CN207198842U - 一种基于jtag的通用型并口故障注入装置 - Google Patents
一种基于jtag的通用型并口故障注入装置 Download PDFInfo
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Abstract
本实用新型涉及一种基于JTAG的通用型并口故障注入装置，该装置包括上位机(1)、并口模块(2)和JTAG电平转换模块(3)。上位机(1)与并口模块(2)连接，其特征在于：在并口模块(2)后端连接一个JTAG电平转换模块(3)，所述JTAG电平转换模块(3)将并口模块(2)传递来的+5V/0V电平信号转换为与目标器件(4)JTAG信号相匹配的电平，从而实现对目标器件(4)基于JTAG的故障注入；该装置具有通用性，适用于所有核心芯片的故障注入JTAG电平转换。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种基于JTAG的通用型并口故障注入装置，属于测试技术领域。
背景技术
JTAG(Joint Test Action Group联合测试工作组)是一种国际标准测试协议(IEEE1149.1–1994)，目前多数的高级器件都支持JTAG协议，如DSP、FPGA、ARM、PowerPC等器件。
故障注入是进行产品测试和系统验证的重要技术手段，通过向系统注入预设的故障可以用于验证系统的测试性和可靠性。采用JTAG技术来改变核心器件管脚的输出状态(高电平、低电平、高阻抗)，从而实现对产品或系统的故障注入，该方法具有实时性好、易控制、不会损坏器件等优点。
但是，Ti、Altera、Xilinx、Lattice、Freescale等厂商生产的DSP、FPGA、ARM、PowerPC等器件的JTAG信号电压各不相同，有5V、3.3V、1.8V等几种电平规格，且各种芯片的JTAG指令代码也各不相同，目前，对器件的JTAG测试或故障注入需要购买各器件生产厂商开发的专用JTAG仿真器配合其驱动程序进行使用，对于需要对不同厂商生产的各种芯片进行故障注入的用户，缺乏一种通用的基于JTAG的并口故障注入设备。
发明内容
本实用新型针对已有技术的不足之处，提出了一种基于JTAG的通用型并口故障注入装置，其目的是使该装置具有通用性，适用于所有核心芯片的故障注入JTAG电平转换。
本实用新型的目的是通过以下技术方案来实现的：
该种基于JTAG的通用型并口故障注入装置包括上位机(1)、并口模块(2)和JTAG电平转换模块(3)。上位机(1)与并口模块(2)连接，其特征在于：在并口模块(2)后端连接一个JTAG电平转换模块(3)，所述JTAG电平转换模块(3)将并口模块(2)传递来的+5V/0V电平信号转换为与目标器件(4)JTAG信号相匹配的电平，从而实现对目标器件(4)基于JTAG的故障注入；
所述JTAG电平转换模块(3)由TI公司的TXS0108E芯片及其外围电路组成，该电路支持1.8V/3.3V与5V的双向电平转换，且转换电平A1～A8与VCCA电平一致、B1～B8与VCCB电平一致。
上位机(1)，负责读取芯片的边界扫描文件，从故障注入测试用例库中提取故障，并生成注入故障的指令和数据，然后通过并口模块和JTAG电平转换模块转换后注入目标器件。
并口模块(2)，用于与上位机的并口连接，接收上位机并口发送来的故障注入数据并经过三态数据缓冲器转化为+5V/0V电平信号。
JTAG电平转换模块(3)，用于将并口模块传递来的+5V/0V电平信号转换为与目标器件JTAG信号相匹配的电平，从而实现对目标器件基于JTAG的故障注入。
本实用新型为故障注入提供了一种新的思路，其优点是：
1.该系统可以支持不同厂商生产的各种符合IEEE1149.1的器件，具有很强的通用性；
2.该系统硬件结构简单、成本低廉、可靠性高。
附图说明
图1为实用新型装置的组成及结构示意图
图2为图1的结构细化示意图
具体实施方式
下面将结合附图及实施例详细说明本实用新型技术方案。
参见附图1、2所示，该种基于JTAG的通用型并口故障注入装置包括上位机1、并口模块2和JTAG电平转换模块3。上位机1与并口模块2连接，其特征在于：在并口模块2后端连接一个JTAG电平转换模块3，所述JTAG电平转换模块3将并口模块2传递来的+5V/0V电平信号转换为与目标器件4JTAG信号相匹配的电平，从而实现对目标器件4基于JTAG的故障注入，并口模块2与JTAG电平转换模块3通过5条信号线相连；
所述JTAG电平转换模块3由TI公司的TXS0108E芯片及其外围电路组成，该电路支持1.8V/3.3V与5V的双向电平转换，且转换电平A1～A8与VCCA电平一致、B1～B8与VCCB电平一致。
上位机1由故障注入模块、并口通讯模块以及主控模块组成。故障注入模块根据用户的配置，负责读取芯片的边界扫描描述语言文件，从故障注入测试用例库中提取故障，并生成注入故障的指令和数据，提供给主控模块；并口通讯模块负责将数据以并口的形式传递给主控模块；主控模块通过并口通讯模块与芯片内部的JTAG控制单元相连，通过边界扫描技术对嵌入式器内部的寄存器、外围器件或接口(比如内部总线控制模块、RAM、FLASH、GPIO等)进行实时故障注入。
并口模块2，用于将上位机并口发送来的信号转化为+5V/0V电平信号，具体电路采用并口、74LS244芯片及其外围电路实现。
JTAG电平转换模块3，用于将并口模块传递来的+5V/0V电平转换为与目标器件JTAG信号相匹配的电平，从而实现对目标器件基于JTAG的故障注入。具体电路可采用TI公司的TXS0108E芯片及其外围电路实现电平的转换。该电路支持1.8V/3.3V与5V的双向电平转换，且转换电平A1～A8与VCCA电平一致、B1～B8与VCCB电平一致，目前DSP、FPGA、ARM、PowerPC等核心芯片的JTAG信号电平一般为1.8V、3.3V、5V三种，因此，该JTAG电平转换电路具有通用性，适用于所有核心芯片的故障注入JTAG电平转换。
本实施方式中并口模块2中的电源可由上位机并口提供、JTAG电平转换模块3的工作电源从目标器件的JTAG口引入，因此，无需提供额外电源。
Claims (1)
1.一种基于JTAG的通用型并口故障注入装置，该装置包括上位机(1)、并口模块(2)和JTAG电平转换模块(3)，上位机(1)与并口模块(2)连接，其特征在于：在并口模块(2)后端连接一个JTAG电平转换模块(3)，所述JTAG电平转换模块(3)将并口模块(2)传递来的+5V/0V电平信号转换为与目标器件(4)JTAG信号相匹配的电平，从而实现对目标器件(4)基于JTAG的故障注入；
所述JTAG电平转换模块(3)由TI公司的TXS0108E芯片及其外围电路组成，该电路支持1.8V/3.3V与5V的双向电平转换，且转换电平A1～A8与VCCA电平一致、B1～B8与VCCB电平一致。
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| CN201720921136.5U CN207198842U (zh) | 2017-07-27 | 2017-07-27 | 一种基于jtag的通用型并口故障注入装置 |
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| CN (1) | CN207198842U (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN110109006A (zh) * | 2019-04-03 | 2019-08-09 | 杭州迪普科技股份有限公司 | 一种jtag电平转接板、单板及单板调试系统 |
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2017
- 2017-07-27 CN CN201720921136.5U patent/CN207198842U/zh active Active
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