JP5570900B2 - 基板載置面に樹脂突起物層を形成する方法及び樹脂突起物層転写部材 - Google Patents

基板載置面に樹脂突起物層を形成する方法及び樹脂突起物層転写部材 Download PDF

Info

Publication number
JP5570900B2
JP5570900B2 JP2010167121A JP2010167121A JP5570900B2 JP 5570900 B2 JP5570900 B2 JP 5570900B2 JP 2010167121 A JP2010167121 A JP 2010167121A JP 2010167121 A JP2010167121 A JP 2010167121A JP 5570900 B2 JP5570900 B2 JP 5570900B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
resin
resin protrusion
layer
substrate
protrusion layer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2010167121A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2012028622A (ja
Inventor
雅人 南
芳彦 佐々木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tokyo Electron Ltd
Original Assignee
Tokyo Electron Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tokyo Electron Ltd filed Critical Tokyo Electron Ltd
Priority to JP2010167121A priority Critical patent/JP5570900B2/ja
Priority to KR1020110072236A priority patent/KR101302886B1/ko
Priority to TW100126182A priority patent/TWI517294B/zh
Priority to CN201110212820.3A priority patent/CN102376617B/zh
Publication of JP2012028622A publication Critical patent/JP2012028622A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5570900B2 publication Critical patent/JP5570900B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/32431Constructional details of the reactor
    • H01J37/32715Workpiece holder
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67017Apparatus for fluid treatment
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/683Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
    • H01L21/687Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches
    • H01L21/68714Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches the wafers being placed on a susceptor, stage or support
    • H01L21/68785Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches the wafers being placed on a susceptor, stage or support characterised by the mechanical construction of the susceptor, stage or support

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Description

本発明は、基板処理装置の処理室内で基板を載置する基板載置台の基板載置面に樹脂突起物層を形成する方法及びこの方法に適用する樹脂突起物層転写部材に関する。
液晶表示装置(LCD)をはじめとするFPD(Flat Panel Display)の製造工程において、ガラス基板をはじめとする各種基板に対しプラズマ処理を施す基板処理装置が知られている。
このような基板処理装置においては、処理室(以下、「チャンバ」という。)内でガラス基板(以下、単に「基板」という。)を支持する基板載置台と、該基板載置台と処理空間を隔てて対向するように配置された上部電極とを有し、下部電極として機能する基板載置台にプラズマ生成用の高周波電力(RF)を印加すると共に、処理空間に処理ガスを導入してプラズマを生成させ、生成したプラズマを用いて基板載置台の基板載置面に載置された基板に対して所定のプラズマ処理が施される。
基板載置台の基板載置面には、通常、絶縁層としてアルミナ(AL)溶射膜が形成されている。アルミナ溶射膜を構成するアルミナの硬度は、HV1000程度であり、一般的なガラス基板の硬度であるHV640よりも硬いために、基板を基板載置台に載置し、静電チャックによって静電吸着した際、アルミナ溶射膜によって基板の裏面に傷がつくという問題がある。
一方、平面状の基板載置面に基板を載置させた場合、基板の裏面に異物が付着し易いという問題があり、これを回避するために、基板載置面に突起物層を形成して基板を点接触で支持しようとする試みがあり、基板載置面に多数の突起を有する突起層を形成する技術が開発されている(例えば、特許文献1参照)。
特開2008−251574号公報
しかしながら、ゴミ等の異物の付着を防止し、且つ基板の裏面に傷をつけないためには、基板の材質であるガラスよりも硬度が小さい材料からなる突起を基板載置面に形成する必要がある。また、一度に多数の突起物を基板載置面に形成するのは非常に困難である。
ところで、ガラスよりも硬度が小さい材料であって基板処理装置の処理室内で適用できるものとして、例えばポリテトラフルオロエチレン(商品面:テフロン(登録商標))等の樹脂が挙げられる。テフロン(登録商標)膜又はテフロン(登録商標)からなる突起物を構成部材表面に転写させる方法としては、一般に、テフロン(登録商標)からなる粉を静電粉体塗装により被転写面に吸着させて400℃程度に加熱する焼き付け方法が採用されているが、基板載置台の耐熱温度は、例えば100℃以下であり、このような焼き付け方法を採用することはできない。
本発明の第1の課題は、基板載置台の基板載置面に一度に多数の樹脂突起物からなる樹脂突起物層を形成することができる樹脂突起物層転写部材を提供することにある。また、本発明の第の課題は、基板載置台を加熱することなく基板載置面に樹脂突起物層を形成することができる基板載置面に樹脂突起物層を形成する方法を提供することにある。
上記第の課題を解決するために、請求項記載の樹脂突起物層転写部材は、矩形の基板にプラズマ処理を施す基板処理装置の処理室内で前記基板を載置する基板載置台の基板載置面に樹脂突起物層を転写する樹脂突起物層転写部材であって、基材シートと、該基材シートの片面に塗布された第1の粘着剤層と、該第1の粘着剤層に貼着された樹脂突起物層と、該樹脂突起物層に塗布された第2の粘着剤層と、を有することを特徴とする。
請求項記載の樹脂突起物層転写部材は、請求項記載の樹脂突起物層転写部材において、前記樹脂突起物層は、断面が0.5〜2.0mmφで、高さ30〜80μmの円筒状の樹脂突起物を、2〜10mmピッチで多数配列させたものであることを特徴とする。
請求項記載の樹脂突起物層転写部材は、請求項又は記載の樹脂突起物層転写部材において、前記樹脂突起物は、ポリテトラフルオロエチレン、エポキシ樹脂、シリコン樹脂、ポリイミド樹脂、ポリエーテルイミド樹脂及び耐熱性ゴムのうちのいずれかで構成されていることを特徴とする。
請求項記載の樹脂突起物層転写部材は、請求項乃至のいずれか1項に記載の樹脂突起物層転写部材において、前記第2の粘着剤層と前記基板載置面との粘着力は、前記第1の粘着剤層と前記樹脂突起物層との粘着力よりも大きいことを特徴とする。
請求項記載の樹脂突起物層転写部材は、請求項乃至のいずれか1項に記載の樹脂突起物層転写部材であって、前記第2の粘着剤層上に保護シートが貼着されていることを特徴とする。
上記第の課題を解決するために、請求項記載の基板載置面に樹脂突起物層を形成する方法は、矩形の基板にプラズマ処理を施す基板処理装置の処理室内で前記基板を載置する基板載置台の基板載置面に樹脂突起物層を形成する方法であって、基材シートと、該基材シートの片面に第1の粘着剤層を介して貼着された樹脂突起物層と、該樹脂突起物層に塗布された第2の粘着剤層とを有する樹脂突起物層転写部材の前記樹脂突起物層に塗布された第2の粘着剤層を前記基板載置面に押しつけて前記樹脂突起物層を前記基板載置面に貼着する貼着ステップと、前記貼着させた樹脂突起物層から前記基材シートを剥がす基材シート剥離ステップと、を有することを特徴とする。
請求項記載の基板載置面に樹脂突起物層を形成する方法は、請求項記載の基板載置面に樹脂突起物層を形成する方法において、前記樹脂突起物層は、断面が0.5〜2.0mmφで、高さ30〜80μmの円柱状の樹脂突起物を、2〜10mmピッチで多数配列させたものであることを特徴とする。
請求項記載の基板載置面に樹脂突起物層を形成する方法は、請求項又は記載の基板載置面に樹脂突起物層を形成する方法において、前記樹脂突起物は、ポリテトラフルオロエチレン、エポキシ樹脂、シリコン樹脂、ポリイミド樹脂、ポリエーテルイミド樹脂及び耐熱性ゴムのうちのいずれかで構成されていることを特徴とする。
請求項記載の基板載置面に樹脂突起物層を形成する方法は、請求項乃至のいずれか1項に記載の基板載置面に樹脂突起物層を形成する方法において、前記基板載置面には、アルミナ溶射膜が形成されており、前記第2の粘着剤層と前記アルミナ溶射膜との粘着力は、前記第1の粘着剤層と前記樹脂突起物層との粘着力よりも大きいことを特徴とする。
請求項10記載の基板載置面に樹脂突起物層を形成する方法は、請求項乃至のいずれか1項に記載の基板載置面に樹脂突起物層を形成する方法において前記樹脂突起物層転写部材の前記第2粘着剤層には保護シートが貼着されており、前記貼着ステップの前段に、前記保護シートを剥離する保護シート剥離ステップを有することを特徴とする。
請求項11記載の基板載置面に樹脂突起物層を形成する方法は、請求項乃至10のいずれか1項に記載の基板載置面に樹脂突起物層を形成する方法において、前記基材シート剥離ステップの後段に、前記基板載置面に貼着された前記樹脂突起物層を覆うようにコーティング剤を塗布する塗布ステップを有することを特徴とする。
発明の樹脂突起物層転写部材によれば、基板載置台の基板載置面に一度に多数の樹脂突起物からなる樹脂突起物層を形成することができる。また、本発明の基板載置面に樹脂突起物層を形成する方法によれば、基板載置台を加熱することなく基板載置面に樹脂突起物層を形成することができる。
本発明の実施の形態に係る基板載置台が適用される基板処理装置の概略構成を示す断面図である。 本発明の実施の形態に係る樹脂突起物層転写部材の概略構成を示す断面図である。 本発明の実施の形態に係る基板載置面に樹脂突起物層を形成する方法の工程図である。 本発明に係る基板載置台であって、基板載置面に樹脂突起物層が形成された基板載置台の基板載置面を示す平面図である。
以下、本発明の実施の形態について図面を参照しながら詳細に説明する。
図1は、本発明の実施の形態に係る基板載置台が適用される基板処理装置の概略構成を示す断面図である。この基板処理装置は、例えば、液晶表示装置(LCD)製造用のガラス基板に所定のプラズマ処理を施すものである。
図1において、基板処理装置10は、例えば1辺が数mの矩形のガラス基板G(以下、単に「基板」という。)を収容する処理室(チャンバ)11を有し、該チャンバ11内部の図中下方には基板Gを載置する載置台(サセプタ)12が配置されている。サセプタ12は、例えば、表面がアルマイト処理されたアルミニウムからなる基材13で構成されており、基材13は絶縁部材14を介してチャンバ11の底部に支持されている。基材13は断面凸型を呈しており、上部には静電電極板16を内蔵した静電チャック54が設置され、その上部平面は基板Gを載置する基板載置面13aとなっている。
基板載置面13aの周囲を囲むようにシールド部材としてのシールドリング15が設けられており、シールドリング15は、例えばアルミナ等の絶縁性セラミックスで構成された長尺状物であるリング構成部品の組合せ体からなっている。
静電電極板16には直流電源17が接続されており、静電電極板16に正の直流電圧が印加されると、基板載置面13aに載置された基板Gにおける静電電極板16側の面(以下、「裏面」という。)には負電位が発生し、これによって静電電極板16及び基板Gの裏面の間に電位差が生じ、該電位差に起因するクーロン力又はジョンソン・ラーベック力により、基板Gが基板載置面13aに吸着保持される。
基材13の内部には、基材13及び基板載置面13aに載置された基板Gの温度を調節するための温度調節機構(図示省略)が設けられている。この温度調節機構に、例えば、冷却水やガルデン(登録商標)等の冷媒が循環供給され、該冷媒によって冷却された基材13は基板Gを冷却する。
基材13の周囲には、シールドリング15と基材13との当接部を含む側面を覆うサイドシール部材としての絶縁リング18が配置されている。絶縁リング18は絶縁性のセラミックス、例えばアルミナで構成されている。
チャンバ11の底壁、絶縁部材14及び基材13を貫通する貫通孔に、昇降ピン21が昇降可能に挿通されている。昇降ピン21は基板載置面13aに載置される基板Gの搬入及び搬出時に作動するものであり、基板Gをチャンバ11内に搬入する際又はチャンバ11から搬出する際には、サセプタ12の上方の搬送位置まで上昇し、それ以外のときには基板載置面13a内に埋設状態で収容されている。
基板載置面13aには、図示省略した複数の伝熱ガス供給孔が開口している。複数の伝熱ガス供給孔は伝熱ガス供給部に接続され、伝熱ガス供給部から伝熱ガスとして、例えばヘリウム(He)ガスが基板載置面13a及び基板Gの裏面の間隙に供給される。基板載置面13a及び基板Gの裏面の間隙に供給されたヘリウムガスは基板Gの熱をサセプタ12に効果的に伝達する。
サセプタ12の基材13には、高周波電力を供給するための高周波電源23が整合器24を介して接続されている。高周波電源23からは、例えば13.56MHzの高周波電力(RF)が印加され、サセプタ12は下部電極として機能する。整合器24は、サセプタ12からの高周波電力の反射を低減して高周波電力のサセプタ12への印加効率を最大にする。
基板処理装置10では、チャンバ11の内側壁とサセプタ12の側面とによって側方排気路26が形成される。この側方排気路26は排気管27を介して排気装置28に接続されている。排気装置28としてのTMP(Turbo Molecular Pump)及びDP(Dry Pump)(ともに図示省略)はチャンバ11内を真空引きして減圧する。具体的には、DPはチャンバ11内を大気圧から中真空状態(例えば、1.3×10Pa(0.1Torr)以下)まで減圧し、TMPはDPと協働してチャンバ11内を中真空状態より低い圧力である高真空状態(例えば、1.3×10−3Pa(1.0×10−5Torr)以下)まで減圧する。なお、チャンバ11内の圧力はAPCバルブ(図示省略)によって制御される。
チャンバ11の天井部分には、サセプタ12と対向するようにシャワーヘッド30が配置されている。シャワーヘッド30は内部空間31を有するとともに、サセプタ12との間の処理空間Sに処理ガスを吐出する複数のガス孔32を有する。シャワーヘッド30は接地されており、下部電極として機能するサセプタ12と共に一対の平行平板電極を構成している。
シャワーヘッド30は、ガス供給管36を介して処理ガス供給源39に接続されている。ガス供給管36には、開閉バルブ37及びマスフローコントローラ38が設けられている。また、処理チャンバ11の側壁には基板搬入出口34が設けられており、この基板搬入出口34はゲートバルブ35により開閉可能となっている。そして、このゲートバルブ35を介して処理対象である基板Gが搬入出される。
基板処理装置10では、処理ガス供給源39から処理ガス導入管36を介して処理ガスが供給される。供給された処理ガスは、シャワーヘッド30の内部空間31及びガス孔32を介してチャンバ11の処理空間Sへ導入される。導入される処理ガスは、高周波電源23からサセプタ12を介して処理空間Sへ印加されるプラズマ生成用の高周波電力(RF)によって励起されてプラズマとなる。プラズマ中のイオンは、基板Gに向かって引きこまれ、基板Gに対して所定のプラズマエッチング処理を施す。
基板処理装置10の各構成部品の動作は、基板処理装置10が備える制御部(図示省略)のCPUがプラズマエッチング処理に対応するプログラムに応じて制御する。
次に、図1の基板処理装置10における基板載置台12の基板載置面13aに樹脂突起物層を形成する際に適用される樹脂突起物層転写部材について説明する。
図2は、本発明の実施の形態に係る樹脂突起物層転写部材の概略構成を示す断面図である。
図2において、この樹脂突起物層転写部材40は、基材シート41と、該基材シート41の片面に塗布された第1の粘着剤層42と、該第1の粘着剤層42上に貼着された複数の樹脂突起物43aを多数配列させた樹脂突起物層43と、該樹脂突起物層43の各突起物43aの表面に塗布された第2の粘着剤層44とから主として構成されている。第2の粘着剤層44の表面には、必要に応じて保護シート45が貼着される。これによって、樹脂突起物層43の表面への異物の付着を防止して清浄状態を確保することができる。
樹脂突起物層転写部材40は、例えば以下のようにして製造される。
例えばポリエチレンテレフタレート(PET)からなる厚さが50〜100μmの基材シート41を用意し、該基材シート41の片面に、第1の粘着剤としてアクリル系粘着剤をコーターによって均等に塗布して第1の粘着剤層42を形成する。第1の粘着剤層42の厚さは、例えば30〜100μmである。
次に、第1の粘着剤層42に、樹脂突起物43aが、例えばエンボス状に多数配列された樹脂突起物層43を貼着させる。具体的には、樹脂突起物層43は、例えば、テフロン(登録商標)からなるシート状物に対し、多数の孔が開いたパンチングメタル状の型板を用いて打ち抜いて形成される。形成されたエンボス状の樹脂突起物層43に、第1の粘着剤層42を塗布した基材シート41における第1の粘着剤層42が塗布された面を押しつけて樹脂突起物層43を巻き取る。
このようにして形成された樹脂突起物層43の表面、すなわち樹脂突起物層43の樹脂突起物43aにおける第1の粘着剤層42に接する面とは逆の面に、第2の粘着剤としてシリコーン系粘着剤を、例えばコーターによって塗布して第2の粘着剤層44を形成し、樹脂突起物転写部材40とする。第2の粘着剤層の厚さは、例えば10〜30μmである。
本実施の形態によれば、基材シート41の片面に第1の粘着剤層42を介して多数の樹脂突起物43aからなる樹脂突起物層43を貼着し、その表面に第2の粘着剤層44を塗布したので、樹脂突起物層43を転写する転写材としての基板載置面に、第2の粘着剤層44を押圧し、その後、基材シート41を剥離することによって、基板載置面に、一度に多数の樹脂突起物43aからなる樹脂突起物層43を形成することができる。
本実施の形態において、基材シート41としてはPETの他、PP、ポリエステル等を用いることができる。また、第1の粘着剤層42を形成する第1の粘着剤としては、アクリル系の他、シリコーン系、ゴム系粘着剤等を用いることができ、第2の粘着剤層44を形成する第2の粘着剤としては、シリコーン系の他、例えば、アクリル系粘着剤等を用いることができる。また、保護シート45としては、例えばPET、PP等が好適に適用される。
次に、本発明の実施の形態に係る基板載置面に樹脂突起物層を形成する方法について説明する。
図3は、本発明の実施の形態に係る基板載置面に樹脂突起物層を形成する方法の工程図である。
基板載置台の基板載置面に樹脂突起層を形成する際、基板載置面の周囲に、基板載置面に形成される樹脂突起物層の厚さと同じ高さだけ突出した段差部を設けておくことが好ましい。これによって、基板載置面に形成された樹脂突起物層における剥離、損傷等を回避することができるとともに、載置面上に供給される熱伝達ガスを密閉し、熱伝達効率を向上させることができる。
以下、図2の樹脂突起物転写部材40を用いて、基板載置面の周囲に段差部を有する基板載置台の基板載置面に樹脂突起物層を形成する方法について説明する。
先ず、基板載置面の周囲に段差部を有する基板載置台を用意する(図3(A))。この基板載置台12は、表面がアルマイト処理されたアルミニウムからなる基材13と、該基材13の凸状部の上部平面に設けられた静電チャック54とから主として構成されている。静電チャック54は、絶縁性のアルミナ(Al)層52と、該アルミナ層52に内蔵された静電電極板16とからなり、アルミナ層52の上部平面の周囲に、基板載置面に形成される樹脂突起物層と同じ高さの段差部56を有する。
次に、このような基板載置台12における静電チャック54の基板載置面13aに、図2の樹脂突起物層転写部材40の樹脂突起物層43に塗布された第2の粘着剤層44を当接させる。具体的には、樹脂突起物層転写部材40の保護シート45を剥がし(保護シート剥離ステップ)、これによって、樹脂突起物43aがエンボス状に多数配列された樹脂突起物層43を露出させ、この状態で樹脂突起物層43上の第2の粘着剤層44を基板載置面13aに当接して、樹脂突起物層43を貼着させる(図3(B))。
次に、基板載置面13aに樹脂突起物層43を貼着した状態の樹脂突起物層転写部材40の基材シート41の一方の面を基板載置面13aに向かって均等に押しつけて樹脂突起物層43を確実に基板載置面13aに貼着させる。このようにして、樹脂突起物層43を貼着させた後、基材シート41をゆっくり剥離する。これによって、基板載置面13aに樹脂突起物層43が転写、形成された基板載置台が得られる(図3(C))。
次に、必要に応じて、エンボス状の樹脂突起物層43が形成された基板載置面の樹脂突起物層43を覆うようにコーティング層を形成する。コーティング剤としては、例えばシリコン樹脂が好適に用いられる。これによって、基板載置面13aに形成されたエンボス状の樹脂突起層43の密着力を高め、且つ強度を確保することができる。
図4は、基板載置面13aに樹脂突起物層43が形成された基板載置台の基板載置面13aを示す平面図である。
図4において、基板載置台12の基板載置面13aには、樹脂突起物43aがエンボス状に多数配列された樹脂突起物層43が形成されている。
本実施の形態によれば、樹脂突起物層43を、粘着剤を用いて基板載置面13aに転写して貼着させるようにしたので、基板載置台12を加熱することなく基板載置面13aに樹脂突起物層43を形成することができる。従って、耐熱温度が、例えば100℃以下と低い基板載置台にも十分適用することができる。
また、簡便な方法で、特殊な加工装置又は治具を必要としないので、現場においても容易に樹脂突起物層43の設置及び張り替え等を行うことができる。
本実施の形態において、樹脂突起物層43における樹脂突起物43aの大きさは、例えば断面が0.5〜2.0mmφ、高さが、例えば30〜80μmの円柱状である。樹脂突起物43aのピッチは、例えば5mmである。従って、基板載置面55には、数万個の樹脂突起物43aが形成されていることになる。樹脂突起物43aのピッチは、2〜10mmであることが好ましく、より好ましくは、4〜7mmである。ピッチが小さすぎると、突起物層を形成することが困難であり、大きすぎると、突起物としての強度が不足する虞がある。
本実施の形態において、樹脂突起物43aの構成材料としては、例えばポリテトラフルオロエチレン(テフロン(登録商標))、エポキシ樹脂、シリコン樹脂、ポリイミド樹脂、ポリエーテルイミド樹脂、バイトンをはじめとする耐熱ゴム等を適用することができ、特に、テフロン(登録商標)が好適に使用される。
樹脂突起物43aの構成材料としてテフロン(登録商標)を用いることにより、以下の効果が得られる。
テフロン(登録商標)は耐腐蝕性を備えており、プラズマ処理に適用される各種の処理ガスに対する耐性がある。また、テフロン(登録商標)はアルミナに比べて熱伝導率が小さいので、突起物の材料としてテフロン(登録商標)を用いた場合とアルミナを用いた場合とでは、基板載置面13aと該基板載置面13aに載置された基板Gの裏面との隙間に供給される伝熱用のヘリウムガスを介した熱の伝わり方と突起物を介した熱の伝わり方との差が、突起物にテフロン(登録商標)を用いた場合の方が小さく、基板Gの裏面における熱分布に起因するエッチング斑の発生を抑制することができる。また、テフロン(登録商標)は誘電率が小さく、ヘリウムガスとともに形成する電界強度分布において極度なピークなどの特異点を発生することが無いので、基板Gにおける電界分布に起因するエッチング斑の発生を抑制することができる。さらにまた、テフロン(登録商標)は滑り性が良好で、摩耗が少ないので、例えば拭き取りによるクリーニング等を容易に行うことができる。
本実施の形態において、樹脂突起物層転写部材40に適用される第2の粘着剤層の粘着力は、第1の粘着剤層の粘着力よりも大きいことが好ましく、より具体的には、例えば、アルミナ溶射皮膜52により形成された基板載置面13aを構成するアルミナと、樹脂突起物層43の表面に塗布された第の2粘着剤層との粘着力Aが、基材シート41に塗布された第1の粘着剤層と樹脂突起物層43との粘着力Bよりも大きくなるように各粘着剤層を選択することが好ましい。これによって、樹脂突起物層転写部材40における樹脂突起物層43を基板載置面13aに貼着させた後、基材シート41を剥離する際、樹脂突起物層43が基材シート41に貼り付いて基板載置面13aから剥がれることがなくなり、樹脂突起物層転写部材40の樹脂突起物層43を確実に基板載置面13aに転写することができる。一方、保護シート45を剥離する際に樹脂突起物層43が基材シート41から剥がれることを防ぐため、保護シート45と第2の粘着剤層との粘着力Cが上記粘着力Bよりも弱くなるような保護シートの材料を選択したり保護シートに非粘着処理をしたりする必要がある。
本実施の形態に係る基板載置台、すなわち基板が載置される基板載置面に、複数の樹脂突起物43aが配列された樹脂突起物層43が形成された基板載置台によれば、基板載置面13aに載置された基板Gの裏面に傷を付けることがない。また、基板を点接触で支持することができるので、基板の裏面に対して反応副生成物等のデポが付着する機会を低減することができる。
上述した各実施の形態において、基板は、液晶ディスプレイ(LCD)用のガラス基板だけでなく、エレクトロルミネセンス(Electro Luminescence;EL)ディスプレイ、プラズマディスプレイパネル(PDP)等をはじめとするFPD(Flat Panel Display)に用いる各種基板であってもよい。
10 基板処理装置
12 基板載置台(サセプタ)
13 基材
13a 基板載置面
40 樹脂突起物層転写部材
41 基材シート
42 第1の粘着剤層
43 樹脂突起物層
43a 樹脂突起物
44 第2の粘着剤層

Claims (11)

  1. 矩形の基板にプラズマ処理を施す基板処理装置の処理室内で前記基板を載置する基板載置台の基板載置面に樹脂突起物層を転写する樹脂突起物層転写部材であって、
    基材シートと、該基材シートの片面に塗布された第1の粘着剤層と、該第1の粘着剤層に貼着された樹脂突起物層と、該樹脂突起物層に塗布された第2の粘着剤層と、を有することを特徴とする樹脂突起物層転写部材。
  2. 前記樹脂突起物層は、断面が0.5〜2.0mmφで、高さ30〜80μmの円柱状の樹脂突起物を、2〜10mmピッチで多数配列させたものであることを特徴とする請求項記載の樹脂突起物層転写部材。
  3. 前記樹脂突起物は、ポリテトラフルオロエチレン、エポキシ樹脂、シリコン樹脂、ポリイミド樹脂、ポリエーテルイミド樹脂及び耐熱性ゴムのうちのいずれかで構成されていることを特徴とする請求項又は記載の樹脂突起物層転写部材。
  4. 前記第2の粘着剤層と前記基板載置面との粘着力は、前記第1の粘着剤層と前記樹脂突起物層との粘着力よりも大きいことを特徴とする請求項乃至のいずれか1項に記載の樹脂突起物層転写部材。
  5. 前記第2の粘着剤層上に保護シートが貼着されていることを特徴とする請求項乃至のいずれか1項に記載の樹脂突起物層転写部材。
  6. 矩形の基板にプラズマ処理を施す基板処理装置の処理室内で前記基板を載置する基板載置台の基板載置面に樹脂突起物層を形成する方法であって、
    基材シートと、該基材シートの片面に第1の粘着剤層を介して貼着された樹脂突起物層と、該樹脂突起物層に塗布された第2の粘着剤層とを有する樹脂突起物層転写部材の前記樹脂突起物層に塗布された第2の粘着剤層を前記基板載置面に押しつけて前記樹脂突起物層を前記基板載置面に貼着する貼着ステップと、
    前記貼着させた樹脂突起物層から前記基材シートを剥がす基材シート剥離ステップと、を有することを特徴とする基板載置面に樹脂突起物層を形成する方法。
  7. 前記樹脂突起物層は、断面が0.5〜2.0mmφで、高さ30〜80μmの円柱状の樹脂突起物を、2〜10mmピッチで多数配列させたものであることを特徴とする請求項記載の基板載置面に樹脂突起物層を形成する方法。
  8. 前記樹脂突起物は、ポリテトラフルオロエチレン、エポキシ樹脂、シリコン樹脂、ポリイミド樹脂、ポリエーテルイミド樹脂及び耐熱性ゴムのうちのいずれかで構成されていることを特徴とする請求項又は記載の基板載置面に樹脂突起物層を形成する方法。
  9. 前記基板載置面には、アルミナ溶射膜が形成されており、前記第2の粘着剤層と前記アルミナ溶射膜との粘着力は、前記第1の粘着剤層と前記樹脂突起物層との粘着力よりも大きいことを特徴とする請求項乃至のいずれか1項に記載の基板載置面に樹脂突起物層を形成する方法。
  10. 前記樹脂突起物層転写部材の前記第2粘着剤層には保護シートが貼着されており、前記貼着ステップの前段に、前記保護シートを剥離する保護シート剥離ステップを有することを特徴とする請求項乃至のいずれか1項に記載の基板載置面に樹脂突起物層を形成する方法。
  11. 前記基材シート剥離ステップの後段に、前記基板載置面に貼着された前記樹脂突起物層を覆うようにコーティング剤を塗布する塗布ステップを有することを特徴とする請求項乃至10のいずれか1項に記載の基板載置面に樹脂突起物層を形成する方法。
JP2010167121A 2010-07-26 2010-07-26 基板載置面に樹脂突起物層を形成する方法及び樹脂突起物層転写部材 Expired - Fee Related JP5570900B2 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010167121A JP5570900B2 (ja) 2010-07-26 2010-07-26 基板載置面に樹脂突起物層を形成する方法及び樹脂突起物層転写部材
KR1020110072236A KR101302886B1 (ko) 2010-07-26 2011-07-21 기판 탑재대, 기판 탑재면에 수지 돌기물층을 형성하는 방법 및 수지 돌기물층 전사 부재
TW100126182A TWI517294B (zh) 2010-07-26 2011-07-25 A method of forming a resin bump layer on a substrate mounting surface, and a resin protrusion layer transfer member
CN201110212820.3A CN102376617B (zh) 2010-07-26 2011-07-26 基板载置台、在基板载置面形成树脂突起物层的方法以及树脂突起物层复制部件

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010167121A JP5570900B2 (ja) 2010-07-26 2010-07-26 基板載置面に樹脂突起物層を形成する方法及び樹脂突起物層転写部材

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2012028622A JP2012028622A (ja) 2012-02-09
JP5570900B2 true JP5570900B2 (ja) 2014-08-13

Family

ID=45781189

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010167121A Expired - Fee Related JP5570900B2 (ja) 2010-07-26 2010-07-26 基板載置面に樹脂突起物層を形成する方法及び樹脂突起物層転写部材

Country Status (4)

Country Link
JP (1) JP5570900B2 (ja)
KR (1) KR101302886B1 (ja)
CN (1) CN102376617B (ja)
TW (1) TWI517294B (ja)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103605267B (zh) * 2013-10-23 2017-04-12 上海华力微电子有限公司 远程射频等离子体源的隔离结构
CN103811332B (zh) * 2014-02-14 2016-05-25 北京京东方显示技术有限公司 一种干法刻蚀设备的下部电极基台和干法刻蚀设备
JP7343314B2 (ja) * 2018-07-12 2023-09-12 住友化学株式会社 ステージ、物性測定装置および測定方法
CN111383986A (zh) * 2018-12-27 2020-07-07 东京毅力科创株式会社 基板载置台及基板处理装置

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2519528B2 (ja) * 1989-02-09 1996-07-31 ハニー化成株式会社 透明導電層を有する可塑化軟質合成樹脂製品および透明導電層形成用転写部材
JP2823883B2 (ja) * 1989-04-10 1998-11-11 リンテック株式会社 ウエハ貼着用粘着シート
JP4387563B2 (ja) * 2000-06-05 2009-12-16 住友大阪セメント株式会社 サセプタ及びサセプタの製造方法
JP3626933B2 (ja) * 2001-02-08 2005-03-09 東京エレクトロン株式会社 基板載置台の製造方法
JP2006206787A (ja) * 2005-01-31 2006-08-10 Sumitomo Bakelite Co Ltd ダイシングシート機能付きダイアタッチフィルム及びそれを用いた半導体装置の製造方法及び半導体装置。
JP2008028297A (ja) * 2006-07-25 2008-02-07 Zaiken:Kk 静電チャック
JP5059450B2 (ja) * 2007-03-06 2012-10-24 東京エレクトロン株式会社 基板載置台及び基板処理装置
JP2008251737A (ja) * 2007-03-29 2008-10-16 Tomoegawa Paper Co Ltd 静電チャック装置用電極部材ならびにそれを用いた静電チャック装置および静電吸着解除方法
JP2010088153A (ja) * 2008-09-29 2010-04-15 Tdk-Lambda Corp 電子機器

Also Published As

Publication number Publication date
JP2012028622A (ja) 2012-02-09
KR20120010569A (ko) 2012-02-03
TWI517294B (zh) 2016-01-11
CN102376617B (zh) 2016-03-23
CN102376617A (zh) 2012-03-14
TW201220424A (en) 2012-05-16
KR101302886B1 (ko) 2013-09-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TW548691B (en) Substrate supporting table, method for manufacturing the same and processing apparatus
TWI445114B (zh) A substrate processing device and a focusing ring
JP5059450B2 (ja) 基板載置台及び基板処理装置
JP4935143B2 (ja) 載置台及び真空処理装置
US10128089B2 (en) Plasma processing apparatus
JP5612300B2 (ja) 基板載置台、その製造方法及び基板処理装置
JP5762798B2 (ja) 天井電極板及び基板処理載置
US20120037314A1 (en) Substrate processing apparatus and side wall component
JP2012146743A (ja) 基板処理装置
TW201920715A (zh) 電漿處理裝置用零件之熱噴塗方法及電漿處理裝置用零件
JP2006351949A (ja) 基板載置台、基板処理装置および基板載置台の製造方法
TW202205347A (zh) 邊緣環、基板支持台、電漿處理系統及邊緣環之更換方法
JP2008251742A (ja) 基板処理装置及びフォーカスリングを載置する基板載置台
JP5503503B2 (ja) プラズマ処理装置
JP5570900B2 (ja) 基板載置面に樹脂突起物層を形成する方法及び樹脂突起物層転写部材
US8024831B2 (en) Cleaning method
TW201112352A (en) Electrostatic adsorption electrode and its manufacturing method, and substrate processing device
TW200818311A (en) Heat conductive structure and substrate treatment apparatus
JP4783094B2 (ja) プラズマ処理用環状部品、プラズマ処理装置、及び外側環状部材
JP6010296B2 (ja) 静電チャック
JP4709047B2 (ja) 基板処理装置及び側壁部品
JP2016031956A (ja) プラズマ処理装置
JP5390657B2 (ja) 基板載置台及び基板処理装置
JP2004071791A (ja) 基板載置部材およびそれを用いた基板処理装置
JP2004006300A (ja) プラズマ処理方法及び装置、プラズマ処理用トレー

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20130605

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20140318

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20140421

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20140609

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20140625

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5570900

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees