CN115616372A - 故障注入测试方法和系统 - Google Patents

Abstract

本申请关于一种故障注入测试方法和系统，涉及电路测试技术领域，在本申请中，该方法应用于待测电路，待测电路包括多个候选元组，每个候选元组包括信号的标识以及信号的发送器件和接收器件，该方法包括：根据所述多个候选元组与多个测试用例元素的预设对应关系，生成与所述待测电路的待测元组对应的目标测试用例；待测元组为多个候选元组中的一个。根据目标测试用例对待测电路进行故障注入测试。本申请提供的方法通过候选元组和多个测试用例元素之间的预设对应关系，能够实现待测电路的测试用例的自动生成和自动测试，解决故障注入测试的测试周期长，测试效率低的技术问题。

Description

故障注入测试方法和系统

技术领域

本申请涉及电路测试技术领域，尤其涉及一种故障注入测试方法和系统。

背景技术

故障注入测试是一种测试技术，可以理解为根据测试用例，将相应的故障注入到待测试系统中，同时获取待测试系统反馈的对该故障的响应信息，通过分析该响应信息，实现对待测试系统的验证和评价。

上述待测试系统可以是电路。电路的随机故障为电路设计过程中不可预测的故障，而随机故障会引发电路失效。其中，随机故障例如电路中的器件损坏、线路短路等故障。通过对电路进行故障注入测试，可以验证和评价电路对随机故障的响应。

相关技术中，通常通过人工设计测试用例，并根据测试用例手动注入相应的故障，以完成测试。其中，手动注入相应的故障注入方式包括但不限于焊接飞线、镊子或者空开注入短路故障，以及使用功能电烙铁破坏焊接等。然而，人工设计测试用例，使得故障注入测试过程具有测试周期长，测试效率低的技术问题。因此，如何提升测试效率成为亟待解决的技术问题。

发明内容

本申请实施例提供一种故障注入测试方法和系统，用于解决故障注入测试的测试周期长，测试效率低的技术问题。

为达到上述目的，本申请的实施例采用如下技术方案：

第一方面，提供了一种故障注入测试方法，应用于待测电路，待测电路包括多个候选元组，每个候选元组包括信号的标识以及信号的发送器件和接收器件，上述方法包括：根据多个候选元组与多个测试用例元素的预设对应关系，生成与待测电路的待测元组对应的目标测试用例；其中，目标测试用例包括与待测元组的信号的标识、待测元组的发送器件和待测元组的接收器件对应的目标测试用例元素，待测元组为多个候选元组中的一个。本申请提供的方法通过候选元组和多个测试用例元素之间的预设对应关系，能够实现待测电路的测试用例的自动生成和自动测试，解决故障注入测试的测试周期长，测试效率低的技术问题。

在第一方面的一种可能的实现方式中，测试用例元素包括故障模式、故障注入方式和测试判据中的至少一项。通过多个候选元组与多个测试用例元素的预设对应关系，能够确定待测元组对应的多个测试用例元素，根据多个测试用例元素生成目标测试用例，能够实现待测电路的测试用例的自动生成，解决故障注入测试的测试周期长，测试效率低的技术问题。

在第一方面的一种可能的实现方式中，预设对应关系包括候选元组的收发器件与故障模式的第一对应关系，候选元组的收发器件与故障注入方式的第二对应关系，故障模式、故障注入方式和候选元组的信号的标识对应的信号类别与测试判据的第三对应关系，其中，收发器件为发送器件或接收器件。根据多个候选元组与多个测试用例元素的预设对应关系，确定与待测电路的待测元组对应的目标测试用例，包括：基于第一对应关系，确定待测元组的收发器件对应的目标故障模式；基于第二对应关系，确定待测元组的收发器件对应的目标故障注入方式；基于第三对应关系，根据待测元组的信号的标识对应的信号类别、目标故障模式、目标故障注入方式，确定对应的目标测试判据；生成目标测试用例，目标测试用例包括目标故障模式、目标故障注入方式和目标测试判据。通过多个候选元组与多个测试用例元素的预设对应关系，能够确定待测元组对应的多个测试用例元素，根据多个测试用例元素生成目标测试用例，能够实现待测电路的测试用例的自动生成，解决故障注入测试的测试周期长，测试效率低的技术问题。

在第一方面的一种可能的实现方式中，根据多个候选元组与多个测试用例元素的预设对应关系，生成与待测电路的待测元组对应的目标测试用例之前，上述方法还包括：获取待测电路的设计信息，设计信息包括待测电路的不同器件之间的信号传输关系；根据信号传输关系确定多个候选元组。根据待测电路的不同器件之间的信号传输关系确定多个候选元组，再根据预设对应关系确定每一候选元组对应的测试用例，无需技术人员依据个人经验对待测电路进行分析，即可确定待测电路的多个测试用例，能够解决故障注入测试的测试周期长，测试效率低的技术问题。

在第一方面的一种可能的实现方式中，根据信号传输关系确定多个候选元组，包括：将待测电路中具有信号传输关系的两个器件及两个器件之间传输的N个不同信号确定为N个信号元组；其中，N为大于等于2的整数；根据M个信号元组确定多个候选元组，其中，如果M个信号元组中的第一信号元组的接收器件为第二信号元组的发送器件，且第一信号元组中的信号和第二信号元组中的信号对待测电路产生的影响相同，则根据第一信号元组和第二信号元组生成一个候选元组，候选元组的发送器件为第一信号元组的发送器件，候选元组的接收器件为第二信号元组的接收器件，M为大于N的整数。在多个信号元组中的信号对待测电路产生的影响相同的情况下，通过对多个信号元组进行合并，能够有效减少最终确定的候选元组的数量，进一步有效减少故障注入测试的测试次数，提升测试效率，节约测试时间。

在第一方面的一种可能的实现方式中，待测元组满足以下一种或多种条件：待测元组对应的测试用例中的故障模式为预设故障模式；待测元组中的信号对应的信号类别为预设信号类别；待测元组中的信号的标识为预设标识；待测元组中的接收器件为第一指定器件；和/或，待测元组中的发送器件为第二指定器件。由上述可知，通过设置确定待测元组的条件，可实现根据实际测试需求对每个候选元组进行筛选，进而从多个候选元组中确定待测元组，接着确定与待测元组的信号的标识、待测元组的发送器件和待测元组的接收器件对应的目标测试用例元素，生成目标测试用例，并根据该目标测试用例在待测电路中进行故障注入测试，满足不同的测试需求。

在第一方面的一种可能的实现方式中，上述方法还包括：根据目标测试用例对待测电路进行故障注入测试。

在第一方面的一种可能的实现方式中，候选元组对应有故障注入位置信息，测试用例包括故障注入方式和测试判据，根据目标测试用例对待测电路进行故障注入测试，包括：控制注入装置以目标测试用例中的目标故障注入方式，在目标故障注入位置注入故障；目标故障注入位置为待测元组对应的故障注入位置信息所指示的位置；获取待测电路在被注入故障后的响应信息；根据响应信息和目标测试用例中的目标测试判据，得到待测电路的测试结果。由上述可知，通过控制注入装置，能够以目标测试用例中的故障注入方式，在待测电路中进行故障自动注入，无需人工手动注入故障。同时，通过动力装置能够有效实现注入装置的移动，以使得注入装置能够在待测电路中的目标故障注入位置进行故障注入，提升效率。

在第一方面的一种可能的实现方式中，每个候选元组对应的故障注入位置信息根据信号的标识、发送器件的各个引脚的位置坐标信息和接收器件的各个引脚的位置坐标信息确定，其中，故障注入位置信息用于确定候选元组对应的测试用例在待测电路中的故障注入位置。根据待测电路的设计信息能够快速确定每个候选元组对应的故障注入位置信息，以使得在故障注入位置信息指示的目标故障注入位置注入故障，完成故障注入测试。

第二方面，提供了一种故障注入测试装置，该装置包括：用于执行第一方面提供的任意一种方法的功能单元，各个功能单元所执行的动作通过硬件实现或通过硬件执行相应的软件实现。例如，故障注入测试装置可以包括测试用例确定单元和测试用例执行单元。测试用例确定单元，被配置为执行根据多个候选元组与多个测试用例元素的预设对应关系，生成与待测电路的待测元组对应的目标测试用例；其中，目标测试用例包括与待测元组的信号的标识、待测元组的发送器件和待测元组的接收器件对应的目标测试用例元素，待测元组为多个候选元组中的一个。测试用例执行单元，被配置为执行根据目标测试用例对待测电路进行故障注入测试。

第三方面，提供了一种故障注入测试系统，包括：处理器、存储器、动力装置和注入装置；存储器用于存储计算机指令；处理器，与存储器连接，用于执行计算机指令，以实现第一方面提供的任意一种方法；动力装置，与处理器和注入装置连接，用于在处理器的控制下，控制动力装置移动；注入装置，用于以目标故障注入方式，在目标故障注入位置注入故障。

第四方面，提供了一种芯片，该芯片包括：处理器和接口电路；接口电路，用于接收代码指令并传输至处理器；处理器，用于运行代码指令以执行上述第一方面提供的任意一种方法。

第五方面，提供了一种计算机可读存储介质，存储有计算机执行指令，当计算机执行指令在计算机上运行时，使得计算机执行上述第一方面提供的任意一种方法。

第六方面，提供了一种计算机程序产品，包括计算机执行指令，当计算机执行指令在计算机上运行时，使得计算机执行上述第一方面提供的任意一种方法。

其中，第二方面至第六方面中任一种设计方式所带来的技术效果可以参见第一方面中不同实现方式所带来的技术效果，此处不再赘述。

附图说明

图1示出了本申请实施例提供的一种故障注入测试系统的应用场景图；

图2示出了本申请实施例提供的另一种故障注入测试系统的应用场景图；

图3示出了本申请实施例提供的一种故障注入测试方法的流程示意图；

图4示出了本申请实施例提供的一种待测电路的电路图；

图5示出了本申请实施例提供的一种故障注入测试方法的流程示意图；

图6示出了本申请实施例提供的一种故障注入测试装置的结构方框图；

图7示出了本申请实施例提供的另一种故障注入测试装置的结构方框图。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行描述。其中，在本申请的描述中，除非另有说明，“多个”是指两个或多于两个。“以下至少一项(个)”或其类似表达，是指的这些项中的任意组合，包括单项(个)或复数项(个)的任意组合。例如，a，b，或c中的至少一项(个)，可以表示：a，b，c，a-b，a-c，b-c，或a-b-c，其中a，b，c可以是单个，也可以是多个。

另外，为了便于清楚描述本申请实施例的技术方案，在本申请的实施例中，采用了“第一”、“第二”等字样对功能和作用基本相同的相同项或相似项进行区分。本领域技术人员可以理解“第一”、“第二”等字样并不对数量和执行次序进行限定，并且“第一”、“第二”等字样也并不限定一定不同。同时，在本申请实施例中，“示例性的”或者“例如”等词用于表示作例子、例证或说明。本申请实施例中被描述为“示例性的”或者“例如”的任何实施例或设计方案不应被解释为比其他实施例或设计方案更优选或更具优势。确切而言，使用“示例性的”或者“例如”等词旨在以具体方式呈现相关概念，便于理解。

故障注入测试是一种测试技术，可以理解为根据测试用例，将相应的故障注入到待测试系统中，同时获取待测试系统反馈的对该故障的响应信息，通过分析该响应信息，实现对待测试系统的验证和评价。上述待测试系统可以为待测电路，该待测电路可以包括多个器件。

众所周知的是，造成电路失效的原因有两种，一种是系统故障，另一种是随机故障，其中，系统故障通常是由于电路的设计过程或制造过程中的错误引起的，可以通过基于仿真的验证和正式特性验证处理系统故障。随机故障为电路设计过程中不可预测的故障，随机故障可以为电路中的器件损坏、线路短路等故障。通过对电路进行故障注入测试，可以验证和评价电路对随机故障的响应。

相关技术中，首先通过人工来设计测试用例，也就是说，本领域技术人员通过对待测电路进行分析，并根据经验设计相应的测试用例。其中，测试用例是指对测试目标进行测试任务的描述，体现测试方案、方法、技术和策略。然后技术人员再根据设计的测试用例在待测电路中手动注入相应的故障，以完成测试。其中，故障注入方式包括但不限于焊接飞线、镊子或者空开注入短路故障，以及使用功能电烙铁破坏焊接等。

然而，对于不同的待测电路，都需要人工分别设计和执行测试用例，需要消耗大量的时间，自动化程度较低，使得故障注入测试过程具有测试周期长，测试效率低的技术问题。因此，如何提升测试效率成为亟待解决的技术问题。并且一方面，测试用例的设计需要依赖技术人员的个人经验，因此也具有不够客观和准确的问题。另一方面，测试用例的执行需要技术人员手动操作，导致在有限的时间内，能够执行的测试次数少、覆盖样品的数量少以及重复测试难度大的问题。

鉴于此，本申请提供一种故障注入测试方法，应用于待测电路，待测电路包括多个候选元组，其中，每个候选元组根据待测电路的设计信息确定，每个候选元组包括待测电路中具有信号传输关系的一个发送器件、一个接收器件以及发送器件向接收器件发送的信号的标识。上述方法包括：根据多个候选元组与多个测试用例元素的预设对应关系，生成与待测电路的待测元组对应的目标测试用例，所述目标测试用例包括与所述待测元组的信号的标识、所述待测元组的发送器件和所述待测元组的接收器件对应的目标测试用例元素，待测元组为多个候选元组中的一个。根据目标测试用例对待测电路进行故障注入测试。本申请提供的方法通过候选元组和多个测试用例元素之间的预设对应关系，能够实现待测电路的测试用例的自动生成和自动测试，解决故障注入测试的测试周期长，测试效率低的技术问题。

以下结合说明书附图，对本申请实施例提供的方法进行说明。

图1为本申请实施例示出的一种故障注入测试系统的应用场景图，如图1所示，包括故障注入测试装置110和待测电路120。

故障注入测试装置110用于根据多个候选元组与多个测试用例元素的预设对应关系，生成与待测电路的待测元组对应的目标测试用例，其中，目标测试用例包括与待测元组的信号的标识、待测元组的发送器件和待测元组的接收器件对应的目标测试用例元素，并根据目标测试用例对待测电路120进行故障注入测试。

待测电路120可以为印制有待测试的电路的单板，待测电路120可以应用于服务器技术领域、通信技术领域、工业自动化技术领域或汽车技术领域的电气和/或电子系统中，例如，该待测电路为服务器主板，用于实现服务器的计算功能或资源管理功能。其中，待测电路包括多个候选元组，每个候选元组包括信号以及信号的发送器件和接收器件。可选的，候选元组根据待测电路的设计信息确定，该设计信息包括待测电路中不同器件之间的信号传输关系。

测试用例是指对测试目标进行测试任务的描述，体现测试方案、方法、技术和策略。不同应用场景中，测试用例所包含的内容有所不同。在本实施例中，测试用例具体包括多个与待测元组具有预设对应关系的测试用例元素，例如，测试用例元素包括故障模式、故障注入方式和测试判据中的至少一项。其中，预设对应关系包括候选元组的收发器件与故障模式的第一对应关系，候选元组的收发器件与故障注入方式的第二对应关系，故障模式、故障注入方式和待测元组的信号的标识对应的信号类别与测试判据的第三对应关系，其中，候选元组的收发器件为候选元组的发送器件或接收器件。

在一种可能的实现方式中，测试用例元素还包括待测元组的接收器件或发送器件的引脚(PIN)故障信息、待测元组的标识对应的系统检测方案和待测元组的标识对应的预制条件，此处对测试用例中包括测试用例元素的组成不做特别限制，可根据实际需求进行调整。

故障模式也可以称为失效模式，故障模式为故障的表现形式，可以理解为待测电路中的任一器件出现故障，或待测电路中的任一信号出现故障。例如，在待测电路中包括的器件存在晶振的情况下，故障模式可以为晶振出现频偏或者无输出。在待测电路输出第一信号的情况下，故障模式也可以为该第一信号无法成功输出。

故障注入方式包括焊接飞线或插入探针，以实现在待测电路中注入短路故障。

其中，该测试判据可以理解为测试判断依据。也就是待测电路注入该测试用例对应的故障后，待测电路的预计反应。

在一种实现方式中，参见图2，图2为另一种故障注入测试系统的应用场景图，在图1的基础上，故障注入测试系统，还包括注入装置121，注入装置121用于根据目标测试用例，在待测电路120中注入故障。

在另一种实现方式中，故障注入测试系统还包括动力装置122，动力装置122与注入装置121连接，动力装置122用于根据目标测试用例，将注入装置121移动到对应的位置，以使得注入装置121在待测电路中的目标测试用例对应的位置注入故障。例如，动力装置122可以为机械臂，注入装置121可以为固定在机械臂上的探针。通过机械臂进行移动，以使得探针可以插入到待测电路中的目标测试用例对应的位置，造成待测电路在该位置短路，实现故障注入。

在另一种实现方式中，故障注入测试系统还包括供电装置123，供电装置123与动力装置122电连接，供电装置123用于向动力装置122供电。

在另一种实现方式中，故障注入测试系统还包括操作台124，操作台124设置在动力装置122的下方，操作台124用于放置待测电路120，实现待测电路120的固定和定位，以使得动力装置122移动到目标测试用例对应的位置，实现注入装置121在操作台124上的待测电路中注入故障。

在另一种实现方式中，故障注入测试系统还包括散热装置125，散热装置125用于为动力装置122提供散热，避免动力装置122或者待测电路120由于温度过高而损坏。

故障注入测试装置110还用于在注入装置121向待测电路中注入目标测试用例对应的故障后，获取待测电路反馈的响应信息，并根据该响应信息以及目标测试用例中对应的测试判据，确定该测试用例对应的故障注入测试结果。

故障注入测试装置110、注入装置121、动力装置122、供电装置123和散热装置125可以集成在一个电子设备中，也可以分别设置在不同电子设备中，此处对故障注入测试装置110、注入装置121、动力装置122、供电装置123和散热装置125的设置方式不作特别限制。

下面结合图1所示的故障注入测试系统，对本申请实施例提供的方法进行描述。图3为本申请实施例提供的一种故障注入测试方法的流程图，该方法应用于待测电路。如图3所示，该待测电路的故障注入测试方法可以包括：

S301：获取待测电路的设计信息，设计信息包括待测电路的不同器件之间的信号传输关系。

设计信息可以包括但不限于该待测电路设计过程中生成的源代码文件，例如，该源代码文件可以为待测电路的集成电路图，可以从该集成电路图中获取待测电路中多个器件之间的器件电性连接关系拓扑信息以及信号网络拓扑信息等设计信息。其中，器件电性连接关系拓扑信息用于表征待测电路中各个器件之间的连接关系，信号网络拓扑信息用于表征待测电路中各个器件之间传输的信号。进而，根据该器件电性连接关系拓扑信息和信号网络拓扑信息可以获得该待测电路中不同器件之间的信号传输关系。

S302：根据信号传输关系确定多个候选元组。每个候选元组包括信号的标识以及信号的发送器件和接收器件。

也就是说，每个候选元组包括待测电路中具有信号传输关系的一组器件以及信号的标识，即发送器件和接收器件，发送器件用于向接收器件发送信号，接收器件用于接收发送器件发送的信号，其中，待测元组的接收器件或发送器件也可以称为待测元组的收发器件。

需要说明的是，同一组器件中的发送器件和接收器件之间可以传输一个信号，也可以传输多个信号。对于同一组发送器件和接收器件，如果它们之间传输多个信号，每个信号分别具有对应的标识，那么即可将这组器件确定为多个候选元组，每个候选元组包括信号的标识以及信号的发送器件和接收器件。在上述实现方式中，通过器件电性连接关系拓扑信息可以确定待测电路中任意两个器件之间的电连接关系，通过信号网络拓扑信息可以确定待测电路中每两个存在连接关系的器件之间传输的信号，从而将任意两个存在连接关系的器件确定为一组器件，其中，一个为发送器件，另一个为接收器件，发送器件用于向接收器件发送信号。

示例性的，参见图4，图4为本申请实施例提供的一种待测电路的电路图，该待测电路中包括三个器件，三个器件的标识分别为U₁、U₂和U₃，根据设计信息确定三个候选元组，分别为第一候选元组、第二候选元组和第三候选元组，其中，第一候选元组的发送器件的标识为U₁，第一候选元组的接收器件的标识为U₂，发送器件U₁用于向接收器件U₂发送第一信号，第二候选元组的发送器件的标识为U₂，和第二候选元组的接收器件的标识为U₃，发送器件U₂用于向接收器件U₃发送第二信号，第三候选元组的发送器件的标识为U₁，第三候选元组的接收器件的标识U₃，发送器件U₁用于向接收器件U₃发送第三信号。需要说明的是，根据两个器件之间传输的信号不同，待测电路中的同一器件可以既为一个候选元组中的发送器件，同时也可以为另一个候选元组的接收器件。例如，上述标识U₂对应的器件既是第一候选元组中的接收器件，又是第二候选元组中的发送器件。

然而，在待测电路中，同一信号或者具有相同作用的信号可在连续的两个以上的器件之间传递，也就是说，一个发送器件将信号发送给接收器件，该信号的作用为提高信号质量，该接收器件又将该信号发送给另一个接收器件。对于故障注入测试来说，由于两个候选元组之间传输的信号对待测电路产生的影响相同，无论在这两个候选元组的任意一个中注入该信号短路的故障，对于该待测电路而言，故障模式相同。因此，大量的信号相同的候选元组导致故障注入测试存在冗余，增加故障注入测试的测试次数，导致测试效率低。

在一种实现方式中，上述S302包括：将待测电路中具有信号传输关系的两个器件及两个器件之间传输的N个不同信号确定为N个信号元组；其中，N为大于等于2的整数；根据M个信号元组确定多个候选元组，其中，如果M个信号元组中的第一信号元组的接收器件为第二信号元组的发送器件，且第一信号元组中的信号和第二信号元组中的信号对待测电路产生的影响相同，则根据第一信号元组和第二信号元组生成一个候选元组，该候选元组的发送器件为第一信号元组的发送器件，该候选元组的接收器件为第二信号元组的接收器件，M为大于N的整数。

示例性的，如图4所示，根据设计信息确定两个信号元组，分别为第一信号元组和第二信号元组，第一信号元组的发送器件的标识为U₁，第一信号元组的接收器件的标识为U₂，发送器件U₁用于向接收器件U₂发送第一信号，第二信号元组包括发送器件U₂和接收器件U₃，发送器件U₂用于向接收器件U₃发送第二信号。其中，器件U₂为待测电路中的一个串阻R，器件U₂的作用为提升经过器件U₂的第一信号的信号质量。器件U₂并未变更第一信号的作用，因此第一信号元组的接收器件为第二信号元组的发送器件，且第一信号元组中的信号和第二信号元组中的信号对待测电路产生的影响相同。该情况下，根据第一信号元组和第二信号元组，生成一个候选元组，该候选元组的发送器件的标识为U_1，该候选元组的接收器件的标识为U₃。

由上述可知，在多个信号元组中的信号具有相同作用的情况下，基于多个信号元组得到一个候选元组，能够有效避免冗余，进一步有效减少故障注入测试的测试次数，提升测试效率，节约测试时间。

在一种可能的实现方式中，根据第一信号元组和第二信号元组，生成一个候选元组，还包括：将第一信号元组的信号的标识和第二信号元组的信号的标识添加到该候选元组中。以便于操作人员根据第一信号元组的信号的标识和第二信号元组的信号的标识能够快速找到该根据第一信号元组和第二信号元组生成的候选元组。

在上述实现方式中，通常，待测电路的设计信息中，多个器件之间的器件电性连接关系拓扑信息以及信号网络拓扑信息通常为数据表的形式，通过对上述数据表进行处理，可以得到多个信号元组，再依次分析每个信号元组，对信号元组进行合并，生成候选元组。

然而，当待测电路的设计信息中的多个器件之间的器件电性连接关系拓扑信息以及信号网络拓扑信息不是数据表的形式，而是拓扑图的形式的情况下，通过图遍历算法对待测电路的集成电路图进行处理，可以直接得到多个信号元组，再依次分析每个信号元组，对信号元组进行合并，生成候选元组。其中，该图遍历算法可以为有向图的遍历算法。例如，首先，从待测电路的集成电路图中根据遍历算法依次识别该待测电路中包括的每个器件，然后根据识别到的器件确定出多组器件，一组器件包括一个发送器件和一个接收器件，在任意两组器件之间传输的信号对待测电路产生的影响相同的情况下，根据该两组器件对应的信号元组，得到一个候选元组。

基于此，在一种实现方式中，上述方法还包括：

从设计信息中确定出每个器件的器件信息，如果数据库中存在上述器件信息，则将上述器件信息对应的器件确定为候选器件。根据不同候选器件与其他器件之间的信号传输关系，确定多个候选元组，每个候选元组中的发送器件或接收器件至少一个为候选器件。

其中，器件信息可以为预先设置的每个器件对应的编码，也可以为每个器件的名称，或描述器件在该电路结构中的功能的信息，通过器件信息可以从电路结构中确定该器件信息对应的器件。在本实现方式中，器件信息可以从待测电路的物料清单表(BOM)中获取。

在上述实现方式中，其中，预设器件为能够对电路结构造成故障的器件，在电路结构中的一个器件不是预设器件时，说明该器件不会对电路结构造成故障。也可以理解为，存储在数据库中的器件为第一类器件，未存储在数据库中的器件为第二类器件。也可以理解为，预设器件即为第一类器件，非预设器件即为第二类器件。由上述可知，根据待测电路中的每个器件的器件信息，将待测电路中的多个器件划分为第一类器件(上述候选器件属于第一类器件)或第二类器件，将第二类器件筛除，能够有效减少确定的候选元组的数量，避免不必要的测试。

需要说明的是，S301-S302中，基于待测电路的设计信息确定候选元组，为确定候选元组的一种具体实现方式，此处对待测电路的候选元组的确定方式不予限制。

S303：获取多个候选元组与多个测试用例元素的预设对应关系。

其中，目标测试用例包括与待测元组的信号的标识、待测元组的发送器件和待测元组的接收器件对应的目标测试用例元素，待测元组为多个候选元组中的一个。

在一种可能的实现方式中，该待测元组满足以下一种或多种条件：待测元组对应的测试用例中的故障模式为预设故障模式，待测元组中的信号的标识为预设标识，待测元组中的接收器件为第一指定器件，和/或，待测元组中的发送器件为第二指定器件。例如，可以根据下述表3将满足条件的候选元组作为待测元组，将待测元组对应的测试用例作为目标测试用例。

在另一种实现方式中，该待测元组满足以下条件：待测元组中的信号的类别为预设类别，将满足条件的候选元组作为待测元组，将待测元组对应的测试用例作为的目标测试用例。在上述实现方式中，技术人员可以向故障注入测试装置110输入条件，故障注入测试装置110响应于技术人员输入的条件，在所有候选元组中，选中满足条件的候选元组作为待测元组，将根据待测元组生成的测试用例作为目标测试用例。

由上述可知，通过设置确定待测元组的条件，可实现根据实际测试需求对每个候选元组进行筛选，进而从多个候选元组中确定待测元组，接着确定与待测元组的信号的标识、待测元组的发送器件和待测元组的接收器件对应的目标测试用例元素，根据目标测试用例元素生成目标测试用例，并基于该目标测试用例在待测电路中进行故障注入测试，满足不同的测试需求。

在一种可能的实现方式中，上述测试用例元素包括故障模式、故障注入方式和测试判据中的至少一项，预设对应关系包括候选元组的收发器件与故障模式的第一对应关系，候选元组的收发器件与故障注入方式的第二对应关系，故障模式、故障注入方式和待测元组的信号的标识对应的信号类别与测试判据的第三对应关系，其中，候选元组的收发器件为候选元组的发送器件或接收器件。

技术人员可以根据失效模式与影响分析(failure mode and effects analysis，FMEA)等方式，基于样本电路的设计信息，确定多个样本电路中的每个器件的器件标识对应的故障模式，得到每个器件的器件标识与故障模式的第一对应关系，基于样本电路的设计信息，确定多个样本电路中的每个器件对应的故障注入方式，得到每个器件的器件标识与故障注入方式的第二对应关系，还可以基于样本电路的设计信息，得到故障模式、故障注入方式和待测元组的信号的标识对应的信号类别与测试判据的第三对应关系。需要说明的是，样本电路为印制有待测试的电路的单板，样本电路可以与待测电路的应用领域相同，也可以与待测电路的应用领域不同。例如，包括多个器件，且多个器件之间具有信号传输关系的电路均可作为样本电路、此处对样本电路不做特别限制。

S304、根据多个候选元组与多个测试用例元素的预设对应关系，生成与待测电路的待测元组对应的目标测试用例。

其中，目标测试用例包括与待测元组中的标识以及信号的发送器件和接收器件对应的目标测试用例元素，待测元组为多个候选元组中的一个。

在一种可能的实现方式中，上述S304包括，包括：基于第一对应关系，确定待测元组的收发器件对应的目标故障模式；基于第二对应关系，确定待测元组的收发器件对应的目标故障注入方式；基于第三对应关系，根据待测元组的信号的标识对应的信号类别、目标故障模式、目标故障注入方式，确定目标测试判据；生成目标测试用例，目标测试用例包括目标故障模式、目标故障注入方式和目标测试判据。

在上述实现方式中，上述预设对应关系可以以数据表的形式存储在数据库中，示例性的，参见表1，表1为本申请实施例提供的一种预设对应关系表，包括多个样本电路中器件和每个器件的器件标识对应的故障模式，以及多个样本电路中器件和每个器件的器件标识对应的故障注入方式，也可以理解为下述表1包括第一预设关系和第二预设关系。

表1

器件标识	故障PIN	故障模式	故障注入方式
				U<sub>1</sub>	PIN01	a模式	a方式
U<sub>3</sub>	PIN02	B模式	B方式

参见表2，表2为本申请实施例提供的一种预设对应关系表，包括多个样本电路中故障模式、故障注入方式和信号类别对应的测试判据，也可以理解为下述表2包括第三预设关系。

表2

信号类别	故障模式	故障注入方式	测试判据
				类别A	a模式	a方式	测试判据d
类别B	B模式	B方式	测试判据D

示例性的，待测元组为候选元组A，则待测元组的发送器件的器件标识为U₁，在对待测电路A进行故障注入测试的场景下，根据上述表1确定待测电路中待测元组A中的发送器件的器件标识U₁对应的目标故障模式为a模式，目标故障注入方式为a方式，得到的结果如表3所示。表3

在上述示例中，候选元组A的信号的标识为001，该信号的标识001对应的信号类别为类别A，结合上述表2，基于第三预设关系，待测元组的目标信号类别为类别A、目标故障模式a模式和目标故障注入方式为a方式，该待测元组A对应的目标测试判据为测试判据d。生成目标测试用例，该目标测试用例包括目标故障模式为a模式，目标故障注入方式为a方式，目标测试判据为测试判据d。

需要说明的是，上述S301-S304中的部分或全部步骤可以构成本申请实施例提供的一种测试用例生成方法，该测试用例生成方法通过多个候选元组与多个测试用例元素的预设对应关系，能够确定待测元组对应的多个测试用例元素，根据多个测试用例元素生成目标测试用例，能够实现待测电路的测试用例的自动生成，解决故障注入测试的测试周期长，测试效率低的技术问题。

本申请实施例还提供了一种故障注入测试方法，在上述S301-S304的基础上，至少还包括下述S305。S305、根据目标测试用例对待测电路进行故障注入测试。

在一种实现方式中，参见图5，候选元组对应有故障注入位置信息，测试用例包括故障注入方式和测试判据，上述S305，包括：

S305a、控制注入装置以目标测试用例中的故障注入方式，在目标故障注入位置注入故障；目标故障注入位置为待测元组对应的故障注入位置信息所指示的位置。

该测试判据可以理解为测试判断依据。也就是待测电路注入该测试用例对应的故障后，待测电路的预计反应。举例来说，预先设定的待测电路中注入故障后的反应为：待测电路出现故障K后，待测电路反馈故障K对应的故障信息。判断依据为：待测电路注入故障K后，是否反馈故障K对应的故障信息。

在一种实现方式中，根据目标测试用例的故障注入位置信息确定故障注入位置，控制动力装置122运行，以使得注入装置121对准目标故障注入位置。然后注入装置121在待测电路的目标故障注入位置采用目标测试用例对应的故障注入方式进行故障注入，在本实现方式中，动力装置122可以为机械臂，注入装置121可以为固定在机械臂上的探针。通过机械臂进行移动，以使得探针可以插入到待测电路的目标故障注入位置，造成待测电路在该目标故障注入位置短路，实现故障注入。

在一种实现方式中，每个候选元组对应的故障注入位置信息根据信号、发送器件的各个引脚的位置坐标信息和接收器件的各个引脚的位置坐标信息确定，其中，故障注入位置信息用于确定候选元组对应的测试用例在待测电路中的故障注入位置。

在上述实现方式中，发送器件的各个引脚的位置坐标信息和接收器件的各个引脚的位置坐标信息可以从待测电路的设计信息中获取。根据待测电路的设计信息能够快速确定每个候选元组对应的故障注入位置信息，以使得在故障注入位置信息指示的目标故障注入位置注入故障，完成故障注入测试。

S305b、获取待测电路在被注入故障后的响应信息。

在上述实现方式中，通过动力装置122和注入装置121在待测电路的目标故障注入位置中注入故障，同时，在注入故障后，故障注入测试装置110从待测电路的输出端获取待测电路的响应信息，其中，该响应信息为待测电路在注入故障后的实际反应，例如，响应信息可以为在待测电路中注入故障后，待测电路的系统工作日志信息，该系统工作日志信息包括表征待测电路的工作状态的信息，该系统工作日志信息也可以包括表征待测电路是否能够实现其功能的信息，以及如何实现其功能的信息。根据故障注入后的待测电路的系统工作日志信息，可以确定该待测电路的安全机制是否能够成功识别并反馈该待测电路中出现的故障。

S305c、根据响应信息和目标测试用例中的测试判据，得到待测电路的测试结果。

在上述实现方式中，根据响应信息能够确定待测电路注入故障后的实际反应，根据测试判据能够确定待测电路注入故障后的预计反应，在上述实际反应和预计反应一致的情况下，测试结果为该目标测试用例测试成功。在上述实际反应和预计反应不一致的情况下，测试结果为该目标测试用例测试失败。

由上述可知，通过控制注入装置能够以目标测试用例中的故障注入方式在待测电路中进行故障自动注入，无需人工手动注入故障。同时，通过动力装置能够有效实现注入装置的移动，以使得注入装置能够在待测电路中的目标故障注入位置进行故障注入，提升效率。

在一种实现方式中，每次故障注入测试后，得到故障注入测试的测试结果存储在故障注入测试记录中。也可以理解为，故障注入测试的记录，在该记录中还包括与每个候选元组关联的标签，每个标签包括描述故障注入测试的其他信息，例如，故障注入测试的测试时间、描述目标测试用例的信息、故障注入测试的目标测试用例对应的故障模式等。其中，每个存储在故障注入测试记录中的测试结果还可以被分配唯一的标识，例如，数字ID，该数字ID可以用来表征每个目标测试用例执行的顺序。操作人员可以从多个维度在故障注入测试的记录快速确定之前测试过的故障注入测试的测试结果。

在一种实现方式中，故障注入测试记录可以存储在数据库中，以使得操作人员快速搜索和分析故障注入测试结果。

由S301-S305可知，根据多个候选元组与多个测试用例元素的预设对应关系，生成与待测电路的待测元组对应的目标测试用例；待测元组为多个候选元组中的一个。根据目标测试用例对待测电路进行故障注入测试。一方面，由于测试用例自动生成，无需依赖技术人员的个人经验，能够提升测试用例的客观性和准确性。另一方面，由于测试用例自动执行，无需技术人员手动操作，能够解决相关技术中，故障注入测试的测试周期长，测试效率低的技术问题。

需要说明的是，由于待测电路是由多个器件互相之间进行电气连接组成的，所以可以将多个器件分为两类，其中一类是指当其故障时能够影响到待测电路实现其功能的器件(以下称为第一类器件)，另一类是当其出现故障，也不能够影响到待测电路实现其功能的器件(以下称为第二类器件)。在确定多个候选元组时，候选元组中的发送器件和接收器件至少有一个为第一类器件，由于第二类器件不会对待测电路造成影响，因此对接收器件和发送器件均为第二类器件的候选元组进行故障注入测试是无意义的，只会增加故障注入测试的次数，增加测试成本，影响测试效率。

上述主要从方法的角度对本申请实施例的方案进行了介绍。可以理解的是，故障注入测试装置为了实现上述功能，其包含了执行各个功能相应的硬件结构和软件模块中的至少一个。本领域技术人员应该很容易意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，本申请能够以硬件或硬件和计算机软件的结合形式来实现。某个功能究竟以硬件还是计算机软件驱动硬件的方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本申请的范围。

本申请实施例可以根据上述方法示例对故障注入测试装置进行功能单元的划分，例如，可以对应各个功能划分各个功能单元，也可以将两个或两个以上的功能集成在一个处理单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。需要说明的是，本申请实施例中对单元的划分是示意性的，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式。

示例性的，图6示出了本申请一个示例性实施例提供的故障注入测试装置的结构框图。该故障注入测试装置包括：

测试用例确定单元610，被配置为执行根据多个候选元组与多个测试用例元素的预设对应关系，生成与待测电路的待测元组对应的目标测试用例；其中，目标测试用例包括与待测元组的信号的标识、待测元组的发送器件和待测元组的接收器件对应的目标测试用例元素，待测元组为多个候选元组中的一个；

测试用例执行单元620，被配置为执行根据目标测试用例对待测电路进行故障注入测试。

例如，结合图3，测试用例确定单元610可以用于执行如图3所示的步骤301-304，测试用例执行单元620可以用于执行如图3所示的步骤305。

可选的，测试用例元素包括故障模式、故障注入方式和测试判据中的至少一项。

可选的，预设对应关系包括候选元组的收发器件与故障模式的第一对应关系，候选元组的收发器件与故障注入方式的第二对应关系，故障模式、故障注入方式和候选元组的信号的标识对应的信号类别与测试判据的第三对应关系，其中，收发器件为发送器件或接收器件。测试用例确定单元610，具体用于基于第一对应关系，确定待测元组的收发器件对应的目标故障模式；基于第二对应关系，确定待测元组的收发器件对应的目标故障注入方式；基于第三对应关系，根据待测元组的信号的标识对应的信号类别、目标故障模式、目标故障注入方式，确定目标测试判据；生成目标测试用例，目标测试用例包括目标故障模式、目标故障注入方式和目标测试判据。

可选的，根据多个候选元组与多个测试用例元素的预设对应关系，生成与待测电路的待测元组对应的目标测试用例之前，测试用例确定单元610还用于：获取待测电路的设计信息，设计信息包括待测电路的不同器件之间的信号传输关系；根据信号传输关系确定多个候选元组。

可选的，测试用例确定单元610，还用于：将待测电路中具有信号传输关系的两个器件及两个器件之间传输的N个不同信号确定为N个信号元组；其中，N为大于等于2的整数；根据M个信号元组确定多个候选元组，其中，如果M个信号元组中的第一信号元组的接收器件为第二信号元组的发送器件，且第一信号元组中的信号和第二信号元组中的信号对待测电路产生的影响相同，则根据第一信号元组和第二信号元组生成一个候选元组，候选元组的发送器件为第一信号元组的发送器件，候选元组的接收器件为第二信号元组的接收器件，M为大于N的整数。

可选的，待测元组满足以下一种或多种条件：待测元组对应的测试用例中的故障模式为预设故障模式；待测元组中的信号对应的信号类别为预设信号类别；待测元组中的信号的标识为预设标识；待测元组中的接收器件为第一指定器件；和/或，待测元组中的发送器件为第二指定器件。

可选的，候选元组对应有故障注入位置信息，测试用例包括故障注入方式和测试判据，测试用例执行单元620，具体用于：控制注入装置以目标测试用例中的目标故障注入方式，在目标故障注入位置注入故障；目标故障注入位置为待测元组对应的故障注入位置信息所指示的位置；获取待测电路在被注入故障后的响应信息；根据响应信息和目标测试用例中的目标测试判据，得到待测电路的测试结果。例如，结合图5，测试用例执行单元620可以用于执行如图5所示的步骤305a－步骤305c。

可选的，每个候选元组对应的故障注入位置信息根据信号的标识、发送器件的各个引脚的位置坐标信息和接收器件的各个引脚的位置坐标信息确定，其中，故障注入位置信息用于确定候选元组对应的测试用例在待测电路中的故障注入位置。

关于上述可选方式的具体描述可以参见前述的方法实施例，此处不再赘述。此外，上述提供的任一种故障注入测试装置的解释以及有益效果的描述均可参考上述对应的方法实施例，不再赘述。

作为示例，结合图7，故障注入测试装置中的测试用例确定单元610和测试用例执行单元620中的部分或全部实现的功能可以通过图7中的处理器710执行图7中的存储器720中的程序代码实现。

图7示出了本申请一个示例性实施例提供的故障注入测试装置的结构方框图。该计算机设备可以是智能手机、平板电脑、电子书、便携式个人计算机、智能穿戴设备等电子设备。本申请中的计算机设备可以包括一个或多个如下部件：处理器710、存储器720。

处理器710可以包括一个或者多个处理核心。处理器710利用各种接口和线路连接整个终端内的各个部分，通过运行或执行存储在存储器720内的指令、程序、代码集或指令集，以及调用存储在存储器720内的数据，执行终端的各种功能和处理数据。可选地，处理器710可以采用数字信号处理(digital signal processing，DSP)、现场可编程门阵列(field－programmable gate array，FPGA)、可编程逻辑阵列(programmable logicarray，PLA)中的至少一种硬件形式来实现。处理器710可集成中央处理器(CentralProcessing Unit，CPU)、图像处理器(graphics processing unit，GPU)和调制解调器等中的一种或几种的组合。其中，CPU主要处理操作系统、用户界面和应用程序等；GPU用于负责屏幕730所需要显示的内容的渲染和绘制；调制解调器用于处理无线通信。可以理解的是，上述调制解调器也可以不集成到处理器710中，单独通过一块通信芯片进行实现。

存储器720可以包括随机存储器(random access memory，RAM)，也可以包括只读存储器(read-only memory，ROM)。可选地，该存储器720包括非瞬时性计算机可读介质(non-transitory computer-readable storage medium)。存储器720可用于存储指令、程序、代码、代码集或指令集。存储器720可包括存储程序区和存储数据区，其中，存储程序区可存储用于实现操作系统的指令、用于实现至少一个功能的指令(比如触控功能、声音播放功能、图像播放功能等)、用于实现上述各个方法实施例的指令等，该操作系统可以是安卓(Android)系统(包括基于Android系统深度开发的系统)、苹果公司开发的IOS系统(包括基于IOS系统深度开发的系统)或其他系统。存储数据区还可以存储终端在使用中所创建的数据(比如电话本、音视频数据、聊天记录数据)等。

除此之外，本领域技术人员可以理解，上述附图所示出的计算机设备的结构并不构成对计算机设备的限定，计算机设备可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件布置。比如，终端中还包括射频电路、拍摄组件、传感器、音频电路、无线保真(wireless fidelity，WiFi)组件、电源、蓝牙组件等部件，在此不再赘述。

本申请实施例还提供了故障注入测试系统，包括：处理器、存储器、动力装置和注入装置；存储器用于存储计算机指令；处理器，与存储器连接，用于执行计算机指令，以实现上述各个实施例提供的方法；动力装置，与处理器和注入装置连接，用于在处理器的控制下，控制动力装置移动；注入装置，用于以目标故障注入方式，在目标故障注入位置注入故障。

本申请实施例还提供了一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质中存储有至少一条计算机指令，该至少一条计算机指令由处理器加载并执行以实现如上各个实施例的故障注入测试方法。关于上述提供的任一种计算机可读存储介质中相关内容的解释及有益效果的描述，均可以参考上述对应的实施例，此处不再赘述。

本申请实施例还提供了一种芯片。该芯片中集成了用于实现上述故障注入测试装置的功能的控制电路和一个或者多个端口。可选的，该芯片支持的功能可以参考上文，此处不再赘述。本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例的全部或部分步骤可通过程序来指令相关的硬件完成。所述的程序可以存储于一种计算机可读存储介质中。上述提到的存储介质可以是只读存储器，随机接入存储器等。上述处理单元或处理器可以是中央处理器，通用处理器、特定电路结构(application specific integrated circuit，ASIC)、微处理器(digital signal processor，DSP)，现场可编程门阵列(field programmable gatearray，FPGA)或者其他可编程逻辑器件、晶体管逻辑器件、硬件部件或者其任意组合。

本申请实施例还提供了一种包含指令的计算机程序产品，当该指令在计算机上运行时，使得计算机执行上述实施例中的任意一种方法。该计算机程序产品包括一个或多个计算机指令。在计算机上加载和执行计算机程序指令时，全部或部分地产生按照本申请实施例的流程或功能。计算机可以是通用计算机、专用计算机、计算机网络或者其他可编程装置。计算机指令可以存储在计算机可读存储介质中，或者从一个计算机可读存储介质向另一个计算机可读存储介质传输，例如，计算机指令可以从一个网站站点、计算机、服务器或者数据中心通过有线(例如同轴电缆、光纤、数字用户线(digital subscriber line，DSL))或无线(例如红外、无线、微波等)方式向另一个网站站点、计算机、服务器或数据中心进行传输。计算机可读存储介质可以是计算机能够存取的任何可用介质或者是包含一个或多个可以用介质集成的服务器、数据中心等数据存储设备。可用介质可以是磁性介质(例如，软盘、硬盘、磁带)，光介质(例如，DVD)，或者半导体介质(例如SSD)等。

应注意，本申请实施例提供的上述用于存储计算机指令或者计算机程序的器件，例如但不限于，上述存储器、计算机可读存储介质和通信芯片等，均具有非易失性(non-transitory)。本领域技术人员应该可以意识到，在上述一个或多个示例中，本申请实施例所描述的功能可以用硬件、软件、固件或它们的任意组合来实现。当使用软件实现时，可以将这些功能存储在计算机可读存储介质中或者作为计算机可读存储介质上的一个或多个指令或代码进行传输。计算机可读存储介质包括计算机存储介质和通信介质，其中通信介质包括便于从一个地方向另一个地方传送计算机程序的任何介质。存储介质可以是通用或专用计算机能够存取的任何可用介质。

以上所述仅为本申请的可选实施例，并不用以限制本申请，凡在本申请的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本申请的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种故障注入测试方法，其特征在于，应用于待测电路，所述待测电路包括多个候选元组，每个所述候选元组包括信号的标识以及所述信号的发送器件和接收器件，所述方法包括：

根据所述多个候选元组与多个测试用例元素的预设对应关系，生成与所述待测电路的待测元组对应的目标测试用例；其中，所述目标测试用例包括与所述待测元组的信号的标识、所述待测元组的发送器件和所述待测元组的接收器件对应的目标测试用例元素，所述待测元组为所述多个候选元组中的一个。

2.根据权利要求1所述的故障注入测试方法，其特征在于，所述测试用例元素包括故障模式、故障注入方式和测试判据中的至少一项。

3.根据权利要求2所述的故障注入测试方法，其特征在于，所述预设对应关系包括所述候选元组的收发器件与所述故障模式的第一对应关系，所述候选元组的收发器件与所述故障注入方式的第二对应关系，所述故障模式、所述故障注入方式和所述候选元组的信号的标识对应的信号类别与所述测试判据的第三对应关系，其中，所述收发器件为所述发送器件或所述接收器件；

所述根据所述多个候选元组与多个测试用例元素的预设对应关系，确定与所述待测电路的待测元组对应的目标测试用例，包括：

基于所述第一对应关系，确定所述待测元组的收发器件对应的目标故障模式；

基于所述第二对应关系，确定所述待测元组的收发器件对应的目标故障注入方式；

基于所述第三对应关系，根据所述待测元组的信号的标识对应的信号类别、所述目标故障模式、所述目标故障注入方式，确定对应的目标测试判据；

生成所述目标测试用例，所述目标测试用例包括所述目标故障模式、所述目标故障注入方式和所述目标测试判据。

4.根据权利要求1所述的故障注入测试方法，其特征在于，所述根据所述多个候选元组与多个测试用例元素的预设对应关系，生成与所述待测电路的待测元组对应的目标测试用例之前，所述方法还包括：

获取所述待测电路的设计信息，所述设计信息包括所述待测电路的不同器件之间的信号传输关系；

根据所述信号传输关系确定所述多个候选元组。

5.根据权利要求4所述的故障注入测试方法，其特征在于，所述根据所述信号传输关系确定所述多个候选元组，包括：

将所述待测电路中具有信号传输关系的两个器件及所述两个器件之间传输的N个不同信号确定为N个信号元组；其中，N为大于等于2的整数；

根据M个信号元组确定所述多个候选元组，其中，如果所述M个信号元组中的第一信号元组的接收器件为第二信号元组的发送器件，且所述第一信号元组中的信号和所述第二信号元组中的信号对所述待测电路产生的影响相同，则根据所述第一信号元组和所述第二信号元组生成一个所述候选元组，所述候选元组的发送器件为所述第一信号元组的发送器件，所述候选元组的接收器件为所述第二信号元组的接收器件，M为大于N的整数。

6.根据权利要求1-5任一项所述的故障注入测试方法，其特征在于，所述待测元组满足以下一种或多种条件：

所述待测元组对应的故障模式为预设故障模式；

所述待测元组中的信号对应的信号类别为预设信号类别；

所述待测元组中的信号的标识为预设标识；

所述待测元组中的接收器件为第一指定器件；

和/或，所述待测元组中的发送器件为第二指定器件。

7.根据权利要求1-6任一项所述的故障注入测试方法，其特征在于，所述方法还包括：

根据所述目标测试用例对所述待测电路进行故障注入测试。

8.根据权利要求7所述的故障注入测试方法，其特征在于，所述候选元组对应有故障注入位置信息，所述根据所述目标测试用例对所述待测电路进行故障注入测试，包括：

控制注入装置以所述目标故障注入方式，在目标故障注入位置注入故障；所述目标故障注入位置为所述待测元组对应的故障注入位置信息所指示的位置；

获取所述待测电路在被注入所述故障后的响应信息；

根据所述响应信息和所述目标测试判据，得到所述待测电路的测试结果。

9.根据权利要求8所述的故障注入测试方法，其特征在于，每个所述候选元组对应的故障注入位置信息根据所述信号的标识、所述发送器件的各个引脚的位置坐标信息和所述接收器件的各个引脚的位置坐标信息确定，其中，所述故障注入位置信息用于确定所述候选元组对应的测试用例在所述待测电路中的故障注入位置。

10.一种故障注入测试系统，其特征在于，包括：处理器、存储器、动力装置和注入装置；

所述存储器用于存储计算机指令；

所述处理器，与所处存储器连接，用于执行所述计算机指令，以实现权利要求1-9任一项所述的故障注入测试方法；

所述动力装置，与所述处理器和所述注入装置连接，用于在所述处理器的控制下，控制所述动力装置移动；

所述注入装置，用于以目标故障注入方式，在目标故障注入位置注入故障。

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