CN213958047U - 一种调试器、调试装置及调试系统 - Google Patents

Abstract

本实用新型实施例提供了一种调试器、调试装置及调试系统，涉及电子设备技术领域。本实用新型实施例通过在调试器中设置控制接口、控制芯片、接口芯片和调试接口，控制芯片包括的第一输入输出引脚和各个第二输入输出引脚均与接口芯片连接，调试接口包括的调试使能引脚与接口芯片连接。通过在调试器中增加一根信号线将第一输入输出引脚与接口芯片连接，并在调试器中再增加一根信号线将调试使能引脚与接口芯片连接，控制芯片根据第一调试信号生成对应的使能控制信号，基于新增的信号线，将使能控制信号发送至调试使能引脚，以对主板中的调试使能信号的电平进行拉高或拉低，因此，无需人为手动拉高或拉低调试使能信号的电平，减少操作人员的工作量。

Description

一种调试器、调试装置及调试系统

技术领域

本实用新型涉及电子设备技术领域，特别是涉及一种调试器、调试装置及调试系统。

背景技术

为了实现对主板进行软件调试及故障定位，需要在主板中设置两个调试接口，一个调试接口为JTAG(Joint Test Action Group，联合测试工作组)接口，一个调试接口为EJTAG(Enhanced Joint Test Action Group，增强联合测试工作组)接口，当主板处于测试模式时，通常使用JTAG接口对主板进行调试，在主板处于工作模式时，通常使用EJTAG接口对主板进行调试；并且，当主板处于不同模式时，即使用不同的调试接口对主板进行调试时，其对应的调试使能信号DOTEST的电平不同。

目前是在主板中设置有控制开关，通过人为手动控制该控制开关实现对调试使能信号DOTEST的电平的拉高或拉低，从而导致在切换JTAG接口和EJTAG接口对主板进行调试时，操作人员的操作较为复杂，调试时的工作量大。

实用新型内容

鉴于上述问题，提出了本实用新型实施例以便提供一种克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的一种调试器、调试装置及调试系统，以解决现有的人为对控制开关进行控制以实现对调试使能信号DOTEST的电平的拉高或拉低，会导致操作人员的操作较为复杂，调试时的工作量大的问题。

为了解决上述问题，本实用新型实施例公开了一种调试器，包括：控制接口、控制芯片、接口芯片和调试接口；所述控制接口与所述控制芯片连接，所述控制芯片包括第一输入输出引脚和第二输入输出引脚，且所述第一输入输出引脚和所述第二输入输出引脚均与所述接口芯片连接，所述调试接口包括调试使能引脚，且所述调试使能引脚与所述接口芯片连接；

所述控制芯片，用于根据所述控制接口输入的第一调试信号，将所述第二输入输出引脚设置为EJTAG模式或JTAG模式，并通过所述第一输入输出引脚向所述接口芯片发送使能控制信号；

所述接口芯片，用于将所述使能控制信号发送至所述调试使能引脚，以通过所述使能控制信号，控制与所述调试使能引脚连接的主板中的调试使能信号的电平。

可选的，所述调试接口还包括多个调试引脚，且各个所述调试引脚均与所述接口芯片连接；

所述控制芯片，还用于通过所述第二输入输出引脚，将所述控制接口输入的第二调试信号发送至所述接口芯片，以及将所述接口芯片发送的调试结果发送至所述控制接口；

所述接口芯片，还用于将所述第二调试信号发送至所述调试引脚，以对所述主板进行调试，以及接收所述主板通过所述调试引脚反馈的调试结果。

可选的，所述调试接口包括的调试引脚分别为调试时钟输入引脚、调试数据输入引脚、调试数据输出引脚、调试模式选择引脚和调试复位引脚。

可选的，所述调试器还包括电源模块；

所述电源模块，分别与所述控制芯片和所述接口芯片连接，用于向所述控制芯片和所述接口芯片供电。

可选的，所述调试接口还包括VDD电压引脚，且所述VDD电压引脚与所述接口芯片连接；

所述接口芯片，还用于根据所述主板通过所述VDD电压引脚输入的目标电压值，将所述第二调试信号对应的电压值转换为所述目标电压值。

可选的，所述控制接口包括网口、USB(Universal Serial Bus，通用串行总线)口、串口和并口中的任意一个或多个。

为了解决上述问题，本实用新型实施例还公开了一种调试装置，包括调试设备以及上述的调试器，所述调试设备与所述调试器中的控制接口连接；

所述调试设备，用于通过所述控制接口向所述调试器发送第一调试信号和第二调试信号，以及接收所述调试器通过所述控制接口发送的调试结果。

为了解决上述问题，本实用新型实施例另外公开了一种调试系统，包括主板以及上述的调试装置，所述主板与所述调试器中的调试接口连接。

可选的，所述主板包括处理器以及与所述处理器连接的调试接口，且所述主板中的调试接口与所述调试器中的调试接口相互匹配。

可选的，当所述处理器中的EJTAG引脚和JTAG引脚复用时，所述主板中的调试接口的数量为一个；

当所述处理器中的EJTAG引脚和JTAG引脚不复用时，所述主板中的调试接口的数量为两个，且所述主板中的两个所述调试接口相同。

本实用新型实施例包括以下优点：

通过在调试器中设置控制接口、控制芯片、接口芯片和调试接口，该控制接口与控制芯片连接，控制芯片包括第一输入输出引脚和第二输入输出引脚，且第一输入输出引脚和第二输入输出引脚均与接口芯片连接，调试接口包括调试使能引脚，且调试使能引脚与接口芯片连接；控制芯片用于根据控制接口输入的第一调试信号，将第二输入输出引脚设置为EJTAG模式或JTAG模式，并通过第一输入输出引脚向接口芯片发送使能控制信号；接口芯片用于将使能控制信号发送至调试使能引脚，以通过使能控制信号，控制与调试使能引脚连接的主板中的调试使能信号的电平。通过在调试器中增加一根信号线将控制芯片的第一输入输出引脚与接口芯片连接，并在调试器中再增加一根信号线将调试接口中的调试使能引脚与接口芯片连接，控制芯片可根据第一调试信号确定主板所处的模式，并生成对应的使能控制信号，基于新增的信号线，将使能控制信号发送至调试使能引脚，而调试使能引脚与主板连接，则使得使能控制信号可以对主板中的调试使能信号的电平进行拉高或拉低，因此，无需人为手动拉高或拉低主板中的调试使能信号的电平，从而在切换JTAG接口和EJTAG接口对主板进行调试时，可减少操作人员的工作量。

附图说明

图1示出了本实用新型实施例的一种调试器的结构示意图；

图2示出了本实用新型实施例的调试接口的引脚定义示意图；

图3示出了本实用新型实施例的另一种调试器的结构示意图；

图4示出了本实用新型实施例的一种调试系统的结构示意图；

图5示出了本实用新型实施例的另一种调试系统的结构示意图。

具体实施方式

为使本实用新型的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图和具体实施方式对本实用新型作进一步详细的说明。

实施例一

参照图1，示出了本实用新型实施例的一种调试器的结构示意图。

本实用新型实施例提供了一种调试器10，包括：控制接口11、控制芯片12、接口芯片13和调试接口14；控制接口11与控制芯片12连接，控制芯片12包括第一输入输出引脚和第二输入输出引脚，且第一输入输出引脚和第二输入输出引脚均与接口芯片13连接，调试接口14包括调试使能引脚，且调试使能引脚与接口芯片13连接。

其中，控制芯片12，用于根据控制接口11输入的第一调试信号，将第二输入输出引脚设置为EJTAG模式或JTAG模式，并通过第一输入输出引脚向接口芯片13发送使能控制信号；接口芯片13，用于将使能控制信号发送至调试使能引脚，以通过使能控制信号，控制与调试使能引脚连接的主板中的调试使能信号的电平。

具体的，控制接口11与控制芯片12通过第一信号线21连接；控制芯片12包括的IO(Input/Output，输入输出)引脚被划分为第一输入输出引脚和第二输入输出引脚，控制芯片12包括的第一输入输出引脚的数量为一个，第一输入输出引脚通过第二信号线22与接口芯片13连接，其用于向接口芯片13发送使能控制信号，而控制芯片12包括的第二输入输出引脚的数量为多个，如5个等，每个第二输入输出引脚均通过第三信号线23与接口芯片13连接；调试接口14包括调试使能引脚DOTEST，调试使能引脚DOTEST的数量为一个，调试使能引脚DOTEST通过第四信号线24与接口芯片13连接。

在实际调试过程中，需要先将调试器10中的调试接口14与主板连接；然后，向控制接口11输入第一调试信号，控制接口11通过第一信号线21将第一调试信号传输至控制芯片12；控制芯片12根据第一调试信号确定主板所处的模式是测试模式还是工作模式，即确定调试器10对主板进行调试时使用的调试接口14是EJTAG接口还是JTAG接口。

控制芯片12在确定了主板所处的模式之后，根据主板所处的模式，将各个第二输入输出引脚均设置为EJTAG模式或JTAG模式；具体的，当控制芯片12确定主板所处的模式是测试模式时，将各个第二输入输出引脚均设置为JTAG模式，当控制芯片12确定主板所处的模式是工作模式时，将各个第二输入输出引脚均设置为EJTAG模式。此外，控制芯片12还需要根据主板所处的模式，生成对应的使能控制信号，并通过第一输入输出引脚和第二信号线22向接口芯片13发送对应的使能控制信号；具体的，当控制芯片12确定主板所处的模式是测试模式时，向接口芯片13发送的使能控制信号的电平为低电平，当控制芯片12确定主板所处的模式是工作模式时，向接口芯片13发送的使能控制信号的电平为高电平。

接口芯片13在接收到控制芯片12发送的使能控制信号之后，通过第四信号线24将该使能控制信号发送至调试接口14中的调试使能引脚DOTEST；而调试接口14中的调试使能引脚DOTEST还与主板连接，因此，调试使能引脚DOTEST可将接口芯片13发送的使能控制信号发送至主板，从而实现对主板中的调试使能信号的电平进行拉高或拉低。具体的，当使能控制信号的电平为高电平时，可将主板中的调试使能信号的电平拉高，当使能控制信号的电平为低电平时，可将主板中的调试使能信号的电平拉低。

此时，在调试器10中仅增加了一根第二信号线22和一根第四信号线24，就可以实现将使能控制信号发送至调试使能引脚DOTEST，通过调试使能引脚DOTEST对主板中的调试使能信号的电平进行拉高或拉低，因此，无需人为手动拉高或拉低主板中的调试使能信号的电平，从而在切换JTAG接口和EJTAG接口对主板进行调试时，可减少操作人员的工作量。

需要说明的是，当主板所处的模式是工作模式，即第二输入输出引脚的模式为EJTAG模式时，调试使能信号的电平为高电平；当主板所处的模式是测试模式时，即第二输入输出引脚的模式为JTAG模式时，调试使能信号的电平为低电平。也就是说，当调试器10对主板进行调试时使用的调试接口14是JTAG接口时，需要将调试使能信号的电平拉低，而当调试器10对主板进行调试时使用的调试接口14是EJTAG接口时，需要将调试使能信号的电平拉高。

通常，当调试器10使用JTAG接口对主板进行调试时，可采用串行的方式控制主板中的处理器内部所有的寄存器，检测主板中的处理器是否良好；在使用JTAG接口对主板进行调试时，会影响到主板中的处理器的正常工作，因此，需要在处理器处于测试模式下使用JTAG接口进行调试。当调试器10使用EJTAG接口对主板进行调试时，可控制主板中的处理器内部大部分的功能寄存器，可以在不影响主板中的处理器正常工作的条件下进行寄存器的读写控制，因此，可在处理器处于工作模式下使用EJTAG接口进行调试。

进一步的，调试接口14还包括多个调试引脚，且各个调试引脚均与接口芯片13连接；控制芯片12，还用于通过第二输入输出引脚，将控制接口11输入的第二调试信号发送至接口芯片13，以及将接口芯片13发送的调试结果发送至控制接口11；接口芯片13，还用于将第二调试信号发送至调试引脚，以对主板进行调试，以及接收主板通过调试引脚反馈的调试结果。

具体的，控制芯片12包括的每个第二输入输出引脚均通过第三信号线23与接口芯片13连接，调试接口14还包括多个调试引脚，且每个调试引脚均通过第五信号线25与接口芯片13连接。

具体的，调试接口14包括5个调试引脚，如图2所示，调试接口14包括的调试引脚分别为调试时钟输入引脚TCK、调试数据输入引脚TDI、调试数据输出引脚TDO、调试模式选择引脚TMS和调试复位引脚TRST。

其中，调试时钟输入引脚TCK用于调试时钟的输入，调试数据输入引脚TDI用于调试数据的输入，调试数据通过调试数据输入引脚TDI输入调试接口14，调试数据输出引脚TDO用于调试数据的输出，调试数据通过调试数据输出引脚TDO从调试接口14输出，调试模式选择引脚TMS用于调试模式的选择，用来设置调试接口14处于某种特定的调试模式，调试复位引脚TRST用于调试复位，其是输入引脚，在低电平时有效。

在实际调试过程中，在将各个第二输入输出引脚均设置为EJTAG模式或JTAG模式，且将主板中的调试使能信号的电平拉高或拉低之后，向控制接口11输入第二调试信号，控制接口11通过第一信号线21将第二调试信号传输至控制芯片12；控制芯片12通过第二输入输出引脚和第三信号线23向接口芯片13发送该第二调试信号，该第二调试信号指的是对主板进行调试时所需的信号；接口芯片13然后通过第五信号线25将第二调试信号发送至调试接口14中对应的调试引脚。并且，调试接口14中的各个调试引脚还与主板连接，因此，调试引脚可将接口芯片13发送的第二调试信号发送至主板，从而实现对主板进行调试。例如，可通过第二调试信号对主板内设置的处理器中所包含的寄存器存储的值进行读取，从而实现对主板内设置的处理器的故障进行分析。

当主板调试之后，主板向调试接口14中的调试引脚反馈调试结果，调试接口14中的调试引脚通过第五信号线25将调试结果发送至接口芯片13，则接口芯片13接收主板通过调试引脚反馈的调试结果，然后，接口芯片13通过第三信号线23和第二输入输出引脚将调试结果发送至控制芯片12，接着，控制芯片13通过第一信号线21将调试结果发送至控制接口11。并且，调试器10中的控制接口11实际上与调试设备连接，调试器10通过控制接口11将调试结果发送至调试设备，以在调试设备中查看调试结果。

需要说明的是，在通过调试接口14向主板发送第二调试信号时，其主要是通过调试接口14中的调试时钟输入引脚TCK、调试数据输入引脚TDI、调试模式选择引脚TMS和调试复位引脚TRST进行工作的；在通过调试接口14向接口芯片13反馈调试结果时，其主要是通过调试接口14中的调试数据输出引脚TDO进行工作的。

如图2所示，调试接口14还包括接地引脚GND、NC引脚和VDD引脚，NC引脚指的是未使用的引脚，VDD引脚指的是主板向调试器10输入的电压对应的引脚，调试接口14中的接地引脚GND的数量为5个，调试接口14中的NC引脚的数量为2个，调试接口14中的VDD引脚的数量为1个，DOTEST指的是调试接口14中的调试使能引脚。

在本实用新型实施例中，调试器10中的调试接口14采用如图2所示的接口定义，由于调试器10既可以支持JTAG模式又可以支持EJTAG模式，因此，可将JTAG接口和EJTAG接口兼容为一个调试接口14，即调试器10中的调试接口14既可以作为JTAG接口又可以作为EJTAG接口，且JTAG接口和EJTAG接口采用相同的引脚定义。

在实际调试过程中，本实用新型实施例中的调试器10既可以对主板的JTAG接口进行访问，也可以对主板的EJTAG接口进行访问，进而实现不同的调试功能，即采用同一调试器10可实现对具有不同种类的调试接口的主板进行调试，从而可减少调试器的种类，并减少调试时所使用的硬件资源。

参照图3，示出了本实用新型实施例的另一种调试器的结构示意图。

在图1的基础上，调试器10还包括电源模块15；电源模块15，分别与控制芯片12和接口芯片13连接，用于向控制芯片12和接口芯片13供电。

通过在调试器10内部设置电源模块15，并采用电源模块15对控制芯片12和接口芯片13进行供电，从而保证调试器10可以正常工作，且电源模块15向控制芯片12和接口芯片13进行供电的供电电压为3.3V。

在本实用新型实施例中，如图3所示，调试接口14还包括VDD电压引脚，且VDD电压引脚与接口芯片13连接；接口芯片13，还用于根据主板通过VDD电压引脚输入的目标电压值，将第二调试信号对应的电压值转换为目标电压值。

具体的，调试接口14中的VDD电压引脚通过第六信号线26与接口芯片13连接。

在实际调试过程中，主板通过VDD电压引脚和第六信号线26向接口芯片13输入目标电压值，该目标电压值为主板所需的电压值，控制芯片12发送给接口芯片13的第二调试信号的电压为3.3V，接口芯片13根据主板实际需要的目标电压值，对第二调试信号进行电压转换，将第二调试信号对应的电压值转换为目标电压值，并向调试接口14中的调试引脚发送具有目标电压值的第二调试信号，以通过具有目标电压值的第二调试信号对主板进行调试。

在实际产品中，接口芯片13可将第二调试信号对应的电压值3.3V转换为1.2V至5V中的任一值；例如，接口芯片13可将3.3V电压值转换为2.4V的目标电压值，此时向调试接口14的调试引脚发送的是2.4V的第二调试信号，接口芯片13也可将3.3V的电压值转换为4.5V的目标电压值，此时向调试接口14的调试引脚发送的是4.5V的第二调试信号。

通过接口芯片13的电压转换功能，可向主板提供具有不同电压值的第二调试信号，因此，可实现对不同电平标准的处理器对应的主板进行调试，提高调试器10的使用范围。

此外，接口芯片13还可将控制芯片12发送的使能控制信号的电压值从3.3V也转换为目标电压值，此时，向调试使能引脚DOTEST发送的是具有目标电压值的使能控制信号。

需要说明的是，接口芯片13除了电压转换功能之外，还起到隔离的作用，防止控制芯片12的引脚损坏，若仅在调试器10中设置控制芯片12而不设置接口芯片13，由于静电等因素的存在，会导致控制芯片12的引脚损坏，因此，调试器10中的接口芯片13，还可实现对控制芯片12的引脚进行保护。

在本实用新型实施例中，控制接口11包括网口、USB口、串口和并口中的任意一个或多个，当然，也采用其它接口，只要保证控制接口11可以与调试设备进行通信即可。

当控制接口11为网口时，调试器10可以通过网口与调试设备进行连接，通过网口连接方式实现调试器10的远程访问及控制，可实现调试设备对主板的远程调试；当控制接口11为USB口时，调试器10可以通过USB口与调试设备进行连接，通过USB口连接方式实现调试器10的本地访问及控制，可实现调试设备对主板的本地调试。

当然，调试器10也可通过串口与调试设备进行连接，串口也称串行接口，是采用串行通信方式的扩展接口；调试器10还可以通过并口与调试设备进行连接，并口也称并行接口，是采用并行通信方式的扩展接口。

在本实用新型实施例中，通过在调试器中增加一根信号线将控制芯片的第一输入输出引脚与接口芯片连接，并在调试器中再增加一根信号线将调试接口中的调试使能引脚与接口芯片连接，控制芯片可根据第一调试信号确定主板所处的模式，并生成对应的使能控制信号，基于新增的信号线，将使能控制信号发送至调试使能引脚，而调试使能引脚与主板连接，则使得使能控制信号可以对主板中的调试使能信号的电平进行拉高或拉低，因此，无需人为手动拉高或拉低主板中的调试使能信号的电平，从而在切换JTAG接口和EJTAG接口对主板进行调试时，可减少操作人员的工作量。

实施例二

参照图4，示出了本实用新型实施例的一种调试系统的结构示意图，图5示出了本实用新型实施例的另一种调试系统的结构示意图。

本实用新型实施例提供了一种调试装置，包括调试设备30以及上述的调试器10，调试设备30与调试器10中的控制接口11连接；调试设备30，用于通过控制接口11向调试器10发送第一调试信号和第二调试信号，以及接收调试器10通过控制接口11发送的调试结果。

调试设备30实际上可以为终端，其与调试器10中的控制接口11连接。在实际调试过程中，调试设备30先通过控制接口11向调试器10发送第一调试信号，调试器10基于第一调试信号将控制芯片12的各个第二输入输出引脚均设置为EJTAG模式或JTAG模式，并向调试接口14中的调试使能引脚DOTEST发送使能控制信号，以拉高或拉低主板中的调试使能信号的电平。然后，调试设备30再通过控制接口11向调试器10发送第二调试信号，调试器10基于第二调试信号对主板进行调试，调试结果再通过调试器10返回至调试设备30。

关于调试器10的具体描述可以参照实施例一的描述，本实用新型实施例对此不再赘述。

如图4和图5所示，本实用新型实施例还提供了一种调试系统，包括主板40以及上述的调试装置，主板40与调试器10中的调试接口14连接。

也就是说，调试系统包括调试设备30、调试器10和主板40，调试设备30与调试器10中的控制接口11连接，而主板40与调试器10中的调试接口14连接。

进一步的，主板40包括处理器以及与处理器连接的调试接口，且主板中的调试接口与调试器10中的调试接口14相互匹配。

也就是说，主板40中的调试接口采用与调试器10中的调试接口14相同的引脚定义，即主板40中的调试接口包括2×7个引脚，其分别为调试使能引脚DOTEST、调试时钟输入引脚TCK、调试数据输入引脚TDI、调试数据输出引脚TDO、调试模式选择引脚TMS、调试复位引脚TRST、接地引脚GND、NC引脚和VDD引脚，且调试使能引脚DOTEST、调试时钟输入引脚TCK、调试数据输入引脚TDI、调试数据输出引脚TDO、调试模式选择引脚TMS、调试复位引脚TRST和VDD引脚的数量均为1个，接地引脚GND的数量为5个，NC引脚的数量为2个。

现有技术中，主板上设置的调试接口有两种，其分别为EJTAG接口和JTAG接口，且EJTAG接口和JTAG接口的接口定义不同。而本实用新型实施例对主板40上的调试接口进行修改，将其上设置的调试接口采用与调试器10中的调试接口14相同的引脚定义，则主板40上的调试接口只有一种，其与调试器10的调试接口14适配，既可以作为EJTAG接口又可以作为JTAG接口。

在本实用新型一种可选的实施方式中，如图4所示，当处理器中的EJTAG引脚和JTAG引脚复用时，主板40中的调试接口的数量为一个。

在实际产品中，某些处理器的EJTAG引脚和JTAG引脚可以复用，在主板40上设置EJTAG引脚和JTAG引脚复用的处理器时，在主板40上可以仅设置一个调试接口，且该主板40上设置的这一个调试接口的接口定义与调试器10中的调试接口14的定义相同，此时，主板40上的这一个调试接口既作为EJTAG接口又作为JTAG接口。

在实际调试过程中，直接将调试器10中的调试接口14与主板40中的调试接口连接，调试器10根据实际需要发送JTAG调试信号或EJTAG调试信号，当调试器10发送的是JTAG调试信号时，调试器10中的调试接口14与主板40中的调试接口均作为JTAG接口使用，当调试器10发送的是EJTAG调试信号时，调试器10中的调试接口14与主板40中的调试接口均作为EJTAG接口使用。

因此，通过对主板40中的调试接口进行修改，使得主板40中的调试接口既作为EJTAG接口又作为JTAG接口，因此，当主板40中的处理器的EJTAG引脚和JTAG引脚复用时，仅需要在主板40中设置一个调试接口，就可以实现对主板40处于测试模式和工作模式这两种不同模式时的调试，可减少主板40中的调试接口的数量，从而降低调试接口在主板40中的占用空间。

在本实用新型另一种可选的实施方式中，如图5所示，当处理器中的EJTAG引脚和JTAG引脚不复用时，主板40中的调试接口的数量为两个，且主板40中的两个调试接口相同。

在实际产品中，某些处理器的EJTAG引脚和JTAG引脚不复用，在主板40上设置EJTAG引脚和JTAG引脚不复用的处理器时，在主板40上需要设置两个调试接口，主板40中的这两个调试接口相同，且主板40中的这两个调试接口的接口定义与调试器10中的调试接口14的定义相同，此时，可将主板40上的其中一个调试接口作为EJTAG接口，而主板40上的另一个调试接口作为JTAG接口。

并且，在主板40中，作为EJTAG接口的调试接口与处理器的EJTAG引脚连接，作为JTAG接口的调试接口与处理器的JTAG引脚连接，且处理器的调试使能引脚DOTEST需要同时连接这两个调试接口。

在实际调试过程中，根据需求将调试器10中的调试接口14与主板40中作为EJTAG接口的调试接口或作为JTAG接口的调试接口连接，调试器10根据实际需要发送JTAG调试信号或EJTAG调试信号。当调试器10发送的是JTAG调试信号时，调试器10中的调试接口14作为JTAG接口使用，并将JTAG调试信号发送至主板中作为JTAG接口的调试接口，从而实现对主板40中的处理器进行JTAG调试；当调试器10发送的是EJTAG调试信号时，调试器10中的调试接口14作为EJTAG接口使用，并将EJTAG调试信号发送至主板中作为EJTAG接口的调试接口，从而实现对主板40中的处理器进行EJTAG调试。

在本实用新型实施例中，通过在调试器中增加一根信号线将控制芯片的第一输入输出引脚与接口芯片连接，并在调试器中再增加一根信号线将调试接口中的调试使能引脚与接口芯片连接，控制芯片可根据第一调试信号确定主板所处的模式，并生成对应的使能控制信号，基于新增的信号线，将使能控制信号发送至调试使能引脚，而调试使能引脚与主板连接，则使得使能控制信号可以对主板中的调试使能信号的电平进行拉高或拉低，因此，无需人为手动拉高或拉低主板中的调试使能信号的电平，从而在切换JTAG接口和EJTAG接口对主板进行调试时，可减少操作人员的工作量。

本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可。

以上对本实用新型所提供的一种调试器、调试装置及调试系统，进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本实用新型的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本实用新型的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本实用新型的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本实用新型的限制。

Claims (10)

1.一种调试器，其特征在于，包括：控制接口、控制芯片、接口芯片和调试接口；所述控制接口与所述控制芯片连接，所述控制芯片包括第一输入输出引脚和第二输入输出引脚，且所述第一输入输出引脚和所述第二输入输出引脚均与所述接口芯片连接，所述调试接口包括调试使能引脚，且所述调试使能引脚与所述接口芯片连接；

所述控制芯片，用于根据所述控制接口输入的第一调试信号，将所述第二输入输出引脚设置为EJTAG模式或JTAG模式，并通过所述第一输入输出引脚向所述接口芯片发送使能控制信号；

所述接口芯片，用于将所述使能控制信号发送至所述调试使能引脚，以通过所述使能控制信号，控制与所述调试使能引脚连接的主板中的调试使能信号的电平。

2.根据权利要求1所述的调试器，其特征在于，所述调试接口还包括多个调试引脚，且各个所述调试引脚均与所述接口芯片连接；

所述控制芯片，还用于通过所述第二输入输出引脚，将所述控制接口输入的第二调试信号发送至所述接口芯片，以及将所述接口芯片发送的调试结果发送至所述控制接口；

所述接口芯片，还用于将所述第二调试信号发送至所述调试引脚，以对所述主板进行调试，以及接收所述主板通过所述调试引脚反馈的调试结果。

3.根据权利要求2所述的调试器，其特征在于，所述调试接口包括的调试引脚分别为调试时钟输入引脚、调试数据输入引脚、调试数据输出引脚、调试模式选择引脚和调试复位引脚。

4.根据权利要求1所述的调试器，其特征在于，所述调试器还包括电源模块；

所述电源模块，分别与所述控制芯片和所述接口芯片连接，用于向所述控制芯片和所述接口芯片供电。

5.根据权利要求2所述的调试器，其特征在于，所述调试接口还包括VDD电压引脚，且所述VDD电压引脚与所述接口芯片连接；

所述接口芯片，还用于根据所述主板通过所述VDD电压引脚输入的目标电压值，将所述第二调试信号对应的电压值转换为所述目标电压值。

6.根据权利要求1至5中任一项所述的调试器，其特征在于，所述控制接口包括网口、USB口、串口和并口中的任意一个或多个。

7.一种调试装置，其特征在于，包括调试设备以及如权利要求1至6中任一项所述的调试器，所述调试设备与所述调试器中的控制接口连接；

所述调试设备，用于通过所述控制接口向所述调试器发送第一调试信号和第二调试信号，以及接收所述调试器通过所述控制接口发送的调试结果。

8.一种调试系统，其特征在于，包括主板以及如权利要求7所述的调试装置，所述主板与所述调试器中的调试接口连接。

9.根据权利要求8所述的调试系统，其特征在于，所述主板包括处理器以及与所述处理器连接的调试接口，且所述主板中的调试接口与所述调试器中的调试接口相互匹配。

10.根据权利要求9所述的调试系统，其特征在于，当所述处理器中的EJTAG引脚和JTAG引脚复用时，所述主板中的调试接口的数量为一个；

当所述处理器中的EJTAG引脚和JTAG引脚不复用时，所述主板中的调试接口的数量为两个，且所述主板中的两个所述调试接口相同。

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