KR20190117604A - 용기 검사장치 및 용기 검사방법 - Google Patents

Abstract

검사장치(1)는 발광 면(22)을 갖는 발광부(20)와, 용기(10)를 사이에 두고 발광부(20)와 대향하여 배치된 촬상부(40)와, 결점의 유무를 판정하는 판정부(52)와, 발광부(20)의 용기(10) 측에 배치된 제 1 광 제한부(24)를 포함한다. 제 1 광 제한부(24)는 발광 면(22)을 따라서 수평방향(X)으로 연장하는 광 투과부(244) 및 감광부(242)를 포함한다. 제 1 광 제한부(24)는 투광부(244)와 감광부(242)를 수직방향(Y)에서 교호로 배치한다.

Description

용기 검사장치 및 용기 검사방법

본 발명은 용기 검사창치 및 용기 검사방법에 관한 것이다.

용기, 특히 유리병의 내부 표면에 매우 드물게 발생하는 박포(薄泡, soft blister)를 검출하는 방법으로 본 출원인이 앞서 제안한 검사방법이 있다(특허문헌 1).

박포는 유리병의 내부 표면에 발생하며, 내부 표면에 대해 매우 얕은 홈과 그 홈을 덮는 얇은 유리막으로 형성된다. 본 검사방법에서는 박포를 검출하기 위해 불투명 판에 복수의 가로가 긴 슬릿을 상하로 일정 간격으로 다단으로 설치한 줄무늬 필터를 이용하여, 슬릿 부분만을 광을 투과시켜서, 박포를 통과한 광에 의해 명암의 폭이 세로로 압축된 상으로서 촬영하고 있다.

이러한 방법에 의해서도 박포를 검출할 수는 있으나, 박포에 의한 그림자와 유리병 두께의 불균일에 의한 명암이나 유리병의 이음매(금형의 이음매에서 성형되는 단차)에 의한 명암 등과의 판별이 어려웠다. 따라서 양품의 유리병이라도 불량품으로 판별하는 경우가 많으며 양품 배제율의 감소가 요구되고 있다.

또, 본 출원인은 라이트 컨트롤 필름을 이용하여 유리병의 주름 등의 결점을 검출하는 검사장치를 제안하고 있다(특허문헌 2). 이 검사장치에서는 내부 표면의 매우 얕은 홈의 박포를 검출하기가 어려웠다.

일본국 특개평7-11490호 공보 일본국 특개2013-134185호 공보

본 발명은 윤곽이 불명확한 박포 등의 결점의 유무를 검사할 수 있는 용기 검사장치 및 검사방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.

본 발명은 상술한 과제 중 적어도 일부를 해결하기 위해서 이루어진 것으로, 이하의 양태 또는 적용 예로서 실현할 수 있다.

[적용 예 1]

본 적용 예에 관한 용기 검사장치는, 용기에 대해 광을 조사하는 발광 면을 갖는 발광부와, 용기를 사이에 두고 상기 발광부와 대향하여 배치된 촬상부와, 상기 촬상부에서 촬상한 용기의 화상에 의거하여 결점의 유무를 판정하는 판정부와, 상기 발광부의 용기 측에 배치된 광 제한부를 포함하고, 상기 광 제한부는 상기 발광 면을 따라서 수평방향으로 연장하는 광 투과부 및 감광부(di㎜ing section)를 포함하며, 상기 광 투과부와 상기 감광부는 수직방향으로 교호로 배치되고, 상기 광 투과부는 상기 발광부로부터 출사된 광을 용기 측에 투과하며, 상기 감광부는 상기 수평방향으로 연장하는 블라인드를 상기 수직방향에 복수 구비하고, 상기 발광부로부터 출사된 광 중에서 상기 수직방향에 대해서 광의 입사각도를 제한하는 것을 특징으로 한다.

본 적용 예에 의하면, 광 투과부 및 감광부에 의한 용기 표면의 수직방향에서의 휘도 변화에 의해 윤곽이 불명확한 박포 등의 결점의 유무를 검사할 수 있다.

[적용 예 2]

본 적용 예에 관한 용기 검사장치에 있어서, 상기 감광부는 상기 발광부의 발광 면 상에 배치되고, 상기 발광 면에서부터의 높이가 0㎜~100㎜ 일 수 있다.

본 적용 예에 의하면 촬상되는 화상에서 이음매의 그림자를 억제하고, 또한 윤곽이 불명확한 박포 등의 결점의 그림자를 강조할 수 있다.

[적용 예 3]

본 적용 예에 관한 용기 검사장치에 있어서, 상기 광 투과부의 수직방향의 폭은 3㎜~6㎜ 일 수 있다.

본 적용 예에 의하면 윤곽이 불명확한 박포 등의 결점의 윤곽 그림자를 인식할 수 있다.

[적용 예 4]

본 적용 예에 관한 용기 검사장치에 있어서, 상기 감광부는 라이트 컨트롤 필름을 여러 장 겹쳐서 형성할 수 있다.

본 적용 예에 의하면 용기 표면의 수직방향에서의 광의 강약을 강조함으로써 윤곽이 불명확한 박포 등의 결점의 윤곽을 강조할 수 있다.

[적용 예 5]

본 적용 예에 관한 용기 검사장치에 있어서, 상기 광 제한부는 용기의 상기 수직방향의 소정 높이 위치보다 하방의 영역에 대응하는 위치에 배치되는 제 1 광 제한부이고, 상기 발광부의 용기 측이면서 상기 소정 높이 위치보다 상방의 영역에 대응하는 위치에 상기 발광부로부터 출사된 광의 투과량을 감소시키는 제 2 광 제한부를 더 포함하며, 상기 제 2 광 제한부는 상기 수평방향으로 소정 간격을 두고 배치할 수 있다.

본 적용 예에 의하면, 윤곽이 불명확한 박포 등의 결점이 발생하기 쉬운 용기의 하방의 영역과 그러한 결점이 발생하기 어려운 상방의 영역을 다른 광학계로 검사함으로써 두께 불균일 및 이음매의 영향을 배제하여 박포 등의 결점의 윤곽을 용이하게 나타낼 수 있게 할 수 있어서 화상처리의 부하를 억제할 수 있다.

[적용 예 6]

본 적용 예에 관한 용기 검사장치에 있어서, 상기 판정부는 촬상된 화상으로부터 적어도 1개의 검출체를 인식하고, 인식한 검출체가 포함되는 소정의 범위에 상기 수직방향으로 연장하는 수직검사영역과 상기 수평방향으로 연장하는 수평검사영역을 설정하고, 상기 수직검사영역 및 상기 수평검사영역 내에 2개 이상의 검출체가 포함되는 경우에 결점으로 판정할 수 있다.

본 적용 예에 의하면 윤곽이 복수로 분할하여 인식된 검출체도 결점으로 판정할 수 있다.

[적용 예 7]

본 적용 예에 관한 용기 검사장치에 있어서, 상기 판정부는 촬상된 화상으로부터 적어도 1개의 검출체를 인식하고, 인식한 검출체의 형상이 환 형상(環狀)으로 이어진 검출체 또는 호상(弧狀)의 검출체인 경우에 검출체에 관한 면적에 의거하여 결점으로 판정할 수 있다.

본 적용 예에 의하면 환 형상의 윤곽을 갖는 검출체 또는 활 모양의 윤곽을 갖는 검출체도 결점으로 판정할 수 있다.

[적용 예 8]

본 적용 예에 관한 용기 검사장치에 있어서, 상기 판정부는 촬상된 화상으로부터 적어도 1개의 검출체를 인식하고, 인식한 검출체가 포함되는 소정의 범위에 소정 임계치 이상의 밝기 부분이 포함되는 경우에 결점으로 판정할 수 있다.

본 적용 예에 의하면 윤곽이 밝은 곳과 어두운 곳을 포함하는 검출체라도 결점으로 판정할 수 있다.

[적용 예 9]

본 적용 예에 관한 용기 검사방법은, 발광부로부터 출사된 광과, 수평방향으로 연장하는 블라인드에 의해서 수직방향에 대해 상기 발광부로부터의 광의 입사각도를 제한하는 감광부를 통과한 광을 상기 수직방향으로 교호로 용기를 향해서 조사하고, 용기를 사이에 두고 상기 발광부와 대향하여 배치된 촬상부에서 용기의 화상을 촬상하며, 용기의 내부 표면에 있는 기포를 결점으로 판정하는 것을 특징으로 한다.

본 적용 예에 의하면 광 투과부 및 감광부에 의한 용기 표면의 수직방향에서의 휘도의 변화에 의해 윤곽이 불명확한 박포 등의 결점의 유무를 검사할 수 있다.

본 발명은 윤곽이 불명확한 박포 등의 결점의 유무를 검사할 수 있는 용기 검사장치 및 검사방법을 제공할 수 있다.

도 1은 용기 검사장치의 측면도이다.
도 2는 발광부, 제 1 광 제한부 및 제 2 광 제한부의 정면도이다.
도 3은 용기 및 그 화상을 나타내는 도면이다.
도 4는 박포의 확대 단면도이다.
도 5는 도 1의 A 부분의 확대도이다.
도 6은 촬상된 화상에서의 박포 윤곽의 양태를 설명하는 도면이다.
도 7은 판정부에서의 검사모드를 설명하는 도면이다.
도 8은 용기 검사방법의 플로차트이다.

이하, 본 발명의 호적한 실시형태에 대해서 도면을 이용하여 상세히 설명한다. 또한, 이하에 설명하는 실시형태는 청구범위에 기재된 본 발명의 내용을 부당하게 한정하는 것은 아니다. 또, 이하에서 설명되는 구성 모두가 본 발명의 필수 구성요건인 것은 아니다.

본 실시형태에 관한 용기 검사장치는, 용기에 대해 광을 조사하는 발광 면을 갖는 발광부와, 용기를 사이에 두고 상기 발광부와 대향하여 배치된 촬상부와, 상기 촬상부에서 촬상한 용기의 화상에 의거하여 결점의 유무를 판정하는 판정부와, 상기 발광부의 용기 측에 배치된 광 제한부를 포함하고, 상기 광 제한부는 상기 발광 면을 따라서 수평방향으로 연장하는 광 투과부 및 감광부를 포함하며, 상기 광 투과부와 상기 감광부는 수직방향으로 교호로 배치되고, 상기 광 투과부는 상기 발광부로부터 출사된 광을 용기 측에 투과하며, 상기 감광부는 상기 수평방향으로 연장하는 블라인드를 상기 수직방향에 복수 구비하고, 상기 발광부로부터 출사된 광 중에서 상기 수직방향에 대해 광의 입사각도를 제한하는 것을 특징으로 한다.

1. 용기 검사장치의 개요

도 1~도 3을 이용하여 용기(10) 검사장치(1)의 개요에 대해서 설명한다. 도 1은 용기(10) 검사장치(1)(이하 "검사장치(1)"이라 한다)의 측면도이고, 도 2는 발광부(20), 제 1 광 제한부(24) 및 제 2 광 제한부(26)의 정면도이며, 도 3은 용기 및 그 화상을 나타내는 도면이다.

도 1~도 3에 나타내는 것과 같이, 검사장치(1)는 용기(10)에 대해 광을 조사하는 발광 면(22)을 갖는 발광부(20)와, 용기(10)를 사이에 두고 발광부(20)와 대향하여 배치된 촬상부(40)와, 촬상부(40)에서 촬상한 용기(10)의 화상(80)(도 3)에 의거하여 결점의 유무를 판정하는 판정부(52)와, 발광부(20)의 용기(10) 측에 배치된 제 1 광 제한부(24)를 포함한다.

제 1 광 제한부(24)는 용기(10)의 수직방향(Y)의 소정 높이 위치(H1)(도 3)보다 하방의 영역(13a)에 대응하는 위치에 배치된다. 검사장치(1)는 제 2 광 제한부(26)를 더 포함할 수 있다. 제 2 광 제한부(26)는 발광부(20)의 용기(10) 측에서 소정 높이 위치(H1)보다 상방의 영역(13b)에 대응하는 위치에 배치된다. 윤곽이 불명확한 박포 등의 결점이 발생하기 쉬운 용기의 하방의 영역(13a)과 그러한 결점이 잘 발생하지 않는 상방의 영역(13b)을 다른 광학계(제 1 광 제한부(24)와 제 2 광 제한부(26))로 검사함으로써 두께 불균일 및 이음매의 영향을 없애서 박포 등의 결점의 윤곽이 나타나기 쉽게 할 수 있고, 화상 처리의 부하를 억제할 수 있다. 따라서 제어부(50)의 부하가 문제되지 않으면 제 1 광 제한부(24)를 용기(10) 전체에 대응시켜서 배치해도 좋다. 또한 결점에 대해서는 후술한다.

여기서, 도 1에 나타내는 것과 같이, 용기(10)는 정립상태, 즉 축선(12)이 수직방향(Y)에 따른 상태에서 검사를 받는다. 수직방향(Y)은 중력방향이고, 수평방향(X)은 수직방향(Y)에 직교하는 방향이다.

검사장치(1)는 용기(10)를 축선(12) 주위로 회전시키면서 지지하는 회전지지부(30)와 용기(10)의 측면에 접촉하면서 용기(10)를 회전시키는 사이드 롤러(32)를 포함한다. 도 1에서는 사이드 롤러(32)가 용기(10)와 촬상부(40)의 사이에 있는 것처럼 나타냈으나, 사이드 롤러(32)를 설명하기 위한 편의적인 것이며, 사이드 롤러(32)는 촬상부(40)에서의 용기(10)의 촬영 장해가 되지 않는 위치에 배치된다.

용기(10)는 유리병이고, 투명 또는 반투명이다. 반투명이란 용기(10)를 투과한 발광부(20)로부터의 광에 의해 용기(10)의 내부 표면(15)의 결점을 판정 가능한 정도의 투명도이다. 용기(10)는 예를 들어 횡단면 원형이다. 용기(10)의 횡단면 형상은 다각형이라도 좋다.

소정 높이 위치(H1)는 용기(10)의 종류나 성형의 상태 등에 따라서 다르다. 소정 높이 위치(H1)는 이른바 세틀 라인(settle line)으로 해도 좋다. 세틀 라인은 입구 부위 성형을 위한 세틀 블로(settle blow)에 의해 금형에 접촉한 부분과 접촉하고 있지 않은 부분과의 경계에 형성되는 두께가 변화하는 부분이다. 세틀 라인은 용기(10)의 수평방향(X)에 형성된다. 소정 높이 위치(H1)는 박포(18)가 발생하기 쉬운 용기(10)의 하방의 영역(13a)과 박포(18)가 발생하기 어려운 용기(10)의 상방의 영역(13b)과의 경계에 설정할 수 있다.

검사장치(1)는 용기(10)를 투과한 광을 이용하여 용기(10)의 몸통부(13)를 촬상부(40)로 촬영하여 촬영된 화상(80)(도 3)에서 주위보다 어두운 부분을 용기(10)에서의 검출체로서 검출하는 광 투과방식의 검사장치(1)이다.

2. 결점

도 3 및 도 4를 이용하여 검사장치(1)에 의해 검출하고자 하는 결점에 대해서 설명한다. 도 4는 박포(18)의 확대 단면도이다. 도 4에서는 광의 투과량을 화살표의 굵기로 표시하고 있다.

도 3에 나타내는 것과 같이, 용기(10)의 몸통부(13)를 촬상부(40)에서 촬영하면 화상(80)을 얻을 수 있다. 화상(80)에서는 예를 들어 이음매(16)와 박포(18)와 두께 불균일(19)을 검출체로서 확인할 수 있다. 이음매(16)는 결점은 아니며, 용기(10)를 성형하는 금형의 이음매의 단차가 수직방향(Y)을 따른 어두운 선으로서 화상(80)에 나타나는 것이다. 박포(18)는 용기(10)의 소정 높이 위치(H1)보다 하방의 위치에 드물게 발생하는 결점이다. 두께 불균일(19)은 결점은 아니며, 용기(10)의 몸통부(13)의 두께의 변화에 의해 나타나는 어두운 부분이다. 그 밖에 화상 자국(burn mark) 등의 결점도 있다.

박포(18)는 용기(10)의 소정 높이 위치(H1)보다 하방에서 용기(10)의 내부 표면(15)에 발생하는 경우가 있다. 박포(18)는 용기(10)의 성형공정에서의 패리슨(parison)의 온도차에 의한 신장 특성(elongation characteristics)의 차이에 의해 발생한다. 박포(18)는 아주 얕은 오목부(예를 들어 내부 표면(15)으로부터 100㎛ 이하의 깊이)를 갖는 중공의 기포이며, 대략 원형의 윤곽을 갖는다. 그러므로 화상(80)에서 박포(18)의 윤곽이 주위보다 약간 어둡게 나타나지만, 통상 이음매(16)나 두께 불균일(19)과 같은 정도의 휘도이므로 판별하기 어렵다. 검사장치(1)는 박포(18)를 이음매(16)나 두께 불균일(19) 등과 같이 결점이 아닌 부분을 판별할 수 있어야 한다.

그러나 종래의 특허문헌 1과 같이 필터를 이용하는 것만으로 박포(18)를 검출하려고 하면 이음매(16)를 결점으로 판정하여, 본래 양품인 용기(10)를 불량품으로 배제할 가능성이 있다. 특허문헌 2의 방법도 마찬가지다. 박포(18)와 주위 사이의 휘도의 변화가 작아서 박포(18)와 결점이 아닌 이음매(16) 등과의 휘도의 차이가 별로 없기 때문이다.

3. 발광부

도 1 및 도 2를 이용하여 발광부(20)에 대해서 설명한다.

도 1 및 도 2에 나타내는 것과 같이, 발광부(20)는 용기(10)를 비추는 광원이다. 발광부(20)는 용기(10) 측에 발광 면(22)을 가지며, 용기(10)를 촬상부(40)의 반대 측에서 비출 수 있는 면 광원이다. 발광부(20)는 검사장치(1)에 의해 검사할 것을 예정하고 있는 최대의 용기(10) 전체를 비출 수 있는 크기로 설정되어 있다.

도 2에 나타내는 것과 같이, 발광부(20)는 용기(10) 측의 발광 면(22)이 직사각형의 형상이며, 그 대략 전체 면이 발광한다. 발광부(20)는 용기(10) 및 촬상부(40)에 대해 정면으로 마주하며, 용기(10)를 투과한 광이 촬상부(40)에 도달하도록 배치된다.

발광부(20)의 광원으로는 예를 들어 LED나 유기 EL 등의 공지의 광원을 이용할 수 있다. 발광부(20)는 확산조명이며, LED를 이용하는 경우에는 광원의 앞면(발광 면(22))에 확산판을 이용해서 균일한 광을 용기(10)에 대해 조사할 수 있다. 확산판은 LED 등의 광원으로부터의 광을 확산시켜서 외부에 출사시키는 공지의 것을 이용할 수 있다. 확산판에 의해 광이 확산됨으로써 다수의 광원을 이용한 경우에 광원이 존재하지 않는 부분과의 불균일을 감소할 수 있다.

발광 면(22) 상에는 광 제한부가 설치된다.

4. 광 제한부

도 1, 도 2 및 도 5를 이용하여 광 제한부인 제 1 광 제한부(24) 및 제 2 광 제한부(26)에 대해서 설명한다. 도 2에서 점선으로 나타낸 용기(10)는 제 1 광 제한부(24) 및 제 2 광 제한부(26)의 위치관계를 설명하기 위한 것이다. 도 5는 도 1의 A 부분의 확대도이다.

4-1. 제 1 광 제한부

도 1, 도 2 및 도 5에 나타내는 것과 같이, 제 1 광 제한부(24)는 용기(10)의 수직방향의 소정 높이 위치(H1)(도 3)보다 하방의 영역(13a)에 대응하는 위치에 배치된다. 용기(10)의 하방에 발생하는 경향이 있는 박포(18)를 확실하게 검출하기 위해서이다. 제 1 광 제한부(24)는 발광 면(22)을 따라서 수평방향(X)으로 연장하는 광 투과부(244) 및 감광부(242)를 포함한다. 제 1 광 제한부(24)는 광 투과부(244)와 감광부(242)를 수직방향(Y)으로 교호로 배치한다. 제 1 광 제한부(24)에 의해 용기(10)를 향해서 발광 면(22)으로부터 수평방향(X)으로 확산하여 출사된 광을 투과하고, 수직방향(Y)으로 확산하여 출사된 광을 제한하기 위해서이다.

광 투과부(244)는 발광부(20)로부터 출사된 광을 투과한다. 광 투과부(244)는 슬릿이다. 광 투과부(244)에는 발광 면(22)의 광을 차단하는 것이 없다. 이음매(16)의 그림자를 없애기 위해 광 투광부(244)를 투과한 충분한 수평방향의 광으로 용기(10)를 비출 수 있다.

도 5에 나타내는 것과 같이, 감광부(242)는 수평방향(X)으로 연장하는 블라인드(243)를 수직방향(Y)에 복수 구비하며, 발광부(20)로부터 출사된 광 중 수직방향(Y)에 대해 광의 입사각도를 제한한다. 블라인드(243)는 감광부(242)의 수평방향(X)과 두께방향으로 연장하도록 형성된다. 발광 면(22)의 확산 광 중 블라인드(243)에 따른 광을 우선적으로 감광부(242)는 투과한다. 그러므로 발광 면(22)의 확산 광은 감광부(242)에 의해 집속되는 동시에, 특히 수직방향(Y)으로 확산하는 광의 투과를 제한한다. 블라인드(243)는 예를 들어 발광 면(22)에 대해서 직교하는 방향으로 연장한다. 따라서 감광부(242)는 발광 면(22)으로부터 출사한 수평방향(X)의 광을 우선적으로 투과한다.

이와 같이, 광 투과부(244) 및 감광부(242)에 의한 용기(10)의 내부 표면(15)의 수직방향(Y)에서의 휘도의 변화가 도 3의 화상(80)에 나타내는 것과 같이 완만한 휘도의 변화를 갖는 줄무늬 모양으로 나타난다. 그렇게 하여 이 수직방향(Y)에서의 휘도의 변화에 의해 윤곽이 불명확한 박포(18) 등의 결점이 화상(80)에서 확인할 수 있고, 검사장치(1)에서 결점의 유무를 판정할 수 있다.

또, 수직방향(Y)에 교호로 배치된 광 투과부(244) 및 감광부(242)에 의해 수평방향(X)으로 확산하는 광이 충분히 용기(10)에 도달하므로, 화상(80)에 수평방향의 단차에 의해 발생하는 어두운 이음매(16)가 잘 나타나지 않는다(휘도의 변화가 작아지게 된다). 두께 불균일(19)도 수평방향의 두께의 변화로서 나타나는 것은 화상(80)에 어두운 부분으로 잘 나타나지 않게 된다(휘도의 변화가 작아지게 된다).

감광부(242)는 발광부(20)의 발광 면(22) 상에 배치되고, 발광 면(22)으로부터의 높이가 0㎜~100㎜이다. 감광부(242)가 소정의 두께를 가짐으로써 촬상되는 화상(80)에서 이음매(16)의 그림자를 억제하고, 또한, 윤곽이 불명확한 박포(18) 등의 결점의 그림자를 강조할 수 있다. 감광부(242)의 발광 면(22)으로부터의 높이는 0㎜~100㎜일 수 있다.

감광부(242)는 라이트 컨트롤 필름을 복수 매 겹쳐서 형성된다. 용기(10)의 내부 표면(15)의 수직방향(Y)에서의 광의 강약을 강조함으로써 윤곽이 불명확한 박포(18) 등의 결점의 윤곽을 강조할 수 있다. 도 5에서는 두께 0.5㎜의 라이트 컨트롤 필름을 2장 두께방향으로 겹쳐서 접합하고 있는 예에 대해서 나타내고 있다. 라이트 컨트롤 필름은 시판되는 것을 사용할 수 있다. 예를 들어 3M사 제의 "LIGHT CON FILM 60DEG 12×11" 등을 채용할 수 있다.

투광부(244)의 수직방향(Y)의 폭은 3㎜~6㎜일 수 있다. 이 폭은 발명자 등이 다종 다양한 박포(18)의 샘플을 검사한 결과, 윤곽이 불명확한 박포(18) 등의 결점의 윤곽 그림자를 인식하기 위해 적당한 폭이었다.

후술하는 화상처리부(53)에서 영상(80)에서의 하방의 영역(13a)에 대응하는 부분을 수평방향(X)의 차분 처리와 수직방향(Y)의 차분 처리를 실행함으로써 감광부(242)와 투광부(244)에 의한 줄무늬 모양, 이음매(16) 및 두께 불균일(19)의 어두운 부분을 제거하여 박포(18)의 윤곽의 그림자를 남길 수 있다.

도 2에 나타내는 것과 같이, 제 1 광 제한부(24)는 라이트 컨트롤 필름을 2장 접합한 얇은 시트에 소정 간격을 두고 복수(도 2에서는 3개)의 슬릿을 형성함으로써 감광부(242)와 광 투과부(244)를 교호로 설치하고 있다. 제 1 광 제한부(24)는 그 폭방향(수평방향(X))의 양단에 수직방향(Y)으로 연장하는 장공(246)이 형성되고, 볼트(28)에 의해 발광부(20)에 고정된다. 제 1 광 제한부(24)는 장공(246)을 따라서 수직방향(Y)으로 이동 가능하며, 용기(10)의 높이에 맞추어 위치를 조절할 수 있다.

4-2. 제 2 광 제한부

도 2에 나타내는 것과 같이, 제 2 광 제한부(26)는 소정 높이 위치(H1)보다 상방의 영역(13b)에 대응하는 위치에 소정 간격을 두고 2개 배치된다. 하방의 영역(13a)과 같은 매우 얕은 박포(18)가 발생하지 않는 영역이기 때문이다. 제 2 광 제한부(26)는 발광부(20)로부터의 광을 투과시킬 수 있는 소정의 간격을 가지고 있으면 2개를 연결해도 좋고 일체로 형성해도 좋다.

2개의 제 2 광 제한부(26)는 발광부(20)로부터 출사된 광의 투과량을 감소시킨다. 2개의 제 2 광 제한부(26)는 수평방향(X)에서 소정 간격을 가지고 배치된다. 상방의 영역(13b)에 발생하는 내부 표면(15)의 기포는 극단적으로 얕은 박포(18)가 아니므로 제 2 광 제한부(26)의 구조로도 검출 가능하다. 수평방향(X)의 소정 간격은 몸통부(13)의 상방의 영역(13b)의 수평방향(X)의 폭보다 좁다. 후술하는 화상처리부(53)에서, 화상(80)에서의 상방의 영역(13b)에 대응하는 부분을 수직방향(Y)의 차분 처리를 실행함으로써 이음매(16)와 두께 불균일(19)의 어두운 부분을 제거할 수 있다.

제 2 광 제한부(26)는 차광판을 이용할 수 있다. 차광판으로는 얇은 금속판, 예를 들어 철판을 이용할 수 있다.

제 2 광 제한부(26)는 발광부(20)의 수평방향(X)의 단부에서 발광부(20)에 대해 볼트(28)로 고정된다. 제 2 광 제한부(26)는 상하로 2개의 장공(264)을 가지며, 볼트(28)를 느슨하게 함으로써 수직방향(Y)으로 이동 가능하고, 용기(10)의 높이에 맞추어 위치를 조절할 수 있다.

5. 회전 지지부

도 1에 나타내는 것과 같이, 회전 지지부(30) 및 사이드 롤러(32)는 용기(10)를 축선(12) 주위로 회전시킨다. 회전 지지부(30)는 용기(10)의 바닥 면 부위(14)를 지지한다. 축선(12)은 용기(10)가 회전하는 회전 중심축이 되는 가상 선이다.

회전 지지부(30)는 용기(10)를 지지한 상태로, 도 1 및 도 2에 나타내는 검사를 하는 소정 위치로 용기(10)를 반송하기 위한 부재라도 좋다. 그 경우, 회전 지지부(30)에 의해 용기(10)를 검사하는 소정 위치에 순차 간헐적으로 반송되며, 소정 위치에 배치된 곳에서 축선(12)을 중심으로 용기(10)를 회전시킨다.

회전 지지부(30)는 회전 제어부(62)의 지령에 의해 모터(60)의 구동력을 벨트(35) 등을 통해서 회전 지지부(30) 및 사이드 롤러(32)로 전달해서 회전한다. 회전 지지부(30)는 용기(10)가 검사위치까지 반송되면 소정 속도로 소정 양의 회전을 실행한다. 소정 양의 회전은 용기(10)의 전체 둘레가 촬상되기에 충분한 양이다. 소정 양의 회전은 1개의 화상 데이터로 검출체 전체를 파악할 수 있도록 1.2 회전 이상으로 설정된다. 회전 지지부(30)의 회전량은 회전 검출부(54)의 출력에 의해 제어부(50)에서 연산된다. 회전 검출부(54)는 모터(60)에 직접 또는 간접적으로 설치된 로터리 인코더일 수 있다.

6. 촬상부

도 1에 나타내는 것과 같이, 촬상부(40)는 용기(10)를 사이에 두고 발광부(20)와 대향하여 배치된다. 촬상부(40)는 축선(12) 상의 용기(10)의 표면을 촬영하도록 배치된다. 촬상부(40)는 용기(10) 중 적어도 검사 대상 부분을 촬영할 수 있으며, 여기에서는 용기(10)의 몸통부(13)의 수직방향(Y) 전체가 촬상부(40)의 시야 내에 들어가도록 배치된다.

촬상부(40)는 용기(10)를 투과한 발광부(20)의 광에 의해 검출체(박포(18)를 포함)를 포함하는 화상을 촬영할 수 있다. 촬상부(40)는 예를 들어 공지의 라인 센서 카메라를 이용할 수 있다. 촬상부(40)는 회전 검출부(54)의 출력에 의해 회전 지지부(30)의 회전 속도에 맞추어 촬영함으로써 회전 속도가 어떤 원인에 의해 변화하더라도 화상(80)에 영향이 없다.

촬상부(40)는 몸통부(13)의 전체 둘레를 촬영하고, 그 데이터를 제어부(50)의 화상처리부(53)에 보내서 화상(80)에 소정의 처리를 실행한다. 도 3에 나타내는 것과 같이, 화상 처리 전의 화상(80)에는 몸통부(13)의 하방의 영역(13a)에 대응하는 부분에 수평방향(X)으로 연장하는 줄무늬 모양이 나타난다. 도 1 및 도 2에 나타내는 제 1 광 제한부(24)의 감광부(242) 및 광 투과부(244)의 영향이다.

화상(80)에서의 하방의 영역(13a)에 대응하는 부분은 제 1 광 제한부(24)에 의해 수평방향(X)으로 확산하는 광을 몸통부(13)에 많이 조사하고, 수직방향(Y)으로 확산하는 광이 몸통부(13)의 하방의 영역(13a)에 조사되는 것을 제한하고 있으므로 이음매(16)의 그림자는 화상(80)에는 거의 나타나지 않는다. 제 1 광 제한부(24)와 같은 구조를 갖지 않는 제 2 광 제한부(26)에 대응하는 상방의 영역(13b)에서의 이음매(16) 및 두께 불균일(19)은 화상(80)에 나타난다.

화상처리부(53)는 화상(80)에 대해서 제 1 광 제한부(24)에 의한 줄무늬 모양을 없애도록 수직방향(Y)의 공지의 계조 변환처리를 실행하고, 상방의 영역(13b)의 이음매(16)와 두께 불균일(19)의 그림자를 없애도록 수평방향(X)의 공지된 계조 변환처리를 실행할 수 있다. 계조 변환처리로는 예를 들어 쉐이딩 보정처리, 기준 화상과의 차분에 의거하여 계조 변환을 실행하는 처리, 동적 임계치법(dynamic threshold method, 동적 이치화 처리) 등을 채용할 수 있다. 계조 변환처리로 예를 들어 키엔스사(Keyence Corporation)의 실시간 농담 보정(real-time shading correction, 濃淡補正)을 채용할 수 있다. 실시간 농담 보정은 검사 대상인 용기(10)의 조명상태 등에 의해 발생할 수 있는 화상 데이터의 배경 명도변화를 보정하는 것을 말한다. 예를 들어 화상(80)에서의 바닥 면 부위(14)에 해당하는 부분이 몸통부(13)에 비해서 어두운 명도의 얼룩이 발생하고 있는 경우 실시간 농담 보정에 의해 전체가 평균적으로 균일한 밝기가 되도록 보정한다.

따라서 박포(18)와 이음매(16)나 두께 불균일(19)을 정확히 구별하면서도 박포(18)의 유무를 더 정확하게 검출할 수 있다.

7. 판정부

도 1에 나타내는 것과 같이 판정부(52)는 제어부(50)의 일부이다. 그러므로 판정부(52)의 판정결과에 따라서 제어부(50)가 검사가 완료된 용기(10)의 후처리를 지시한다. 판정부(52)는 제어부(50)와는 별도로 마련되어도 좋다. 그 경우에는 판정부(52)의 판정결과를 제어부(50)에 통지한다.

도 6과 도 7을 이용하여 판정부(52)에 대해서 더 상세히 설명한다. 도 6은 촬상된 화상에서의 박포(18)의 윤곽(18a~18d)의 양태를 설명하는 도면이고, 도 7은 판정부(52)에서의 검사 모드를 설명하는 도면이다. 도 6과 도 7은 도 3의 화상(80)을 화상처리부(53)에서 수직방향(Y)과 수평방향(X)의 차분 처리를 실행한 후의 박포(18)의 윤곽(18a~18d)이다.

다수의 용기(10)를 검사한 결과 4종류의 윤곽(18a~18d)이 있음이 확인되었다. 도 6은 환 형상의 윤곽(Annular contour, 18a)과 분할된 윤곽(18b)과 호 형상(arc-like)의 윤곽(18c)과 밝은 부분(18d)을 모식적으로 나타내고 있다. 판정부(52)는 4종류의 윤곽(18a~18d)을 결점(박포(18))으로 인식하기 위한 검사방법을 갖는다.

판정부(52)는 화상 처리 후의 화상 데이터에 의거하여, 예를 들어 밝기의 농담에 의해 주위보다 어두운 부분을 검출체로 인식하고, 검출체 각각에 대해 이하의 판정처리를 모두 실시한다. 그리고 판정부(52)가 결점이 있는 것으로 판정한 용기(10)는 불량품으로 판정되며, 제어부(50)가 그 용기(10)를 배출라인으로 안내한다.

7-1. 환 형상의 윤곽

도 6의 좌측 상단에 있는 환 형상의 윤곽(18a)은 인식한 검출체의 형상이 환 형상으로 연결된 검출체이다. 도 7에 나타내는 것과 같이, 판정부(52)는 촬상된 화상(80)(도 3)으로부터 적어도 1개의 검출체를 인식하고, 인식한 검출체의 형상이 환 형상으로 연결된 검출체인 경우에 검출체에 관한 면적에 의거하여 결점으로 판정할 수 있다. 이렇게 판정함으로써 환 형상의 윤곽(18a)을 갖는 검출체를 결점으로 판정하여, 결점을 갖는 용기(10)를 불량품으로 판정할 수 있다.

검출체가 환 형상의 윤곽(18a)을 갖는 경우에는 환 형상의 윤곽(18a)이 모두 포함되는 검사영역(81)을 설정하고, 검사영역(81)의 내측에 있는 환 형상의 윤곽(18a) 면적과 환 형상의 윤곽(18a)으로 둘러싸인 범위의 면적을 합산한 면적이 소정 임계치 이상인 때에는 이 환 형상의 윤곽(18a)을 결점으로 판정하고, 그 용기(10)를 불량품으로 판정한다. 환 형상의 윤곽(18a)의 면적만으로 결점(박포)인지 여부를 판정하면 화상 처리를 하더라도 남아 있는 두께 불균일(19) 등에 의거한 작은 면적의 검출체까지 결점으로 판정하는 경우가 있으므로 이를 방지하기 위해서이다.

7-2. 분할된 윤곽

도 6의 중간 단에 있는 2종류의 분할된 윤곽(18b)은 인식한 검출체의 형상이 복수로 분할되어 인식된 검출체이다. 좌측의 분할된 윤곽(18b)은 2개로 분할되어 있으며, 우측의 분할된 윤곽(18b)은 4개로 분할되어 있다. 이와 같이 분할되어 있으면 환 형상의 윤곽(18a)으로 인식할 수 없으므로 상기 7-1과는 다른 처리가 필요하다.

도 7에 나타내는 것과 같이, 판정부(52)는 촬상된 화상(80)(도 3)으로부터 적어도 1개의 검출체(분할된 윤곽(18b))를 인식하고, 인식한 검출체가 포함되는 소정의 범위에 수직방향(Y)으로 연장하는 수직검사영역(82)과 수평방향(X)으로 연장하는 수평검사영역(84)을 설정하여, 수직검사영역(82) 및 수평검사영역(84) 내에 2개 이상의 검출체(분할된 윤곽(18b))가 포함되는 경우에 결점으로 판정할 수 있다. 윤곽이 복수로 분할하여 인식된 검출체도 결점으로 판정할 수 있다.

수직검사영역(82)은 예를 들어 수평방향(X)의 폭이 1개의 분할된 윤곽(18b)의 수평방향(X)의 폭에 맞춰서 설정되고, 수직방향(Y)의 높이는 분할된 윤곽(18b)이 3개 배열된 높이에 맞춰서 설정된다.

수평검사영역(84)은 수직방향(Y)의 높이가 1개의 분할된 윤곽(18b)에 맞춰서 설정되고, 수평방향(X)의 폭은 분할된 윤곽(18b)이 3개 늘어선 폭에 맞춰서 설정된다.

7-3. 호 형상의 윤곽

도 6의 하단 좌측에 있는 호 형상의 윤곽(18c)은 인식한 검출체의 형상이 호 형상인 검출체이다. 이와 같은 호 형상의 윤곽(18c)은 상기 7-1 및 상기 7-2와는 다른 처리가 필요하다.

도 7에 나타내는 것과 같이, 판정부(52)는 촬상된 화상(80)(도 3)으로부터 적어도 1개의 검출체를 인식하고, 인식한 검출체의 형상이 호 형상의 검출체인 경우에는 검출체(호 형상의 윤곽(18c))에 관한 면적에 의거하여 결점으로 판정할 수 있다. 이와 같이 판정함으로써 호 형상의 윤곽(18c)을 갖는 검출체를 결점으로 판정하여, 결점을 갖는 용기(10)를 불량품으로 판정할 수 있다.

검출체가 호 형상의 윤곽(18c)을 갖는 경우에는 호 형상의 윤곽(18c)에 외접하는 외접 검사영역(85)을 설정하고, 외접 검사영역(85)의 면적에 대한 호 형상의 윤곽(18c) 면적의 면적률이 소정 임계치 이상인 때는 이 호 형상의 윤곽(18c)을 결점으로 판정하여, 용기(10)를 불량품으로 판정한다. 호 형상의 윤곽(18c) 면적만으로 결점(박포)인가 여부를 판정하면 화상 처리를 하더라도 남은 두께 불균일(19) 등에 의거하는 작은 면적의 검출체까지 결점으로 판정하는 경우가 있으므로 이를 방지하기 위해서이다.

7-4. 밝은 부분

도 6의 하단 우측에 있는 밝은 부분(18d)은 검출체(예를 들어 환 형상의 윤곽(18a)) 근처에 소정 임계치 이상의 휘도를 갖는 부분이다.

도 7에 나타내는 것과 같이, 판정부(52)는 촬상된 화상(80)(도 3)으로부터 적어도 1개의 검출체(예를 들어 환 형상의 윤곽(18a))를 인식하고, 인식한 검출체가 포함되는 소정의 범위에 소정 임계치 이상의 밝기를 갖는 부분(밝은 부분(18d))이 포함되는 경우에 용기(10)를 결점으로 판정할 수 있다. 윤곽이 밝은 곳과 어두운 곳을 포함하는 검출체라도 결점으로 판정할 수 있다. 오염 등은 어두운 부분밖에 없으나, 박포(18)와 같은 형상의 경우 밝은 부분(18d)을 갖는 경우가 있으므로 박포(18)의 윤곽이 작아도 박포(18)로 인식할 수 있기 때문이다.

검출체의 종류는 분할된 윤곽(18b)이라도 좋고 호 형상의 윤곽(18c)이라도 좋다.

8. 검사방법

본 실시형태에 관한 용기(10)의 검사방법은 발광부(20)로부터 출사한 광과 수평방향(X)으로 연장하는 블라인드(243)에 의해 수직방향(Y)에 대해 발광부(20)로부터의 광의 입사각도를 제한하는 감광부(242)를 통과한 광을 수직방향(Y)에서 교호로 용기(10)를 향해서 조사하고, 용기(10)를 사이에 두고 발광부(20)와 대향해서 배치된 촬상부(40)로 용기(10)의 화상(80)을 촬상하여, 용기(10)의 내부 표면(15)에 있는 기포를 결점으로 판정하는 것을 특징으로 한다.

용기(10)의 검사방법에 의하면 광 투과부 및 감광부에 의한 용기 표면의 수직방향에서의 휘도 변화에 의해 윤곽이 불명확한 박포(18) 등의 검출체의 유무를 검사할 수 있다.

도 1~도 8을 이용하여 검사장치(1)를 채용한 검사방법에 대해서 설명한다. 도 8은 용기(10) 검사방법의 플로차트이다.

S10 : 제어부(50)는 회전 제어부(62)에 지령을 보내서 모터(60)를 구동하여 회전 지지부(30) 및 사이드 롤러(32)를 소정 속도로 회전시킨다. 회전 지지부(30) 및 사이드 롤러(32)의 회전에 의해 검사위치에 반송된 용기(10)가 축선(12)을 중심으로 회전을 개시한다.

S20 : 제어부(50)는 촬상부(40)에 촬상 개시를 지령한다. 촬상부(40)는 제어부(50)의 지령에 따라서, 회전 검출부(54)로부터의 출력에 의거하여 용기(10)의 회전 각도를 연산해서 몸통(13)의 전체 둘레를 촬영한다.

S30 : 제어부(50)는 화상처리부(53)에 대하여 화상(80)을 도시하지 않은 기억부에 기억하는 것을 지령한다. 화상처리부(53)는 적어도 용기(10)의 외주 한 바퀴(예를 들어 1.5 바퀴)의 화상(80)을 기억한다.

S40 : 제어부(50)는 판정부(52)에 기억된 화상(80)에서의 검출체의 유무를 판정한다. 판정 결과, 화상(80)에 검출체가 없는 경우에는 판정부(52)의 처리는 종료하고, 양품으로서 용기(10)를 다음 공정으로 반송시킨다. 또, 판독 결과, 화상(80)에 검출체가 있는 경우에는 이하의 4개의 검사 알고리즘을 실행한다.

S50(제 1 검사 알고리즘) : 판정부(52)는 촬상된 화상(80)으로부터 적어도 1개의 검출체를 인식하고, 인식한 검출체의 형상이 환 형상으로 연결된 검출체(환 형상의 윤곽(18a))인 경우에, 검출체에 관한 면적에 의거하여 검출체를 결점으로 판정한다. 검사의 상세는 상기 7-1에서 설명하였으므로 생략한다.

S60(제 2 검사 알고리즘) : 판정부(52)는 촬상된 화상(80)으로부터 적어도 1개의 검출체(분할된 윤곽(18b))를 인식하고, 인식한 검출체가 포함되는 소정의 범위에 수직방향(Y)으로 연장하는 수직검사영역(82)과 수평방향(X)으로 연장하는 수평검사영역(84)을 설정하여, 수직검사영역(82) 및 수평검사영역(84) 내에 2개 이상의 검출체(분할된 윤곽(18b))가 포함되는 경우에 검출체를 결점으로 판정한다. 검사의 상세는 상기 7-2에서 설명하였으므로 생략한다.

S70(제 3 검사 알고리즘) : 판정부(52)는 촬상된 화상(80)(도 3)으로부터 적어도 1개의 검출체를 인식하고, 인식한 검출체의 형상이 호 형상의 검출체인 경우에, 검출체(호 형상의 윤곽(18c)에 관한 면적에 의거하여 검출체를 결점으로 판정한다. 검사의 상세는 상기 7-3에서 설명했으므로 생략한다.

S80(제 4 검사 알고리즘) : 판정부(52)는 촬상된 화상(80)으로부터 적어도 1개의 검출체(예를 들어 환 형상의 윤곽(18a))를 인식하고, 인식한 검출체가 포함되는 소정의 범위에 소정 임계치 이상의 밝기를 갖는 부분(밝은 부분(18d))이 포함되는 경우에 검출체를 결점으로 판정한다. 검사의 상세는 상기 7-4에서 설명했으므로 생략한다.

S90 : 판정부(52)가 제 1 검사 알고리즘~제 4 검사 알고리즘 중 어느 하나에서 검출체를 결점으로 판정한 경우에는 배출 처리(S100)가 실행되고, 검출체를 결점이 아니라고 판정한 경우에는 판정부(52)의 처리를 종료시키고 제어부(50)가 다음 공정에 용기(10)를 반송한다.

S100 : 제어부(50)는 판정부(52)가 결점이 있다고 판정한 불량품 용기(10)는 다음 공정으로 향하는 반송로와는 다른 도시하지 않는 배출부로부터 배출된다.

본 발명은 상술한 실시형태에 한정되는 것이 아니며, 추가로 여러가지 변형이 가능하다. 예를 들어 본 발명은 실시형태에서 설명한 구성과 실질적으로 동일한 구성(예를 들어, 기능, 방법 및 결과가 동일한 구성, 혹은 목적 및 효과가 동일한 구성)을 포함한다. 또, 본 발명은 실시형태에서 설명한 구성의 본질적이지 않은 부분을 대체한 구성을 포함한다. 또한, 본 발명은 실시형태에서 설명한 구성과 동일한 작용효과를 나타내는 구성 또는 동일한 목적을 달성할 수 있는 구성을 포함한다. 또, 본 발명은 실시형태에서 설명한 구성에 공지기술을 부가한 구성을 포함한다.

1 … 검사장치
10 … 용기
11 … 입구 부위
12 … 축선
13 … 몸통부
13a … 하방의 영역
13b … 상방의 영역
14 … 바닥 면 부위
15 … 내부 표면
16 … 이음매
18 … 박포
18a … 환 형상의 윤곽
18b … 분할된 윤곽
18c … 호 형상의 윤곽
18d … 밝은 부분
19 … 두께 불균일
20 … 발광부
22 … 발광 면
24 … 제 1 광 제한부
242 … 감광부
243 … 블라인드
244 … 광 투과부
246 … 장공
26 … 제 2 광 제한부
264 … 장공
28 … 볼트
30 … 회전 지지부
32 … 사이드 로울러
35 … 벨트
40 … 촬상부
50 … 제어부
52 … 판정부
53 … 화상처리부
54 … 회전 검출부
60 … 모터
62 … 회전 제어부
80 … 화상
81 … 검사영역
82 … 수직검사영역
84 … 수평검사영역
85 … 외접검사영역
H1 … 소정 높이 위치
H2 … 높이
W … 폭

Claims (9)

1. 용기에 대해 광을 조사하는 발광 면을 갖는 발광부와,
   용기를 사이에 두고 상기 발광부와 대향하여 배치된 촬상부와,
   상기 촬상부에서 촬상한 용기의 화상에 의거하여 결점의 유무를 판정하는 판정부와,
   상기 발광부의 용기 측에 배치된 광 제한부를 포함하고,
   상기 광 제한부는 상기 발광 면을 따라서 수평방향으로 연장하는 광 투과부 및 감광부(di㎜ing section)를 포함하며,
   상기 광 투과부와 상기 감광부는 수직방향으로 교호로 배치되고,
   상기 광 투과부는 상기 발광부로부터 출사된 광을 용기 측에 투과하며,
   상기 감광부는 상기 수평방향으로 연장하는 블라인드를 상기 수직방향에 복수 구비하고, 상기 발광부로부터 출사된 광 중 상기 수직방향에 대해서 광의 입사각도를 제한하는 것을 특징으로 하는 용기 검사장치.
2. 제 1 항에 있어서,
   상기 감광부는 상기 발광부의 발광 면 상에 배치되고, 상기 발광 면에서부터의 높이가 0㎜~100㎜인 것을 특징으로 하는 용기 검사장치.
3. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
   상기 광 투과부의 상기 수직방향의 폭은 3㎜~6㎜인 것을 특징으로 하는 용기 검사장치.
4. 제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서,
   상기 감광부는 라이트 컨트롤 필름을 복수 매 겹쳐서 형성되는 것을 특징으로 하는 용기 검사장치.
5. 제 1 항 내지 제 4 항 중 어느 한 항에 있어서,
   상기 광 제한부는 용기의 상기 수직방향의 소정 높이 위치보다 하방의 영역에 대응하는 위치에 배치되는 제 1 광 제한부이고,
   상기 발광부의 용기 측이면서 상기 소정 높이 위치보다 상방의 영역에 대응하는 위치에 상기 발광부로부터 출사된 광의 투과량을 감소시키는 제 2 광 제한부를 더 포함하며,
   2개의 상기 제 2 광 제한부는 상기 수평방향으로 소정 간격을 가지고 배치되는 것을 특징으로 하는 용기 검사장치.
6. 제 1 항 내지 제 5 항 중 어느 한 항에 있어서,
   상기 판정부는 촬상된 화상으로부터 적어도 1개의 검출체를 인식하고, 인식한 검출체가 포함되는 소정의 범위에 상기 수직방향으로 연장하는 수직검사영역과 상기 수평방향으로 연장하는 수평검사영역을 설정하며, 상기 수직검사영역 및 상기 수평검사영역 내에 2개 이상의 검출체가 포함되는 경우에 결점으로 판정하는 것을 특징으로 하는 용기 검사장치.
7. 제 1 항 내지 제 6 항 중 어느 한 항에 있어서,
   상기 판정부는 촬상된 화상으로부터 적어도 1개의 검출체를 인식하고, 인식한 검출체의 형상이 환 형상으로 연결된 검출체 또는 호 형상의 검출체인 경우에 검출체에 관한 면적에 의거하여 결점으로 판정하는 것을 특징으로 하는 용기 검사장치.
8. 제 1 항 내지 제 7 항 중 어느 한 항에 있어서,
   상기 판정부는 촬상된 화상으로부터 적어도 1개의 검출체를 인식하고, 인식한 검출체가 포함되는 소정의 범위에 소정 임계치 이상의 밝기를 갖는 부분이 포함되는 경우에 결점으로 판정하는 것을 특징으로 하는 용기 검사장치.
9. 발광부로부터 출사된 광과 수평방향으로 연장하는 블라인드에 의해 수직방향에 대해 상기 발광부로부터의 광의 입사각도를 제한하는 감광부를 통과한 광을 상기 수직방향에서 교호로 용기를 향하여 조사하고,
   용기를 사이에 두고 상기 발광부와 대향하여 배치된 촬상부에서 용기의 화상을 촬상하여,
   용기의 내부 표면에 있는 기포를 결점으로 판정하는 것을 특징으로 하는 용기 검사방법.
   

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