KR20180131425A - Semiconductor manufacturing apparatus and method for manufacturing semiconductor device - Google Patents

Semiconductor manufacturing apparatus and method for manufacturing semiconductor device Download PDF

Info

Publication number
KR20180131425A
KR20180131425A KR1020180060161A KR20180060161A KR20180131425A KR 20180131425 A KR20180131425 A KR 20180131425A KR 1020180060161 A KR1020180060161 A KR 1020180060161A KR 20180060161 A KR20180060161 A KR 20180060161A KR 20180131425 A KR20180131425 A KR 20180131425A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
collet
die
head
opening
closing arm
Prior art date
Application number
KR1020180060161A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR102112776B1 (en
Inventor
히로시 마끼
Original Assignee
파스포드 테크놀로지 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 파스포드 테크놀로지 주식회사 filed Critical 파스포드 테크놀로지 주식회사
Publication of KR20180131425A publication Critical patent/KR20180131425A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR102112776B1 publication Critical patent/KR102112776B1/en

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67092Apparatus for mechanical treatment
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/50Assembly of semiconductor devices using processes or apparatus not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326, e.g. sealing of a cap to a base of a container
    • H01L21/52Mounting semiconductor bodies in containers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67132Apparatus for placing on an insulating substrate, e.g. tape
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67144Apparatus for mounting on conductive members, e.g. leadframes or conductors on insulating substrates
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67242Apparatus for monitoring, sorting or marking
    • H01L21/67259Position monitoring, e.g. misposition detection or presence detection
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/677Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
    • H01L21/67703Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations between different workstations
    • H01L21/67712Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations between different workstations the substrate being handled substantially vertically
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/677Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
    • H01L21/67739Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations into and out of processing chamber
    • H01L21/67742Mechanical parts of transfer devices
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/683Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
    • H01L21/6835Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using temporarily an auxiliary support
    • H01L21/6836Wafer tapes, e.g. grinding or dicing support tapes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/683Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
    • H01L21/687Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Robotics (AREA)
  • Die Bonding (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
  • Wire Bonding (AREA)

Abstract

An object of the present invention is to provide a semiconductor manufacturing apparatus provided with a collet exchange unit capable of performing attachment and removal of collets having a plurality of outer sizes. The semiconductor manufacturing apparatus includes a collet holder holding and supporting a collet with a magnet, a head provided with the collet holder at a tip and adsorbing and picking up a die to the collet, the collet exchange unit exchanging the collet, and a control device controlling the head and the collet exchange unit. The collet exchange unit is provided with a collet clamp unit having an opening and closing arm having a hook structure and an opening and closing arm control device controlling the opening and closing arm. The collet holder is provided with a relief unit of a hook of the opening and closing arm. The control device lifts and lowers the head by opening and closing the opening and closing arm. As a result, the collet is attached to the collet holder and the collet is removed from the collet holder.

Description

반도체 제조 장치 및 반도체 장치의 제조 방법{SEMICONDUCTOR MANUFACTURING APPARATUS AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE}BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention [0001] The present invention relates to a semiconductor manufacturing apparatus and a manufacturing method of a semiconductor device,

본 개시는 반도체 제조 장치에 관한 것으로, 예를 들어 콜릿 홀더에 자석을 내장한 다이 본더에 적용 가능하다.The present disclosure relates to a semiconductor manufacturing apparatus, and is applicable, for example, to a die bonder in which a magnet is embedded in a collet holder.

반도체 장치의 제조 공정 일부에 반도체 칩(이하, 단순히 '다이'라고 함)을 배선 기판이나 리드 프레임 등(이하, 단순히 '기판'이라고 함)에 탑재하여 패키지를 조립하는 공정의 일부에, 반도체 웨이퍼(이하, 단순히 '웨이퍼'라고 함)로부터 다이를 분할하는 공정과, 분할한 다이를 기판 위에 탑재하는 본딩 공정이 있다. 본딩 공정에 사용되는 반도체 제조 장치가 다이 본더 등의 다이 본딩 장치이다.In a part of a step of mounting a semiconductor chip (hereinafter, simply referred to as a "die") on a wiring board or a lead frame (hereinafter simply referred to as a "substrate") and assembling the package in a part of the manufacturing process of the semiconductor device, (Hereinafter, simply referred to as a " wafer ") and a bonding step of mounting the divided die on the substrate. The semiconductor manufacturing apparatus used in the bonding process is a die bonding apparatus such as a die bonder.

본딩 공정은, 웨이퍼로부터 분할된 다이를 다이싱 테이프로부터 1개씩 박리하고, 콜릿이라 불리는 흡착 지그를 사용하여 기판 위에 본딩한다.In the bonding step, the dies divided from the wafer are peeled one by one from the dicing tape, and bonded onto the substrate using a suction jig called a collet.

이와 같은 다이 본더에서는, 품종(다이 사이즈)에 따라서 콜릿을 교환하거나, 혹은 다이의 표면 흠집이나 오염을 방지하기 위해서, 다이의 표면에 접촉하는 콜릿의 교환 빈도를 높일 필요가 있다(예를 들어, 일본 특허공개 제2014-56978호 공보(특허문헌 1)).In such a die bonder, it is necessary to increase the frequency of replacement of the collet in contact with the surface of the die in order to replace the collet in accordance with the type (die size) or to prevent surface flaw or contamination of the die (for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 2014-56978 (Patent Document 1)).

일본 특허공개 제2014-56978호 공보Japanese Patent Application Laid-Open No. 2014-56978

특허문헌 1에서는 콜릿 사이즈에 맞춰 구성된 콜릿 교환부의 갈고리를 이용하여 콜릿 홀더를 회전하여 자석 고정식 콜릿의 제거 및 부착이 행해진다. 그러나, 자석 고정식 콜릿에는 복수의 외형 사이즈가 있어, 동일한 구조로 제거 및 부착을 행할 수 없다.In the patent document 1, the collet holder is rotated using the claws of the collet exchanging part adapted to the collet size, and the magnet fixing collet is removed and attached. However, the magnet fixed collet has a plurality of external sizes and can not be removed and attached with the same structure.

본 개시의 과제는, 복수의 외형 사이즈의 콜릿의 부착 및 제거가 가능한 콜릿 교환부를 구비하는 반도체 제조 장치를 제공하는 것이다.SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a semiconductor manufacturing apparatus provided with a collet exchanging section capable of attaching and removing collets of a plurality of external sizes.

그 밖의 과제와 신규 특징은, 본 명세서의 기술 및 첨부 도면으로부터 밝혀질 것이다.Other tasks and novel features will be apparent from the description of the present specification and the accompanying drawings.

본 개시 중 대표적인 것의 개요를 간단히 설명하면 하기와 같다.An outline of representative examples of the present disclosure will be briefly described below.

즉, 반도체 제조 장치는, 자석으로 콜릿을 보유 지지하는 콜릿 홀더와, 선단에 해당 콜릿 홀더를 구비하고, 상기 콜릿으로 다이를 흡착하여 픽업하는 헤드와, 상기 콜릿을 교환하는 콜릿 교환부와, 상기 헤드 및 상기 콜릿 교환부를 제어하는 제어 장치를 구비한다. 상기 콜릿 교환부는, 갈고리 구조를 갖는 개폐 아암과 상기 개폐 아암을 제어하는 개폐 아암 제어 장치를 갖는 콜릿 클램프부를 구비한다. 상기 콜릿 홀더는 상기 개폐 아암의 갈고리의 릴리프부를 구비한다. 상기 제어 장치는, 상기 개폐 아암을 개폐시켜 상기 헤드를 상하시킴으로써, 상기 콜릿의 상기 콜릿 홀더에의 부착, 및 상기 콜릿의 상기 콜릿 홀더로부터의 제거를 행한다.That is, the semiconductor manufacturing apparatus includes a collet holder for holding a collet with a magnet, a collet holder having a collet holder at a tip thereof, a pickup for picking up a die by the collet, a collet exchanging unit for exchanging the collet, And a controller for controlling the head and the collet exchange unit. The collet exchanging section includes a collet clamping section having an opening / closing arm having a hook structure and an opening / closing arm control device for controlling the opening / closing arm. The collet holder has a relief portion of a claw of the opening / closing arm. The control device causes the collet to be attached to the collet holder and to remove the collet from the collet holder by opening and closing the opening and closing arm to move the collet up and down.

상기 반도체 제조 장치에 의하면, 복수의 외형 사이즈의 콜릿의 부착 및 제거를 할 수 있다.According to the above semiconductor manufacturing apparatus, it is possible to attach and remove a plurality of external size collets.

도 1은, 다이 본더의 구성예를 설명하는 도면.
도 2는, 도 1의 다이 본더의 구성을 설명하는 도면.
도 3은, 도 1의 다이 공급부의 구성을 설명하는 도면.
도 4는, 도 3의 다이 공급부의 주요부를 설명하는 도면.
도 5는, 도 1의 다이 본더에서 사용하는 콜릿 홀더의 구조를 설명하는 도면.
도 6은, 도 5의 콜릿 홀더의 구조를 설명하는 도면.
도 7은, 도 1의 다이 본더에 구비하는 콜릿 교환부의 구조를 설명하는 도면.
도 8은, 도 7의 콜릿 교환부의 구조를 설명하는 도면.
도 9는, 도 1의 다이 본더에 있어서의 콜릿 교환 방법을 설명하는 도면.
도 10은, 도 1의 다이 본더에 있어서의 콜릿 교환 방법을 설명하는 도면.
도 11은, 도 1의 다이 본더에 있어서의 콜릿 교환 방법을 설명하는 도면.
도 12는, 도 1의 다이 본더에 있어서의 콜릿 교환 방법을 설명하는 도면.
도 13은, 도 1의 다이 본더에 있어서의 콜릿 홀더 교환 방법을 설명하는 도면.
도 14는, 도 1의 다이 본더를 사용한 반도체 장치의 제조 방법을 나타내는 흐름도.
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS Fig. 1 is a view for explaining a configuration example of a die bonder. Fig.
Fig. 2 is a view for explaining a configuration of the die bonder of Fig. 1; Fig.
Fig. 3 is a view for explaining a configuration of the die supply section of Fig. 1; Fig.
Fig. 4 is a view for explaining a main part of the die supply unit of Fig. 3; Fig.
5 is a view for explaining a structure of a collet holder used in the die bonder of Fig. 1;
Fig. 6 is a view for explaining the structure of the collet holder of Fig. 5; Fig.
7 is a view for explaining a structure of a collet exchanging part provided in the die bonder of Fig. 1;
8 is a view for explaining the structure of the collet exchange unit in Fig. 7; Fig.
9 is a view for explaining a collet exchange method in the die bonder of Fig. 1; Fig.
10 is a view for explaining a collet exchange method in the die bonder of Fig. 1; Fig.
11 is a view for explaining a collet exchange method in the die bonder of Fig. 1;
12 is a view for explaining a collet exchange method in the die bonder of Fig. 1;
13 is a view for explaining a collet holder exchange method in the die bonder of Fig. 1;
14 is a flow chart showing a method for manufacturing a semiconductor device using the die bonder of Fig. 1;

이하, 실시예에 대하여, 도면을 이용하여 설명한다. 단, 이하의 설명에 있어서, 동일 구성 요소에는 동일 부호를 붙여 반복되는 설명을 생략하는 경우가 있다. 또한, 도면은 설명을 보다 명확하게 하기 위해서, 실제의 형태에 비하여, 각 부의 폭, 두께, 형상 등에 대하여 모식적으로 표현되는 경우가 있지만, 어디까지나 일례로서, 본 발명의 해석을 한정하는 것은 아니다.Hereinafter, embodiments will be described with reference to the drawings. In the following description, the same constituent elements are denoted by the same reference numerals, and repeated explanation may be omitted. In addition, in order to make the explanation more clear, the drawings are schematically expressed in terms of the width, thickness, shape, etc. of each part in comparison with the actual form, but the interpretation of the present invention is not limited to .

<실시예><Examples>

도 1은, 다이 본더의 구성예를 나타내는 상면도이다. 도 2는 도 1에 있어서 화살표 A 방향에서 보았을 때의 구성을 나타내는 도면이다.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS Fig. 1 is a top view showing a configuration example of a die bonder. Fig. Fig. 2 is a view showing the configuration when viewed in the direction of arrow A in Fig. 1. Fig.

다이 본더(10)는, 크게 구별하여, 1개 또는 여러 개의 최종 1 패키지로 되는 제품 에어리어(이하, '패키지 에어리어 P'라고 함)를 프린트한 기판 S에 실장하는 다이 D를 공급하는 다이 공급부(1)와, 픽업부(2), 중간 스테이지부(3)와, 본딩부(4)와, 반송부(5), 기판 공급부(6)와, 기판 반출부(7)와, 각 부의 동작을 감시하여 제어하는 제어 장치(8)를 갖는다. Y축 방향이 다이 본더(10)의 전후 방향이며, X축 방향이 좌우 방향이다. 다이 공급부(1)가 다이 본더(10)의 앞쪽에 배치되고, 본딩부(4)가 안쪽에 배치된다.The die bonder 10 includes a die supply unit (not shown) for supplying a die D mounted on a substrate S printed with a product area (hereinafter, referred to as &quot; package area P &quot; 1, the pickup 2, the intermediate stage 3, the bonding portion 4, the carry section 5, the substrate supply section 6, the substrate carry-out section 7, And a control device (8) for monitoring and controlling. The Y axis direction is the front and back direction of the die bonder 10, and the X axis direction is the left and right direction. The die feeder 1 is disposed in front of the die bonder 10 and the bonding portion 4 is disposed inward.

우선, 다이 공급부(1)는 기판 S의 패키지 에어리어 P에 실장하는 다이 D를 공급한다. 다이 공급부(1)는, 웨이퍼(11)를 보유 지지하는 웨이퍼 보유 지지대(12)와, 웨이퍼(11)로부터 다이 D를 밀어올리는 점선으로 나타내는 밀어올림 유닛(13)을 갖는다. 다이 공급부(1)는 도시하지 않은 구동 수단에 의해 XY 방향으로 이동하고, 픽업하는 다이 D를 밀어올림 유닛(13)의 위치로 이동시킨다.First, the die supply unit 1 supplies a die D mounted on the package area P of the substrate S. The die feeding section 1 has a wafer holding table 12 for holding a wafer 11 and a push-up unit 13 indicated by a dotted line for pushing the die D from the wafer 11. The die feeder 1 moves in the X and Y directions by driving means (not shown), and moves the pick-up die D to the position of the push-up unit 13.

픽업부(2)는, 다이 D를 픽업하는 픽업 헤드(21)와, 픽업 헤드(21)를 Y 방향으로 이동시키는 픽업 헤드의 Y 구동부(23)와, 콜릿(22)을 승강, 회전 및 X 방향 이동시키는 도시하지 않은 각 구동부를 갖는다. 픽업 헤드(21)는, 밀어 올려진 다이 D를 선단에 흡착 보유 지지하는 콜릿(22)(도 2도 참조)을 갖고, 다이 공급부(1)로부터 다이 D를 픽업하여, 중간 스테이지(31)에 적재한다. 픽업 헤드(21)는, 콜릿(22)을 승강, 회전 및 X 방향 이동시키는 도시하지 않은 각 구동부를 갖는다.The pick-up section 2 includes a pick-up head 21 for picking up a die D, a Y-drive section 23 of a pick-up head for moving the pick-up head 21 in the Y- (Not shown) for moving in the direction. The pick-up head 21 has a collet 22 (see also Fig. 2) for sucking and holding the push-up die D at its tip, and picks up the die D from the die feeder 1, Load. The pick-up head 21 has respective driving portions (not shown) for lifting, rotating, and moving the collet 22 in the X direction.

중간 스테이지부(3)는, 다이 D를 일시적으로 적재하는 중간 스테이지(31)와, 중간 스테이지(31) 위의 다이 D를 인식하기 위한 스테이지 인식 카메라(32)를 갖는다.The intermediate stage portion 3 has an intermediate stage 31 for temporarily loading the die D and a stage recognition camera 32 for recognizing the die D on the intermediate stage 31. [

본딩부(4)는, 중간 스테이지(31)로부터 다이 D를 픽업하고, 반송되어 오는 기판 S의 패키지 에어리어 P 위에 본딩하거나, 또는 이미 기판 S의 패키지 에어리어 P 위에 본딩된 다이의 위에 적층하는 형태로 본딩한다. 본딩부(4)는, 픽업 헤드(21)와 마찬가지로 다이 D를 선단에 흡착 보유 지지하는 콜릿(42)(도 2도 참조)을 구비하는 본딩 헤드(41)와, 본딩 헤드(41)를 Y 방향으로 이동시키는 Y 구동부(43)와, 기판 S의 패키지 에어리어 P의 위치 인식 마크(도시생략)를 촬상하고, 본딩 위치를 인식하는 기판 인식 카메라(44)를 갖는다.The bonding section 4 picks up the die D from the intermediate stage 31 and bonds it onto the package area P of the substrate S to be transported or on the die already bonded to the package area P of the substrate S Bonding. The bonding section 4 includes a bonding head 41 having a collet 42 (see also Fig. 2) for sucking and holding the die D at its tip as in the case of the pick-up head 21, And a substrate recognition camera 44 for picking up a position recognition mark (not shown) of the package area P of the substrate S and recognizing the bonding position.

이와 같은 구성에 의해, 본딩 헤드(41)는, 스테이지 인식 카메라(32)의 촬상 데이터에 기초하여 픽업 위치·자세를 보정하고, 중간 스테이지(31)로부터 다이 D를 픽업하고, 기판 인식 카메라(44)의 촬상 데이터에 기초하여 기판 S의 패키지 에어리어 P에 다이 D를 본딩한다.With this arrangement, the bonding head 41 corrects the pickup position / posture based on the image pickup data of the stage recognition camera 32, picks up the die D from the intermediate stage 31, The die D is bonded to the package area P of the substrate S.

반송부(5)는, 기판 S를 파지하여 반송하는 기판 반송 갈고리(51)와, 기판 S가 이동하는 반송 레인(52)을 갖는다. 기판 S는, 반송 레인(52)에 설치된 기판 반송 갈고리(51)의 너트를 반송 레인(52)을 따라 설치된 도시하지 않은 볼 나사로 구동함으로써 이동한다. 이와 같은 구성에 의해, 기판 S는, 기판 공급부(6)로부터 반송 레인(52)을 따라 본딩 위치까지 이동하고, 본딩 후, 기판 반출부(7)까지 이동하여, 기판 반출부(7)에 기판 S를 전달한다.The transfer section 5 has a substrate transfer claw 51 for holding and transferring the substrate S and a transfer lane 52 on which the substrate S is moved. The substrate S is moved by driving a nut of a substrate transfer claw 51 provided on the transfer lane 52 by a ball screw (not shown) provided along the transfer lane 52. With this arrangement, the substrate S moves from the substrate supply unit 6 to the bonding position along the conveyance lane 52, moves to the substrate carry-out unit 7 after bonding, S.

제어 장치(8)는, 다이 본더(10)의 각 부의 동작을 감시하여 제어하는 프로그램(소프트웨어)을 저장하는 메모리와, 메모리에 저장된 프로그램을 실행하는 중앙처리 장치(CPU)를 구비한다.The control device 8 has a memory for storing a program (software) for monitoring and controlling the operation of each part of the die bonder 10 and a central processing unit (CPU) for executing a program stored in the memory.

다음으로, 다이 공급부(1)의 구성에 대하여 도 3 및 도 4를 이용하여 설명한다. 도 3은 도 1의 다이 공급부의 외관 사시도를 나타내는 도면이다. 도 4는 도 3의 다이 공급부의 주요부를 나타내는 개략 단면도이다.Next, the configuration of the die feeder 1 will be described with reference to Figs. 3 and 4. Fig. Fig. 3 is a view showing an external perspective view of the die supply unit of Fig. 1. Fig. Fig. 4 is a schematic sectional view showing a main part of the die supply portion of Fig. 3; Fig.

다이 공급부(1)는, 수평 방향(XY 방향)으로 이동하는 웨이퍼 보유 지지대(12)와, 상하 방향으로 이동하는 밀어올림 유닛(13)을 구비한다. 웨이퍼 보유 지지대(12)는, 웨이퍼 링(14)을 보유 지지하는 익스팬드 링(15)과, 웨이퍼 링(14)에 보유 지지되어 여러 개의 다이 D가 접착된 다이싱 테이프(16)를 수평으로 위치 결정하는 지지 링(17)을 갖는다. 밀어올림 유닛(13)은 지지 링(17)의 내측에 배치된다.The die feeding section 1 includes a wafer holding base 12 moving in the horizontal direction (XY direction) and a lifting unit 13 moving in the vertical direction. The wafer holding support 12 includes an expanding ring 15 for holding the wafer ring 14 and a dicing tape 16 held by the wafer ring 14 to which a plurality of dies D are bonded horizontally And has a supporting ring 17 for positioning. The push-up unit 13 is disposed inside the support ring 17.

다이 공급부(1)는, 다이 D의 밀어올림 시에, 웨이퍼 링(14)을 보유 지지하고 있는 익스팬드 링(15)을 하강시킨다. 그 결과, 웨이퍼 링(14)에 보유 지지되어 있는 다이싱 테이프(16)가 쭉 늘여져 다이 D의 간격이 넓어지고, 밀어올림 유닛(13)에 의해 다이 D 아래쪽으로부터 다이 D를 밀어올려, 다이 D의 픽업성을 향상시키고 있다. 또한, 박형화에 수반하여 다이를 기판에 접착하는 접착제는, 액상으로부터 필름 형상으로 되고, 웨이퍼(11)와 다이싱 테이프(16)의 사이에 다이 어태치 필름(DAF)(18)이라 불리는 필름 형상의 접착 재료를 접착하고 있다. 다이 어태치 필름(18)을 갖는 웨이퍼(11)에서는, 다이싱은, 웨이퍼(11)와 다이 어태치 필름(18)에 대하여 행해진다. 따라서, 박리 공정에서는, 웨이퍼(11)와 다이 어태치 필름(18)을 다이싱 테이프(16)로부터 박리한다.The die feeder 1 descends the expander ring 15 holding the wafer ring 14 when the die D is pushed up. As a result, the dicing tape 16 held on the wafer ring 14 is extended so that the distance between the dies D is widened, the die D is pushed up from below the die D by the lifting unit 13, The pickup performance of D is improved. The adhesive for bonding the die to the substrate with the thinning becomes a film form from the liquid state and a film form called a die attach film (DAF) 18 is formed between the wafer 11 and the dicing tape 16 Is adhered. In the wafer 11 having the die attach film 18, dicing is performed on the wafer 11 and the die attach film 18. Therefore, in the peeling step, the wafer 11 and the die attach film 18 are peeled from the dicing tape 16.

픽업 헤드(21)는, 중심으로 흡착 에어가 흐르는 흡착 구멍(21a)을 갖고, 선단측에 콜릿 홀더(25)에 접속되는 콜릿 생크(21b)와, 콜릿 홀더(25)를 콜릿 생크(21b)에 고정하는 콜릿 고정부(21c)를 구비한다. 본딩 헤드(41)는 픽업 헤드(21)와 마찬가지이다.The pick-up head 21 has a suction hole 21a through which the adsorption air flows at the center and has a collet shank 21b connected to the collet holder 25 at the tip side and a collet shank 21b connected to the collet holder 25, And a collet fixing portion 21c for fixing the collet fixing portion 21c. The bonding head 41 is the same as the pickup head 21.

다음으로, 콜릿 홀더에 대하여 도 5, 6을 이용하여 설명한다. 도 5, 6은 도 1의 다이 본더에서 사용하는 콜릿 홀더를 설명하기 위한 도면으로, 도 5는 픽업 헤드, 콜릿 홀더 및 콜릿의 단면도이며, 도 6은 콜릿 홀더의 상면도이다.Next, the collet holder will be described with reference to Figs. 5 and 6. Fig. Figs. 5 and 6 are views for explaining a collet holder used in the die bonder of Fig. 1, Fig. 5 is a cross-sectional view of the pick-up head, collet holder and collet, and Fig. 6 is a top view of the collet holder.

콜릿 홀더(25)는, 중심에 픽업 헤드(21)의 흡착 구멍(21a)에 연통하는 흡착 구멍(25a)과, 콜릿(22)을 고정하는 자석(25b)을 구비한다. 콜릿 홀더(25)는 4변의 각 중앙 부근에 절결(갈고리 릴리프)(251c)을 갖고, 콜릿 교환 지그가 콜릿을 파지할 수 있도록 되어 있다. 자석(25b)에 의해 콜릿(22)을 흡인하여 콜릿(22)을 부착할 수 있도록, 콜릿 홀더(25)의 개구부는 아래쪽일수록 넓은 테이퍼 형상으로 되어 있다.The collet holder 25 has a suction hole 25a communicating with the suction hole 21a of the pickup head 21 at the center and a magnet 25b for fixing the collet 22 to the center. The collet holder 25 has a cutout (claw relief) 251c near the center of each of the four sides, so that the collet exchange jig can grip the collet. The opening of the collet holder 25 is formed into a wide taper shape toward the bottom so that the collet 22 can be attracted by the magnet 25b and the collet 22 can be attached.

콜릿(22)은 자석으로 고정할 수 있도록 실리콘 고무 등의 탄성체(22a)의 이면에 스테인리스강(SUS(자성))(22b)을 용착하고, 4변을 콜릿 홀더(25)에 보유 지지하고, 다이 D를 흡착하기 위해서 흡착 구멍(251a)에 연통하는 여러 개의 흡착 구멍(도시생략)을 구비한다. 탄성체(22a)의 표면에는 다이 D와 접촉하여 보유 지지하는 보유 지지부(22c)를 갖는다. 보유 지지부(22c)는 탄성체(22a)와 일체적으로 형성되고, 다이 D와 동일 정도의 크기이다.The collet 22 is made of stainless steel (SUS (magnetic)) 22b on the back surface of an elastic body 22a such as a silicone rubber so as to be fixed by a magnet and holds four sides in the collet holder 25, (Not shown) communicating with the suction holes 251a for adsorbing the die D are provided. The surface of the elastic body 22a has a holding portion 22c which is held in contact with the die D. The holding portion 22c is integrally formed with the elastic body 22a and is of the same size as the die D.

픽업 헤드(21)에 대하여 설명하였지만, 본딩 헤드(41)도 마찬가지이다.Although the pickup head 21 has been described, the bonding head 41 is also the same.

다음으로, 콜릿 교환부에 대하여 도 7, 8을 이용하여 설명한다. 도 7은 도 1의 다이 본더에 구비하는 콜릿 교환부의 상면도이다. 도 8은 도 7의 A1-A2선 단면도이다.Next, the collet exchanging unit will be described with reference to Figs. 7 is a top view of the collet exchanging part provided in the die bonder of Fig. 8 is a sectional view taken along the line A1-A2 in Fig.

콜릿 교환부(90)는, 콜릿 측면을 클램프하고 상부에 갈고리 구조를 가진 개폐 아암(91a)과 개폐 아암(91a)의 개폐를 제어하는 아암 제어부(91b)를 갖는 콜릿 클램프부(91)와, 미사용의 콜릿을 공급하는 공급부(92)와, 사용 완료된 콜릿을 폐기하는 폐기부(93)를 구비한다. 개폐 아암(91a)은 콜릿의 최대 폭에 맞춰서 개방할 수 있다. 도 8에 도시한 바와 같이, 개폐 아암(91a)은 폐쇄하면 콜릿 측면을 클램프 고정할 수 있으며, 고정된 상태에서는 상부의 좌우 2군데에 갈고리(91aa)가 배치된다. 공급부(92)와 폐기부(93)는, 상측에 개구부(92k, 93k)를 구비한다. 공급부(92) 및 폐기부(93)는 픽업 동작이나 본딩 동작에 영향이 없는 장소에 배치되고, 픽업 헤드(21) 및 본딩 헤드(41)의 동작 가능 범위 이외가 바람직하다. 콜릿 클램프부(91)와 공급부(92)와 폐기부(93)는 가로 방향의 일직선상에 배치되고, 콜릿 클램프부(91)는 가로 방향으로 이동한다. 또한, 콜릿 클램프부(91)는 수평 방향(X 방향, Y 방향) 및 수직 방향으로 이동 가능하도록 해도 된다.The collet exchanging part 90 includes a collet clamping part 91 having an opening and closing arm 91a which clamps the side of the collet and which has a hook structure on the upper side and an arm control part 91b which controls opening and closing of the opening and closing arm 91a, A supply unit 92 for supplying an unused collet, and a waste unit 93 for discarding the used collet. The opening and closing arm 91a can be opened to match the maximum width of the collet. As shown in Fig. 8, when the opening and closing arm 91a is closed, the side of the collet can be clamped and, in a fixed state, the claws 91aa are disposed at two places on the upper left and right sides. The supply part 92 and the waste part 93 have openings 92k and 93k on the upper side. It is preferable that the supplying section 92 and the waste section 93 are disposed in a place where there is no influence on the pickup operation or the bonding operation and are out of the operable range of the pickup head 21 and the bonding head 41. The collet clamp portion 91, the supply portion 92 and the waste portion 93 are arranged on a straight line in the transverse direction, and the collet clamp portion 91 is moved in the lateral direction. Further, the collet clamping section 91 may be movable in the horizontal direction (X direction, Y direction) and vertical direction.

다음으로, 콜릿 교환부(90)에 있어서, 콜릿(22)을 콜릿 홀더(25)에 부착하는 방법 및 제거하는 방법에 대하여 도 9 내지 도 11을 이용하여 설명한다. 도 9는 콜릿이 개폐 아암에 파지되어 콜릿 홀더로부터 이격하고 있는 상태를 나타내는 도면으로, 도 9의 (A)는 상면도이며, 도 9의 (B)는 단면도이며, 도 9의 (C)는 측면도이다. 도 10은 콜릿이 개폐 아암에 파지되어 콜릿 홀더에 고정되어 있는 상태를 나타내는 도면으로, 도 10의 (A)는 상면도이며, 도 10의 (B)는 단면도이며, 도 10의 (C)는 측면도이다. 도 11은 콜릿이 콜릿 홀더에 고정되어 개폐 아암이 이격되어 있는 상태를 나타내는 도면으로, 도 11의 (A)는 상면도이며, 도 11의 (B)는 단면도이며, 도 11의 (C)는 측면도이다.Next, a method of attaching and removing the collet 22 to the collet holder 25 in the collet exchanging unit 90 will be described with reference to Figs. 9 to 11. Fig. 9 (A) is a top view, and FIG. 9 (B) is a cross-sectional view, and FIG. 9 (C) is a cross-sectional view of the collet holder. Side view. 10 (A) is a top view, FIG. 10 (B) is a cross-sectional view, and FIG. 10 (C) shows a state in which the collet is held on a collet holder Side view. 11 (A) is a top view, and FIG. 11 (B) is a cross-sectional view, and FIG. 11 (C) shows a state where a collet is fixed to a collet holder, Side view.

우선, 콜릿(22)을 콜릿 홀더(25)에 부착하는 방법에 대하여 설명한다. 제어 장치(8)는 콜릿 클램프부(91)를 공급부(92)의 위쪽으로 이동시킨다. 제어 장치(8)는 공급부(92) 내의 콜릿(22)을 개폐 아암(91a)의 갈고리에 닿을 때까지 상승시킨다. 제어 장치(8)는 상승한 콜릿(22)을 개폐 아암(91a)에 의해 클램프한다. 도 9에 도시한 바와 같이, 제어 장치(8)는 콜릿(22)을 클램프한 콜릿 클램프부(91)를 교환 위치(중간 스테이지(31)의 위쪽)로 반송한다. 제어 장치(8)는 스테이지 인식 카메라(32)에 의해 콜릿 외형을 위치 인식한다. 바코드 등으로 품종 판정을 행하여도 된다.First, a method of attaching the collet 22 to the collet holder 25 will be described. The control device 8 moves the collet clamping portion 91 to the upper side of the supply portion 92. [ The control device 8 raises the collet 22 in the supply portion 92 until it reaches the hook of the opening and closing arm 91a. The control device 8 clamps the raised collet 22 by the opening / closing arm 91a. 9, the control device 8 conveys the collet clamp portion 91 clamped by the collet 22 to the exchange position (above the intermediate stage 31). The control device 8 recognizes the position of the collet contour by the stage recognition camera 32. Barcode or the like.

도 10에 도시한 바와 같이, 제어 장치(8)는 콜릿이 없는 상태의 콜릿 홀더(25)를 하강시켜서 콜릿(22)을 부착한다. 콜릿 클램프 상태의 정밀도(자세)에 대해서는 엄격하게 하지 않고, 콜릿 홀더(25)를 접근시켜 자석(251b)의 자력으로 콜릿 홀더(25)를 빨아올림으로써, 콜릿(22)은 스스로 콜릿 홀더(25) 내에 위치 결정되어 장착된다. 전술한 바와 같이, 콜릿 홀더(25)에는 상하 좌우에 갈고리 릴리프(251C)가 있다. 도 11에 도시한 바와 같이, 제어 장치(8)는 개폐 아암(91a)을 개방하고, 콜릿 클램프부(91)를 소정의 위치로 이동시킨다.As shown in Fig. 10, the control device 8 moves down the collet holder 25 in the state where no collet is present, and attaches the collet 22 thereto. The collet 22 is pulled up by the magnetic force of the magnet 251b by approaching the collet holder 25 so as not to tighten the accuracy of the collet clamp state As shown in Fig. As described above, the collet holder 25 has hooking reliefs 251C on its upper, lower, left, and right sides. As shown in Fig. 11, the control device 8 opens the opening / closing arm 91a and moves the collet clamping portion 91 to a predetermined position.

다음으로, 콜릿(22)을 콜릿 홀더(25)로부터 제거하는 방법에 대하여 설명한다. 도 11에 도시한 바와 같이, 제어 장치(8)는 개폐 아암(91a)을 개방한 상태에서 콜릿 클램프부(91)를 제거 위치로 이동시킨다. 도 10에 도시한 바와 같이, 제어 장치(8)는 개폐 아암(91a)에 의해 콜릿(22)을 클램프한다. 도 9에 도시한 바와 같이, 제어 장치(8)는 개폐 아암(91a)이 콜릿(22)을 클램프한 상태에서 콜릿 홀더(25)를 상승시켜서, 콜릿(22)을 콜릿 홀더(25)로부터 제거한다. 제어 장치(8)는 개폐 아암(91a)이 클램프하고 있는(제거한) 콜릿(22)을 폐기부(93)의 위쪽으로 이송하여 개폐 아암(91a)을 개방하여 콜릿(22)을 낙하시켜 폐기부(93)에 수납한다.Next, a method of removing the collet 22 from the collet holder 25 will be described. As shown in Fig. 11, the control device 8 moves the collet clamp portion 91 to the removal position in a state in which the opening and closing arm 91a is opened. As shown in Fig. 10, the control device 8 clamps the collet 22 by the opening and closing arm 91a. 9, the control device 8 raises the collet holder 25 in a state in which the opening and closing arm 91a clamps the collet 22 and removes the collet 22 from the collet holder 25 do. The controller 8 transfers the collet 22 to which the opening / closing arm 91a is clamped (removed) to the upper side of the waste portion 93 to open the opening / closing arm 91a to drop the collet 22, (93).

픽업 헤드(21)의 콜릿 교환에 대하여 설명하였지만, 본딩 헤드(41)의 콜릿 교환도 마찬가지이다.Although the collet exchange of the pickup head 21 has been described, the collet exchange of the bonding head 41 is the same.

도 7에 도시한 바와 같이, 종장 콜릿(세로로 긴 콜릿 홀더)에 대하여 설명하였지만, 도 11에 도시한 바와 같이, 횡장 콜릿(가로로 긴 콜릿 홀더)에도 적용할 수 있다.As shown in Fig. 7, the longitudinal collet (vertically long collet holder) has been described. However, as shown in Fig. 11, it is also applicable to a horizontal collet (transverse collet holder).

다음으로, 콜릿 홀더의 교환 방법에 대하여 도 13을 이용하여 설명한다. 도 13은 콜릿 홀더가 개폐 아암에 파지되어 있는 상태를 나타내는 도면으로, 도 13의 (A)는 상면도이며, 도 13의 (B)는 단면도이며, 도 13의 (C)는 측면도이다.Next, a method of exchanging the collet holder will be described with reference to Fig. FIG. 13A is a top view, FIG. 13B is a cross-sectional view, and FIG. 13C is a side view. FIG. 13A is a top view of the collet holder. FIG.

품종 변경 시에는 콜릿 홀더도 교환한다. 콜릿(22)과 마찬가지로 콜릿 홀더를 콜릿 클램프부(91)의 개폐 아암(91a)으로 클램프하여 제거하고, 부착한다. 콜릿 생크(21b)의 하부 또는 콜릿 홀더(25)의 상부에 자석을 설치하고, 콜릿 홀더도 자석에 의한 고정으로 하여 콜릿보다는 강한 고정력으로 한다.When changing varieties, replace the collet holder. As in the case of the collet 22, the collet holder is clamped by the opening and closing arm 91a of the collet clamping portion 91, removed, and attached. A magnet is provided on the lower part of the collet shank 21b or on the collet holder 25 and the collet holder is fixed by a magnet to make the collet stronger than the collet.

중간 스테이지를 콜릿으로 구성하는 경우(콜릿 타입의 중간 스테이지)의 콜릿도 콜릿(22)과 마찬가지로 콜릿 클램프부(91)의 개폐 아암(91a)으로 클램프하여 제거하고, 부착할 수 있다.The collet of the intermediate stage (collet type intermediate stage) when the intermediate stage is constituted by a collet can be clamped and removed by the opening and closing arm 91a of the collet clamping section 91 similarly to the collet 22 and attached.

실시예에서는, 콜릿 측면을 클램프하고 상부에 갈고리 구조를 가진 개폐 아암에 의해 콜릿을 교환하므로, 부품을 교환하지 않고, 각종 사이즈(품종(콜릿 외형)변경)에 적용할 수 있어, 부착 및 제거를 행할 수 있다. 이에 의해, 인력감축 및 가동률 개선을 행할 수 있다.In the embodiment, since the collet is exchanged by the opening / closing arm having the hook structure on the upper side by clamping the side of the collet, the collet can be applied to various sizes (variety (change in collet appearance) . As a result, manpower reduction and operation rate improvement can be performed.

또한, 중간 스테이지 위쪽으로 콜릿 클램프부(91)를 이동함으로써, 콜릿, 콜릿 홀더, 콜릿 타입의 중간 스테이지의 전부를 하나의 콜릿 클램프부에서 교환(제거 및 부착)할 수 있다. 또한, 중간 스테이지 위쪽으로 콜릿 클램프부(91)를 이동함으로써, 본딩 헤드의 콜릿과 픽업 헤드의 콜릿의 양쪽을 교환할 수 있다. 즉, 콜릿의 3가지 용도(본딩 헤드, 픽업 헤드, 중간 스테이지) 각각에 대하여 각 품종 대응수의 콜릿을 하나의 콜릿 클램프부에서 교환할 수 있다. 또한, 중간 스테이지의 위쪽의 스테이지 인식 카메라로 콜릿의 장착 상태를 확인할 수 있다.Further, by moving the collet clamp section 91 above the intermediate stage, all of the collet, collet holder, and collet type intermediate stages can be exchanged (removed and attached) by one collet clamp section. Further, by moving the collet clamp portion 91 above the intermediate stage, both the collet of the bonding head and the collet of the pick-up head can be exchanged. That is, for each of the three uses of the collet (bonding head, pick-up head, intermediate stage), the collets corresponding to the respective varieties can be exchanged by one collet clamp unit. In addition, the mounting state of the collet can be confirmed by the stage recognition camera above the intermediate stage.

다음으로, 실시예에 따른 다이 본더를 사용한 반도체 장치의 제조 방법에 대하여 도 14를 이용하여 설명한다. 도 14는 반도체 장치의 제조 방법을 나타내는 흐름도이다.Next, a method for manufacturing a semiconductor device using a die bonder according to an embodiment will be described with reference to FIG. 14 is a flowchart showing a manufacturing method of a semiconductor device.

스텝 S11: 웨이퍼(11)로부터 분할된 다이 D가 접착된 다이싱 테이프(16)를 보유 지지한 웨이퍼 링(14)을 웨이퍼 카세트(도시생략)에 저장하고, 다이 본더(10)에 반입한다. 제어 장치(8)는 웨이퍼 링(14)이 충전된 웨이퍼 카세트로부터 웨이퍼 링(14)을 다이 공급부(1)에 공급한다. 또한, 기판 S를 준비하고, 다이 본더(10)에 반입한다. 제어 장치(8)는 기판 공급부(6)에서 기판 S를 반송 레인(52)에 적재한다.Step S11: The wafer ring 14 holding the dicing tape 16 to which the die D divided from the wafer 11 is held is stored in the wafer cassette (not shown), and is carried into the die bonder 10. The control device 8 supplies the wafer ring 14 from the wafer cassette filled with the wafer ring 14 to the die supply part 1. Further, the substrate S is prepared and carried into the die bonder 10. The control device 8 loads the substrate S onto the conveyance lane 52 in the substrate supply part 6. [

스텝 S12: 제어 장치(8)는 웨이퍼 링(14)에 보유 지지된 다이싱 테이프(16)로부터 다이 D를 픽업한다.Step S12: The control device 8 picks up the die D from the dicing tape 16 held on the wafer ring 14. Then,

스텝 S13: 제어 장치(8)는 픽업한 다이 D를 기판 S의 패키지 에어리어 P 위에 탑재 또는 이미 본딩한 다이의 위에 적층한다. 보다 구체적으로는, 제어 장치(8)는 다이싱 테이프(16)로부터 픽업한 다이 D를 중간 스테이지(31)에 적재하고, 본딩 헤드(41)로 중간 스테이지(31)로부터 다시 다이 D를 픽업하고, 반송되어 온 기판 S의 패키지 에어리어 P에 본딩한다.Step S13: The control device 8 stacks the picked-up die D on the die mounted on the package area P of the substrate S or on the die already bonded. More specifically, the control device 8 loads the die D picked up from the dicing tape 16 onto the intermediate stage 31, picks up the die D again from the intermediate stage 31 with the bonding head 41 , And bonded to the package area P of the substrate S that has been transported.

스텝 S14: 제어 장치(8)는 기판 반송 갈고리(51)로 기판 S를 기판 반출부(7)까지 이동하여 기판 반출부(7)에 기판 S를 전달하고 다이 본더(10)로부터 기판 S를 반출한다(기판 언로딩).Step S14: The control device 8 transfers the substrate S to the substrate carry-out section 7 by moving the substrate S to the substrate carry-out section 7 with the substrate transfer claw 51 and transfers the substrate S from the die bonder 10 (Substrate unloading).

이상, 본 발명자에 의해 이루어진 발명을 실시예에 기초하여 구체적으로 설명하였지만, 본 발명은, 상기 실시예로 한정되는 것이 아니라, 다양하게 변경 가능한 것은 물론이다.The present invention has been described in detail based on the embodiments. However, it is needless to say that the present invention is not limited to the above-described embodiments, but can be variously changed.

예를 들어, 실시예에서는, 콜릿 클램프부(91)와 공급부(92)와 폐기부(93)는 가로 방향의 일직선상에 배치되고, 콜릿 클램프부(91)는 가로 방향으로 이동하지만, 콜릿 클램프부(91)와 공급부(92)와 폐기부(93)는 세로 방향의 일직선상에 배치되고, 콜릿 클램프부(91)를 세로 방향으로 이동하도록 해도 된다. 또한, 공급부(92)와 폐기부(93)의 배열은 반대여도 된다.For example, in the embodiment, the collet clamp section 91, the supply section 92 and the waste section 93 are arranged on a straight line in the transverse direction, and the collet clamp section 91 moves in the lateral direction, The portion 91, the supply portion 92 and the waste portion 93 may be arranged on a straight line in the vertical direction and may move the collet clamp portion 91 in the vertical direction. Further, the arrangements of the supply part 92 and the waste part 93 may be reversed.

또한, 픽업부와 얼라인먼트부와 본딩부를 포함하는 실장부 및 반송 레인을 복수 조 구비한 다이 본더여도 되고, 픽업부와 얼라인먼트부와 본딩부를 포함하는 실장부를 복수 조 구비하고, 반송 레인은 하나 구비해도 된다.It is also possible to use a die bonder having a pickup section, a mounting section including an aligning section and a bonding section, and a die bonder having a plurality of feed lanes, a plurality of mounting sections including a pickup section, an alignment section and a bonding section, do.

또한, 실시예에서는, 다이 어태치 필름을 사용하는 예를 설명하였지만, 기판에 접착제를 도포하는 프리폼부를 설치하여 다이 어태치 필름을 사용하지 않아도 된다.Further, in the embodiment, an example of using a die attach film is described, but a die attach film may not be used by providing a preform section for applying an adhesive to a substrate.

또한, 실시예에서는, 다이 공급부로부터 다이를 픽업 헤드로 픽업하여 중간 스테이지에 적재하고, 중간 스테이지에 적재된 다이를 본딩 헤드로 기판에 본딩하는 다이 본더에 대하여 설명하였지만, 이것으로 한정되는 것이 아니라, 다이 공급부로부터 다이를 픽업하는 반도체 제조 장치에 적용 가능하다.Further, in the embodiment, the die bonder for picking up the die from the die supply unit to the pick-up head, loading the die on the intermediate stage, and bonding the die mounted on the intermediate stage to the substrate with the bonding head has been described. However, The present invention is applicable to a semiconductor manufacturing apparatus that picks up a die from a die supply section.

예를 들어, 중간 스테이지와 픽업 헤드가 없고, 다이 공급부의 다이를 본딩 헤드로 기판에 본딩하는 다이 본더에도 적용 가능하다.For example, it is applicable to a die bonder in which there is no intermediate stage and pick-up head, and a die of a die supply portion is bonded to a substrate by a bonding head.

또한, 중간 스테이지가 없고, 다이 공급부로부터 다이를 픽업하여 다이 픽업 헤드를 위로 회전하여 다이를 본딩 헤드에 전달하고 본딩 헤드로 기판에 본딩하는 플립 칩 본더에 적용 가능하다.The present invention is also applicable to a flip chip bonder having no intermediate stage, picking up a die from a die feeder and rotating the die pick-up head to transfer the die to the bonding head and bonding the substrate to the substrate with a bonding head.

또한, 중간 스테이지와 본딩 헤드가 없고, 다이 공급부로부터 픽업 헤드로 픽업한 다이를 트레이 등에 적재하는 다이 소터에 적용 가능하다.Further, the present invention is applicable to a die sorter that does not have an intermediate stage and a bonding head, and mounts a die picked up by a pick-up head from a die feeder onto a tray or the like.

10: 다이 본더
1: 다이 공급부
2: 픽업부
21: 픽업 헤드
22: 콜릿
25: 콜릿 홀더
3: 중간 스테이지부
31: 중간 스테이지
4: 본딩부
41: 본딩 헤드
42: 콜릿
5: 반송부
51: 기판 반송 갈고리
8: 제어 장치
9: 콜릿 교환부
91: 콜릿 클램프부
91a: 개폐 아암
91b: 개폐 아암 제어부
92: 공급부
93: 폐기부
D: 다이
S: 기판
P: 패키지 에어리어
10: die bonder
1:
2: Pickup section
21: Pickup head
22: Collet
25: Collet holder
3: intermediate stage part
31: Intermediate stage
4:
41: bonding head
42: Collet
5:
51: substrate carrier hook
8: Control device
9: Collet exchange part
91: Collet clamp part
91a: opening / closing arm
91b: opening / closing arm control section
92:
93:
D: Die
S: substrate
P: package area

Claims (17)

자석으로 콜릿을 보유 지지하는 콜릿 홀더와,
선단에 해당 콜릿 홀더를 구비하고, 상기 콜릿으로 다이를 흡착하여 픽업하는 헤드와,
상기 콜릿을 교환하는 콜릿 교환부와,
상기 헤드 및 상기 콜릿 교환부를 제어하는 제어 장치
를 구비하고,
상기 콜릿 교환부는, 갈고리 구조를 갖는 개폐 아암과 상기 개폐 아암을 제어하는 개폐 아암 제어 장치를 갖는 콜릿 클램프부를 구비하고,
상기 콜릿 홀더는 상기 개폐 아암의 갈고리 릴리프부를 구비하고,
상기 제어 장치는, 상기 개폐 아암을 개폐시켜 상기 헤드를 상하시킴으로써, 상기 콜릿의 상기 콜릿 홀더에의 부착, 및 상기 콜릿의 상기 콜릿 홀더로부터의 제거를 행하는, 반도체 제조 장치.
A collet holder for holding the collet by a magnet,
A head having a collet holder at its tip and picking up the die by suction with the collet;
A collet exchange unit for exchanging the collet;
A controller for controlling the head and the collet exchanging unit
And,
The collet exchanging section includes a collet clamping section having an opening and closing arm having a hook structure and an opening and closing arm control device for controlling the opening and closing arm,
Wherein the collet holder includes a claw relief portion of the opening and closing arm,
Wherein the control device performs attachment of the collet to the collet holder and removal of the collet from the collet holder by opening and closing the opening and closing arm to move the head up and down.
제1항에 있어서,
상기 콜릿 교환부는,
상기 콜릿 홀더에 부착하는 콜릿을 공급하는 공급부와,
상기 콜릿 홀더로부터 제거하는 콜릿을 폐기하는 폐기부
를 더 구비하는, 반도체 제조 장치.
The method according to claim 1,
The collet exchange unit
A supply part for supplying a collet to be attached to the collet holder,
And a discarding unit for discarding the collet to be removed from the collet holder
Further comprising: a semiconductor substrate;
제2항에 있어서,
상기 제어 장치는,
상기 공급부로부터 공급되는 콜릿을 상기 개폐 아암으로 클램프하고,
상기 개폐 아암으로 클램프한 콜릿을 상기 콜릿 홀더의 아래쪽으로 이동하고,
상기 콜릿 홀더를 하강시켜 상기 개폐 아암에 클램프된 콜릿을 상기 콜릿 홀더에 부착하는, 반도체 제조 장치.
3. The method of claim 2,
The control device includes:
The collet supplied from the supply unit is clamped by the opening / closing arm,
The collet clamped by the opening / closing arm is moved to the lower side of the collet holder,
And the collet holder is lowered to attach the collet clamped to the opening / closing arm to the collet holder.
제3항에 있어서,
상기 제어 장치는 상기 콜릿 홀더를 상기 개폐 아암에 클램프된 콜릿에 접근시킴으로써, 상기 개폐 아암에 클램프된 콜릿은 상기 자석의 자력으로 콜릿을 빨아올리고, 상기 콜릿 홀더 내에 위치 결정되고, 부착되는, 반도체 제조 장치.
The method of claim 3,
The control device causes the collet held by the opening / closing arm to suck the collet by the magnetic force of the magnet by approaching the collet holder to the collet clamped to the opening / closing arm, Device.
제4항에 있어서,
상기 제어 장치는,
상기 콜릿 홀더에 고정된 콜릿을 상기 개폐 아암에 의해 클램프하고,
상기 콜릿 홀더를 상승하여 상기 콜릿 홀더에 고정된 콜릿을 상기 콜릿 홀더로부터 제거하고,
상기 개폐 아암에 의해 클램프된 콜릿을 상기 폐기부의 위쪽으로 이동하고,
상기 개폐 아암을 개방하여 콜릿을 상기 폐기부에 폐기하는, 반도체 제조 장치.
5. The method of claim 4,
The control device includes:
A collet fixed to the collet holder is clamped by the opening / closing arm,
Lifting the collet holder to remove the collet fixed to the collet holder from the collet holder,
The collet clamped by the opening / closing arm is moved to the upper side of the waste portion,
And the collet is discarded in the waste portion by opening the opening / closing arm.
제1항에 있어서,
상기 제어 장치는, 상기 개폐 아암을 개폐시켜 상기 헤드를 상하시킴으로써, 상기 콜릿 홀더의 상기 헤드에의 부착, 및 상기 콜릿 홀더의 상기 헤드로부터의 제거를 행하는, 반도체 제조 장치.
The method according to claim 1,
Wherein the control device performs the attachment of the collet holder to the head and the removal of the collet holder from the head by opening and closing the opening and closing arm to move the head up and down.
제6항에 있어서,
상기 제어 장치는,
상기 콜릿 홀더를 상기 개폐 아암으로 클램프하고,
상기 개폐 아암에 의해 클램프된 콜릿 홀더를 상기 헤드의 아래쪽으로 이동하고,
상기 헤드를 하강시켜 상기 개폐 아암에 클램프된 콜릿 홀더를 상기 헤드에 부착하는, 반도체 제조 장치.
The method according to claim 6,
The control device includes:
The collet holder is clamped by the opening / closing arm,
The collet holder clamped by the opening / closing arm is moved to the lower side of the head,
And the collet holder clamped to the opening / closing arm is attached to the head by lowering the head.
제7항에 있어서,
상기 헤드는, 콜릿 홀더를 자력으로 흡인하는 자석을 갖는, 반도체 제조 장치.
8. The method of claim 7,
Wherein the head has a magnet for attracting the collet holder with a magnetic force.
제8항에 있어서,
상기 제어 장치는,
상기 헤드에 고정된 콜릿 홀더를 상기 개폐 아암에 의해 클램프하고,
상기 헤드를 상승하여 상기 헤드에 고정된 콜릿 홀더를 상기 헤드로부터 제거하는, 반도체 제조 장치.
9. The method of claim 8,
The control device includes:
A collet holder fixed to the head is clamped by the opening / closing arm,
And lifts the head to remove the collet holder fixed to the head from the head.
제1항에 있어서,
다이가 접착된 다이싱 테이프를 보유 지지하는 웨이퍼 링을 갖는 다이 공급부를 더 구비하고,
상기 헤드는 상기 다이싱 테이프에 접착된 다이를 픽업하는 픽업 헤드인, 반도체 제조 장치.
The method according to claim 1,
Further comprising a die supply portion having a wafer ring for holding a dicing tape to which a die is bonded,
Wherein the head is a pick-up head for picking up a die bonded to the dicing tape.
제10항에 있어서,
상기 픽업 헤드로 픽업한 다이가 적재되는 중간 스테이지와,
상기 중간 스테이지로부터 픽업한 다이를 기판 또는 이미 본딩된 다이의 위에 본딩하는 본딩 헤드
를 더 구비하고,
상기 본딩 헤드는 상기 콜릿 홀더를 구비하는, 반도체 제조 장치.
11. The method of claim 10,
An intermediate stage on which a die picked up by the pickup head is loaded,
A bonding head for bonding a die picked up from the intermediate stage onto a substrate or an already-
Further comprising:
Wherein the bonding head comprises the collet holder.
제11항에 있어서,
상기 제어 장치는 상기 콜릿 클램프부를 상기 중간 스테이지의 위쪽으로 이동시키고, 상기 픽업 헤드의 콜릿 및 상기 본딩 헤드의 콜릿을 교환하는, 반도체 제조 장치.
12. The method of claim 11,
The control device moves the collet clamp portion above the intermediate stage and exchanges the collet of the pick-up head and the collet of the bonding head.
제12항에 있어서,
상기 중간 스테이지는 콜릿 타입의 스테이지이며,
상기 제어 장치는, 상기 개폐 아암을 개폐하고, 상기 중간 스테이지를 상하하여, 콜릿을 상기 중간 스테이지에 부착, 및 콜릿을 상기 중간 스테이지로부터 제거하는, 반도체 제조 장치.
13. The method of claim 12,
The intermediate stage is a collet type stage,
Wherein the control device opens and closes the opening / closing arm, attaches the collet to and from the intermediate stage, and removes the collet from the intermediate stage.
제1항에 있어서,
다이가 접착된 다이싱 테이프를 보유 지지하는 웨이퍼 링을 갖는 다이 공급부를 더 구비하고,
상기 헤드는 상기 다이싱 테이프에 접착된 다이를 픽업하여 기판 또는 이미 본딩된 다이의 위에 본딩하는 본딩 헤드인, 반도체 제조 장치.
The method according to claim 1,
Further comprising a die supply portion having a wafer ring for holding a dicing tape to which a die is bonded,
Wherein the head is a bonding head for picking up a die bonded to the dicing tape and bonding it onto a substrate or an already bonded die.
(a) 제1항 내지 제12항 중 어느 한 항에 기재된 반도체 제조 장치를 준비하는 공정과,
(b) 다이가 접착된 다이싱 테이프를 보유 지지하는 웨이퍼 링을 반입하는 공정과,
(c) 기판을 준비 반입하는 공정과,
(d) 다이를 픽업하는 공정과,
(e) 상기 픽업한 다이를 상기 기판 또는 이미 본딩된 다이의 위에 본딩하는 공정
을 구비하는, 반도체 장치의 제조 방법.
(a) preparing a semiconductor manufacturing apparatus according to any one of claims 1 to 12;
(b) carrying a wafer ring holding a dicing tape to which a die is bonded;
(c) preparing and transporting a substrate,
(d) picking up the die,
(e) bonding the picked-up die onto the substrate or an already bonded die
And a step of forming the semiconductor device.
제15항에 있어서,
상기 (d) 공정은 상기 다이싱 테이프에 접착된 다이를 본딩 헤드로 픽업하고,
상기 (e) 공정은 상기 본딩 헤드로 픽업한 다이를 상기 기판 또는 이미 본딩된 다이의 위에 본딩하는, 반도체 장치의 제조 방법.
16. The method of claim 15,
In the step (d), a die bonded to the dicing tape is picked up by a bonding head,
(E) bonding the die picked up with the bonding head onto the substrate or the die already bonded.
제16항에 있어서,
상기 (d) 공정은,
(d1) 상기 다이싱 테이프에 접착된 다이를 픽업 헤드로 픽업하는 공정과,
(d2) 상기 픽업 헤드로 픽업한 다이를 중간 스테이지에 적재하는 공정
을 갖고,
상기 (e) 공정은,
(e1) 상기 중간 스테이지에 적재된 다이를 본딩 헤드로 픽업하는 공정과,
(e2) 상기 본딩 헤드로 픽업한 다이를 상기 기판에 적재하는 공정
을 구비하는, 반도체 장치의 제조 방법.
17. The method of claim 16,
The step (d)
(d1) picking up a die bonded to the dicing tape with a pickup head,
(d2) a step of loading the die picked up by the pick-up head onto an intermediate stage
Lt; / RTI &
The step (e)
(e1) picking up a die loaded on the intermediate stage with a bonding head,
(e2) a step of loading the die picked up by the bonding head onto the substrate
And a step of forming the semiconductor device.
KR1020180060161A 2017-05-31 2018-05-28 Semiconductor manufacturing apparatus and method for manufacturing semiconductor device KR102112776B1 (en)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2017108047A JP6889614B2 (en) 2017-05-31 2017-05-31 Semiconductor manufacturing equipment and manufacturing method of semiconductor equipment
JPJP-P-2017-108047 2017-05-31

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20180131425A true KR20180131425A (en) 2018-12-10
KR102112776B1 KR102112776B1 (en) 2020-05-19

Family

ID=64542806

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020180060161A KR102112776B1 (en) 2017-05-31 2018-05-28 Semiconductor manufacturing apparatus and method for manufacturing semiconductor device

Country Status (4)

Country Link
JP (1) JP6889614B2 (en)
KR (1) KR102112776B1 (en)
CN (1) CN108987305B (en)
TW (1) TWI676226B (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20210047232A (en) * 2019-10-21 2021-04-29 한화정밀기계 주식회사 Apparatus for seperating collet
CN114434242A (en) * 2022-02-21 2022-05-06 无锡芯坤电子科技有限公司 Wafer polishing equipment and use method thereof

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6923950B2 (en) * 2019-04-03 2021-08-25 日精電子株式会社 Collet and its manufacturing method
JP7308429B2 (en) * 2019-10-11 2023-07-14 パナソニックIpマネジメント株式会社 Parts feeder
JP6880158B1 (en) * 2019-11-29 2021-06-02 キヤノンマシナリー株式会社 Work transfer device, work transfer method, transfer body manufacturing method, semiconductor device manufacturing method, and die bonder
JP7512086B2 (en) 2020-05-26 2024-07-08 キヤノン株式会社 Suction mechanism, article manufacturing apparatus, semiconductor manufacturing apparatus, tool holding method, article manufacturing method, and semiconductor manufacturing method
WO2021241065A1 (en) * 2020-05-26 2021-12-02 キヤノン株式会社 Suction-attracting mechanism, article manufacturing device, and semiconductor manufacturing device
JP7504829B2 (en) * 2021-03-31 2024-06-24 東レエンジニアリング株式会社 Collet exchange mechanism
DE112021007670T5 (en) 2021-05-17 2024-03-07 Yamaha Hatsudoki Kabushiki Kaisha Component transfer device

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014056978A (en) 2012-09-13 2014-03-27 Hitachi High-Tech Instruments Co Ltd Die bonder and bonding method
KR20140066877A (en) * 2012-11-23 2014-06-03 세메스 주식회사 Die pickup unit and die bonder including the same
KR20140128517A (en) * 2013-04-26 2014-11-06 (주)에이젯 Semiconductor test handler having a exchangeable blade
KR20150120032A (en) * 2014-04-16 2015-10-27 삼성전자주식회사 Die bonding apparatus
KR20170038654A (en) * 2015-09-30 2017-04-07 파스포드 테크놀로지 주식회사 Die bonder and manufacturing method of semiconductor device

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0729680Y2 (en) * 1988-05-30 1995-07-05 株式会社テンリュウテクニックス Chip mounter parts replacement mechanism
JPH0637124A (en) * 1992-07-15 1994-02-10 Fujitsu Miyagi Electron:Kk Method for aligning chip
JP4233125B2 (en) * 1996-10-30 2009-03-04 パナソニック株式会社 Electronic component mounting apparatus and electronic component mounting method
TW573337B (en) * 2002-11-07 2004-01-21 Au Optronics Corp Apparatus and method for fixing integrated circuit chip
ATE522925T1 (en) * 2003-01-16 2011-09-15 Nxp Bv CHIP TRANSFER METHOD AND APPARATUS
AU2003266534A1 (en) * 2003-09-18 2005-04-11 Nec Machinery Corporation Collet, die bonder, and chip pick-up method
JP5054933B2 (en) * 2006-05-23 2012-10-24 ルネサスエレクトロニクス株式会社 Manufacturing method of semiconductor device
KR100834837B1 (en) * 2006-12-29 2008-06-03 삼성전자주식회사 Semiconductor die pick up apparatus and semiconductor die pick up methoe thereof
JP4811499B2 (en) * 2009-06-02 2011-11-09 パナソニック株式会社 Component mounting equipment
KR101340831B1 (en) * 2012-10-30 2013-12-11 세메스 주식회사 Apparatus for exchanging a collet
KR101385443B1 (en) * 2013-09-13 2014-04-16 이향이 Pick-up transfer collet for semiconductor chip
JP6400938B2 (en) * 2014-04-30 2018-10-03 ファスフォードテクノロジ株式会社 Die bonder and bonding method

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014056978A (en) 2012-09-13 2014-03-27 Hitachi High-Tech Instruments Co Ltd Die bonder and bonding method
KR20140066877A (en) * 2012-11-23 2014-06-03 세메스 주식회사 Die pickup unit and die bonder including the same
KR20140128517A (en) * 2013-04-26 2014-11-06 (주)에이젯 Semiconductor test handler having a exchangeable blade
KR20150120032A (en) * 2014-04-16 2015-10-27 삼성전자주식회사 Die bonding apparatus
KR20170038654A (en) * 2015-09-30 2017-04-07 파스포드 테크놀로지 주식회사 Die bonder and manufacturing method of semiconductor device

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20210047232A (en) * 2019-10-21 2021-04-29 한화정밀기계 주식회사 Apparatus for seperating collet
CN114434242A (en) * 2022-02-21 2022-05-06 无锡芯坤电子科技有限公司 Wafer polishing equipment and use method thereof
CN114434242B (en) * 2022-02-21 2023-02-17 无锡芯坤电子科技有限公司 Wafer polishing equipment and use method thereof

Also Published As

Publication number Publication date
KR102112776B1 (en) 2020-05-19
TW201911449A (en) 2019-03-16
TWI676226B (en) 2019-11-01
JP6889614B2 (en) 2021-06-18
JP2018206843A (en) 2018-12-27
CN108987305A (en) 2018-12-11
CN108987305B (en) 2022-03-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR102112776B1 (en) Semiconductor manufacturing apparatus and method for manufacturing semiconductor device
CN107180772B (en) Chip mounting device and method for manufacturing semiconductor device
KR101970401B1 (en) Semiconductor manufacturing device and manufacturing method of semiconductor device
JP6086763B2 (en) Collet cleaning method and die bonder using the same
CN108346585B (en) Semiconductor manufacturing apparatus and method for manufacturing semiconductor device
JP6941513B2 (en) Semiconductor manufacturing equipment and manufacturing method of semiconductor equipment
CN104347435A (en) An adsorption collet chuck and a chip adapter
CN109524313B (en) Semiconductor manufacturing apparatus, semiconductor device manufacturing method, and collet
US8857486B2 (en) Flip arm module for a bonding apparatus incorporating changeable collet tools
CN108428643B (en) Semiconductor manufacturing apparatus and method for manufacturing semiconductor device
CN108987291B (en) Semiconductor manufacturing apparatus and method for manufacturing semiconductor device
JP2001176892A (en) Die-bonding method and device thereof
JP3610941B2 (en) Electronic component mounting equipment
JP7377654B2 (en) Die bonding equipment, peeling unit, collet and semiconductor device manufacturing method
JP7328848B2 (en) Die bonding apparatus and semiconductor device manufacturing method
JP2019106418A (en) Electronic component mounting device
US20230022883A1 (en) Die ejecting apparatus and die bonding equipment including same
US20230028219A1 (en) Die bonding method and die bonding apparatus
JPH06244245A (en) Semiconductor device bonding device
JP2013222716A (en) Chip positioning device, chip positioning method, and die bonder

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant