KR20200007690A - 스테이지, 물성 측정 장치 및 측정 방법 - Google Patents

Abstract

광학 필름의 물성치를 측정하기 위한 스테이지로서, 부분 접촉 면적률이 상기 스테이지의 광학 필름 배치면의 모든 영역에 있어서 45% 이하인 스테이지.

Description

스테이지, 물성 측정 장치 및 측정 방법{STAGE, PHYSICAL PROPERTY MEASUREMENT SYSTEM AND MEASUREMENT METHOD}

본 발명은 스테이지, 물성 측정 장치 및 측정 방법에 관한 것이다.

기판 측정용 스테이지로서, 평면인 기판 배치면을 갖는 스테이지가 알려져 있다(JP2009-88477A1). 또한, 유리 기판의 검사 장치로서, 유리 기판을 수평으로 지지하는 복수의 돌출 지지부가 구비된 검사 장치가 알려져 있다(JP2008-151714호 A1).

점착성을 갖는 광학 필름은 일반적으로 강성이 낮기 때문에, 스테이지에 배치했을 때, 광학 필름을 스테이지로부터 떼어낼 때에 광학 필름이 손상되거나 물성치가 변화되거나 하는 경우가 있다.

본 발명은, 점착성을 갖는 광학 필름이라도 스테이지로부터 용이하게 떼어낼 수 있는 스테이지를 제공하는 것을 목적으로 한다.

본 발명은 이하의 스테이지, 물성 측정 장치 및 측정 방법을 제공한다.

[1] 광학 필름의 물성치를 측정하기 위한 스테이지로서, 부분 접촉 면적률이 상기 스테이지의 광학 필름 배치면의 모든 영역에 있어서 45% 이하인 스테이지.

여기서, 부분 접촉 면적률은 이하의 방법 (1)에 의해 측정한다.

방법 (1):

(a) 발색제층을 갖는 A 필름과, 현색제층를 갖는 C 필름으로 구성되는 감압지(5)에 있어서, A 필름의 발색제층과 C 필름의 현색제층이 접촉하게 하여 서로 겹친다.

(b) 스테이지를 광학 필름 배치면을 위로 하여 평탄한 대 상에 설치한다.

(c) 감압지를 스테이지의 광학 필름 배치면 상에 배치한다.

(d) 스테이지의 광학 필름 배치면 상에 배치한 감압지 상에, 평탄한 철판(세로 32 mm, 가로 32 mm, 두께 4 mm, 32 g)과, 그 위에 웨이트(21 kg)를 각각 5초 걸쳐 살포시 놓는다.

(e) 웨이트 배치 2분 경과 후, 웨이트, 평탄한 철판 및 감압지를 각각 천천히 제거한다.

(f) 발색한 C 필름의 발색 영역의 면적을 측정한다.

(g) 평탄한 철판의 면적에 대한 발색 영역의 면적을 부분 접촉 면적률로서 구한다.

또한, 상기 A 필름과 C 필름으로 구성되는 감압지로서는, 예컨대 후지필름사 제조의 압력 측정 필름 「프리스케일」 극초저압용(LLLW)을 들 수 있다.

[2] 상기 스테이지는 광학 필름 배치면에 돌기를 갖는, [1]에 기재된 스테이지.

[3] 상기 돌기는, 상기 스테이지의 세로 방향 또는 가로 방향에 있어서 0.5 mm 이상 30 mm 이하의 간격으로 배치되는, [2]에 기재된 스테이지.

여기서, 상기 돌기는 세로 방향 및 가로 방향 중 어느 하나에 있어서 상기 간격으로 배치되어 있으면 되고, 양 방향에 있어서 함께 상기 간격으로 배치되어 있어도 좋다.

[4] [1]∼[3] 중 어느 하나에 기재된 스테이지를 구비하는, 광학 필름의 물성 측정 장치.

[5] 광학 필름의 물성치 측정 방법으로서, [1]∼[3] 중 어느 하나에 기재된 스테이지에 광학 필름을 배치하는 공정과, 상기 스테이지에 배치한 광학 필름의 물성치를 측정하는 공정과, 상기 광학 필름을 스테이지로부터 떼어내는 공정을 포함하는 측정 방법.

본 발명에 의하면, 점착성을 갖는 광학 필름이라도 스테이지로부터 용이하게 떼어낼 수 있는 스테이지를 제공할 수 있다.

도 1은 부분 접촉 면적률을 측정하기 위한 방법 (1)을 도시하는 개략 단면도이다.
도 2는 본 발명의 제1 실시형태에 의한 스테이지를 도시하는 개략 단면도 및 상면도이다.
도 3은 본 발명의 제2 실시형태에 의한 스테이지를 도시하는 개략 단면도 및 상면도이다.
도 4는 본 발명의 제3 실시형태에 의한 스테이지를 도시하는 개략 단면도 및 상면도이다.
도 5는 본 발명의 스테이지에 배치하는 광학 필름을 도시하는 개략 단면도이다.
도 6은 본 발명의 일 양태에 따른 물성 측정 장치를 도시하는 개략 단면도이다.

<스테이지>

본 발명의 일 양태에 따른 스테이지는, 광학 필름의 물성치를 측정하기 위한 스테이지이며, 부분 접촉 면적률이 스테이지의 광학 필름 배치면의 모든 영역에 있어서 45% 이하이다. 부분 접촉 면적률은 후술하는 방법 (1)에 따라서 측정한다.

물성 측정 장치의 스테이지에 배치한 광학 필름은, 통상, 물성 측정이 종료된 후, 스테이지로부터 떼어내게 된다. 예컨대 1대의 측정 장치를 이용하여 복수의 광학 필름의 물성을 측정하는 경우나, 광학 필름의 양쪽의 면에 대해서 물성 측정을 행하는 경우, 물성 측정이 완료된 광학 필름은, 다른 광학 필름으로 교환하기 위해서, 또는 광학 필름의 표리를 반대로 하기 위해서 측정 장치로부터 일단 떼내어진다. 광학 필름이 점착성을 갖는 경우, 광학 필름과 스테이지의 광학 필름 배치면이 밀착함으로써, 상기와 같이 떼어낼 때에, 광학 필름의 일부가 파손되거나 광학 필름이 갖는 물성이 변화되어, 광학 필름의 물성에 편차가 생겨, 정확한 물성을 측정할 수 없게 되거나 하는 경우가 있다.

본 발명에 의하면, 부분 접촉 면적률이 스테이지의 광학 필름 배치면의 모든 영역에 있어서 45% 이하임으로써, 종래의 광학 필름 배치면이 평탄한 스테이지와 비교하여 광학 필름과 스테이지와의 접촉 면적이 작고, 점착성을 갖는 광학 필름을, 점착성을 갖는 면과 스테이지의 배치면을 접촉시켜 배치한 경우라도, 광학 필름 떼어내기를 용이하게 행할 수 있다. 그 때문에, 광학 필름의 파손이나 물성의 변화가 억제되어, 정밀도 높은 측정이 가능하게 된다.

일반적으로, 광학 필름은 필름 단부에 컬이 생기는 경우가 있으며, 이러한 컬에 관해서 평가하기 위해서, 광학 필름을 스테이지에 배치하여 컬량을 측정하는 경우가 있다. 광학 필름의 점착성을 갖는 면과 스테이지를 접촉시켜 배치한 경우, 컬량이 작으면 광학 필름이 스테이지와 접촉하는 면적이 커지기 때문에, 광학 필름과 스테이지가 밀착하기 쉽게 되는 경향이 있다. 그러나, 본 발명의 스테이지에 의하면, 그와 같은 컬량이 작은 광학 필름이라도, 광학 필름과 스테이지와의 밀착이 억제되기 쉽게 되기 때문에, 광학 필름 떼어내기가 용이하게 되는 경향이 있다.

또한, 후술하는 프로텍트 필름 구비 광학 필름이나 점착제층 구비 광학 필름은, 프로텍트 필름이나 세퍼레이트 필름이 접착된 상태에서 물성 측정을 행한 후, 프로텍트 필름이나 세퍼레이트 필름을 박리하여 점착성을 갖는 광학 필름으로 하고, 그와 같은 광학 필름의 점착성을 갖는 면과 스테이지의 광학 필름 배치면을 접촉시켜 스테이지에 배치하여, 물성 측정을 행하는 경우가 있다. 그와 같은 경우라도, 본 발명의 스테이지에 의하면, 광학 필름과 스테이지의 부착이 억제되어, 광학 필름을 파손시키거나 물성을 변화시키는 일 없이 스테이지로부터 떼어내기가 용이하게 되는 경향이 있다.

부분 접촉 면적률은, 광학 필름과의 부착성이라는 관점에서 바람직하게는 44% 이하이고, 보다 바람직하게는 40% 이하이다. 한편, 부분 접촉 면적률은, 예컨대 1% 이상라도 좋으며, 광학 필름의 스테이지 상에서의 배치 안정성이라는 관점에서 바람직하게는 5% 이상이고, 보다 바람직하게는 10% 이상이다.

부분 접촉 면적률은 방법 (1)에 따라서 측정된다. 도면을 참조하면서 방법 (1)에 관해서 이하에 설명하지만, 본 발명은 이하의 실시형태에 한정되는 것은 아니다. 이하의 모든 도면에 있어서는, 각 구성 요소를 이해하기 쉽게 하기 위해서 축척을 적절하게 조정하여 도시하고 있으며, 도면에 도시되는 각 구성 요소의 축척과 실제의 구성 요소의 축척은 반드시 일치하지는 않는다.

도 1에 도시하는 방법 (1)은 이하의 공정을 갖는다:

(a) 발색제층(1)을 갖는 A 필름(2)과, 현색제층(3)을 갖는 C 필름(4)으로 구성되는 감압지(5)에 있어서, A 필름(2)의 발색제층(1)과 C 필름(4)의 현색제층(3)이 접촉하게 하여 서로 겹친다.

(b) 스테이지(8)를 광학 필름 배치면(7)을 위로 하여 평탄한 대(6) 상에 설치한다.

(c) C 필름(4)이 광학 필름 배치면(7)에 접하게 하여 감압지(5)를 스테이지(8) 상에 배치한다.

(d) 스테이지(8)의 광학 필름 배치면(7) 상에 배치한 감압지(5) 상에, 평탄한 철판(9)(세로 32 mm, 가로 32 mm, 두께 4 mm, 32 g)과, 그 위에 웨이트(10)(21 kg)를 각각 5초 걸쳐 살포시 놓는다.

(e) 웨이트(10)를 배치하고 나서 2분 경과 후, 웨이트(10), 철판(9) 및 감압지(5)를 각각 천천히 제거한다.

(f) 발색한 C 필름(4)의 발색 영역(12)의 면적을 측정한다.

(g) 철판(9)의 면적에 대한 발색 영역(12)의 면적을 부분 접촉 면적률로서 구한다.

공정 (a)에 있어서 이용하는 감압지(5)는, 발색제층(1)의 마이크로캡슐이 압력에 의해서 파괴되어, 그 안의 무색 염료가 현색제에 흡착하고, 화학 반응이 생겨 빨갛게 발색하는 타입의 감압지라도 좋다. 이러한 감압지의 시판 제품의 예로서는, 압력 측정 필름 「프리스케일」 극초저압용(LLLW)(후지필름 가부시키가이샤) 등을 들 수 있다.

공정 (e)에 있어서, C 필름(4)의 발색 영역(12)의 면적을 측정하는 방법으로서는, 예컨대 발색한 C 필름(4)을 직접 퍼스널 컴퓨터에 접속한 이미지 스캐너로 읽어들이고, 읽어들인 화상을 압력 화상 해석 시스템을 이용하여 발색 면적을 측정하는 방법이나, 발색한 C 필름(4)을 디지털 카메라 등을 이용하여 촬영하고, 촬영한 화상을 퍼스널 컴퓨터에 읽어들여, 압력 화상 해석 시스템을 이용하여 발색 면적을 측정하는 방법 등을 들 수 있다. 이미지 스캐너는, 예컨대 FUJI FILM PRESCALE PRESSUREGRAPH FPD-9270(후지필름 가부시키가이샤) 등을 이용할 수 있다. 발색한 C 필름(4)을 이미지 스캐너를 이용하여 읽어들이는 조건은, 예컨대 온도 23℃, 습도 65 RH%, 해상도 0.125 mm라도 좋다. 압력 화상 해석 시스템은 예컨대 FPD-8010J(후지필름 가부시키가이샤)를 이용할 수 있다.

부분 접촉 면적률은 광학 필름 배치면(7)의 모든 영역에 있어서 측정한다. 모든 영역에 있어서 측정하는 방법은, 예컨대 스테이지의 광학 필름 배치면(7)을 철판(9)의 크기와 같은 크기의 격자형의 영역으로 분할하여, 각 영역마다 부분 접촉 면적률의 측정을 행하는 방법 등을 들 수 있다. 상기 방법에 있어서, 격자형으로 분할했을 때에, 철판(9)의 크기와 같은 크기의 격자가 되지 않는 영역에 대해서는, 그 영역이 포함되도록 부분 접촉 면적률을 측정하면 되고, 이 때에 그 밖의 격자형으로 분할한 영역과 중복되는 영역이 포함되게 되더라도 좋다.

스테이지는, 하기 방법 (2)에 따라서 측정되는 전체 접촉 면적률이 45%, 바람직하게는 44%, 보다 바람직하게는 40% 이하라도 좋다. 전체 접촉 면적률이 45% 이하인 경우, 광학 필름을 파손시키거나 물성을 변화시키는 일 없이 스테이지로부터 떼어내기 쉽게 되는 경향이 있다.

방법 (2):

(a) 스테이지의 광학 필름 배치면의 모든 영역에 걸쳐 방법 (1)에 따라서 부분 접촉 면적률을 측정한다.

(b) 구한 부분 접촉 면적률의 평균치를 전체 접촉 면적률로 한다.

전체 접촉 면적률은, 광학 필름과의 부착성이라는 관점에서 바람직하게는 35% 이하이고, 보다 바람직하게는 30% 이하이다. 전체 접촉 면적률은, 예컨대 5% 이상이라도 좋고, 광학 필름의 스테이지 상에서의 배치 안정성의 관점에서 바람직하게는 8% 이상이며, 보다 바람직하게는 10% 이상이다.

부분 접촉 면적률을 스테이지의 광학 필름 배치면의 모든 영역에 있어서 45% 이하로 하는 방법으로서는, 예컨대 광학 필름을 지지하는 돌기를 스테이지의 광학 필름 배치면에 형성하는 방법을 들 수 있다.

본 발명의 일 양태에 따른 스테이지는, 복수의 돌기를 광학 필름 배치면에 가질 수 있다. 돌기의 형상으로서는, 예컨대 송곳형 돌기나 막대형 돌기(이하, 이들을 「점상 돌기」라고도 총칭한다), 선형 돌기 등이라도 좋다. 송곳형 돌기는, 돌기의 형상이 예컨대 사각추형(피라미드형), 원추형 등이라도 좋다. 스테이지가 돌기를 갖는 경우, 돌기에 지지된 광학 필름은 수평일 수 있다. 광학 필름은 일반적으로 강성이 낮기 때문에, 돌기에 의해 균일하게 지지되지 않는 경우에는 정확한 물성 측정을 하기 어려운 경향이 있다. 그 때문에, 돌기가 점상 돌기인 경우, 돌기는, 광학 필름을 균일하게 지지한다는 관점에서 바람직하게는 서로 균일한 간격으로 배치된다. 스테이지가 돌기를 갖는 경우, 스테이지의 세로 방향 또는 가로 방향 중 적어도 한쪽 방향에 있어서, 예컨대 0.5 mm 이상 30 mm 이하의 간격으로 배치되어도 좋고, 바람직하게는 1 mm 이상 15 mm 이하의 간격으로 배치된다.

돌기의 높이는, 예컨대 0.5 mm 이상 100 mm 이하라도 좋으며, 바람직하게는 0.5 mm 이상 50 mm 이하, 보다 바람직하게는 1 mm 이상 10 mm 이하이다. 이 높이는, 배치대의 표면에서부터 수직 방향으로 돌기의 가장 높은 점까지의 거리를 말한다.

스테이지를 구성하는 재질은, 예컨대 금속, 수지(플라스틱), 세라믹, 고무, 천연석, 인공석, 목재, 바람직하게는 고무나 수지 등이라도 좋다. 측정하는 물성이나 광학 필름의 종류에 따라서 재질을 바꿀 수 있다. 또한, 돌기와 스테이지가 서로 다른 재질이라도 좋다. 스테이지의 배치면에는 대전 방지 처리나 반사 방지 처리 등이 실시되어 있어도 좋다.

스테이지의 치수는, 물성 측정을 정확하고 안정적으로 행할 수 있는 치수이며, 광학 필름의 치수에 따른 치수면 되는데, 예컨대 35 mm×35 mm 이상 1000 mm×1000 mm 이하 등이라도 좋고, 바람직하게는 100 mm×100 mm 이상 350 mm×300 mm 이하이다. 스테이지를 배치면에 대하여 수직 방향 위에서 본 형상은, 특별히 한정되지 않지만, 예컨대 사각형상이라도 좋고, 바람직하게는 장방형 및 정방형, 보다 바람직하게는 장방형이다. 스테이지가 돌기를 갖는 경우, 돌기를 제외한 스테이지의 두께(배치대의 두께)는, 예컨대 1 mm 이상 100 cm 이하라도 좋고, 바람직하게는 5 mm 이상 30 cm 이하이다.

스테이지는, 박리력이 예컨대 0.0 N/25 mm 이상 2.0 N/25 mm 이하라도 좋고, 0.0 N/25 mm 이상 1 N/25 mm 이하인 것이 바람직하다. 박리력이 이러한 범위 내인 경우, 스테이지로부터 광학 필름을 떼어내기가 용이하게 되는 경향이 있다. 박리력은 후술하는 실시예 항목에 설명하는 측정 방법에 따라서 측정할 수 있다.

(제1 실시형태)

본 발명의 제1 실시형태에 의한 스테이지는, 배치대 상에 사각추형 돌기를 갖는다. 이하, 도면을 참조하여 제1 실시형태에 의한 스테이지에 관해서 설명한다.

도 2a는 배치대(201) 상에 사각추형 돌기(202)를 갖는 스테이지(200)의 개략 단면도이다. 사각추형 돌기(202)는 바닥면이 정방형이다.

도 2b는 광학 필름 배치면에 대하여 수직 상측에서 보았을 때의 스테이지(200)의 개략도이다.

사각추형 돌기는, 배치대 상에 서로 균일한 간격으로 배치되어 있어도 좋고, 불규칙하게 배치되어 있어도 좋다. 사각추형 돌기가 배치대 상에 서로 균일한 간격으로 배치되는 경우, 사각추의 바닥면을 구성하는 변끼리 인접하도록 배치되어 있어도 좋고, 서로 균일하게 등간격으로 떨어져 배치되어 있어도 좋다. 도 2에서는, 사각추형 돌기(202)는 사각추의 바닥면을 구성하는 변끼리 인접하도록 배치되어 있다.

사각추형 돌기(202)의 개수(밀도)는, 32 mm×32 mm당 통상 4개 이상 2000개 이하이고, 광학 필름의 균일 지지성 및 부착성의 관점에서 바람직하게는 30개 이상 1000개 이하, 보다 바람직하게는 70개 이상 500개 이하이다.

사각추형 돌기의 선단의 형상은 특별히 한정되지 않으며, 사각추의 정점이라도 좋고, 광학 필름을 배치했을 때에 광학 필름에 손상을 주지 않는 형상, 예컨대 반구형상이나, 광학 필름 배치면에 대하여 평행한 평면 등으로 가공되어 있어도 좋다. 도 2에서는, 사각추형 돌기(202)의 선단은 사각추의 정점이다.

사각추형 돌기(202)의 선단 1개당 광학 필름에 접촉하는 면적(이하, 접촉 면적이라고도 한다)는, 예컨대 0.5 ㎟ 이상 450 ㎟ 이하라도 좋고, 바람직하게는 10 ㎟ 이상 400 ㎟ 이하, 보다 바람직하게는 50 ㎟ 이상 300 ㎟ 이하이다. 접촉 면적은, 전술한 방법 (1)에 있어서 구한 C 필름의 발색 영역의 면적을, 평탄한 철판 내에 존재하는 돌기의 개수로 나눈 값이다.

사각추형 돌기(202)의 높이(203)는, 예컨대 0.1 mm 이상 30 mm 이하라도 좋고, 바람직하게는 0.5 mm 이상 15 mm 이하, 보다 바람직하게는 1 mm 이상 10 mm 이하이다. 높이(203)는, 사각추형 돌기(202)의 가장 높은 점에서부터 연직 방향 하향으로 배치대(201)의 표면까지의 거리를 말한다.

사각추형 돌기(202)의 간격(204, 205)은, 예컨대 0.5 mm 이상 30 mm 이하라도 좋고, 바람직하게는 1 mm 이상 15 mm 이하, 보다 바람직하게는 1.5 mm 이상 10 mm 이하이다. 간격(204, 205)은, 인접하는 사각추형 돌기(202)의 가장 높은 점과 점 사이의 거리이다. 사각추의 바닥면이 직사각형인 경우, 간격(204, 205)은 서로 다른 값이 된다.

(제2 실시형태)

본 발명의 제2 실시형태에 의한 스테이지는, 배치대 상에 원추형 돌기를 갖는다. 이하, 도면을 참조하여 제2 실시형태에 의한 스테이지에 관해서 설명한다. 도 3a는 배치대(301) 상에 원추형 돌기(302)를 갖는 스테이지(300)의 개략 단면도이다. 원추형 돌기(302)는 바닥면이 원형이다. 도 3b는 광학 필름 배치면에 대하여 수직 위쪽에서 보았을 때의 스테이지(300)의 개략도이다.

원추형 돌기는, 배치대 상에 서로 균일한 간격으로 배치되어 있어도 좋고, 불규칙하게 배치되어 있어도 좋다. 원추형 돌기가 배치대 상에 서로 균일한 간격으로 배치되는 경우, 배치면 상의 위치가 평면 격자의 교점이 되도록 배치되어 있어도 좋다. 평면 격자는 예컨대 정방(正方) 격자, 사방(斜方) 격자, 직사각형 격자라도 좋다. 도 3에서는, 원추형 돌기(302)는 정방 격자의 교점 상에 배치되어 있다.

원추형 돌기(302)의 개수(밀도)는, 32 mm×32 mm당 통상 4개 이상 2000개 이하이고, 광학 필름의 균일 지지성 및 부착성의 관점에서 바람직하게는 30개 이상 1000개 이하, 보다 바람직하게는 70개 이상 500개 이하이다.

원추형 돌기의 선단의 형상은 특별히 한정되지 않으며, 원추의 정점이라도 좋고, 광학 필름을 배치했을 때에 광학 필름에 손상을 주지 않는 형상, 반구형상이나 광학 필름 배치면에 대하여 평행한 평면 등으로 가공되어 있어도 좋다. 도 3에서는, 원추형 돌기(302)의 선단은 원추의 정점이다.

원추형 돌기(302)의 선단 1개당 광학 필름에 접촉하는 면적은, 예컨대 0.5 ㎟ 이상 450 ㎟ 이하라도 좋으며, 바람직하게는 10 ㎟ 이상 400 ㎟ 이하, 보다 바람직하게는 50 ㎟ 이상 300 ㎟ 이하이다. 접촉 면적은, 전술한 방법 (1)에 있어서 구한 C 필름의 발색 영역의 면적을, 평탄한 철판 내에 존재하는 돌기의 개수로 나눈 값이다.

원추형 돌기(302)의 높이(303)는, 예컨대 0.1 mm 이상 100 mm 이하라도 좋으며, 바람직하게는 0.5 mm 이상 50 mm 이하, 보다 바람직하게는 1 mm 이상 10 mm 이하이다. 높이(303)는, 원추형 돌기(302)의 가장 높은 점에서부터 연직 방향 하향으로 배치대(301)의 표면까지의 거리를 말한다.

원추형 돌기(302)의 간격(304, 305)은, 각각 예컨대 0.5 mm 이상 30 mm 이하라도 좋으며, 바람직하게는 1 mm 이상 16 mm 이하, 보다 바람직하게는 4 mm 이상 10 mm 이하이다. 간격(304, 305)은 인접하는 원추형 돌기(302)의 가장 높은 점과 점 사이의 거리를 말한다.

여기서, 돌기가 막대형 돌기인 경우도 또한 전술한 원추형 돌기에 있어서의 배치, 수(밀도), 선단의 형상, 선단이 평면으로 가공되어 있는 경우의 면적, 선단과 광학 필름이 접촉하는 면적, 높이, 간격에 관해서 예시한 것과 각각 같더라도 좋다.

(제3 실시형태)

이어서, 본 발명의 제3 실시형태에 의한 스테이지에 관해서 설명한다. 제3 실시형태에 의한 스테이지는 배치대 상에 선형 돌기를 갖는다. 도 4a는 배치대(401) 상에 선형 돌기(402)를 갖는 스테이지(400)의 개략 단면도이다. 도 4b는 광학 필름 배치면에 대하여 수직 위쪽에서 보았을 때의 스테이지(400)의 개략도이다.

선형 돌기는, 배치대 상에 서로 균일한 간격으로 배치되어 있어도 좋고, 불규칙하게 배치되어 있어도 좋다. 선형 돌기가 배치대 상에 서로 균일한 간격으로 배치되는 경우, 평면 격자가 되도록 서로 교차하여 배치되어 있어도 좋고, 서로 평행하게 스트라이프형으로 배치되어 있어도 좋다. 평면 격자는 예컨대 정방 격자, 사방 격자, 직사각형 격자라도 좋다. 도 4에서는, 선형 돌기(402)는 정방 격자가 되도록 서로 교차하여 배치되어 있다.

선형 돌기(402)의 개수(밀도)는, 32 mm×32 mm당 통상 4개 이상 100개 이하이고, 광학 필름의 균일 지지성 및 부착성의 관점에서 바람직하게는 8개 이상 50개 이하, 보다 바람직하게는 16개 이상 40개 이하이다.

선형 돌기가 서로 평행하게 배치되는 경우, 선형 돌기의 수는 32 mm×32 mm당 통상 2개 이상 50개 이하이고, 광학 필름의 균일 지지성 및 부착성의 관점에서 바람직하게는 4개 이상 40개 이하, 보다 바람직하게는 8개 이상 30개 이하이다.

선형 돌기는, 광학 필름의 손상 억제라는 관점에서, 광학 필름 배치면에 대하여 수직 방향의 단면 형상이 곡률을 갖고 있어도 좋고, 그 형상은 반원형, 반타원형 등이라도 좋다. 도 4에서는, 선형 돌기(402)는 상기 단면 형상이 곡률을 갖고 있으며, 그 곡률 반경(406)은, 예컨대 0.0 mm 이상 16 mm 이하이고, 바람직하게는 1 mm 이상 5 mm 이하이다.

선형 돌기의 폭은, 예컨대 0.1 mm 이상 5 mm 이하라도 좋으며, 바람직하게는 0.3 mm 이상 3 mm 이하, 보다 바람직하게는 0.5 mm 이상 2 mm 이하이다. 선형 돌기의 폭이 상기 범위 내인 경우, 광학 필름의 지지성이 양호하게 됨과 더불어, 광학 필름과 스테이지의 밀착이 억제되기 쉽게 되는 경향이 있다.

선형 돌기(402)의 간격(404, 405)은, 예컨대 0.5 mm 이상 32 mm 이하라도 좋으며, 바람직하게는 1 mm 이상 16 mm 이하, 보다 바람직하게는 4 mm 이상 10 mm 이하이다. 간격(404, 405)은, 인접하는 선형 돌기(402)의 가장 높은 점과 점 사이의 거리를 말한다. 선형 돌기(402)가 사방 격자, 직사각형 격자가 되도록 서로 교차하여 배치되어 있는 경우, 간격(404, 405)은 서로 다른 값이라도 좋다.

선형 돌기가 사방 격자를 형성하도록 배치되는 경우, 선형 돌기가 교차하는 각도는, 격자 내의 작은 쪽의 각도가 예컨대 10도 이상 90도 미만이라도 좋고, 바람직하게는 30도 이상 80도 이하라도 좋고, 보다 바람직하게는 45도 이상 75도 이하라도 좋다.

선형 돌기(402)의 높이(403)는, 예컨대 0.5 mm 이상 100 mm 이하라도 좋으며, 바람직하게는 0.5 mm 이상 50 mm 이하, 보다 바람직하게는 1 mm 이상 10 mm 이하이다. 높이(403)는, 배치대(401)의 표면에서부터 수직 방향으로 선형 돌기(402)의 가장 높은 점까지의 거리를 말한다.

(광학 필름)

광학 필름으로서는, 예컨대 기재 필름 상에 하드코트층이나 액정층 등이 형성된 필름, 편광자, 편광자 보호 필름, 반사 필름, 반투과형 반사 필름, 휘도 향상 필름, 광학 보상 필름, 방현 기능 구비 필름 등을 들 수 있고, 이들을 2종 이상 조합시킨 것이라도 좋다. 광학 필름은 편광자를 포함하는 다층 필름인 편광판이라도 좋다. 또한 광학 필름은, 위에서 예시한 필름이나 편광판의 한쪽의 면에 프로텍트 필름이 접착된 것(이하, 프로텍트 필름 구비 광학 필름이라고도 한다)이거나, 한쪽의 면에 점착제층이 형성되고, 그 점착제층 상에 세퍼레이트 필름이 접착된 것(이하, 점착제층 구비 광학 필름이라고도 한다)이라도 좋다.

(기재 필름)

기재 필름은, 재료 및 두께는 특별히 한정되지 않으며, 또한 단층이라도 복층이라도 좋고, 유리 또는 수지로 된 필름이라도 좋다. 그 중에서도 수지 필름이 바람직하다. 본 발명의 스테이지는, 수지 필름과 같은 강성이 낮고, 휘어지기 쉬운 필름이라도 적절하게 물성을 측정할 수 있다. 수지 필름을 구성하는 수지로서는, 예컨대 폴리에틸렌, 폴리프로필렌, 노르보르넨계 폴리머 등의 폴리올레핀; 환상 올레핀계 수지; 폴리비닐알코올; 폴리에틸렌테레프탈레이트; 폴리메타크릴산에스테르; 폴리아크릴산에스테르; 트리아세틸셀룰로오스, 디아세틸셀룰로오스 및 셀룰로오스아세테이트프로피오네이트 등의 셀룰로오스에스테르; 폴리에틸렌나프탈레이트; 폴리카보네이트; 폴리술폰; 폴리에테르술폰; 폴리에테르케톤; 폴리페닐렌술피드; 폴리페닐렌옥시드; 폴리이미드, 폴리아미드이미드 등의 플라스틱을 들 수 있다. 그 중에서도 환상 올레핀계 수지, 셀룰로오스에스테르 기재 및 폴리이미드가 바람직하다. 이들 고분자는 단독으로 또는 2종 이상 혼합하여 이용할 수 있다. (메트)아크릴산은 메타크릴산 또는 아크릴산 중 어느 것이라도 좋다는 것을 의미한다. (메트)아크릴레이트 등의 (메트)도 같은 의미이다.

(하드코트층)

하드코트층은, 기재 필름의 한쪽의 면에 형성되어 있어도 좋고, 양쪽의 면에 형성되어 있어도 좋다. 하드코트층은, 예컨대 자외선 경화형 수지의 경화층이라도 좋다. 자외선 경화형 수지로서는, 예컨대 아크릴계 수지, 실리콘계 수지, 폴리에스테르계 수지, 우레탄계 수지, 아미드계 수지, 에폭시계 수지 등을 들 수 있다. 하드코트층은 강도를 향상시키기 위해서 첨가제를 포함하고 있어도 좋다. 첨가제는 한정되지 않으며, 무기계 미립자, 유기계 미립자 또는 이들의 혼합물을 들 수 있다.

(액정층)

액정층은, 중합성 액정 화합물을 포함하는 조성물(이하, 액정층 형성용 조성물이라고도 한다)의 경화막으로 구성된 층이며, 위상차층이라도 좋다. 2색성 색소를 액정층 형성용 조성물에 추가로 포함하게 함으로써 편광층으로 할 수도 있다. 액정층 형성용 조성물은, 용제, 중합 개시제, 광증감제, 중합 금지제, 레벨링제 및 밀착성 향상제 등을 추가로 포함할 수 있다.

(편광자)

편광자는, 통상, 폴리비닐알코올계 수지 필름을 일축 연신하는 공정, 폴리비닐알코올계 수지 필름을 2색성 색소로 염색함으로써 그 2색성 색소를 흡착시키는 공정, 2색성 색소가 흡착된 폴리비닐알코올계 수지 필름을 붕산 수용액으로 처리하는 공정, 및 붕산 수용액에 의한 처리 후에 수세하는 공정을 거쳐 제조된다. 이러한 편광자를 그대로 편광판으로서 이용하여도 좋고, 그 편면 또는 양면에 투명 보호 필름을 접합한 것을 편광판으로서 이용하여도 좋다. 이렇게 해서 얻어지는 편광자의 두께는 바람직하게는 2 ㎛ 이상 40 ㎛ 이하이다.

(편광자 보호 필름)

편광자 보호 필름은, 편광자의 편면 또는 양면에 적층할 수 있으며, 투광성을 갖는(바람직하게는 광학적으로 투명한) 수지 필름이라도 좋다. 수지 필름을 구성하는 수지로서는, 예컨대 폴리에틸렌, 폴리프로필렌, 노르보르넨계 폴리머 등의 폴리올레핀; 환상 올레핀계 수지; 폴리비닐알코올; 폴리에틸렌테레프탈레이트; 폴리메타크릴산에스테르; 폴리아크릴산에스테르; 트리아세틸셀룰로오스, 디아세틸셀룰로오스 및 셀룰로오스아세테이트프로피오네이트 등의 셀룰로오스에스테르; 폴리에틸렌나프탈레이트; 폴리카보네이트; 폴리술폰; 폴리에테르술폰; 폴리에테르케톤; 폴리페닐렌술피드; 폴리페닐렌옥시드; 폴리이미드, 폴리이미드아미드 등의 플라스틱을 들 수 있다. 그 중에서도 폴리올레핀계 수지, 셀룰로오스에스테르계 수지가 바람직하다. 편광자 보호 필름의 두께는, 예컨대 1 ㎛ 이상 100 ㎛ 이하라도 좋으며, 바람직하게는 5 ㎛ 이상 60 ㎛ 이하인 것이 좋고, 5 ㎛ 이상 50 ㎛ 이하인 것이 보다 바람직하다.

보호 필름의 적어도 어느 한쪽은, 그 외면(편광자와는 반대쪽의 면)에, 하드코트층, 방현층, 광확산층, 위상차층(1/4 파장의 위상차치를 갖는 위상차층 등), 반사 방지층, 대전 방지층, 방오층과 같은 표면처리층(코팅층) 또는 광학층을 구비하는 것이라도 좋다.

보호 필름은, 예컨대 접착제층을 통해 편광자에 접합할 수 있다. 접착제층을 형성하는 접착제로서는, 수계 접착제, 활성 에너지선 경화성 접착제 또는 열경화성 접착제를 이용할 수 있고, 바람직하게는 수계 접착제, 활성 에너지선 경화성 접착제이다.

(점착제층)

점착제층은, 광학 필름을 예컨대 표시 장치의 화상 표시 소자 등에 접합하는 기능을 할 수 있다. 점착제층은 점착제로 구성된 층을 말한다. 점착제란, 유연한 고무상이며, 그 자체를 광학 필름이나 액정층 등의 피착체에 붙임으로써 접착성을 발현하는 것으로, 소위 감압형 접착제라고 불리는 것이다. 또한, 활성 에너지선 경화형 점착제는, 에너지선을 조사함으로써 가교도나 접착력을 조정할 수 있다.

점착제로서는, 종래 공지된 광학적인 투명성이 우수한 점착제를 특별히 제한 없이 이용할 수 있으며, 아크릴계, 우레탄계, 실리콘계, 폴리비닐에테르계 등의 베이스 폴리머를 갖는 점착제를 이용할 수 있다. 또한, 활성 에너지선 경화형 점착제, 열경화형 점착제 등이라도 좋다. 이들 중에서도, 투명성, 점착력, 재박리성(이하, 리워크성이라고도 한다.), 내후성, 내열성 등이 우수한 아크릴계 수지를 베이스 폴리머로 한 점착제가 적합하다. 점착층은, (메트)아크릴계 수지, 가교제, 실란 화합물을 포함하는 점착제 조성물의 반응 생성물로 구성되는 것이 바람직하다.

점착제 조성물에, 다작용성 아크릴레이트 등의 자외선 경화성 화합물을 배합하여 활성 에너지선 경화형 점착제로 하고, 활성 에너지선 경화형 점착제의 점착층을 형성한 후에 자외선을 조사하여 경화시켜, 보다 딱딱한 점착층으로 하는 것도 유용하다. 활성 에너지선 경화형 점착제는, 자외선이나 전자선 등의 에너지선의 조사를 받아 경화하는 성질을 갖고 있다.

활성 에너지선 경화형 점착제는, 에너지선 조사 전에 있어서도 점착성을 갖고 있기 때문에, 광학 필름이나 액정층 등의 피착체에 밀착하고, 에너지선의 조사에 의해 경화하여 밀착력을 조정할 수 있는 성질을 갖는 점착제이다.

활성 에너지선 경화형 점착제는, 일반적으로는 아크릴계 점착제와, 에너지선 중합성 화합물을 주성분으로서 포함한다. 통상은 추가로 가교제가 배합되어 있고, 또한 필요에 따라서 광중합 개시제나 광증감제 등을 배합할 수도 있다. 점착제층의 두께는, 예컨대 3 ㎛ 이상 100 ㎛ 이하라도 좋으며, 바람직하게는 20 ㎛ 이상 50 ㎛ 이하이다.

광학 필름은 통상 매엽체(枚葉體)이며, 그 치수는, 스테이지에 배치하여 측정하는 물성이 적절하게 측정될 수 있는 치수이고, 예컨대 35 mm×35 mm 이상 1000 mm×1000 mm 이하 등이라도 좋고, 바람직하게는 100 mm×100 mm 이상 350 mm×300 mm 이하이다.

(프로텍트 필름)

프로텍트 필름은, 광학 필름의 표면을 상처나 오물로부터 보호할 목적으로 이용된다. 프로텍트 필름은, 예컨대 적층체를 표시 장치 등에 접합한 후, 박리 제거되는 것이다.

프로텍트 필름은, 예컨대 투명 수지 필름으로 구성되어도 좋다. 수지 필름의 재질로서는, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 예컨대 환상 폴리올레핀계 수지 필름, 트리아세틸셀룰로오스, 디아세틸셀룰로오스와 같은 수지로 이루어지는 아세트산셀룰로오스계 수지 필름, 폴리에틸렌테레프탈레이트, 폴리에틸렌나프탈레이트, 폴리부틸렌테레프탈레이트와 같은 수지로 이루어지는 폴리에스테르계 수지 필름, 폴리카보네이트계 수지 필름, (메트)아크릴계 수지 필름, 폴리프로필렌 등, 당업계에서 공지된 필름을 들 수 있다.

프로텍트 필름의 두께는, 예컨대 5 ㎛ 이상 200 ㎛ 이하라도 좋으며, 적층체의 박형화라는 관점에서 바람직하게는 10 ㎛ 이상 150 ㎛ 이하, 보다 바람직하게는 20 ㎛ 이상 100 ㎛ 이하이다.

프로텍트 필름은, 광학 필름과 접합하기 위해서 수지 필름의 한쪽 면에 점착제층을 갖고 있어도 좋다. 프로텍트 필름은 점착제층을 갖지 않아도 좋다. 즉, 프로텍트 필름은 자기 점착성 필름이라도 좋다.

(세퍼레이터 필름)

세퍼레이터 필름은, 점착제층에 대하여 박리 가능하며, 세퍼레이터 필름 상에 형성되는 점착제층을 지지하여, 점착제층을 보호하는 필름으로서 기능하는 것이라도 좋다. 세퍼레이터 필름을 구성하는 필름은, 공지된 박리 필름이나 박리지 등이라도 좋고, 전술한 프로텍트 필름에 이용하는 수지 필름이라도 좋다. 또한 수지 필름에 실리콘 코팅 등의 이형 처리를 실시한 것이라도 좋다.

광학 필름의 두께는, 예컨대 세퍼레이트 필름이 없는 경우, 통상 0.5 ㎛ 이상 400 ㎛ 이하라도 좋다. 또한 광학 필름의 두께는, 프로텍트 필름이 없는 경우, 통상 0.5 ㎛ 이상 350 ㎛ 이하라도 좋다.

도 5는 물성 측정에 제공하는 광학 필름의 개략 단면도이다. 도 5에 도시하는 광학 필름(500)은, 프로텍트 필름(501), 편광자(502), 편광자 보호 필름(503), 점착제층(504), 세퍼레이터 필름(505)이 이 순서로 적층되어 있다.

광학 필름의 물성으로서는, 예컨대 컬량, 두께, 반사율, 투과율, 표면 거칠이, 색도, 경도 등을 들 수 있다. 본 발명의 스테이지는, 이러한 물성을 측정할 때에 광학 필름을 배치하는 데 적합하다. 또한 스테이지는, 광학 필름의 결함 검사, 반사 불균일이나 투과 불균일 등의 외관 검사 등에도 이용할 수 있다.

<물성 측정 장치>

본 발명의 다른 일 양태에 따른 물성 측정 장치는, 전술한 스테이지를 구비하는 광학 필름의 물성 측정 장치이다. 물성 측정 장치로서는, 예컨대 레이저 변위계, 투과율계, 경도계, 접촉식 막후계, 색도계, 컬량 측정 장치, 기판 검사 장치 등을 들 수 있지만, 이들에 한정되지 않는다. 물성 측정 장치에 있어서, 스테이지는 가동식으로 설치되어 있어도 좋고, 바닥에 고정하여 설치되어 있어도 좋다. 또한, 스테이지에 가동식의 측정 기기를 부착하는 것도 가능하다. 또한, 기존의 물성 측정 장치의 스테이지 상에 본 발명의 스테이지를 겹쳐 부착할 수도 있다. 물성 측정 장치에 이용하는 스테이지 및 광학 필름의 예시나 바람직한 양태는, 전술한 스테이지 및 광학 필름의 설명에 있어서의 예시나 바람직한 양태와 같다.

도 6은 물성 측정 장치(600)의 개략 단면도이다. 물성 측정 장치(600)는, 돌기(601)를 갖춘 스테이지(602), 레이저 광원을 갖춘 광학 헤드(603), 그것에 접속한 퍼스널 컴퓨터(604)를 갖춘 레이저 변위계이며, 스테이지(602)의 돌기(601) 상에는 광학 필름(605)이 수평으로 배치되어 있다. 물성 측정 종료 후, 광학 필름(605)을 스테이지(602)로부터 떼어낼 때, 광학 필름(605)이 점착성을 갖는 경우라도, 손상을 받거나 물성치가 변화되거나 하기 어려운 경향이 있다.

<물성치의 측정 방법>

본 발명의 또 다른 일 양태에 따른 물성치의 측정 방법은, 광학 필름의 물성치의 측정 방법이다. 물성치의 측정 방법은, 전술한 스테이지에 광학 필름을 배치하는 공정과, 스테이지에 배치한 광학 필름의 물성치를 측정하는 공정과, 광학 필름을 스테이지로부터 떼어내는 공정을 포함한다.

스테이지에 광학 필름을 배치하는 공정에서는, 통상, 광학 필름은 물성 측정을 행하는 표면이 스테이지의 배치면 상에 수평이 되도록 배치한다. 광학 필름은 강성이 낮기 때문에, 스테이지의 배치면에 돌기가 형성되어 있을 때는, 광학 필름이 돌기에 의해서 손상되지 않게 살포시 배치하는 것이 바람직하다.

측정하는 물성치로서는, 컬량, 두께, 반사율, 투과율, 표면 거칠기, 색도, 경도 등이라도 좋다. 광학 필름의 결함, 반사 불균일이나 투과 불균일 등의 외관 등을 평가하여도 좋다.

광학 필름을 스테이지로부터 떼어내는 공정에서는, 본 발명의 스테이지는 부분 접촉 면적률이 45% 이하이기 때문에, 광학 필름과 스테이지의 밀착성이 낮고, 광학 필름이 점착성을 갖는 경우라도, 광학 필름을 떼어내더라도 손상을 받거나 물성치가 변화되거나 하기 어려운 경향이 있다.

실시예 및 비교예를 나타내어 본 발명을 더욱 구체적으로 설명하지만, 본 발명은 이들 예에 의해 한정되는 것이 아니다.

[실시예]

〔부분 접촉 면적률〕

스테이지의 부분 접촉 면적률은 이하의 방법에 따라서 측정하였다.

(A) A 필름(발색제층을 구비한다)과 C 필름(현색제층을 구비한다)으로 구성된 감압지〔후지필름 가부시키가이샤 제조 압력 측정 필름 「프리스케일」 극초저압용(LLLW)〕에 있어서, A 필름의 발색제층과 C 필름의 현색제층이 접촉하도록 서로 겹쳤다.

(B) 스테이지를 광학 필름 배치면을 위로 하여 평탄한 대 상에 설치하였다.

(C) A 필름과 C 필름을 서로 겹친 상태에서 감압지를 스테이지의 광학 필름 배치면에 놓았다.

(D) 광학 필름 배치면 상에 배치한 감압지 상에, 평탄한 철판(세로 32 mm, 가로 32 mm, 두께 4 mm, 32 g)을 놓고, 그 위에 웨이트(21 kg)를 살포시 놓았다.

(E) 웨이트 배치 2분 경과 후에, 웨이트, 철판 및 감압지를 각각 천천히 제거하였다.

(F) 발색한 C 필름을 이미지 스캐너(후지필름 가부시키가이샤 제조 FUJI FILM PRESCALE PRESSUREGRAPH FPD-9270)를 이용하여 화상으로서 퍼스널 컴퓨터 상에 읽어들였다.

읽어들이기 조건: 23℃, 습도 65 RH%, 해상도 0.125 mm.

(G) 읽어들인 화상을 압력 화상 해석 시스템(후지필름 가부시키가이샤 제조 FPD-8010J)로 발색 면적을 측정하였다.

(H) 측정된 발색 면적을 측정 면적(웨이트의 하중이 걸린 면적: 32 mm×32 mm)으로 나눠, 이 측정 면적에 있어서의 부분 접촉률(%)로 하였다.

(I) 측정 스테이지의 전체 영역에 걸쳐 부분 접촉 면적률을 구하였다.

또한, 실시예에 이용한 측정스테이지는, 측정 면적(32 mm×32 mm) 내의 구조(돌기의 배치)가 전체에 걸쳐 반복된 구조이기 때문에, 전체 접촉 면적과 부분 접촉 면적은 동일하다.

〔컬량〕

스테이지 상에 광학 필름을, 그 볼록 측이 스테이지에 접하도록 배치하여, 광학 필름의 네 모퉁이가 스테이지로부터 떠오르는 부상량의 평균치를 컬량으로 하였다.

〔광학 필름〕

이하의 프로텍트 필름, 편광자, 편광자 보호 필름, 점착제층, 세퍼레이터 필름이 이 순으로 적층되고, 세퍼레이트 필름 측이 볼록하게 되도록 컬한 광학 필름을 준비하였다.

프로텍트 필름(PET 필름)

편광자(일축 연신한 폴리비닐알코올계 수지 필름)

편광자 보호 필름(트리아세틸셀룰로오스)

점착제층(아크릴계 점착제)

세퍼레이터 필름(PET 필름)

〔스테이지 1〕

사각추형 돌기가 인접하여 배치된 고무제 스테이지.

돌기 높이: 1 mm

돌기 간격: 2.8 mm

돌기 개수: 32 mm×32 mm당 126개

스테이지 치수: 세로 150 mm, 가로 200 mm

부분 접촉 면적률: 5%

〔스테이지 2〕

선형 돌기가 정방 격자형으로 배치된 수지제 스테이지.

돌기 높이: 1 mm

돌기 간격: 3 mm

돌기 폭: 1 mm

돌기 개수: 32 mm×32 mm당 20개

스테이지 치수: 세로 150 mm, 가로 200 mm

부분 접촉 면적률: 44%

〔스테이지 3〕

평탄한 고무제 대전 방지 매트.

스테이지 치수: 세로 150 mm, 가로 200 mm

부분 접촉 면적률: 100%

〔실시예 1〕

스테이지 1을 이용하여, 이 위에 상기 광학 필름을, 그 세퍼레이트 필름 측(볼록 측)이 스테이지 1과 접하도록 배치하여, 그 컬량을 자로 측정하였다. 결과를 표 1에 나타낸다.

이어서 광학 필름으로부터 세퍼레이트 필름을 박리하여 점접착제층을 노출시키고, 노출된 점접착제층이 스테이지 측이 되도록 스테이지 1 상에 배치하였다. 그 후, 스테이지 1로부터 광학 필름을 떼어냈다. 광학 필름은 용이하게 떼어낼 수 있었다. 또한, 떼어낸 후의 광학 필름의 컬 정도는, 자로 측정한 바, 배치 전과 마찬가지였다.

〔실시예 2〕

실시예 1에 있어서 이용한 스테이지 1을 스테이지 2로 바꿔 실시예 1과 같은 식으로 상기 광학 필름의 컬량을 측정하였다. 결과를 표 1에 나타낸다.

이어서 광학 필름으로부터 세퍼레이트 필름을 박리하여 점접착제층을 노출시키고, 노출된 점접착제층이 스테이지 측이 되도록 스테이지 2 상에 배치하였다. 그 후, 스테이지 2로부터 광학 필름을 떼어냈다. 스테이지 2로부터 광학 필름은 용이하게 떼어낼 수 있었다. 또한, 떼어낸 후의 광학 필름의 컬 정도는, 자로 측정한 바, 배치 전과 마찬가지였다.

〔비교예 1〕

스테이지 3을 이용하여 상기 광학 필름의 컬량을 측정하도록 광학 필름을 스테이지 3 상에 배치한 바, 광학 필름이 스테이지 3과 밀착하는 면적이 점차로 확대되어 컬량이 변화되고, 최종적으로는 광학 필름 전체가 스테이지 3에 밀착되었기 때문에, 컬량의 측정을 단념하였다. 이어서 광학 필름으로부터 프로텍트 필름을 박리하여 점접착제층을 노출시키고, 노출된 점접착제층이 스테이지 측이 되게 하여 스테이지 3 상에 배치하였다. 그 후, 스테이지 3으로부터 광학 필름을 떼어냈다. 같은 조작을 복수의 광학 필름에 대해서 행한 바, 광학 필름이 찢어진 것이 있었다. 또한, 떼어낸 광학 필름의 겉보기의 휘어짐은, 배치 전과는 분명히 다른 것이었다.

1: 발색제층, 2: A 필름, 3: 현색제층, 4: C 필름, 5: 감압지, 6: 평탄한 대, 7: 광학 필름 배치면, 8: 스테이지, 9: 평탄한 철판, 10: 웨이트, 12: 발색 영역, 200: 스테이지, 201: 배치대, 202: 사각추형 돌기, 203: 사각추형 돌기의 높이, 204, 205: 사각추형 돌기의 간격, 300: 스테이지, 301: 배치대, 302: 원추형 돌기, 303: 원추형 돌기의 높이, 304, 305: 원추형 돌기의 간격, 400: 스테이지, 401: 배치대, 402: 선형 돌기, 403: 선형 돌기의 높이, 404, 405: 선형 돌기의 간격, 500: 광학 필름, 501: 프로텍트 필름, 502: 편광자, 503: 편광자 보호 필름, 504: 점착제층, 505: 세퍼레이터 필름, 600: 물성 측정 장치, 601: 돌기, 602: 스테이지, 603: 레이저 광원을 갖춘 광학 헤드, 604: 퍼스널 컴퓨터, 605: 광학 필름

Claims (5)

1. 광학 필름의 물성치를 측정하기 위한 스테이지로서, 부분 접촉 면적률이 상기 스테이지의 광학 필름 배치면의 모든 영역에 있어서 45% 이하인 스테이지.
2. 제1항에 있어서, 상기 스테이지는 광학 필름 배치면에 돌기를 갖는 것인 스테이지.
3. 제2항에 있어서, 상기 돌기는 상기 스테이지의 세로 방향 또는 가로 방향에 있어서 0.5 mm 이상 30 mm 이하의 간격으로 배치되는 것인 스테이지.
4. 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 기재된 스테이지를 구비하는, 광학 필름의 물성 측정 장치.
5. 광학 필름의 물성치 측정 방법으로서,
   제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 기재된 스테이지에 광학 필름을 배치하는 공정과,
   상기 스테이지에 배치한 광학 필름의 물성치를 측정하는 공정과,
   상기 광학 필름을 스테이지로부터 떼어내는 공정
   을 포함하는 측정 방법.

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