JP2021071460A - 自動回路基板試験システム及びその試験方法 - Google Patents

Abstract

【課題】自動試験システム、特に信号を切り替える自動回路基板試験システム及びその試験方法を提供する。【解決手段】本発明は、被試験電子製品の環境に用いられる。試験信号を電子製品である被試験体に送ることで、関連パラメータを測定する。まず、試験処理モジュール３０は、制御信号を被試験基板スイッチモジュール１０に伝送する。前記被試験基板スイッチモジュール１０は、複数のリレーを切り替えることで信号経路を切り替え、且つ制御信号をシーケンス制御信号に変換する。そして、シーケンス制御信号を試験基板に伝送して試験を行う。リターンにおいて、前記被試験基板スイッチモジュール１０によって再び信号経路を切り替えて、その結果データを試験処理モジュール３０に送り返す。それによって、前記システム１００は、前記被試験基板スイッチモジュール１０によって信号経路を切り替えることで、１回で複数の電子製品である被試験体を検査できる。【選択図】図１

Description

本発明は、自動試験システム、特に信号を切り替える自動回路基板試験システム及びその試験方法に関する。

自動試験システム（Ａｕｔｏｍａｔｉｃ Ｔｅｓｔ Ｅｑｕｉｐｍｅｎｔ、ＡＴＥ）は、自動化されたメカニズムによって半導体製品、電子回路装置、及びプリント回路基板等を試験するものである。そのうち、測定ユニットは、自動試験システムによく見られる重要な素子である。測定ユニットの機能は、試験信号を被試験装置（Ｄｅｖｉｃｅ Ｕｎｄｅｒ Ｔｅｓｔ、ＤＵＴ）に伝送して関連パラメータを測定する。よく見られるモードとしては、ＤＵＴフィードバックの符号誤り率を測定するための疑似ランダムバイナリーシーケンス（Ｐｓｅｕｄｏ−Ｒａｎｄｏｎ Ｂｉｎａｒｙ Ｓｅｑｕｅｎｃｅ、ＰＲＢＳ）が挙げられる。

現在、市場での自動試験システムによって被試験装置のＰＲＢＳ試験を行う時に、試験員は、試験要求に応じ、必要データ及び必要パラメータを入力し、ユーザーインタフェース（ＧＵＩ）を操作して試験プロセスを変換し、そして、異なる試験プロセスに応じ、ＤＵＴの線を交換、抜き挿しすることで、複数の工程を行うことができる。

台湾特許第Ｉ４７９９５７号公報の「被試験装置と自動試験装置との間で交換する信号を抽出するためのコンセプト」において、被試験装置と自動試験装置との間で交換する信号を抽出するためのプリント回路基板が開示されている。前記プリント回路基板は、複数の第１端子、複数の第２端子、複数本の伝送線、及び抽出回路を備える。前記複数の第１端子は、前記被試験装置のスロットの端子と接触するように配置される。前記複数の第２端子は、前記自動試験装置の試験固定部材の端子と接触するように配置される。前記端子は、前記被試験装置のスロットの前記端子に接続される。前記複数本の伝送線は、前記複数の第１端子及び前記複数の第２端子に接続するように配置される。前記抽出回路は、前記複数本の伝送線のいずれか１つに電気的に接続され、前記被試験装置と前記自動試験装置との間に前記１本の伝送線を介して交換する信号を抽出するように設置されることで、抽出信号を得る。また、前記抽出回路は、抵抗器又は抵抗ネットワークを有する。そのうち、前記被試験装置と前記自動試験との間に前記１本の伝送線を介して交換する信号において、前記プリント回路基板による損失が６ｄＢ以下である。

台湾特許第Ｉ５６１８３９号公報の「集積回路試験インタフェース及び自動試験装置」において、被試験素子の試験に用いられ、自動試験装置にアップグレードできる集積回路試験インタフェースが開示されている。前記集積回路試験インタフェースは、少なくとも１つの試験信号を前記自動試験装置の試験機に受信又は伝送する少なくとも１つのリード線と、前記少なくとも１つのリード線に接続してデジタル信号を生成する複数のデジタイザと、前記複数のデジタイザに接続して前記デジタル信号を処理するプロセッサーと、前記プロセッサーとコンピューター設備を接続して前記プロセッサーの出力信号を前記コンピューター設備に伝送するコネクタとを備える。そのうち、前記集積回路試験インタフェースは、前記自動試験装置の前記試験機と測定機との間に設ける。

今のところ、従来の自動試験システムの問題点としては、試験システムにおいて、１回で１つの被試験体しか試験できないことにある。例えば、被試験体Ａ及び被試験体Ｂがある場合、前記試験システムを前記被試験体Ａに接続して試験動作を行う。その後、前記被試験体Ａを取り外して、前記被試験体Ｂに接続してから試験動作を行う。本発明の自動回路基板試験システムを使用すれば、前記問題を解決できる。すなわち、本発明によれば、１回で複数の被試験体に接続でき、信号経路の切り替えによって複数の被試験体の試験を行うことができる。

しかしながら、被試験体がますます多様化すると同時に、その動作もますます精密になる。そのため、日増しに複雑になる試験要求を対応するために、機能がより高い自動試験システム及び方法が求められている。開発者が達成しようとしている目標は、試験プロセスの簡単化及び試験時間の短縮ができ、より柔軟性があって、より効率的な自動試験システムである。

本発明の主な目的としては、自動回路基板試験システム及びその試験方法を提供することにある。前記試験システムは、被試験基板スイッチモジュール及び制御モジュールに接続され、さらに試験基板に接続される。そして、制御モジュールによって被試験基板スイッチモジュールを制御し、リレーを速やかに切り替えることで、信号経路を切り替える。そのため、前記試験システムは、１回で複数の被試験体に接続して試験を行うことができる。さらに、前記試験システムを使用すれば、人員の削減、試験時間の短縮、完全自動化、記録が可能であり、試験処理モジュールで分析した分析結果をユーザーインタフェースに表示することができる。

前記目的及び他の目的を達成するために、本発明の目的としては、自動回路基板試験システムを提供することにある。前記自動回路基板試験システムは、少なくとも１つの被試験基板スイッチモジュールと、制御モジュールと、試験処理モジュールとを備える。前記被試験基板スイッチモジュールは、複数のリレーを有し、試験基板に接続される。前記試験基板は、第１信号ポートと、第２信号ポートと、第３信号ポートと、リピータとを有する。前記第２信号ポート及び前記第３信号ポートは、信号線で互いに接続される。前記第１信号ポートは、前記リピータに接続される。前記被試験基板スイッチモジュールは、前記第２信号ポート及び前記第３信号ポートにそれぞれ接続される。前記制御モジュールは、制御バスを介して前記被試験基板スイッチモジュールに接続され、前記被試験基板スイッチモジュールを制御する。前記試験処理モジュールは、前記試験基板から測定した暗号化結果データを受信し、且つ少なくとも２つのシリアルポートバスを介して前記制御モジュール及び前記第１信号ポートにそれぞれ接続される。

前記試験処理モジュールは、制御信号を前記制御モジュールに伝送する。前記制御モジュールは、前記制御信号をシーケンス制御信号に変換して前記被試験基板スイッチモジュールに伝送し、前記被試験基板スイッチモジュールのリレーを制御して信号経路を切り替え、前記試験基板は、結果データを前記被試験基板スイッチモジュールに送り返す。前記被試験基板スイッチモジュールが前記結果データを受信してパケット化して前記暗号化結果データを生成する。前記被試験基板スイッチモジュールは、前記結果暗号化データをシーケンスリターン信号を介して制御モジュールに伝送する。前記制御モジュールは、前記シーケンスリターン信号をリターン信号に変換し、且つ前記暗号化結果データを前記リターン信号を介して前記試験処理モジュールに伝送する。

好ましくは、前記被試験基板スイッチモジュールは、少なくとも２つの被試験基板と、少なくとも１つのリレーモジュールと、ソフトウェアプロテクターとを備える。前記被試験基板は、それぞれ前記第２信号ポート及び前記第３信号ポートに接続され、且つ前記リレーモジュールに接続される。前記リレーモジュールは、前記制御バスを介して前記制御モジュールに接続される。前記ソフトウェアプロテクターは、ソフトウェアバスを介して前記リレーモジュールに接続され、前記リレーモジュールからのリターンデータを暗号化する。前記シリアルポートバスの数は３本であり、それぞれ前記第１信号ポート、前記制御モジュール及び前記ソフトウェアプロテクターに接続され、且つ前記試験処理モジュールに接続される。

好ましくは、前記リレーモジュールは、前記シーケンス制御信号によって、前記リレーモジュールの拡張チップの出力リード線を制御し、前記リレーのオン／オフによって信号経路を切り替える。

好ましくは、前記暗号化結果データは、試験日時と、作業指示書情報と、試験テーションと、試験プロセスと、試験項目と、試験結果とを含む。前記暗号化結果データは、前記試験処理モジュールに保存される。

好ましくは、前記試験結果は、複数の試験結果の詳細内容を含む。

好ましくは、前記制御モジュールの発振周波数は２４ＭＨｚである。

好ましくは、前記制御モジュールは、３．３Ｖの直流電圧を前記制御モジュールのマイクロコントローラーに提供する制御電源チップを有する。前記リレーモジュールは、３．３Ｖの直流電圧を前記拡張チップに提供するリレー電源チップを有する。

好ましくは、前記拡張チップは、集積回路バスのインタフェースと複数のリード線とを有する。

好ましくは、前記試験システムの総試験時間は０〜２００秒である。

前記目的及び他の目的を達成するために、本発明の他の目的としては、自動回路基板試験システムの試験方法を提供することにある。前記自動回路基板試験システムの試験方法は、
前記試験処理モジュールが前記第１信号ポートを介して前記リピータを設定し、試験モードに入る設定工程と、
前記試験処理モジュールが前記制御信号を前記制御モジュールに伝送する試験信号伝送工程と、
前記制御モジュールが前記制御信号を受信し、その信号を前記制御モジュールのマイクロコントローラーに伝送し、且つ前記シーケンス制御信号に変換する信号変換工程と、
前記マイクロコントローラーが前記シーケンス制御信号を前記制御モジュールのメモリに伝送し、前記メモリでデータ照合を行い、さらに前記シーケンス制御信号を前記マイクロコントローラーに送り返し、前記マイクロコントローラーによって前記シーケンス制御信号を前記被試験基板スイッチモジュールのリレーモジュールに伝送するデータ照合工程と、
前記リレーモジュールが前記シーケンス制御信号を受信し、前記リレーを制御して経路を切り替え、前記シーケンス制御信号を前記試験基板に伝送する信号経路切り替え工程と、
前記試験基板が前記シーケンス制御信号を受信し、前記試験基板に対して試験動作を行う試験工程と、
前記リレーモジュールが前記結果データを受信して前記シーケンスリターン信号を介してソフトウェアプロテクターに伝送する結果データ受信工程と、
前記ソフトウェアプロテクターが前記結果データを受信してパケット化して前記暗号化結果データを生成し、さらに前記シーケンスリターン信号を前記リターン信号に変換し、前記暗号化結果データを前記リターン信号を介して前記試験処理モジュールに伝送するパケット工程と、
前記試験処理モジュールが前記暗号化結果データを受信して前記試験処理モジュールに保存する保存工程と、を備える。

本発明の自動回路基板試験システム及びその試験方法は、自動回路基板試験システムを利用して自動回路基板試験方法と組み合わせ、前記被試験基板スイッチモジュールの前記リレーを切り替えることで、信号経路を切り替える。そのため、同時に複数の前記被試験基板を試験できる。よって、試験プロセスの簡単化及び試験時間の短縮に有利である。

本発明の好ましい実施例の自動回路基板試験システムを示す模式図である。 本発明の好ましい実施例の自動回路基板試験方法を示すフローチャートである。 本発明の好ましい実施例の自動回路基板試験システムを示す模式図である。 本発明の好ましい実施例において、制御モジュールとリレーモジュールを接続する模式図である。 本発明の好ましい実施例の暗号化結果データを示す模式図である。 本発明の好ましい実施例の試験結果の詳細内容を示す模式図である。 本発明の好ましい実施例の自動回路基板試験方法を示すフローチャートである。

図１を参照しながら説明する。図１は、本発明の好ましい実施例の自動回路基板試験システムを示す模式図である。本発明の１つの実施例である自動回路基板試験システム１００は、少なくとも１つの被試験基板スイッチモジュール１０と、制御モジュール２０と、試験処理モジュール３０とを備える。

図１及び図３に示すように、前記被試験基板スイッチモジュール１０（ＤＵＴ Ｓｗｉｔｃｈ Ｃｉｒｃｕｉｔ）は、試験基板４０（Ｔｅｓｔ ｂｏａｒｄ）に接続される。前記試験基板４０は、第１信号ポート４２ｃ（ＭＤＩＯ０）と、第２信号ポート４２ａ（ＭＤＩＯ１）と、第３信号ポート４２ｂ（ＭＤＩＯ２）と、及びリピータ４１（Ｒｅｔｉｍｅｒ）とを有する。前記第２信号ポート４２ａ（ＭＤＩＯ１）及び前記第３信号ポート４２ｂ（ＭＤＩＯ２）は、信号線４３（Ｃａｂｌｅ）で互いに接続される、前記第１信号ポート４２ｃ（ＭＤＩＯ０）は、前記リピータ４１に接続される。前記被試験基板スイッチモジュール１０は、前記第２信号ポート４２ａ（ＭＤＩＯ１）及び前記第３信号ポート４２ｂ（ＭＤＩＯ２）にそれぞれ接続される。図４に示すように、前記被試験基板スイッチモジュール１０は、複数のリレー１１１ａ、１１１ｂ（Ｒｅｌａｙ）を有する。本実施例において、前記信号線４３は１対１の試験線であり、前記第２信号ポート４２ａ（ＭＤＩＯ１）及び前記第３信号ポート４２ｂ（ＭＤＩＯ２）に接続される。他の実施例において、ＭＤＩＯ１〜ＭＤＩＯ５の信号ポートを有するため、前記信号線４３は、１対４の試験線を有してもよい。前記信号ポート数は、異なる前記信号線４３の形式に対応してもよい。

前記制御モジュール２０（Ｃｏｎｔｒｏｌ ｂｏａｒｄ）は、制御バス２１（Ｉ２Ｃ）を介して前記被試験基板スイッチモジュール１０に接続される。前記制御モジュール２０は、前記被試験基板スイッチモジュール１０を制御する。本実施例において、前記制御モジュール２０の発振周波数は２４ＭＨｚであるが、それらに限定されない。設計者の回路設計によって変換してもよい。

前記試験処理モジュール３０（ＧＵＩ−ＰＣ）は、前記試験基板４０を測定した暗号化結果データ３２を受信する。前記試験処理モジュール３０は、２つのシリアルポートバス３１ｂ、３１ｃ（図示せず）（ＵＳＢ２、３）を介して前記制御モジュール２０及び前記第１信号ポート４２ｃ（ＭＤＩＯ０）（図示せず）にそれぞれ接続される。

また、前記試験処理モジュール３０は、制御信号（ＵＳＢ信号）を前記制御モジュール２０に伝送する。前記制御モジュール２０は、前記制御信号（ＵＳＢ信号）をシーケンス制御信号（Ｉ２Ｃ信号）に変換する。そして、前記シーケンス制御信号（Ｉ２Ｃ信号）を再び前記被試験基板スイッチモジュール１０に伝送し、且つ前記被試験基板スイッチモジュール１０の前記リレー１１１ａ、１１１ｂを制御し、信号経路を切り替える。前記試験基板４０は、結果データを前記被試験基板スイッチモジュール１０に送り返す。前記被試験基板スイッチモジュール１０は、前記結果データをシーケンスリターン信号（Ｉ２Ｃリターン信号）で前記制御モジュール２０に伝送する。前記制御モジュール２０は、前記シーケンスリターン信号（Ｉ２Ｃリターン信号）をリターン信号（ＵＳＢリターン信号）に変換し、且つ前記暗号化結果データ３２を前記リターン信号（ＵＳＢリターン信号）で前記試験処理モジュール３０に伝送する。

図２を参照しながら説明する。図２は、本発明の好ましい実施例の自動回路基板試験方法を示すフローチャートである。そのうち、下記工程を行う。

まず、設定工程Ｓ１において、前記試験処理モジュール３０は、前記シリアルポートバス３１ｃ（ＵＳＢ３）を介して前記第１信号ポート４２ｃ（ＭＤＩＯ０）に接続され、前記リピータ４１（Ｒｅｔｉｍｅｒ）を設定して試験モードに入る（図示せず）。

そして、試験信号伝送工程Ｓ２において、前記試験処理モジュール３０が前記制御信号（ＵＳＢ信号）を前記制御モジュール２０に伝送する。

そして、信号経路切り替え工程Ｓ３において、前記被試験スイッチモジュール１０は、前記シーケンス制御信号（Ｉ２Ｃ信号）を受信し、前記リレー１１１ａ、１１１ｂを制御して経路を切り替え、前記試験基板４０に伝送する。

そして、試験工程Ｓ４において、前記試験基板４０が前記シーケンス制御信号（Ｉ２Ｃ信号）を受信し、前記試験基板４０に対して試験動作を行う。

そして、結果データ受信工程Ｓ５において、前記被試験スイッチモジュール１０が前記結果データを受信してパケット化して前記暗号化結果データ３２を生成し、さらに前記結果データを前記シーケンスリターン信号（Ｉ２Ｃリターン信号）で前記制御モジュール２０に伝送する。

最後、保存工程Ｓ６において、前記試験処理モジュール３０が前記暗号化結果データ３２を受信し、保存する。

本発明の構造的な特徴、技術的な手段及びその効果をさらに具体的に理解するために、以下、本発明の実施形態を説明する。

図１及び図３を参照しながら説明する。図３は、本発明の好ましい実施例の自動回路基板試験システムを示す模式図である。本発明の被試験基板スイッチモジュール１０は、少なくとも２つの被試験基板１３ａ、１３ｂ（ＤＵＴ）と、少なくとも１つのリレーモジュール１１（Ｒｅｌａｙ ｂｏａｒｄ）と、ソフトウェアプロテクター１２（Ｄｏｎｇｌｅ）とを備える。前記被試験基板１３ａ、１３ｂは、それぞれ前記第２信号ポート４２ａ（ＭＤＩＯ１）及び前記第３信号ポート４２ｂ（ＭＤＩＯ２）に接続される。前記被試験基板１３ａ、１３ｂは、それぞれ前記リレーモジュール１１に接続する。前記リレーモジュール１１は、前記制御バス２１（Ｉ２Ｃ）を介して前記制御モジュール２０に接続される。前記ソフトウェアプロテクター１２は、ソフトウェアバス１２１（Ｉ２Ｃ）を介して前記リレーモジュール１１に接続される。前記ソフトウェアプロテクター１２は、前記リレーモジュール１１からのリターンデータを暗号化する。

また、前記シリアルポートバスの数は３本である。前記シリアルポートバス３１ａ、３１ｂ、３１ｃ（ＵＳＢ１〜３）は、それぞれ前記第１信号ポート４２ｃ（ＭＤＩＯ０）、前記制御モジュール２０、及び前記ソフトウェアプロテクター１２に接続され、さらに前記試験処理モジュール３０に接続される。前記被試験基板１３ａ、１３ｂ（ＤＵＴ）数は、使用者の要求に応じて複数を設けてもよい。即ち、本発明において、複数の被試験基板１３ａ、１３ｂを試験できる。

図４を参照しながら説明する。図４は、本発明の好ましい実施例において、制御モジュールとリレーモジュールを接続する模式図である。前記リレーモジュール１１は、前記シーケンス制御信号（Ｉ２Ｃ信号）によって前記リレーモジュール１１の拡張チップ１１４（Ｅｘｐａｎｄｅｒ ＩＣ）の出力リード線を制御し、前記リレー１１１ａ、１１１ｂのオン／オフによって信号経路を切り替える。前記拡張チップ１１４は、集積回路バスのインタフェース（Ｉ２Ｃインタフェース）と複数のリード線（ＧＰＩＯ）とを有する。

図４に示すように、前記制御モジュール２０は、３．３Ｖの直流電圧を前記制御モジュール２０のマイクロコントローラー２２に提供する制御電源チップ２４を有する。前記リレーモジュール１１は、３．３Ｖの直流電圧を前記拡張チップ１１４に提供するリレー電源チップ１１２を有する。

図４に示すように、前記制御モジュール２０は、前記シリアルポートバス３１ｂによって５Ｖの直流電圧を前記制御電源チップ２４に提供する。そして、前記制御電源チップ２４によって３．３Ｖの直流電圧を変換して前記制御モジュール２０のマイクロコントローラー２２に提供する。前記リレーモジュール１１は、５Ｖの直流電圧を前記リレー電源チップ１１２に提供する電源供給素子１１３をさらに有し、前記リレー電源チップ１１２によって３．３Ｖの直流電圧を変換して前記拡張チップ１１４に提供する。

図５及び図６を参照しながら説明する。図５は、本発明の好ましい実施例の暗号化結果データを示す模式図であり、図６は、本発明の好ましい実施例の試験結果の詳細内容を示す模式図である。前記暗号化結果データ３２は、試験日時３２１と、作業指示書情報３２２と、試験テーション３２３と、試験プロセス３２４と、試験項目３２５と、試験結果３２６とを含み、且つ前記試験処理モジュール３０に保存される。そのうち、前記試験結果３２６は、複数の試験結果の詳細内容３２６１を含む。

図５に示すように、前記試験項目におけるＣｏｎｎｅｃｔ Ｔｅｓｔ０〜Ｃｏｎｎｅｃｔ Ｔｅｓｔ２の試験内容は、各モジュールと素子との接続状況である。また、前記試験システムの環境設定も検査する。前記試験プロセスは、各試験項目のプロセスを表し、且つ試験結果を箇条書きに表示する。

図７、並びに図３及び図４を参照しながら説明する。図７は、本発明の好ましい実施例の自動回路基板試験方法を示すフローチャートである。本発明において、上記自動回路基板試験システム１００を中心として下記試験工程を行う。

まず、前記設定工程Ｓ１において、図３に示すように、前記試験処理モジュール３０は、前記シリアルポートバス３１ｃ（ＵＳＢ３）を介して前記第１信号ポート４２ｃ（ＭＤＩＯ０）に接続され、且つ前記リピータ４１（Ｒｅｔｉｍｅｒ）を設定して試験モードに入る。

そして、前記試験信号伝送工程Ｓ２において、図３に示すように、前記試験処理モジュール３０が前記制御信号（ＵＳＢ信号）を前記制御モジュール２０に伝送する。本実施例において、前記試験処理モジュール３０は、前記シリアルポートバス３１ｂ（ＵＳＢ２）を介して命令を前記制御モジュール２０に送る。

続いて、信号変換工程Ｓ２１において、図３に示すように、前記制御モジュール２０が前記制御信号（ＵＳＢ信号）を受信して前記制御モジュール２０のマイクロコントローラー２２（ＭＣＵ）に伝送し、且つ前記制御信号（ＵＳＢ信号）を前記シーケンス制御信号（Ｉ２Ｃ信号）に変換する。

本実施例において、前記マイクロコントローラー２２は、ＦＰＧＡ（Ｆｉｅｌｄ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｇａｔｅ Ａｒｒａｙ）、又はＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）であってもよい。

その場合、データ照合工程Ｓ２２において、図４に示すように、前記マイクロコントローラー２２が前記シーケンス制御信号をメモリ２３（ＥＥＰＲＯＭ）に伝送し、前記メモリ２３でデータ照合を行う。そして、前記シーケンス制御信号（Ｉ２Ｃ信号）を前記マイクロコントローラー２２に送り返す。前記マイクロコントローラー２２は、前記シーケンス制御信号（Ｉ２Ｃ信号）を前記リレーモジュール１１に伝送する。

さらに、データ照合工程Ｓ２２において、前記メモリ２３は、ＰＲＯＭ（Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｒｅａｄ−Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ）、ＥＰＲＯＭ（Ｅｒａｓａｂｌｅ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｒｅａｄ−Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ）、フラッシュメモリ（Ｆｌａｓｈ Ｍｅｍｏｒｙ）等の不揮発性メモリ（Ｎｏｎ−Ｖｏｌａｔｉｌｅ Ｍｅｍｏｒｙ）であってもよく、ＤＲＡＭ（Ｄｙｎａｍｉｃ Ｒａｎｄ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ）、ＳＲＡＭ（Ｓｔａｔｉｃ Ｒａｎｄ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ）等の揮発性メモリ（Ｖｏｌａｔｉｌｅ Ｍｅｍｏｒｙ）であってもよい。

そして、前記信号経路切り替え工程Ｓ３において、図３及び図４に示すように、前記リレーモジュール１１は、前記シーケンス制御信号（Ｉ２Ｃ信号）を受信し、且つ前記リレー１１１ａ、１１１ｂを制御して経路を切り替える。そして、前記リレーモジュール１１は、前記シーケンス制御信号（Ｉ２Ｃ信号）を前記試験基板４０に伝送する。本実施例において、前記リレーモジュール１１によって前記リレー１１１ａ、１１１ｂを切り替えることで、前記ソフトウェアプロテクター１２を前記第２信号ポート４２ａ（ＭＤＩＯ１）に接続する。

そして、前記試験工程Ｓ４において、前記試験基板４０は、前記シーケンス制御信号（Ｉ２Ｃ信号）を受信し、前記試験基板４０に対して試験動作を行う。本実施例において、図３に示すように、前記試験処理モジュール３０は、前記シリアルポートバス３１ａ（ＵＳＢ１）を介して、前記ソフトウェアプロテクター１２によって前記第２信号ポート４２ａ（ＭＤＩＯ１）の前記被試験基板１３ａ（ＤＵＴ）に対して試験を行う。

そして、前記結果データ受信工程Ｓ５において、前記リレーモジュール１１は、前記結果データを受信して前記シーケンスリターン信号（Ｉ２Ｃリターン信号）で前記ソフトウェアプロテクター１２に伝送する。本実施例において、図３に示すように、前記リレーモジュール１１によって前記リレー１１１ａ、１１１ｂを切り替えることで、前記ソフトウェアプロテクター１２を前記第２信号ポート４２ａ（ＭＤＩＯ１）に接続する。

続いて、パケット工程Ｓ５１において、図３に示すように、前記ソフトウェアプロテクター１２は、前記結果データを受信してパケット化して前記暗号化結果データ３２を生成し、さらに前記シーケンスリターン信号（Ｉ２Ｃリターン信号）を前記リターン信号（ＵＳＢリターン信号）に変換する。そして、前記暗号化結果データ３２を前記リターン信号（ＵＳＢリターン信号）で前記試験処理モジュール３０に伝送する。

最後、前記保存工程Ｓ６において、前記試験処理モジュール３０は、前記暗号化結果データ３２を受信して前記試験処理モジュール３０に保存する。

また、前記工程は、前記第２信号ポート４２ａ（ＭＤＩＯ１）の設定、指令の伝送、信号の切り替え、試験及びリターンデータを例とする工程である。前記第２信号ポート４２ａ（ＭＤＩＯ１）及び前記第３信号ポート４２ｂ（ＭＤＩＯ２）によって同時に試験を行う場合、上記工程を繰り返して実行する。その相違点としては、前記リレーモジュール１１によって信号経路を切り替えることで、前記ソフトウェアプロテクター１２を前記第２信号ポート４２ａ（ＭＤＩＯ１）又は第３信号ポート４２ｂ（ＭＤＩＯ２）に接続し、そうすることによって、命令が伝送されるか、又は前記暗号化結果データ３２が送り返される。

他の実施例において、５つの前記信号ポート（ＭＤＩＯ１〜ＭＤＩＯ５）を有し、それらが５つの前記被試験基板に接続される。そのため、前記信号経路切り替え工程Ｓ３を５回繰り返す必要がある。また、前記結果データ受信工程Ｓ５も５回繰り返す必要がある。そのため、前記信号ポート数は、前記信号線４３の形式に対応して変更してもよい。前記信号経路切り替え工程Ｓ３及び前記結果データ受信工程Ｓ５において、前記信号ポート数に対応して実行回数を変更する。

以下、本発明の特徴及びその効果をまとめて説明する。

本発明の自動回路基板試験システム及びその試験方法を使用すれば、前記被試験基板スイッチモジュール１０が動作している状態において、前記リレー１１１ａ、１１１ｂを速やかに切り替えることで信号経路を切り替えられる。さらに、前記被試験基板１３ａ、１３ｂに接続されることで、試験の全過程において、手動で前記信号線４３を抜き挿しする必要も、前記被試験基板１３ａ、１３ｂを交換する必要もない。完全自動化を実現でき、試験時間を短縮できる。

それによって、本発明は、下記実施的な効果及び技術的な効果を有する。

１．本発明において、前記試験システム１００は、前記被試験基板スイッチモジュール１０の前記リレー１１１ａ、１１１ｂを切り替えることで、信号経路を切り替える。手動で前記信号線４３を抜き挿しする必要も、前記被試験基板１３ａ、１３ｂを交換する必要もないため、人員の削減ができる。

２．本発明において、前記試験処理モジュール３０によって前記暗号化結果データ３２を保存する。そのため、前記試験システム１００は、手動ですべての結果データを記録する必要がない。記録員のミスを予防できるため、試験結果の誤り率を低減できる。

３．本発明において、前記試験処理モジュール３０によって前記暗号化結果データ３２を分析し、解析した前記暗号化結果データ３２を前記ユーザーインタフェースに表示する。そのため、試験員がそのまま試験結果を確認できるため、エンジニア人員による判断を必要としない。前記試験システム１００にてデータを即時に表示されるため、試験時間及び人力コストの節約ができる。

４．本発明実施例の自動回路基板試験システム及びその試験方法は、総試験時間を１５０秒に短縮できる。さらに、操作プロセスを簡単化するため、非常に利用性を有する。

具体的な実施例によって本発明の実施形態を説明したが、当業者は、本明細書の開示内容に基づいて本発明の他の利点及び効果を理解できる。本発明は、他の具体的な実施形態によって実行又は使用できる。本発明の明細書の各要件等は、異なる観点及び使用に応じ、本発明の精神を逸脱しない範囲で様々な修飾及び変更を行ってもよい。

注意すべきことは、本明細書の図面に開示されている構造、比率、大きさ、素子数等は、当業者が理解できるように明細書の開示内容に合わせて例示されるものに過ぎず、技術的な実質的な意味を有しない。本発明は、それらに限定されていない。本発明の効果及び目的に影響を及ばない範囲内において、すべての構造の修飾、比率関係の変更、又は大きさの調整は、いずれも本発明の範囲に含む。

（付記）
（付記１）
少なくとも１つの被試験基板スイッチモジュールと、制御モジュールと、試験処理モジュールとを備え、
前記被試験基板スイッチモジュールは、複数のリレーを有し、試験基板に接続され、
前記試験基板は、第１信号ポートと、第２信号ポートと、第３信号ポートと、リピータとを有し、
前記第２信号ポート及び前記第３信号ポートは、信号線で互いに接続され、
前記第１信号ポートは、前記リピータに接続され、
前記被試験基板スイッチモジュールは、前記第２信号ポート及び前記第３信号ポートにそれぞれ接続され、
前記制御モジュールは、制御バスを介して前記被試験基板スイッチモジュールに接続され、前記被試験基板スイッチモジュールを制御し、
前記試験処理モジュールは、前記試験基板から測定した暗号化結果データを受信し、且つ少なくとも２つのシリアルポートバスを介して前記制御モジュール及び前記第１信号ポートにそれぞれ接続され、
前記試験処理モジュールは、制御信号を前記制御モジュールに伝送し、
前記制御モジュールは、前記制御信号をシーケンス制御信号に変換して前記被試験基板スイッチモジュールに伝送し、前記被試験基板スイッチモジュールのリレーを制御して信号経路を切り替え、
前記試験基板は、結果データを前記被試験基板スイッチモジュールに送り返し、
前記被試験基板スイッチモジュールが前記結果データを受信してパケット化して前記暗号化結果データを生成し、
前記被試験基板スイッチモジュールは、前記暗号化結果データをシーケンスリターン信号を介して制御モジュールに伝送し、
前記制御モジュールは、前記シーケンスリターン信号をリターン信号に変換し、且つ前記暗号化結果データを前記リターン信号を介して前記試験処理モジュールに伝送することを特徴とする、
自動回路基板試験システム。

（付記２）
前記被試験基板スイッチモジュールは、少なくとも２つの被試験基板と、少なくとも１つのリレーモジュールと、ソフトウェアプロテクターとを備え、
前記被試験基板は、それぞれ前記第２信号ポート及び前記第３信号ポートに接続され、且つ前記リレーモジュールに接続され、
前記リレーモジュールは、前記制御バスを介して前記制御モジュールに接続され、
前記ソフトウェアプロテクターは、ソフトウェアバスを介して前記リレーモジュールに接続され、前記リレーモジュールからのリターンデータを暗号化し、
前記シリアルポートバスの数は３本であり、それぞれ前記第１信号ポート、前記制御モジュール及び前記ソフトウェアプロテクターに接続され、且つ前記試験処理モジュールに接続されることを特徴とする、
付記１に記載の自動回路基板試験システム。

（付記３）
前記リレーモジュールは、前記シーケンス制御信号によって、前記リレーモジュールの拡張チップの出力リード線を制御し、前記リレーのオン／オフによって信号経路を切り替えることを特徴とする、
付記２に記載の自動回路基板試験システム。

（付記４）
前記暗号化結果データは、試験日時と、作業指示書情報と、試験テーションと、試験プロセスと、試験項目と、試験結果とを含み、
前記暗号化結果データは前記試験処理モジュールに保存されることを特徴とする、
付記１に記載の自動回路基板試験システム。

（付記５）
前記試験結果は、複数の試験結果の詳細内容を含むことを特徴とする、付記４に記載の自動回路基板試験システム。

（付記６）
前記制御モジュールの発振周波数は２４ＭＨｚであることを特徴とする、付記２に記載の自動回路基板試験システム。

（付記７）
前記制御モジュールは、３．３Ｖの直流電圧を前記制御モジュールのマイクロコントローラーに提供する制御電源チップを有し、
前記リレーモジュールは、３．３Ｖの直流電圧を前記拡張チップに提供するリレー電源チップを有することを特徴とする、
付記３に記載の自動回路基板試験システム。

（付記８）
前記拡張チップは、集積回路バスのインタフェースと複数のリード線とを有することを特徴とする、付記３に記載の自動回路基板試験システム。

（付記９）
前記試験システムの総試験時間は０〜２００秒であることを特徴とする、付記１に記載の自動回路基板試験システム。

（付記１０）
付記１〜９のいずれか１つに記載の自動回路基板試験システムを使用する試験方法であって、
前記試験処理モジュールが前記第１信号ポートを介して前記リピータを設定して試験モードに入る設定工程と、
前記試験処理モジュールが前記制御信号を前記制御モジュールに伝送する試験信号伝送工程と、
前記制御モジュールが前記制御信号を受信し、前記制御信号を前記制御モジュールのマイクロコントローラーに伝送し、且つ前記制御信号を前記シーケンス制御信号に変換する信号変換工程と、
前記マイクロコントローラーが前記シーケンス制御信号を前記制御モジュールのメモリに伝送し、前記メモリでデータ照合を行い、さらに前記シーケンス制御信号を前記マイクロコントローラーに送り返し、前記マイクロコントローラーによって前記シーケンス制御信号を前記被試験基板スイッチモジュールのリレーモジュールに伝送するデータ照合工程と、
前記リレーモジュールが前記シーケンス制御信号を受信し、前記リレーを制御して経路を切り替え、前記シーケンス制御信号を前記試験基板に伝送する信号経路切り替え工程と、
前記試験基板が前記シーケンス制御信号を受信し、前記試験基板に対して試験動作を行う試験工程と、
前記リレーモジュールが前記結果データを受信して前記シーケンスリターン信号を介してソフトウェアプロテクターに伝送する結果データ受信工程と、
前記ソフトウェアプロテクターが前記結果データを受信してパケット化して前記暗号化結果データを生成し、さらに前記シーケンスリターン信号を前記リターン信号に変換し、前記暗号化結果データを前記リターン信号を介して前記試験処理モジュールに伝送するパケット工程と、
前記試験処理モジュールが前記暗号化結果データを受信して前記試験処理モジュールに保存する保存工程と、
を有することを特徴とする自動回路基板試験システムの試験方法。

１００ 自動回路基板試験システム
１０ 被試験基板スイッチモジュール
１１ リレーモジュール
１１１ａ、１１１ｂ リレー
１１２ リレー電源チップ
１１３ 電源供給素子
１１４ 拡張チップ
１２ ソフトウェアプロテクター
１２１ ソフトウェアバス
１３ａ、１３ｂ 被試験基板
２０ 制御モジュール
２１ 制御バス
２２ マイクロコントローラー
２３ メモリ
２４ 制御電源チップ
３０ 試験処理モジュール
３１ａ、３１ｂ、３１ｃ シリアルポートバス
３２ 暗号化結果データ
３２１ 試験日時
３２２ 作業指示書情報
３２３ 試験テーション
３２４ 試験プロセス
３２５ 試験項目
３２６ 試験結果
３２６１ 試験結果の詳細内容
４０ 試験基板
４１ リピータ
４２ａ 第２信号ポート
４２ｂ 第３信号ポート
４２ｃ 第１信号ポート
４３ 信号線
Ｓ１ 設定工程
Ｓ２ 試験信号伝送工程
Ｓ２１ 信号変換工程
Ｓ２２ データ照合工程
Ｓ３ 信号経路切り替え工程
Ｓ４ 試験工程
Ｓ５ 結果データ受信工程
Ｓ５１ パケット工程
Ｓ６ 保存工程

Claims (10)

1. 少なくとも１つの被試験基板スイッチモジュールと、制御モジュールと、試験処理モジュールとを備え、
   前記被試験基板スイッチモジュールは、複数のリレーを有し、試験基板に接続され、
   前記試験基板は、第１信号ポートと、第２信号ポートと、第３信号ポートと、リピータとを有し、
   前記第２信号ポート及び前記第３信号ポートは、信号線で互いに接続され、
   前記第１信号ポートは、前記リピータに接続され、
   前記被試験基板スイッチモジュールは、前記第２信号ポート及び前記第３信号ポートにそれぞれ接続され、
   前記制御モジュールは、制御バスを介して前記被試験基板スイッチモジュールに接続され、前記被試験基板スイッチモジュールを制御し、
   前記試験処理モジュールは、前記試験基板から測定した暗号化結果データを受信し、且つ少なくとも２つのシリアルポートバスを介して前記制御モジュール及び前記第１信号ポートにそれぞれ接続され、
   前記試験処理モジュールは、制御信号を前記制御モジュールに伝送し、
   前記制御モジュールは、前記制御信号をシーケンス制御信号に変換して前記被試験基板スイッチモジュールに伝送し、前記被試験基板スイッチモジュールのリレーを制御して信号経路を切り替え、
   前記試験基板は、結果データを前記被試験基板スイッチモジュールに送り返し、
   前記被試験基板スイッチモジュールが前記結果データを受信してパケット化して前記暗号化結果データを生成し、
   前記被試験基板スイッチモジュールは、前記暗号化結果データをシーケンスリターン信号を介して制御モジュールに伝送し、
   前記制御モジュールは、前記シーケンスリターン信号をリターン信号に変換し、且つ前記暗号化結果データを前記リターン信号を介して前記試験処理モジュールに伝送することを特徴とする、
   自動回路基板試験システム。
2. 前記被試験基板スイッチモジュールは、少なくとも２つの被試験基板と、少なくとも１つのリレーモジュールと、ソフトウェアプロテクターとを備え、
   前記被試験基板は、それぞれ前記第２信号ポート及び前記第３信号ポートに接続され、且つ前記リレーモジュールに接続され、
   前記リレーモジュールは、前記制御バスを介して前記制御モジュールに接続され、
   前記ソフトウェアプロテクターは、ソフトウェアバスを介して前記リレーモジュールに接続され、前記リレーモジュールからのリターンデータを暗号化し、
   前記シリアルポートバスの数は３本であり、それぞれ前記第１信号ポート、前記制御モジュール及び前記ソフトウェアプロテクターに接続され、且つ前記試験処理モジュールに接続されることを特徴とする、
   請求項１に記載の自動回路基板試験システム。
3. 前記リレーモジュールは、前記シーケンス制御信号によって、前記リレーモジュールの拡張チップの出力リード線を制御し、前記リレーのオン／オフによって信号経路を切り替えることを特徴とする、
   請求項２に記載の自動回路基板試験システム。
4. 前記暗号化結果データは、試験日時と、作業指示書情報と、試験テーションと、試験プロセスと、試験項目と、試験結果とを含み、
   前記暗号化結果データは前記試験処理モジュールに保存されることを特徴とする、
   請求項１に記載の自動回路基板試験システム。
5. 前記試験結果は、複数の試験結果の詳細内容を含むことを特徴とする、請求項４に記載の自動回路基板試験システム。
6. 前記制御モジュールの発振周波数は２４ＭＨｚであることを特徴とする、請求項２に記載の自動回路基板試験システム。
7. 前記制御モジュールは、３．３Ｖの直流電圧を前記制御モジュールのマイクロコントローラーに提供する制御電源チップを有し、
   前記リレーモジュールは、３．３Ｖの直流電圧を前記拡張チップに提供するリレー電源チップを有することを特徴とする、
   請求項３に記載の自動回路基板試験システム。
8. 前記拡張チップは、集積回路バスのインタフェースと複数のリード線とを有することを特徴とする、請求項３に記載の自動回路基板試験システム。
9. 前記試験システムの総試験時間は０〜２００秒であることを特徴とする、請求項１に記載の自動回路基板試験システム。
10. 請求項１〜９のいずれか１項に記載の自動回路基板試験システムを使用する試験方法であって、
    前記試験処理モジュールが前記第１信号ポートを介して前記リピータを設定して試験モードに入る設定工程と、
    前記試験処理モジュールが前記制御信号を前記制御モジュールに伝送する試験信号伝送工程と、
    前記制御モジュールが前記制御信号を受信し、前記制御信号を前記制御モジュールのマイクロコントローラーに伝送し、且つ前記制御信号を前記シーケンス制御信号に変換する信号変換工程と、
    前記マイクロコントローラーが前記シーケンス制御信号を前記制御モジュールのメモリに伝送し、前記メモリでデータ照合を行い、さらに前記シーケンス制御信号を前記マイクロコントローラーに送り返し、前記マイクロコントローラーによって前記シーケンス制御信号を前記被試験基板スイッチモジュールのリレーモジュールに伝送するデータ照合工程と、
    前記リレーモジュールが前記シーケンス制御信号を受信し、前記リレーを制御して経路を切り替え、前記シーケンス制御信号を前記試験基板に伝送する信号経路切り替え工程と、
    前記試験基板が前記シーケンス制御信号を受信し、前記試験基板に対して試験動作を行う試験工程と、
    前記リレーモジュールが前記結果データを受信して前記シーケンスリターン信号を介してソフトウェアプロテクターに伝送する結果データ受信工程と、
    前記ソフトウェアプロテクターが前記結果データを受信してパケット化して前記暗号化結果データを生成し、さらに前記シーケンスリターン信号を前記リターン信号に変換し、前記暗号化結果データを前記リターン信号を介して前記試験処理モジュールに伝送するパケット工程と、
    前記試験処理モジュールが前記暗号化結果データを受信して前記試験処理モジュールに保存する保存工程と、
    を有することを特徴とする自動回路基板試験システムの試験方法。

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