 제어 모듈(20)에 지시를 내린다.
제어 신호를 변환하는 단계(S21)를 수행한다. 여기서, 제어 모듈(20)은 제어 신호(USB 신호)를 수신하고 상기 제어 신호(USB 신호)는 제어 모듈(20)의 마이크로-컨트롤러(22)로 전송되며 또한 연속 제어 신호(I2C 신호)로 변환된다.
제1 실시 예에서, 마이크로-컨트롤러(22)는 필드 프로그램형 게이트 어레이(PFGA) 혹은 중앙처리장치(CPU)이다.
데이터 비교 단계(S22)를 수행한다. 즉, 연속 제어 신호가 제어 모듈(20)의 저장장치(EEPROM)(23)로 전송되며 저장장치(EEPROM)(23)에서 데이터 비교가 수행되고, 또한, 연속 제어 신호(I2C 신호)가 마이크로-컨트롤러(22)로 귀환한다. 마이크로-컨트롤러(22)는 연속 제어 신호(I2C 신호)를 적어도 하나의 릴레이 모듈(11)에 전송한다.
데이터 비교 단계(S22)에 대해 추가적으로 설명할 필요가 있다. 저장 장치(EEPROM)(23)는 프로그램형 판독 전용 메모리(PROM), 소거 가능한 프로그램형 판독 전용 메모리, 플래시 메모리, 비휘발성 메모리, 동적 랜드 접속 메모리(IRAM), 정적 랜드 접속 메모리(SRAM), 휘발성 메모리 등이다.
셋째, 신호 경로 개폐 단계(S3)에서, 구체적으로, 제어 모듈(20)은 제어 신호(USB 신호)를 수신하고 상기 제어 신호(USB 신호)는 제어 모듈(20)의 마이크로-컨트롤러(22)에 전송되며 또한 연속 제어 신호(I2C 신호)로 변환된다.
신호 경로의 개폐 단계(S3)에서, 구체적으로, 적어도 하나의 릴레이 모듈(11)은 상기 연속 제어 신호(I2C 신호)를 수신하고, 상기 적어도 하나의 릴레이 모듈(11)은 제1 릴레이(111a)와 제2 릴레이(111b)를 제어하여 경로를 개폐하며, 이에 따라, 상기 적어도 하나의 릴레이 모듈(11)은 연속 제어 신호(I2C 신호)를 테스트 보드(40)에 전송하고 또한 제1 릴레이(111a)와 제2 릴레이(111b)를 개폐시켜 소프트웨어 프로텍터(12)가 제2 신호 인터페이스(42a)에 연결되도록 한다.
넷째, 결과 데이터를 패키지 처리하는 단계(S51)에서, 소프트웨어 프로텍터(12)는 결과 데이터를 수신하고, 결과 데이터는 패키지 처리되어 암호 결과 데이터(32)를 형성하며, 연속 귀환 신호(I2C 귀환 신호)는 이에 상응하는 귀환 신호(USB 귀환 신호)로 변환되고, 또한 암호 결과 데이터(32)는 귀환 신호(USB 귀환 신호)를 통해 테스트 처리 모듈(30)로 전송된다.
마지막으로, 저장 단계(S6)에서, 테스트 처리 모듈(30)은 암호 결과 데이터(32)를 수신하고 상기 암호 결과 데이터(32)가 테스트 처리 모듈(30)에 저장된다.
자동 회로기판 테스트 방법에서 다수의 단계들이 수행되며, 여기에는 테스트 모드 설정 단계, 테스트 신호 지시 전송 단계, 신호 경로 개폐 단계, 또한 제2 신호 인터페이스(42a)의 데이터 테스트 및 귀환 단계가 포함된다. 제2 신호 인터페이스(42a)와 제3 신호 인터페이스(42b)가 동시에 테스트를 실행하여 상술한 단계들을 반복 수행한다. 상기의 테스트 방법은, 적어도 하나의 릴레이 모듈(11)이 신호 경로를 개폐하여 소프트웨어 프로텍터(12)를 제2 신호 인터페이스(42a) 혹은 제3 신호 인터페이스(42b)에 연결하고, 또한 테스트 신호 지시가 발송되거나 암호 결과 데이터(32)가 귀환되는 것 등을 특징으로 한다.
본 발명의 제2 실시 예에 따른 자동 회로기판 테스트 시스템(100)에 있어서, 측정 데이터 입/출력 1 (MDIO1) 인터페이스, 측정 데이터 입/출력 2 (MDIO2) 인터페이스, 측정 데이터 입/출력 3 (MDIO1) 인터페이스, 측정 데이터 입/출력 4 (MDIO4) 인터페이스와 또한 측정 데이터 입/출력 5 (MDIO5) 인터페이스는 5개의 테스트 기판에 연결되어 있다. 따라서 신호 경로를 개폐하는 단계(S3)는 5회 반복되어야 한다. 결과 데이터 수신 단계(S5) 역시 5회 반복되어야 한다. 신호 인터페이스(42)의 용량은 신호 케이블(43) 종류에 따라 달라진다. 신호 경로를 개폐하는 단계(S3) 및 결과 데이터를 수신하는 단계(S5)의 실행 시간은 신호 인터페이스(42)의 용량 변화에 따라 달라진다.
본 발명에 따른 자동 회로기판 테스트 시스템(100)의 특징 및 예상되는 효과를 하기와 같이 기술한다.
적어도 하나의 테스트 기판 스위치 모듈(10)이 조작 상태에 있을 때, 제1 릴레이(111a)와 제2 릴레이(111b)는 즉시 개폐되어 자동 회로기판 테스트 시스템(100) 및 자동 회로기판 테스트 방법에 따라 신호 경로의 개폐를 달성한다. 제1 릴레이(111a)와 제2 릴레이(111b)는 제1 테스트 기판(13a)과 제2 테스트 기판(13b)에 각각 연결된다. 자동 회로기판 테스트 시스템(100)의 전체적인 테스트 공정에서, 신호 케이블(43)은 당겨서 꺼내거나 수동으로 변경할 필요가 없으며, 제1 테스트 기판(13a)과 제2 테스트 기판(13b)을 변경할 필요가 없고, 자동 회로기판 테스트 시스템(100)은 전체 테스트 공정에서 자동으로 테스트를 실행하고, 또한 자동 회로기판 테스트 시스템(100)의 테스트 시간이 감소한다. 자동 회로기판 테스트 시스템(100)의 테스트 시간은 0초 내지 200초의 범위이다.
본 발명에 따른 자동 회로기판 테스트 시스템(100)은 다음과 같은 수행 효과와 기술적 효과를 수반한다.
첫째, 자동 회로기판 테스트 시스템(100)은 적어도 하나의 테스트 기판 스위치 모듈(10)의 제1 릴레이(111a)와 제2 릴레이(111b)가 개폐됨으로써 신호 경로 개폐 효과를 달성하며, 신호 케이블(43)은 당겨서 꺼내거나 수동으로 변경할 필요가 없고, 또한, 제1 테스트 기판(13a)과 제2 테스트 기판(13b)도 변경할 필요가 없으므로 인력 자원에 대한 수요가 감소한다.
둘째, 테스트 처리 모듈(30)은 암호 결과 데이터(32)를 저장하므로, 기록계에 잘못 기록되는 것을 방지하기 위해 또한 테스트 결과의 오류율을 낮추기 위해, 자동 회로기판 테스트 시스템(100)에서 전체 결과 데이터를 수동으로 기록할 필요가 없다.
셋째, 자동 회로기판 테스트 시스템(100)은 테스트 처리 모듈(30)을 통해 암호 결과 데이터(32)를 분석하고, 분석된 암호 결과 데이터(32)는 사용자 인터페이스에 표시되어 테스트 수행자가 테스트 결과를 관찰할 수 있게 하고, 상기 장치(100)는 판단을 내리는 기술적 지식이 있는 자(기술자) 없이 실시간 데이터 디스플레이 효과를 달성하며, 따라서 상기 회로기판 테스트 시스템(100)에 의해 테스트 시간 및 인적 비용이 감소한다.
넷째, 자동 회로기판 테스트 시스템(100) 및 상기 자동 회로기판 테스트 시스템(100)에 적용되는 자동 회로기판 테스트 방법은 전체 테스트 시간을 단축시킬 수 있다. 구체적으로, 상기 자동 회로기판 테스트 시스템(100)의 전체 테스트 시간은 150초까지 단축될 수 있으며, 자동 회로기판 테스트 시스템(100) 및 상기 자동 회로기판 테스트 시스템(100)에 적용되는 자동 회로기판 테스트 방법은 테스트 흐름도를 간소화하고 테스트 시간을 단축함으로써 실용성을 확보한다.
상술한 바와 같이, 신호 개폐를 목적으로 하는 자동 회로기판 테스트 시스템(100) 및 상기 자동 회로기판 테스트 시스템(100)에 적용되는 자동 회로기판 테스트 방법은 테스트 흐름도를 간소화하고 테스트 시간을 단축함으로써 실용성을 확보한다.
본 발명의 수행 방식을 구체적인 실시양태를 통해 기술하며, 상술한 기술 분야의 숙련된 자는 본 발명의 상세한 설명으로부터 본 발명의 효과 및 기타의 장점을 이해할 수 있다. 본 발명은 그 외 다양한 실시 예에 따라 수행 및 응용될 수 있으며, 본 발명의 상세한 설명에 기술된 다양한 세부 내용에 기초하여 상이한 관점과 응용 분야에서 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 한도에서 다양하게 수정 및 변경할 수 있다.
구성요소의 구조, 비율, 크기, 용량 등은 모두 당해 분야의 기술자가 이해 및 해석할 수 있도록, 본 발명의 상세한 설명에 기술된 내용에 부합하는 것으로 이해한다. 본 발명의 상세한 설명에 기술된 내용에 부합하는 상기 구성요소의 구조, 비율, 크기, 용량 등은 모두 응용 가능한 조건들을 제한하지 않는다. 따라서 본 발명의 상세한 설명에 기술된 내용에 부합하는 상기 구성요소의 구조, 비율, 크기, 용량 등은 모두 기술상으로 중대한 유의미성을 갖지 않으며, 구조의 변형, 비율 변경 혹은 크기 변화 등도 모두 본 발명에서 달성한 목적 및 효과에 아무런 영향 없이 본 발명에 기술된 내용의 범위에 속한다.

Claims (11)

  1. 테스트 보드에 연결된 적어도 하나의 테스트 기판 스위치 모듈로서,
    상기 테스트 보드는 제1 신호 인터페이스, 제2 신호 인터페이스, 제3 신호 인터페이스 및 중계기를 포함하고, 제2 신호 인터페이스와 제3 신호 인터페이스는 신호 케이블에 의해 상호 연결되며, 제1 신호 인터페이스는 중계기와 연결되고, 상기 적어도 하나의 테스트 기판 스위치 모듈은 제2 신호 인터페이스 및 제3 신호 인터페이스에 각각 연결되고, 상기 적어도 하나의 테스트 기판 스위치 모듈은 다수의 릴레이를 포함하는 것인, 적어도 하나의 테스트 기판 스위치 모듈;
    제어 인터페이스 버스에 의해 상기 적어도 하나의 테스트 기판 스위치 모듈과 연결되고, 상기 적어도 하나의 테스트 기판 스위치 모듈을 제어하는 제어 모듈; 및
    테스트 보드에서 테스트한 암호 결과 데이터를 수신하고, 적어도 2개의 직렬 포트 버스에 의해 각각 제어 모듈과 제1 신호 인터페이스에 연결되는 테스트 처리 모듈을 포함하고,
    테스트 모듈은 제어 신호를 제어 모듈에 전송하고, 제어 모듈은 상기 제어 신호를 연속 제어 신호로 변환하고, 이어서 제어 모듈이 상기 연속 제어 신호를 적어도 하나의 테스트 기판 스위치 모듈에 전송하고, 제어 모듈은 적어도 하나의 테스트 기판 스위치 모듈의 다수의 릴레이를 제어하여 신호 경로를 개폐하며, 테스트 보드는 적어도 하나의 테스트 기판 스위치 모듈에 결과 데이터를 전송하고, 상기 적어도 하나의 테스트 기판 스위치 모듈은 연속 귀환 신호를 통해 제어 모듈에 결과 데이터를 전송하며, 제어 모듈은 상기 연속 귀환 신호를 귀환 신호로 변환하고, 암호 결과 신호가 귀환 신호를 통해 테스트 처리 모듈에 전송되는 것인 자동 회로기판 테스트 시스템.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 적어도 하나의 테스트 기판 스위치 모듈은 적어도 2개의 테스트 기판, 적어도 하나의 릴레이 모듈 및 소프트웨어 프로텍터를 포함하고; 상기 적어도 하나의 테스트 기판 스위치 모듈은 각각 제2 신호 인터페이스와 제3 신호 인터페이스에 연결되고; 상기 적어도 2개의 테스트 기판은 적어도 하나의 릴레이 모듈에 연결되며; 상기 적어도 하나의 릴레이 모듈은 제어 인터페이스 버스에 의해 제어 모듈에 연결되고; 상기 소프트웨어 프로텍터는 상기 적어도 하나의 릴레이 모듈에 의해 귀환된 귀환 데이터를 암호화하고,
    상기 자동 회로기판 테스트 시스템은 3개의 직렬 포트 버스를 포함하고 이는 제1 직렬 포트 버스, 제2 직렬 포트 버스 및 제3 직렬 포트 버스로 구성되며, 여기서 제1 직렬 포트 버스는 제1 신호 인터페이스에 연결되고, 제2 직렬 포트 버스는 제어 모듈에 연결되며, 제3 직렬 포트 버스는 소프트웨어 프로텍터에 연결되는 것인 자동 회로기판 테스트 시스템.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 적어도 하나의 릴레이 모듈은 연속 제어 신호에 의해 상기 적어도 하나의 릴레이 모듈의 확장칩의 출력 접속핀을 제어함으로써, 다수의 릴레이의 스위치가 신호 경로를 개폐할 수 있게 하는 것인 자동 회로기판 테스트 시스템.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 제어 모듈은 제어 전력칩을 포함하고, 상기 제어 전력칩은 3.3V 직류 전압을 제어 모듈의 마이크로-컨트롤러에 공급하기 위해 사용되며, 상기 적어도 하나의 릴레이 모듈은 릴레이 전력칩을 포함하고, 상기 릴레이 전력칩은 3.3V 직류 전압을 확장칩에 공급하기 위해 사용되는 것인 자동 회로기판 테스트 시스템.
  5. 제3항에 있어서,
    상기 확장칩은 상호 집적회로 버스 인터페이스와 다수의 다용도 입/출력핀을 구비하는 것인 자동 회로기판 테스트 시스템.
  6. 제2항에 있어서,
    제어 모듈의 진동 주파수가 24MHz인 것인 자동 회로기판 테스트 시스템.
  7. 제1항에 있어서,
    암호 결과 데이터는 테스트 날짜 및 시간, 작업 주문 정보, 테스트장 분류, 테스트 흐름도, 테스트 항목 및 테스트 결과를 포함하며, 상기 암호 결과 데이터는 테스트 처리 모듈에 저장되는 것인 자동 회로기판 테스트 시스템.
  8. 제7항에 있어서,
    테스트 결과는 다수의 테스트 세부사항을 포함하는 것인 자동 회로기판 테스트 시스템.
  9. 제1항에 있어서,
    자동 회로기판 테스트 시스템의 전체 테스트 시간은 0초 내지 200초의 범위인 것인 자동 회로기판 테스트 시스템.
  10. 자동 회로기판 테스트 시스템에 적용되는 자동 회로기판 테스트 방법으로서, 다수의 릴레이가 포함된 적어도 하나의 릴레이 모듈 및 상기 적어도 하나의 릴레이 모듈에 연결된 소프트웨어 프로텍터가 구비된 적어도 하나의 테스트 기판 스위치 모듈, 제어 모듈, 제어 모듈에 연결된 테스트 처리 모듈, 상기의 소프트웨어 프로텍터와 연결된 제3 직렬 포트 버스를 포함하고, 상기 적어도 하나의 테스트 기판 스위치 모듈은 중계기 및 중계기와 연결된 제1 신호 인터페이스를 포함하는 테스트 보드와 연결되어 있으며,
    상기 자동 회로기판 테스트 방법은:
    테스트 모드를 설정하는 것으로서, 테스트 처리 모듈이 제3 직렬 포트 버스를 통해 제1 신호 인터페이스와 연결되어 중계기가 테스트 모드에 들어가도록 설정하는 단계;
    테스트 신호 지시를 전송하는 것으로서, 테스트 처리 모듈이 제어 신호를 제어 모듈에 전송하는 단계;
    제어 신호를 변환하는 것으로서, 상기 제어 모듈이 제어 신호를 수신하고, 상기 제어 신호는 제어 모듈의 마이크로-컨트롤러에 전송되며, 상기 제어 신호가 연속 제어 신호로 변환되는 단계;
    데이터를 비교하는 것으로서, 연속 제어 신호가 제어 모듈의 저장 장치에 전송되고 상기 저장 장치에서 데이터 비교가 수행되며, 상기 연속 제어 신호는 마이크로-컨트롤러에 귀환되고, 상기 마이크로-컨트롤러는 연속 제어 신호를 적어도 하나의 릴레이 모듈에 전송하는 단계;
    신호 경로를 개폐하는 것으로서, 상기 적어도 하나의 릴레이 모듈은 상기 연속 제어 신호를 수신하고 상기 적어도 하나의 릴레이 모듈이 다수의 릴레이를 제어하여 경로를 개폐한 다음 연속 제어 신호를 테스트 보드에 전송하는 단계;
    결과 데이터를 수신하는 것으로서, 상기 적어도 하나의 릴레이 모듈이 결과 데이터를 수신하고 이어서 상기 결과 데이터는 연속 귀환 신호를 통해 소프트웨어 프로텍터에 전송되는 단계;
    결과 데이터를 패키지 처리하는 것으로서, 소프트웨어 프로텍터가 결과 데이터를 수신하고, 상기 결과 데이터는 패키지 처리되어 암호 결과 데이터를 형성하며, 이어서 상기 연속 귀환 신호가 이에 상응하는 귀환 신호로 변환되고, 상기 암호 결과 데이터는 귀환 신호를 통해 테스트 처리 모듈로 전송되는 단계; 및
    암호 결과 데이터를 저장하는 것으로서, 테스트 처리 모듈이 암호 결과 데이터를 수신하고 이에 따라 암호 결과 데이터는 테스트 처리 모듈에 저장되는 단계들을 포함하는 자동 회로기판 테스트 방법.
  11. 자동 회로기판 테스트 시스템에 적용되는 자동 회로기판 테스트 방법으로서, 상기 자동 회로기판 테스트 시스템은 다수의 릴레이가 포함된 적어도 하나의 릴레이 모듈 및 상기 적어도 하나의 릴레이 모듈과 연결된 소프트웨어 프로텍터가 구비된 적어도 하나의 테스트 기판 스위치 모듈, 제어 모듈, 제어 모듈에 연결된 테스트 처리 모듈, 및 상기의 소프트웨어 프로텍터와 연결된 제3 직렬 포트 버스를 포함하고, 상기 적어도 하나의 테스트 기판 스위치 모듈은 중계기 및 중계기와 연결된 제1 신호 인터페이스를 포함하는 테스트 보드와 연결되어 있으며,
    상기 자동 회로기판 테스트 방법은:
    테스트 모드를 설정하는 것으로서, 테스트 처리 모듈이 제3 직렬 포트 버스를 통해 제1 신호 인터페이스와 연결되어 중계기가 테스트 모드에 들어가도록 설정하는 단계;
    테스트 신호 지시를 전송하는 것으로서, 테스트 처리 모듈이 제어 신호를 제어 모듈에 전송하는 단계;
    신호 경로를 개폐하는 것으로서, 적어도 하나의 릴레이 모듈이 상기 연속 제어 신호를 수신하고, 적어도 하나의 릴레이 모듈이 다수의 릴레이를 제어하여 경로를 개폐한 다음 연속 제어 신호를 테스트 보드에 전송하는 단계;
    테스트를 실행하는 것으로서, 테스트 보드가 연속 제어 신호를 수신하며 상기 테스트 보드에서 테스트가 실행되는 단계;
    결과 데이터를 수신하는 것으로서, 적어도 하나의 릴레이 모듈이 결과 데이터를 수신한 다음 연속 귀환 신호를 통해 소프트웨어 프로텍터에 전송하고, 결과 데이터가 패키지 처리되어 암호 결과 데이터를 형성하며, 상기 암호 결과 데이터가 연속 귀환 신호를 통해 제어 모듈에 전송되는 단계; 및
    암호 결과 데이터를 저장하는 것으로서, 테스트 처리 모듈이 암호 결과 데이터를 수신하며 상기 암호 결과 데이터가 테스트 처리 모듈에 저장되는 단계들을 포함하는 자동 회로기판 테스트 방법.
KR1020200092001A 2019-08-01 2020-07-24 자동 회로기판 테스트 시스템 및 이에 응용되는 자동 회로기판 테스트 방법 KR102364055B1 (ko)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201910705478.7A CN112305398A (zh) 2019-08-01 2019-08-01 自动化电路板测试系统及其方法
CN201910705478.7 2019-08-01

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20210016271A true KR20210016271A (ko) 2021-02-15
KR102364055B1 KR102364055B1 (ko) 2022-02-16

Family

ID=71575175

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020200092001A KR102364055B1 (ko) 2019-08-01 2020-07-24 자동 회로기판 테스트 시스템 및 이에 응용되는 자동 회로기판 테스트 방법

Country Status (4)

Country Link
US (1) US11162997B2 (ko)
EP (2) EP3771912B1 (ko)
KR (1) KR102364055B1 (ko)
CN (1) CN112305398A (ko)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113325823A (zh) * 2021-05-31 2021-08-31 重庆川仪速达机电有限公司 一种柴油机监控仪自动测试系统及测试的方法
CN113740703B (zh) * 2021-07-28 2023-11-10 苏州浪潮智能科技有限公司 一种Retimer芯片的测试板及测试系统
CN113687219A (zh) * 2021-09-15 2021-11-23 上海华岭集成电路技术股份有限公司 测试板的在线检测方法
CN114167254B (zh) * 2021-10-31 2023-12-12 重庆台冠科技有限公司 一种第一tp测试工具和tp测试装置
CN114268486B (zh) * 2021-12-20 2024-02-06 科华数据股份有限公司 一种串口加密电路及其加密方法、通讯管理机及通讯系统
CN114740332B (zh) * 2022-04-13 2024-03-15 深圳友讯达科技股份有限公司 基于RT-thread的自动化单板检测平台

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60100065A (ja) * 1983-08-01 1985-06-03 フエアチアイルド　カメラ　アンド　インストルメント　コ−ポレ−シヨン 電子回路の自動化テスト中にプログラムしたテスト信号を印加すると共にモニタする方法及び装置
KR20020060893A (ko) * 2001-01-13 2002-07-19 주식회사 푸르던텍 보드 테스트 시스템
JP2002236150A (ja) * 2001-02-08 2002-08-23 Mitsubishi Electric Corp 半導体集積回路の試験装置及び試験方法
US20050017729A1 (en) * 2001-02-19 2005-01-27 Yoshio Tsuji Circuit board testing apparatus and method for testing a circuit board
KR100479957B1 (ko) 2002-09-24 2005-04-07 정병선 오·폐수처리장치
US20130241584A1 (en) * 2012-03-16 2013-09-19 Hon Hai Precision Industry Co., Ltd. Power-on test apparatus and system for testing electronic device
KR20180027594A (ko) * 2015-08-05 2018-03-14 테라다인 인코퍼레이티드 자동화된 테스트 장비 교정용 ｍｅｍ 중계기 어셈블리
US20200169489A1 (en) * 2015-05-06 2020-05-28 Marvell Asia Pte., Ltd. Securing and controlling remote access of a memory-mapped device utilizing an ethernet interface and test port of a network device

Family Cites Families (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3854125A (en) * 1971-06-15 1974-12-10 Instrumentation Engineering Automated diagnostic testing system
US6381239B1 (en) 1996-02-13 2002-04-30 Taqua Systems, Inc. Multiple application switching platform and method
US6067585A (en) 1997-06-23 2000-05-23 Compaq Computer Corporation Adaptive interface controller that can operate with segments of different protocol and transmission rates in a single integrated device
US6966019B2 (en) * 2002-06-28 2005-11-15 Teradyne, Inc. Instrument initiated communication for automatic test equipment
JP2007057541A (ja) 2003-03-31 2007-03-08 Advantest Corp 試験エミュレート装置
US7031868B2 (en) 2003-09-15 2006-04-18 Rambus, Inc. Method and apparatus for performing testing of interconnections
JP2005309543A (ja) * 2004-04-16 2005-11-04 Sharp Corp テストボード、ｃｐｕ内蔵半導体集積回路のテストシステム、そのテスト方法、セルフテストプログラムおよび可読記録媒体
US7216050B1 (en) * 2004-12-07 2007-05-08 Nvidia Corporation System and method for testing a printed circuit board assembly
TWI273263B (en) * 2005-09-28 2007-02-11 Via Tech Inc Circuit testing system and method
US7590903B2 (en) * 2006-05-15 2009-09-15 Verigy (Singapore) Pte. Ltd. Re-configurable architecture for automated test equipment
TWI346788B (en) * 2007-10-23 2011-08-11 Asustek Comp Inc Auto testing system, switch module and routing method thereof
US9146277B2 (en) * 2008-11-07 2015-09-29 Infineon Technologies Ag Test board and test system
KR20100124399A (ko) * 2009-05-19 2010-11-29 (주)티에스이 분산 제어 방식 반도체 소자 테스트 장치
CN102486521B (zh) * 2010-12-02 2014-04-02 京元电子股份有限公司 晶圆检测系统
KR101602084B1 (ko) 2011-11-09 2016-03-21 주식회사 아도반테스토 테스트 대상 디바이스와 자동 테스트 장비 사이에서 교환되고 있는 신호를 추출하는 개념
EP2605027B8 (en) * 2011-12-12 2023-12-06 Rohde & Schwarz GmbH & Co. KG A switch-extender and a method for calibrating
KR20140112135A (ko) * 2013-03-11 2014-09-23 삼성전자주식회사 디바이스 인터페이스 보드의 반도체 소자 및 이를 이용한 테스트 시스템
US9506980B2 (en) * 2013-03-15 2016-11-29 Intel Corporation Integrated circuit testing architecture
TWI561839B (en) 2014-01-24 2016-12-11 Sitronix Technology Corp Integrated circuit testing interface and automatic test equipment
US10241146B2 (en) * 2017-05-01 2019-03-26 Advantest Corporation Test system and method

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60100065A (ja) * 1983-08-01 1985-06-03 フエアチアイルド　カメラ　アンド　インストルメント　コ−ポレ−シヨン 電子回路の自動化テスト中にプログラムしたテスト信号を印加すると共にモニタする方法及び装置
KR20020060893A (ko) * 2001-01-13 2002-07-19 주식회사 푸르던텍 보드 테스트 시스템
JP2002236150A (ja) * 2001-02-08 2002-08-23 Mitsubishi Electric Corp 半導体集積回路の試験装置及び試験方法
US20050017729A1 (en) * 2001-02-19 2005-01-27 Yoshio Tsuji Circuit board testing apparatus and method for testing a circuit board
KR100479957B1 (ko) 2002-09-24 2005-04-07 정병선 오·폐수처리장치
US20130241584A1 (en) * 2012-03-16 2013-09-19 Hon Hai Precision Industry Co., Ltd. Power-on test apparatus and system for testing electronic device
US20200169489A1 (en) * 2015-05-06 2020-05-28 Marvell Asia Pte., Ltd. Securing and controlling remote access of a memory-mapped device utilizing an ethernet interface and test port of a network device
KR20180027594A (ko) * 2015-08-05 2018-03-14 테라다인 인코퍼레이티드 자동화된 테스트 장비 교정용 ｍｅｍ 중계기 어셈블리

Also Published As

Publication number Publication date
EP3879287A1 (en) 2021-09-15
EP3771912B1 (en) 2023-07-26
US20210033661A1 (en) 2021-02-04
KR102364055B1 (ko) 2022-02-16
EP3879287B1 (en) 2023-09-06
US11162997B2 (en) 2021-11-02
EP3771912A1 (en) 2021-02-03
CN112305398A (zh) 2021-02-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR102364055B1 (ko) 자동 회로기판 테스트 시스템 및 이에 응용되는 자동 회로기판 테스트 방법
JP2021071460A (ja) 自動回路基板試験システム及びその試験方法
US8127187B2 (en) Method and apparatus of ATE IC scan test using FPGA-based system
WO2021189322A1 (zh) 一种芯片测试装置及测试方法
CN102549443B (zh) 可编程协议发生器
US20050258856A1 (en) High-speed interface circuit test module, module under high-speed interface circuit test, and high-speed interface circuit test method
JP2013507610A5 (ko)
US10402288B2 (en) USB-testing method and testing fixture board for USB device
CN105989900B (zh) 片上系统芯片及其嵌入式存储器最低工作电压的测量
CN110824337A (zh) 一种soc芯片高温测试的方法和装置
CN101634860A (zh) 模拟控制设备及应用该模拟控制设备的测试系统及方法
CN103594121B (zh) 存储器测试方法、存储器测试装置及其转接器
CN114545194A (zh) 一种通用电路验证测试系统以及方法
CN110188009B (zh) 一种fpga验证设备
US20030120970A1 (en) Method and apparatus for debugging an electronic product using an internal I/O port
KR101452959B1 (ko) 실장형 테스트 장비 및 그 방법
US7395472B2 (en) Method and a unit for programming a memory
CN104730448A (zh) 自动测试设备资源配置方法与自动测试通道配置装置
TWI704361B (zh) 自動化電路板測試系統及其方法
JP2022055277A (ja) データ処理機能を有する自動試験機及びその情報処理方法
US20040064763A1 (en) Apparatus and method for a trace system on a chip having multiple processing units
JP2008286773A (ja) 混合信号処理回路を有するプローブカードおよび被試験カード
CN213958047U (zh) 一种调试器、调试装置及调试系统
CN104866401B (zh) 片内信号获取方法及装置
CN218272603U (zh) 芯片测试电路和系统

Legal Events

Date Code Title Description
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant