KR102112776B1 - Semiconductor manufacturing apparatus and method for manufacturing semiconductor device - Google Patents

Semiconductor manufacturing apparatus and method for manufacturing semiconductor device Download PDF

Info

Publication number
KR102112776B1
KR102112776B1 KR1020180060161A KR20180060161A KR102112776B1 KR 102112776 B1 KR102112776 B1 KR 102112776B1 KR 1020180060161 A KR1020180060161 A KR 1020180060161A KR 20180060161 A KR20180060161 A KR 20180060161A KR 102112776 B1 KR102112776 B1 KR 102112776B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
collet
die
head
opening
holder
Prior art date
Application number
KR1020180060161A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR20180131425A (en
Inventor
히로시 마끼
Original Assignee
파스포드 테크놀로지 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 파스포드 테크놀로지 주식회사 filed Critical 파스포드 테크놀로지 주식회사
Publication of KR20180131425A publication Critical patent/KR20180131425A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR102112776B1 publication Critical patent/KR102112776B1/en

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67092Apparatus for mechanical treatment
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/50Assembly of semiconductor devices using processes or apparatus not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326, e.g. sealing of a cap to a base of a container
    • H01L21/52Mounting semiconductor bodies in containers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67132Apparatus for placing on an insulating substrate, e.g. tape
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67144Apparatus for mounting on conductive members, e.g. leadframes or conductors on insulating substrates
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67242Apparatus for monitoring, sorting or marking
    • H01L21/67259Position monitoring, e.g. misposition detection or presence detection
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/677Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
    • H01L21/67703Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations between different workstations
    • H01L21/67712Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations between different workstations the substrate being handled substantially vertically
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/677Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
    • H01L21/67739Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations into and out of processing chamber
    • H01L21/67742Mechanical parts of transfer devices
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/683Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
    • H01L21/6835Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using temporarily an auxiliary support
    • H01L21/6836Wafer tapes, e.g. grinding or dicing support tapes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/683Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
    • H01L21/687Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Robotics (AREA)
  • Die Bonding (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
  • Wire Bonding (AREA)

Abstract

복수의 외형 사이즈의 콜릿의 부착 및 제거가 가능한 콜릿 교환부를 구비하는 반도체 제조 장치를 제공하는 것이다. 반도체 제조 장치는, 자석으로 콜릿을 보유 지지하는 콜릿 홀더와, 선단에 해당 콜릿 홀더를 구비하고, 상기 콜릿으로 다이를 흡착하여 픽업하는 헤드와, 상기 콜릿을 교환하는 콜릿 교환부와, 상기 헤드 및 상기 콜릿 교환부를 제어하는 제어 장치를 구비한다. 상기 콜릿 교환부는, 갈고리 구조를 갖는 개폐 아암과 상기 개폐 아암을 제어하는 개폐 아암 제어 장치를 갖는 콜릿 클램프부를 구비한다. 상기 콜릿 홀더는 상기 개폐 아암의 갈고리의 릴리프부를 구비한다. 상기 제어 장치는, 상기 개폐 아암을 개폐시켜 상기 헤드를 상하시킴으로써, 상기 콜릿의 상기 콜릿 홀더에의 부착, 및 상기 콜릿의 상기 콜릿 홀더로부터의 제거를 행한다.Disclosed is a semiconductor manufacturing apparatus having a collet exchange unit capable of attaching and removing a plurality of collet of an external size. The semiconductor manufacturing apparatus includes a collet holder for holding a collet with a magnet, a collet holder at the tip, a head for picking up a die by adsorbing the die with the collet, a collet exchanger for exchanging the collet, the head and It has a control device for controlling the collet exchange. The collet exchange part includes a collet clamp part having an opening / closing arm having a hook structure and an opening / closing arm control device for controlling the opening / closing arm. The collet holder is provided with a relief portion of the hook of the opening and closing arm. The control device opens and closes the opening / closing arm to raise and lower the head, thereby attaching the collet to the collet holder and removing the collet from the collet holder.

Figure 112018051844960-pat00009
Figure 112018051844960-pat00009

Description

반도체 제조 장치 및 반도체 장치의 제조 방법{SEMICONDUCTOR MANUFACTURING APPARATUS AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE}A semiconductor manufacturing apparatus and a manufacturing method of a semiconductor device {SEMICONDUCTOR MANUFACTURING APPARATUS AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE}

본 개시는 반도체 제조 장치에 관한 것으로, 예를 들어 콜릿 홀더에 자석을 내장한 다이 본더에 적용 가능하다.The present disclosure relates to a semiconductor manufacturing apparatus, and is applicable to, for example, a die bonder in which a magnet is embedded in a collet holder.

반도체 장치의 제조 공정 일부에 반도체 칩(이하, 단순히 '다이'라고 함)을 배선 기판이나 리드 프레임 등(이하, 단순히 '기판'이라고 함)에 탑재하여 패키지를 조립하는 공정의 일부에, 반도체 웨이퍼(이하, 단순히 '웨이퍼'라고 함)로부터 다이를 분할하는 공정과, 분할한 다이를 기판 위에 탑재하는 본딩 공정이 있다. 본딩 공정에 사용되는 반도체 제조 장치가 다이 본더 등의 다이 본딩 장치이다.In a part of the process of assembling a package by mounting a semiconductor chip (hereinafter simply referred to as a 'die') on a wiring board or a lead frame (hereinafter simply referred to as a 'substrate') in a part of the manufacturing process of a semiconductor device, a semiconductor wafer There is a process of dividing a die from (hereinafter simply referred to as a 'wafer') and a bonding process in which the divided die is mounted on a substrate. A semiconductor manufacturing apparatus used in the bonding process is a die bonding apparatus such as a die bonder.

본딩 공정은, 웨이퍼로부터 분할된 다이를 다이싱 테이프로부터 1개씩 박리하고, 콜릿이라 불리는 흡착 지그를 사용하여 기판 위에 본딩한다.In the bonding process, dies divided from wafers are peeled one by one from the dicing tape and bonded onto a substrate using an adsorptive jig called collet.

이와 같은 다이 본더에서는, 품종(다이 사이즈)에 따라서 콜릿을 교환하거나, 혹은 다이의 표면 흠집이나 오염을 방지하기 위해서, 다이의 표면에 접촉하는 콜릿의 교환 빈도를 높일 필요가 있다(예를 들어, 일본 특허공개 제2014-56978호 공보(특허문헌 1)).In such a die bonder, it is necessary to increase the frequency of exchange of collets contacting the surface of the die in order to exchange collets depending on the type (die size) or to prevent surface scratches and contamination of the die (for example, Japanese Patent Publication No. 2014-56978 (Patent Document 1)).

일본 특허공개 제2014-56978호 공보Japanese Patent Publication No. 2014-56978

특허문헌 1에서는 콜릿 사이즈에 맞춰 구성된 콜릿 교환부의 갈고리를 이용하여 콜릿 홀더를 회전하여 자석 고정식 콜릿의 제거 및 부착이 행해진다. 그러나, 자석 고정식 콜릿에는 복수의 외형 사이즈가 있어, 동일한 구조로 제거 및 부착을 행할 수 없다.In patent document 1, the magnet holder-type collet is removed and attached by rotating the collet holder using the hook of the collet exchanger configured to the collet size. However, the magnet-fixed collet has a plurality of external sizes, and cannot be removed and attached in the same structure.

본 개시의 과제는, 복수의 외형 사이즈의 콜릿의 부착 및 제거가 가능한 콜릿 교환부를 구비하는 반도체 제조 장치를 제공하는 것이다.An object of the present disclosure is to provide a semiconductor manufacturing apparatus having a collet exchange unit capable of attaching and removing a plurality of collet sizes.

그 밖의 과제와 신규 특징은, 본 명세서의 기술 및 첨부 도면으로부터 밝혀질 것이다.Other problems and novel features will be revealed from the description of the present specification and the accompanying drawings.

본 개시 중 대표적인 것의 개요를 간단히 설명하면 하기와 같다.Brief description of the representative ones of the present disclosure is as follows.

즉, 반도체 제조 장치는, 자석으로 콜릿을 보유 지지하는 콜릿 홀더와, 선단에 해당 콜릿 홀더를 구비하고, 상기 콜릿으로 다이를 흡착하여 픽업하는 헤드와, 상기 콜릿을 교환하는 콜릿 교환부와, 상기 헤드 및 상기 콜릿 교환부를 제어하는 제어 장치를 구비한다. 상기 콜릿 교환부는, 갈고리 구조를 갖는 개폐 아암과 상기 개폐 아암을 제어하는 개폐 아암 제어 장치를 갖는 콜릿 클램프부를 구비한다. 상기 콜릿 홀더는 상기 개폐 아암의 갈고리의 릴리프부를 구비한다. 상기 제어 장치는, 상기 개폐 아암을 개폐시켜 상기 헤드를 상하시킴으로써, 상기 콜릿의 상기 콜릿 홀더에의 부착, 및 상기 콜릿의 상기 콜릿 홀더로부터의 제거를 행한다.That is, the semiconductor manufacturing apparatus includes a collet holder for holding a collet with a magnet, a collet holder at the tip, a head for adsorbing and picking up dies with the collet, and a collet exchanger for exchanging the collets. It has a head and a control device for controlling the collet exchange. The collet exchange part includes a collet clamp part having an opening / closing arm having a hook structure and an opening / closing arm control device for controlling the opening / closing arm. The collet holder is provided with a relief portion of the hook of the opening and closing arm. The control device opens and closes the opening / closing arm to raise and lower the head, thereby attaching the collet to the collet holder and removing the collet from the collet holder.

상기 반도체 제조 장치에 의하면, 복수의 외형 사이즈의 콜릿의 부착 및 제거를 할 수 있다.According to the above-mentioned semiconductor manufacturing apparatus, it is possible to attach and remove a plurality of collet of outer size.

도 1은, 다이 본더의 구성예를 설명하는 도면.
도 2는, 도 1의 다이 본더의 구성을 설명하는 도면.
도 3은, 도 1의 다이 공급부의 구성을 설명하는 도면.
도 4는, 도 3의 다이 공급부의 주요부를 설명하는 도면.
도 5는, 도 1의 다이 본더에서 사용하는 콜릿 홀더의 구조를 설명하는 도면.
도 6은, 도 5의 콜릿 홀더의 구조를 설명하는 도면.
도 7은, 도 1의 다이 본더에 구비하는 콜릿 교환부의 구조를 설명하는 도면.
도 8은, 도 7의 콜릿 교환부의 구조를 설명하는 도면.
도 9는, 도 1의 다이 본더에 있어서의 콜릿 교환 방법을 설명하는 도면.
도 10은, 도 1의 다이 본더에 있어서의 콜릿 교환 방법을 설명하는 도면.
도 11은, 도 1의 다이 본더에 있어서의 콜릿 교환 방법을 설명하는 도면.
도 12는, 도 1의 다이 본더에 있어서의 콜릿 교환 방법을 설명하는 도면.
도 13은, 도 1의 다이 본더에 있어서의 콜릿 홀더 교환 방법을 설명하는 도면.
도 14는, 도 1의 다이 본더를 사용한 반도체 장치의 제조 방법을 나타내는 흐름도.
1 is a view for explaining a configuration example of a die bonder.
2 is a diagram for explaining the configuration of the die bonder in FIG. 1.
3 is a view for explaining the configuration of the die supply unit in FIG. 1.
4 is a diagram for explaining a main part of the die supply part of FIG. 3.
5 is a view for explaining the structure of a collet holder used in the die bonder of FIG. 1;
6 is a view for explaining the structure of the collet holder of FIG. 5;
7 is a view for explaining the structure of a collet exchange unit provided in the die bonder of FIG. 1.
8 is a view for explaining the structure of the collet exchanger in FIG. 7;
Fig. 9 is a diagram for explaining a collet exchange method in the die bonder of Fig. 1;
Fig. 10 is a diagram for explaining a collet exchange method in the die bonder of Fig. 1;
Fig. 11 is a diagram for explaining a collet exchange method in the die bonder of Fig. 1;
12 is a diagram for explaining a collet exchange method in the die bonder of FIG. 1.
Fig. 13 is a diagram for explaining a method for replacing a collet holder in the die bonder of Fig. 1;
14 is a flowchart showing a method of manufacturing a semiconductor device using the die bonder of FIG. 1.

이하, 실시예에 대하여, 도면을 이용하여 설명한다. 단, 이하의 설명에 있어서, 동일 구성 요소에는 동일 부호를 붙여 반복되는 설명을 생략하는 경우가 있다. 또한, 도면은 설명을 보다 명확하게 하기 위해서, 실제의 형태에 비하여, 각 부의 폭, 두께, 형상 등에 대하여 모식적으로 표현되는 경우가 있지만, 어디까지나 일례로서, 본 발명의 해석을 한정하는 것은 아니다.Hereinafter, examples will be described with reference to the drawings. However, in the following description, the same components may be given the same reference numerals and repeated descriptions may be omitted. In addition, in order to make the description more clear, there are cases where the width, thickness, shape, etc. of each part are schematically expressed in comparison with the actual form, but the interpretation of the present invention is not limited by way of example only. .

<실시예><Example>

도 1은, 다이 본더의 구성예를 나타내는 상면도이다. 도 2는 도 1에 있어서 화살표 A 방향에서 보았을 때의 구성을 나타내는 도면이다.1 is a top view showing a configuration example of a die bonder. FIG. 2 is a view showing the configuration when viewed from the direction of arrow A in FIG. 1.

다이 본더(10)는, 크게 구별하여, 1개 또는 여러 개의 최종 1 패키지로 되는 제품 에어리어(이하, '패키지 에어리어 P'라고 함)를 프린트한 기판 S에 실장하는 다이 D를 공급하는 다이 공급부(1)와, 픽업부(2), 중간 스테이지부(3)와, 본딩부(4)와, 반송부(5), 기판 공급부(6)와, 기판 반출부(7)와, 각 부의 동작을 감시하여 제어하는 제어 장치(8)를 갖는다. Y축 방향이 다이 본더(10)의 전후 방향이며, X축 방향이 좌우 방향이다. 다이 공급부(1)가 다이 본더(10)의 앞쪽에 배치되고, 본딩부(4)가 안쪽에 배치된다.The die bonder 10 is largely distinguished, and a die supply unit for supplying a die D mounted on a substrate S on which a product area (hereinafter referred to as a 'package area P') consisting of one or several final 1 packages is printed ( 1), the pickup section 2, the intermediate stage section 3, the bonding section 4, the transfer section 5, the substrate supply section 6, the substrate transport section 7, and the operation of each section It has a control device 8 for monitoring and controlling. The Y-axis direction is the front-rear direction of the die bonder 10, and the X-axis direction is the left-right direction. The die supply part 1 is disposed in front of the die bonder 10, and the bonding part 4 is disposed inside.

우선, 다이 공급부(1)는 기판 S의 패키지 에어리어 P에 실장하는 다이 D를 공급한다. 다이 공급부(1)는, 웨이퍼(11)를 보유 지지하는 웨이퍼 보유 지지대(12)와, 웨이퍼(11)로부터 다이 D를 밀어올리는 점선으로 나타내는 밀어올림 유닛(13)을 갖는다. 다이 공급부(1)는 도시하지 않은 구동 수단에 의해 XY 방향으로 이동하고, 픽업하는 다이 D를 밀어올림 유닛(13)의 위치로 이동시킨다.First, the die supply unit 1 supplies the die D mounted on the package area P of the substrate S. The die supply unit 1 has a wafer holder 12 for holding the wafer 11 and a pushing unit 13 indicated by a dotted line pushing up the die D from the wafer 11. The die supply unit 1 moves in the XY direction by a driving means (not shown), and moves the picked up die D to the position of the pushing unit 13.

픽업부(2)는, 다이 D를 픽업하는 픽업 헤드(21)와, 픽업 헤드(21)를 Y 방향으로 이동시키는 픽업 헤드의 Y 구동부(23)와, 콜릿(22)을 승강, 회전 및 X 방향 이동시키는 도시하지 않은 각 구동부를 갖는다. 픽업 헤드(21)는, 밀어 올려진 다이 D를 선단에 흡착 보유 지지하는 콜릿(22)(도 2도 참조)을 갖고, 다이 공급부(1)로부터 다이 D를 픽업하여, 중간 스테이지(31)에 적재한다. 픽업 헤드(21)는, 콜릿(22)을 승강, 회전 및 X 방향 이동시키는 도시하지 않은 각 구동부를 갖는다.The pick-up section 2 lifts, rotates and rotates the pick-up head 21 for picking up the die D, the Y drive section 23 of the pick-up head for moving the pick-up head 21 in the Y direction, and the collet 22. It has each driving unit (not shown) that moves in the direction. The pick-up head 21 has a collet 22 (see FIG. 2) for adsorbing and holding the pushed-up die D at the tip, picking up the die D from the die supply section 1, and feeding it to the intermediate stage 31. Load. The pickup head 21 has respective driving parts (not shown) for moving the collet 22 up and down, rotating, and moving in the X direction.

중간 스테이지부(3)는, 다이 D를 일시적으로 적재하는 중간 스테이지(31)와, 중간 스테이지(31) 위의 다이 D를 인식하기 위한 스테이지 인식 카메라(32)를 갖는다.The intermediate stage part 3 has an intermediate stage 31 for temporarily loading the die D, and a stage recognition camera 32 for recognizing the die D on the intermediate stage 31.

본딩부(4)는, 중간 스테이지(31)로부터 다이 D를 픽업하고, 반송되어 오는 기판 S의 패키지 에어리어 P 위에 본딩하거나, 또는 이미 기판 S의 패키지 에어리어 P 위에 본딩된 다이의 위에 적층하는 형태로 본딩한다. 본딩부(4)는, 픽업 헤드(21)와 마찬가지로 다이 D를 선단에 흡착 보유 지지하는 콜릿(42)(도 2도 참조)을 구비하는 본딩 헤드(41)와, 본딩 헤드(41)를 Y 방향으로 이동시키는 Y 구동부(43)와, 기판 S의 패키지 에어리어 P의 위치 인식 마크(도시생략)를 촬상하고, 본딩 위치를 인식하는 기판 인식 카메라(44)를 갖는다.The bonding portion 4 is in the form of picking up the die D from the intermediate stage 31 and bonding it on the package area P of the substrate S to be conveyed, or stacking it on the die already bonded on the package area P of the substrate S. Bond. The bonding part 4, like the pickup head 21, Y the bonding head 41 provided with the collet 42 (refer FIG. 2) which adsorb | sucks and holds the die D at the front end, and the bonding head 41 Y It has a Y driver 43 moving in the direction, and a substrate recognition camera 44 that captures a position recognition mark (not shown) in the package area P of the substrate S and recognizes the bonding position.

이와 같은 구성에 의해, 본딩 헤드(41)는, 스테이지 인식 카메라(32)의 촬상 데이터에 기초하여 픽업 위치·자세를 보정하고, 중간 스테이지(31)로부터 다이 D를 픽업하고, 기판 인식 카메라(44)의 촬상 데이터에 기초하여 기판 S의 패키지 에어리어 P에 다이 D를 본딩한다.With such a configuration, the bonding head 41 corrects the pickup position and posture based on the imaging data of the stage recognition camera 32, picks up the die D from the intermediate stage 31, and board recognition camera 44 ), Die D is bonded to the package area P of the substrate S based on the imaging data.

반송부(5)는, 기판 S를 파지하여 반송하는 기판 반송 갈고리(51)와, 기판 S가 이동하는 반송 레인(52)을 갖는다. 기판 S는, 반송 레인(52)에 설치된 기판 반송 갈고리(51)의 너트를 반송 레인(52)을 따라 설치된 도시하지 않은 볼 나사로 구동함으로써 이동한다. 이와 같은 구성에 의해, 기판 S는, 기판 공급부(6)로부터 반송 레인(52)을 따라 본딩 위치까지 이동하고, 본딩 후, 기판 반출부(7)까지 이동하여, 기판 반출부(7)에 기판 S를 전달한다.The conveying section 5 has a substrate conveying claw 51 for gripping and conveying the substrate S, and a conveying lane 52 to which the substrate S moves. The board | substrate S moves by driving the nut of the board | substrate conveyance hook 51 provided in the conveyance lane 52 with the ball screw (not shown) provided along the conveyance lane 52. With such a configuration, the substrate S moves from the substrate supply section 6 to the bonding position along the conveyance lane 52, and after bonding, moves to the substrate transport section 7 to transfer the substrate to the substrate transport section 7 Pass S.

제어 장치(8)는, 다이 본더(10)의 각 부의 동작을 감시하여 제어하는 프로그램(소프트웨어)을 저장하는 메모리와, 메모리에 저장된 프로그램을 실행하는 중앙처리 장치(CPU)를 구비한다.The control device 8 includes a memory for storing a program (software) for monitoring and controlling the operation of each part of the die bonder 10, and a central processing unit (CPU) for executing a program stored in the memory.

다음으로, 다이 공급부(1)의 구성에 대하여 도 3 및 도 4를 이용하여 설명한다. 도 3은 도 1의 다이 공급부의 외관 사시도를 나타내는 도면이다. 도 4는 도 3의 다이 공급부의 주요부를 나타내는 개략 단면도이다.Next, the configuration of the die supply unit 1 will be described with reference to FIGS. 3 and 4. 3 is a view showing an external perspective view of the die supply unit of FIG. 1. 4 is a schematic cross-sectional view showing a main part of the die supply part of FIG. 3.

다이 공급부(1)는, 수평 방향(XY 방향)으로 이동하는 웨이퍼 보유 지지대(12)와, 상하 방향으로 이동하는 밀어올림 유닛(13)을 구비한다. 웨이퍼 보유 지지대(12)는, 웨이퍼 링(14)을 보유 지지하는 익스팬드 링(15)과, 웨이퍼 링(14)에 보유 지지되어 여러 개의 다이 D가 접착된 다이싱 테이프(16)를 수평으로 위치 결정하는 지지 링(17)을 갖는다. 밀어올림 유닛(13)은 지지 링(17)의 내측에 배치된다.The die supply unit 1 includes a wafer holder 12 that moves in the horizontal direction (XY direction) and a pushing unit 13 that moves in the vertical direction. The wafer holder 12 horizontally expands the expanding ring 15 holding the wafer ring 14 and the dicing tape 16 held by the wafer ring 14 and adhered to several dies D. It has a support ring (17) for positioning. The pushing unit 13 is disposed inside the support ring 17.

다이 공급부(1)는, 다이 D의 밀어올림 시에, 웨이퍼 링(14)을 보유 지지하고 있는 익스팬드 링(15)을 하강시킨다. 그 결과, 웨이퍼 링(14)에 보유 지지되어 있는 다이싱 테이프(16)가 쭉 늘여져 다이 D의 간격이 넓어지고, 밀어올림 유닛(13)에 의해 다이 D 아래쪽으로부터 다이 D를 밀어올려, 다이 D의 픽업성을 향상시키고 있다. 또한, 박형화에 수반하여 다이를 기판에 접착하는 접착제는, 액상으로부터 필름 형상으로 되고, 웨이퍼(11)와 다이싱 테이프(16)의 사이에 다이 어태치 필름(DAF)(18)이라 불리는 필름 형상의 접착 재료를 접착하고 있다. 다이 어태치 필름(18)을 갖는 웨이퍼(11)에서는, 다이싱은, 웨이퍼(11)와 다이 어태치 필름(18)에 대하여 행해진다. 따라서, 박리 공정에서는, 웨이퍼(11)와 다이 어태치 필름(18)을 다이싱 테이프(16)로부터 박리한다.When the die D is pushed up, the die supply unit 1 lowers the expand ring 15 holding the wafer ring 14. As a result, the dicing tape 16 held on the wafer ring 14 is stretched all the way, and the gap between the dies D is widened, and the die D is pushed up from the bottom of the die D by the pushing unit 13, thereby The pickup property of D is improved. Moreover, the adhesive which bonds a die to a board | substrate with thinning becomes a film form from a liquid phase, and is a film shape called die attach film (DAF) 18 between the wafer 11 and the dicing tape 16. Adhesive material. In the wafer 11 having the die attach film 18, dicing is performed on the wafer 11 and the die attach film 18. Therefore, in the peeling step, the wafer 11 and the die attach film 18 are peeled from the dicing tape 16.

픽업 헤드(21)는, 중심으로 흡착 에어가 흐르는 흡착 구멍(21a)을 갖고, 선단측에 콜릿 홀더(25)에 접속되는 콜릿 생크(21b)와, 콜릿 홀더(25)를 콜릿 생크(21b)에 고정하는 콜릿 고정부(21c)를 구비한다. 본딩 헤드(41)는 픽업 헤드(21)와 마찬가지이다.The pick-up head 21 has an adsorption hole 21a through which adsorption air flows to the center, and a collet shank 21b connected to the collet holder 25 on the distal end side, and a collet holder 25 to the collet shank 21b. It is provided with a collet fixing portion (21c) fixed to. The bonding head 41 is the same as the pickup head 21.

다음으로, 콜릿 홀더에 대하여 도 5, 6을 이용하여 설명한다. 도 5, 6은 도 1의 다이 본더에서 사용하는 콜릿 홀더를 설명하기 위한 도면으로, 도 5는 픽업 헤드, 콜릿 홀더 및 콜릿의 단면도이며, 도 6은 콜릿 홀더의 상면도이다.Next, the collet holder will be described with reference to Figs. 5 and 6 are views for explaining the collet holder used in the die bonder of FIG. 1, FIG. 5 is a cross-sectional view of the pickup head, the collet holder and the collet, and FIG. 6 is a top view of the collet holder.

콜릿 홀더(25)는, 중심에 픽업 헤드(21)의 흡착 구멍(21a)에 연통하는 흡착 구멍(25a)과, 콜릿(22)을 고정하는 자석(25b)을 구비한다. 콜릿 홀더(25)는 4변의 각 중앙 부근에 절결(갈고리 릴리프)(251c)을 갖고, 콜릿 교환 지그가 콜릿을 파지할 수 있도록 되어 있다. 자석(25b)에 의해 콜릿(22)을 흡인하여 콜릿(22)을 부착할 수 있도록, 콜릿 홀더(25)의 개구부는 아래쪽일수록 넓은 테이퍼 형상으로 되어 있다.The collet holder 25 is provided with an adsorption hole 25a communicating with the adsorption hole 21a of the pickup head 21 at the center, and a magnet 25b fixing the collet 22. The collet holder 25 has a cutout (hook relief) 251c near each center of the four sides, so that the collet exchange jig can grip the collet. The opening of the collet holder 25 has a wider tapered shape so that the collet 22 can be attached by sucking the collet 22 by the magnet 25b.

콜릿(22)은 자석으로 고정할 수 있도록 실리콘 고무 등의 탄성체(22a)의 이면에 스테인리스강(SUS(자성))(22b)을 용착하고, 4변을 콜릿 홀더(25)에 보유 지지하고, 다이 D를 흡착하기 위해서 흡착 구멍(251a)에 연통하는 여러 개의 흡착 구멍(도시생략)을 구비한다. 탄성체(22a)의 표면에는 다이 D와 접촉하여 보유 지지하는 보유 지지부(22c)를 갖는다. 보유 지지부(22c)는 탄성체(22a)와 일체적으로 형성되고, 다이 D와 동일 정도의 크기이다.The collet 22 is welded to stainless steel (SUS (magnetic)) 22b on the back surface of an elastic body 22a such as silicone rubber so that it can be fixed with a magnet, and holds the four sides in the collet holder 25, In order to adsorb the die D, a plurality of adsorption holes (not shown) communicating with the adsorption holes 251a are provided. The surface of the elastic body 22a has a holding portion 22c that holds and holds the die D. The holding portion 22c is formed integrally with the elastic body 22a, and is the same size as the die D.

픽업 헤드(21)에 대하여 설명하였지만, 본딩 헤드(41)도 마찬가지이다.The pickup head 21 has been described, but the bonding head 41 is the same.

다음으로, 콜릿 교환부에 대하여 도 7, 8을 이용하여 설명한다. 도 7은 도 1의 다이 본더에 구비하는 콜릿 교환부의 상면도이다. 도 8은 도 7의 A1-A2선 단면도이다.Next, the collet exchange section will be described with reference to Figs. 7 is a top view of the collet exchanger provided in the die bonder of FIG. 1. 8 is a cross-sectional view taken along line A1-A2 in FIG. 7.

콜릿 교환부(90)는, 콜릿 측면을 클램프하고 상부에 갈고리 구조를 가진 개폐 아암(91a)과 개폐 아암(91a)의 개폐를 제어하는 아암 제어부(91b)를 갖는 콜릿 클램프부(91)와, 미사용의 콜릿을 공급하는 공급부(92)와, 사용 완료된 콜릿을 폐기하는 폐기부(93)를 구비한다. 개폐 아암(91a)은 콜릿의 최대 폭에 맞춰서 개방할 수 있다. 도 8에 도시한 바와 같이, 개폐 아암(91a)은 폐쇄하면 콜릿 측면을 클램프 고정할 수 있으며, 고정된 상태에서는 상부의 좌우 2군데에 갈고리(91aa)가 배치된다. 공급부(92)와 폐기부(93)는, 상측에 개구부(92k, 93k)를 구비한다. 공급부(92) 및 폐기부(93)는 픽업 동작이나 본딩 동작에 영향이 없는 장소에 배치되고, 픽업 헤드(21) 및 본딩 헤드(41)의 동작 가능 범위 이외가 바람직하다. 콜릿 클램프부(91)와 공급부(92)와 폐기부(93)는 가로 방향의 일직선상에 배치되고, 콜릿 클램프부(91)는 가로 방향으로 이동한다. 또한, 콜릿 클램프부(91)는 수평 방향(X 방향, Y 방향) 및 수직 방향으로 이동 가능하도록 해도 된다.The collet exchange section 90 includes a collet clamp section 91 having a collet side clamp and an arm opening section 91a having a hook structure on the top and an arm control section 91b controlling opening and closing of the opening arm 91a, It has a supply part 92 for supplying unused collets, and a waste part 93 for discarding used collets. The opening / closing arm 91a can be opened to match the maximum width of the collet. As shown in Fig. 8, the opening and closing arms 91a can clamp the collet side surfaces when closed, and in the fixed state, the hooks 91aa are arranged at two places on the left and right of the upper part. The supply section 92 and the waste section 93 are provided with openings 92k and 93k on the upper side. The supply section 92 and the waste section 93 are disposed at a place where there is no influence on the pick-up operation or the bonding operation, and the pick-up head 21 and the bonding head 41 are preferably outside the operable range. The collet clamp part 91, the supply part 92, and the waste part 93 are disposed on a straight line in the horizontal direction, and the collet clamp part 91 moves in the horizontal direction. In addition, the collet clamp portion 91 may be movable in the horizontal direction (X direction, Y direction) and the vertical direction.

다음으로, 콜릿 교환부(90)에 있어서, 콜릿(22)을 콜릿 홀더(25)에 부착하는 방법 및 제거하는 방법에 대하여 도 9 내지 도 11을 이용하여 설명한다. 도 9는 콜릿이 개폐 아암에 파지되어 콜릿 홀더로부터 이격하고 있는 상태를 나타내는 도면으로, 도 9의 (A)는 상면도이며, 도 9의 (B)는 단면도이며, 도 9의 (C)는 측면도이다. 도 10은 콜릿이 개폐 아암에 파지되어 콜릿 홀더에 고정되어 있는 상태를 나타내는 도면으로, 도 10의 (A)는 상면도이며, 도 10의 (B)는 단면도이며, 도 10의 (C)는 측면도이다. 도 11은 콜릿이 콜릿 홀더에 고정되어 개폐 아암이 이격되어 있는 상태를 나타내는 도면으로, 도 11의 (A)는 상면도이며, 도 11의 (B)는 단면도이며, 도 11의 (C)는 측면도이다.Next, in the collet exchanger 90, a method of attaching and removing the collet 22 to the collet holder 25 will be described with reference to Figs. 9 is a view showing a state in which the collet is gripped by the opening / closing arm and spaced apart from the collet holder, FIG. 9 (A) is a top view, FIG. 9 (B) is a sectional view, and FIG. 9 (C) is Side view. 10 is a view showing a state in which the collet is gripped by the opening and closing arm and fixed to the collet holder, FIG. 10 (A) is a top view, FIG. 10 (B) is a sectional view, and FIG. 10 (C) is Side view. FIG. 11 is a view showing a state in which the collet is fixed to the collet holder and the opening and closing arms are spaced apart, FIG. 11 (A) is a top view, FIG. 11 (B) is a cross-sectional view, and FIG. 11 (C) is Side view.

우선, 콜릿(22)을 콜릿 홀더(25)에 부착하는 방법에 대하여 설명한다. 제어 장치(8)는 콜릿 클램프부(91)를 공급부(92)의 위쪽으로 이동시킨다. 제어 장치(8)는 공급부(92) 내의 콜릿(22)을 개폐 아암(91a)의 갈고리에 닿을 때까지 상승시킨다. 제어 장치(8)는 상승한 콜릿(22)을 개폐 아암(91a)에 의해 클램프한다. 도 9에 도시한 바와 같이, 제어 장치(8)는 콜릿(22)을 클램프한 콜릿 클램프부(91)를 교환 위치(중간 스테이지(31)의 위쪽)로 반송한다. 제어 장치(8)는 스테이지 인식 카메라(32)에 의해 콜릿 외형을 위치 인식한다. 바코드 등으로 품종 판정을 행하여도 된다.First, a method of attaching the collet 22 to the collet holder 25 will be described. The control device 8 moves the collet clamp part 91 upwards of the supply part 92. The control device 8 raises the collet 22 in the supply section 92 until it contacts the hook of the opening / closing arm 91a. The control device 8 clamps the raised collet 22 by the opening / closing arm 91a. 9, the control apparatus 8 conveys the collet clamp part 91 which clamped the collet 22 to the exchange position (above the intermediate stage 31). The control device 8 positions the collet appearance by the stage recognition camera 32. Variety determination may be performed using a barcode or the like.

도 10에 도시한 바와 같이, 제어 장치(8)는 콜릿이 없는 상태의 콜릿 홀더(25)를 하강시켜서 콜릿(22)을 부착한다. 콜릿 클램프 상태의 정밀도(자세)에 대해서는 엄격하게 하지 않고, 콜릿 홀더(25)를 접근시켜 자석(251b)의 자력으로 콜릿 홀더(25)를 빨아올림으로써, 콜릿(22)은 스스로 콜릿 홀더(25) 내에 위치 결정되어 장착된다. 전술한 바와 같이, 콜릿 홀더(25)에는 상하 좌우에 갈고리 릴리프(251C)가 있다. 도 11에 도시한 바와 같이, 제어 장치(8)는 개폐 아암(91a)을 개방하고, 콜릿 클램프부(91)를 소정의 위치로 이동시킨다.As shown in Fig. 10, the control device 8 attaches the collet 22 by lowering the collet holder 25 in the absence of the collet. The precision (posture) of the collet clamp state is not strictly enforced, and the collet holder 25 is pulled by the magnetic force of the magnet 251b by approaching the collet holder 25, so that the collet 22 itself is a collet holder 25 ). As described above, the collet holder 25 has hook reliefs 251C on the top, bottom, left, and right. As shown in Fig. 11, the control device 8 opens the opening / closing arm 91a, and moves the collet clamp portion 91 to a predetermined position.

다음으로, 콜릿(22)을 콜릿 홀더(25)로부터 제거하는 방법에 대하여 설명한다. 도 11에 도시한 바와 같이, 제어 장치(8)는 개폐 아암(91a)을 개방한 상태에서 콜릿 클램프부(91)를 제거 위치로 이동시킨다. 도 10에 도시한 바와 같이, 제어 장치(8)는 개폐 아암(91a)에 의해 콜릿(22)을 클램프한다. 도 9에 도시한 바와 같이, 제어 장치(8)는 개폐 아암(91a)이 콜릿(22)을 클램프한 상태에서 콜릿 홀더(25)를 상승시켜서, 콜릿(22)을 콜릿 홀더(25)로부터 제거한다. 제어 장치(8)는 개폐 아암(91a)이 클램프하고 있는(제거한) 콜릿(22)을 폐기부(93)의 위쪽으로 이송하여 개폐 아암(91a)을 개방하여 콜릿(22)을 낙하시켜 폐기부(93)에 수납한다.Next, a method of removing the collet 22 from the collet holder 25 will be described. As shown in FIG. 11, the control device 8 moves the collet clamp part 91 to the removal position in the state which opened and closed the arm 91a. As shown in Fig. 10, the control device 8 clamps the collet 22 by the opening / closing arm 91a. As shown in Fig. 9, the control device 8 raises the collet holder 25 in a state where the opening / closing arm 91a clamps the collet 22, thereby removing the collet 22 from the collet holder 25. do. The control device 8 transfers the collet 22 clamped (removed) by the opening / closing arm 91a to the upper portion of the discarding portion 93, opening the opening / closing arm 91a to drop the collet 22, thereby disposing the discarding portion (93).

픽업 헤드(21)의 콜릿 교환에 대하여 설명하였지만, 본딩 헤드(41)의 콜릿 교환도 마찬가지이다.Although the collet exchange of the pickup head 21 has been described, the collet exchange of the bonding head 41 is also the same.

도 7에 도시한 바와 같이, 종장 콜릿(세로로 긴 콜릿 홀더)에 대하여 설명하였지만, 도 11에 도시한 바와 같이, 횡장 콜릿(가로로 긴 콜릿 홀더)에도 적용할 수 있다.As shown in Fig. 7, the longitudinal collet (vertical long collet holder) has been described, but as shown in Fig. 11, it can also be applied to a transverse collet (horizontal collet holder).

다음으로, 콜릿 홀더의 교환 방법에 대하여 도 13을 이용하여 설명한다. 도 13은 콜릿 홀더가 개폐 아암에 파지되어 있는 상태를 나타내는 도면으로, 도 13의 (A)는 상면도이며, 도 13의 (B)는 단면도이며, 도 13의 (C)는 측면도이다.Next, a method of replacing the collet holder will be described with reference to FIG. 13. 13 is a view showing a state in which the collet holder is gripped by the opening / closing arm, FIG. 13 (A) is a top view, FIG. 13 (B) is a sectional view, and FIG. 13 (C) is a side view.

품종 변경 시에는 콜릿 홀더도 교환한다. 콜릿(22)과 마찬가지로 콜릿 홀더를 콜릿 클램프부(91)의 개폐 아암(91a)으로 클램프하여 제거하고, 부착한다. 콜릿 생크(21b)의 하부 또는 콜릿 홀더(25)의 상부에 자석을 설치하고, 콜릿 홀더도 자석에 의한 고정으로 하여 콜릿보다는 강한 고정력으로 한다.When changing varieties, replace the collet holder. Like the collet 22, the collet holder is removed by clamping it with the opening / closing arm 91a of the collet clamp portion 91, and then attached. A magnet is provided on the lower part of the collet shank 21b or the upper part of the collet holder 25, and the collet holder is also fixed by a magnet, so that it has a stronger fixing force than the collet.

중간 스테이지를 콜릿으로 구성하는 경우(콜릿 타입의 중간 스테이지)의 콜릿도 콜릿(22)과 마찬가지로 콜릿 클램프부(91)의 개폐 아암(91a)으로 클램프하여 제거하고, 부착할 수 있다.In the case where the intermediate stage is formed of a collet (a collet-type intermediate stage), the collet can be removed by clamping it with the opening / closing arm 91a of the collet clamp portion 91 as well as the collet 22.

실시예에서는, 콜릿 측면을 클램프하고 상부에 갈고리 구조를 가진 개폐 아암에 의해 콜릿을 교환하므로, 부품을 교환하지 않고, 각종 사이즈(품종(콜릿 외형)변경)에 적용할 수 있어, 부착 및 제거를 행할 수 있다. 이에 의해, 인력감축 및 가동률 개선을 행할 수 있다.In the embodiment, since the collet is clamped and the collet is exchanged by an opening / closing arm having a hook structure on the top, it can be applied to various sizes (change of product type (collet appearance)) without replacing parts, so that attachment and removal are possible. I can do it. Thereby, it is possible to reduce the manpower and improve the operation rate.

또한, 중간 스테이지 위쪽으로 콜릿 클램프부(91)를 이동함으로써, 콜릿, 콜릿 홀더, 콜릿 타입의 중간 스테이지의 전부를 하나의 콜릿 클램프부에서 교환(제거 및 부착)할 수 있다. 또한, 중간 스테이지 위쪽으로 콜릿 클램프부(91)를 이동함으로써, 본딩 헤드의 콜릿과 픽업 헤드의 콜릿의 양쪽을 교환할 수 있다. 즉, 콜릿의 3가지 용도(본딩 헤드, 픽업 헤드, 중간 스테이지) 각각에 대하여 각 품종 대응수의 콜릿을 하나의 콜릿 클램프부에서 교환할 수 있다. 또한, 중간 스테이지의 위쪽의 스테이지 인식 카메라로 콜릿의 장착 상태를 확인할 수 있다.In addition, by moving the collet clamp portion 91 above the intermediate stage, the entire collet, collet holder, and collet-type intermediate stage can be exchanged (removed and attached) in one collet clamp portion. Further, by moving the collet clamp portion 91 above the intermediate stage, both the collet of the bonding head and the collet of the pickup head can be exchanged. That is, for each of the three uses of the collet (bonding head, pickup head, intermediate stage), the collet of the number corresponding to each breed can be exchanged in one collet clamp part. In addition, the state of the collet can be checked with the stage recognition camera above the intermediate stage.

다음으로, 실시예에 따른 다이 본더를 사용한 반도체 장치의 제조 방법에 대하여 도 14를 이용하여 설명한다. 도 14는 반도체 장치의 제조 방법을 나타내는 흐름도이다.Next, a method for manufacturing a semiconductor device using a die bonder according to an embodiment will be described with reference to FIG. 14. 14 is a flowchart showing a method of manufacturing a semiconductor device.

스텝 S11: 웨이퍼(11)로부터 분할된 다이 D가 접착된 다이싱 테이프(16)를 보유 지지한 웨이퍼 링(14)을 웨이퍼 카세트(도시생략)에 저장하고, 다이 본더(10)에 반입한다. 제어 장치(8)는 웨이퍼 링(14)이 충전된 웨이퍼 카세트로부터 웨이퍼 링(14)을 다이 공급부(1)에 공급한다. 또한, 기판 S를 준비하고, 다이 본더(10)에 반입한다. 제어 장치(8)는 기판 공급부(6)에서 기판 S를 반송 레인(52)에 적재한다.Step S11: The wafer ring 14 holding the dicing tape 16 to which the die D divided from the wafer 11 is adhered is stored in a wafer cassette (not shown), and carried into the die bonder 10. The control device 8 supplies the wafer ring 14 to the die supply unit 1 from the wafer cassette filled with the wafer ring 14. Further, the substrate S is prepared and carried into the die bonder 10. The control device 8 loads the substrate S on the conveyance lane 52 in the substrate supply part 6.

스텝 S12: 제어 장치(8)는 웨이퍼 링(14)에 보유 지지된 다이싱 테이프(16)로부터 다이 D를 픽업한다.Step S12: The control device 8 picks up the die D from the dicing tape 16 held by the wafer ring 14.

스텝 S13: 제어 장치(8)는 픽업한 다이 D를 기판 S의 패키지 에어리어 P 위에 탑재 또는 이미 본딩한 다이의 위에 적층한다. 보다 구체적으로는, 제어 장치(8)는 다이싱 테이프(16)로부터 픽업한 다이 D를 중간 스테이지(31)에 적재하고, 본딩 헤드(41)로 중간 스테이지(31)로부터 다시 다이 D를 픽업하고, 반송되어 온 기판 S의 패키지 에어리어 P에 본딩한다.Step S13: The control device 8 places the picked-up die D on the package area P of the substrate S, or stacks it on the die already bonded. More specifically, the control device 8 loads the die D picked up from the dicing tape 16 onto the intermediate stage 31, picks up the die D again from the intermediate stage 31 with the bonding head 41, and , Bonding to the package area P of the conveyed board | substrate S.

스텝 S14: 제어 장치(8)는 기판 반송 갈고리(51)로 기판 S를 기판 반출부(7)까지 이동하여 기판 반출부(7)에 기판 S를 전달하고 다이 본더(10)로부터 기판 S를 반출한다(기판 언로딩).Step S14: The control device 8 moves the substrate S to the substrate carrying portion 7 with the substrate carrying claw 51 to transfer the substrate S to the substrate carrying portion 7 and carries the substrate S out of the die bonder 10 (Substrate unloading).

이상, 본 발명자에 의해 이루어진 발명을 실시예에 기초하여 구체적으로 설명하였지만, 본 발명은, 상기 실시예로 한정되는 것이 아니라, 다양하게 변경 가능한 것은 물론이다.In the above, although the invention made by the present inventors has been specifically described based on Examples, the present invention is not limited to the above Examples, and of course various changes are possible.

예를 들어, 실시예에서는, 콜릿 클램프부(91)와 공급부(92)와 폐기부(93)는 가로 방향의 일직선상에 배치되고, 콜릿 클램프부(91)는 가로 방향으로 이동하지만, 콜릿 클램프부(91)와 공급부(92)와 폐기부(93)는 세로 방향의 일직선상에 배치되고, 콜릿 클램프부(91)를 세로 방향으로 이동하도록 해도 된다. 또한, 공급부(92)와 폐기부(93)의 배열은 반대여도 된다.For example, in the embodiment, the collet clamp portion 91, the supply portion 92, and the waste portion 93 are disposed on a straight line in the horizontal direction, and the collet clamp portion 91 moves in the horizontal direction, but the collet clamp The portion 91, the supply portion 92, and the waste portion 93 are disposed on a straight line in the vertical direction, and the collet clamp portion 91 may be moved in the vertical direction. In addition, the arrangement of the supply part 92 and the waste part 93 may be reversed.

또한, 픽업부와 얼라인먼트부와 본딩부를 포함하는 실장부 및 반송 레인을 복수 조 구비한 다이 본더여도 되고, 픽업부와 얼라인먼트부와 본딩부를 포함하는 실장부를 복수 조 구비하고, 반송 레인은 하나 구비해도 된다.In addition, a die bonder having a plurality of mounting portions and a transport lane including a pickup portion, an alignment portion and a bonding portion may be used, or a plurality of mounting portions including a pickup portion, an alignment portion and a bonding portion may be provided, and even one transport lane may be provided. do.

또한, 실시예에서는, 다이 어태치 필름을 사용하는 예를 설명하였지만, 기판에 접착제를 도포하는 프리폼부를 설치하여 다이 어태치 필름을 사용하지 않아도 된다.In addition, although the example using the die attach film was described in the Examples, it is not necessary to use the die attach film by providing a preform portion for applying an adhesive to the substrate.

또한, 실시예에서는, 다이 공급부로부터 다이를 픽업 헤드로 픽업하여 중간 스테이지에 적재하고, 중간 스테이지에 적재된 다이를 본딩 헤드로 기판에 본딩하는 다이 본더에 대하여 설명하였지만, 이것으로 한정되는 것이 아니라, 다이 공급부로부터 다이를 픽업하는 반도체 제조 장치에 적용 가능하다.Further, in the embodiment, the die bonder for picking up the die from the die supplying section with the pick-up head and loading the die on the intermediate stage and bonding the die loaded on the intermediate stage to the substrate with the bonding head is not limited to this. It is applicable to a semiconductor manufacturing apparatus for picking up a die from a die supply section.

예를 들어, 중간 스테이지와 픽업 헤드가 없고, 다이 공급부의 다이를 본딩 헤드로 기판에 본딩하는 다이 본더에도 적용 가능하다.For example, there is no intermediate stage and a pickup head, and it is applicable also to a die bonder that bonds the die of the die supply section to the substrate with a bonding head.

또한, 중간 스테이지가 없고, 다이 공급부로부터 다이를 픽업하여 다이 픽업 헤드를 위로 회전하여 다이를 본딩 헤드에 전달하고 본딩 헤드로 기판에 본딩하는 플립 칩 본더에 적용 가능하다.In addition, there is no intermediate stage, and it is applicable to a flip chip bonder that picks up a die from the die supplying part, rotates the die pickup head upwards to transfer the die to the bonding head, and bonds the substrate with the bonding head.

또한, 중간 스테이지와 본딩 헤드가 없고, 다이 공급부로부터 픽업 헤드로 픽업한 다이를 트레이 등에 적재하는 다이 소터에 적용 가능하다.Further, there is no intermediate stage and a bonding head, and it is applicable to a die sorter for loading a die picked up from a die supply section to a pickup head on a tray or the like.

10: 다이 본더
1: 다이 공급부
2: 픽업부
21: 픽업 헤드
22: 콜릿
25: 콜릿 홀더
3: 중간 스테이지부
31: 중간 스테이지
4: 본딩부
41: 본딩 헤드
42: 콜릿
5: 반송부
51: 기판 반송 갈고리
8: 제어 장치
9: 콜릿 교환부
91: 콜릿 클램프부
91a: 개폐 아암
91b: 개폐 아암 제어부
92: 공급부
93: 폐기부
D: 다이
S: 기판
P: 패키지 에어리어
10: die bonder
1: die supply
2: pickup section
21: pickup head
22: Collet
25: collet holder
3: Middle stage section
31: intermediate stage
4: bonding
41: bonding head
42: Collet
5: conveying unit
51: substrate transfer hook
8: Control device
9: Collet exchange
91: collet clamp part
91a: opening and closing arm
91b: opening and closing arm control
92: supply
93: waste parts
D: die
S: Substrate
P: Package area

Claims (17)

자석으로 콜릿을 보유 지지하는 콜릿 홀더와,
선단에 해당 콜릿 홀더를 구비하고, 상기 콜릿으로 다이를 흡착하여 픽업하는 헤드와,
상기 콜릿을 교환하는 콜릿 교환부와,
상기 헤드 및 상기 콜릿 교환부를 제어하는 제어 장치
를 구비하고,
상기 콜릿 교환부는, 갈고리 구조를 갖는 개폐 아암과 상기 개폐 아암을 제어하는 개폐 아암 제어 장치를 갖는 콜릿 클램프부를 구비하고,
상기 콜릿 홀더는 상기 개폐 아암의 갈고리 릴리프부를 구비하고,
상기 개폐 아암이 폐쇄되면 상기 콜릿의 측면은 클램프 고정되고, 상기 갈고리 구조는 고정된 상태에서 상기 콜릿의 상부이며 상기 릴리프부의 좌우 2군데에 배치되고,
상기 제어 장치는, 상기 콜릿 클램프부를 교환 위치로 이동시키고, 상기 개폐 아암을 개폐시켜 상기 헤드를 상하시킴으로써, 상기 콜릿의 상기 콜릿 홀더에의 부착, 및 상기 콜릿의 상기 콜릿 홀더로부터의 제거를 행하도록 구성되는, 반도체 제조 장치.
Collet holder for holding the collet with a magnet,
A head having a corresponding collet holder at the tip, and picking up the die by adsorbing the die with the collet;
A collet exchange unit for exchanging the collets,
Control device for controlling the head and the collet exchange
Equipped with,
The collet exchange part includes a collet clamp part having an opening / closing arm having a hook structure and an opening / closing arm control device for controlling the opening / closing arm,
The collet holder is provided with a hook relief portion of the opening and closing arm,
When the opening and closing arms are closed, the side of the collet is clamped, and the hook structure is an upper part of the collet in a fixed state, and is disposed in two places on the left and right sides of the relief part,
The control device moves the collet clamp portion to an exchange position, opens and closes the opening arm, and moves the head up and down, so that the collet is attached to the collet holder, and the collet is removed from the collet holder. A semiconductor manufacturing apparatus constructed.
제1항에 있어서,
상기 콜릿 교환부는,
상기 콜릿 홀더에 부착하는 콜릿을 공급하는 공급부와,
상기 콜릿 홀더로부터 제거하는 콜릿을 폐기하는 폐기부
를 더 구비하는, 반도체 제조 장치.
According to claim 1,
The collet exchange unit,
And a supply unit for supplying the collet attached to the collet holder,
Discarding portion for discarding the collet removed from the collet holder
Further comprising, a semiconductor manufacturing apparatus.
제2항에 있어서,
상기 제어 장치는,
상기 공급부로부터 공급되는 콜릿을 상기 개폐 아암으로 클램프하고,
상기 개폐 아암으로 클램프한 콜릿을 상기 콜릿 홀더의 아래쪽으로 이동하고,
상기 콜릿 홀더를 하강시켜 상기 개폐 아암에 클램프된 콜릿을 상기 콜릿 홀더에 부착하도록 구성되는, 반도체 제조 장치.
According to claim 2,
The control device,
The collet supplied from the supply part is clamped with the opening / closing arm,
The collet clamped with the opening / closing arm is moved downward of the collet holder,
And lowering the collet holder to attach the collet clamped to the opening / closing arm to the collet holder.
제3항에 있어서,
상기 제어 장치는 상기 콜릿 홀더를 상기 개폐 아암에 클램프된 콜릿에 접근시킴으로써, 상기 개폐 아암에 클램프된 콜릿은 상기 자석의 자력으로 콜릿을 빨아올리고, 상기 콜릿 홀더 내에 위치 결정되고, 부착되도록 구성되는, 반도체 제조 장치.
According to claim 3,
The control device is configured to access the collet holder to the collet clamped to the opening / closing arm, so that the collet clamped to the opening / closing arm sucks the collet by the magnetic force of the magnet, is positioned within the collet holder, and is attached, Semiconductor manufacturing equipment.
제4항에 있어서,
상기 제어 장치는,
상기 콜릿 홀더에 고정된 콜릿을 상기 개폐 아암에 의해 클램프하고,
상기 콜릿 홀더를 상승하여 상기 콜릿 홀더에 고정된 콜릿을 상기 콜릿 홀더로부터 제거하고,
상기 개폐 아암에 의해 클램프된 콜릿을 상기 폐기부의 위쪽으로 이동하고,
상기 개폐 아암을 개방하여 콜릿을 상기 폐기부에 폐기하도록 구성되는, 반도체 제조 장치.
The method of claim 4,
The control device,
The collet fixed to the collet holder is clamped by the opening / closing arm,
By raising the collet holder, the collet fixed to the collet holder is removed from the collet holder,
The collet clamped by the opening / closing arm moves upwards of the waste portion,
A semiconductor manufacturing apparatus configured to open the opening / closing arm and discard the collet in the waste portion.
제1항에 있어서,
상기 제어 장치는, 상기 콜릿 클램프부를 교환 위치로 이동시키고, 상기 개폐 아암을 개폐시켜 상기 헤드를 상하시킴으로써, 상기 콜릿 홀더의 상기 헤드에의 부착, 및 상기 콜릿 홀더의 상기 헤드로부터의 제거를 행하도록 구성되는, 반도체 제조 장치.
According to claim 1,
The control device moves the collet clamp part to an exchange position, opens and closes the opening and closing arms, and moves the head up and down, so that the collet holder is attached to the head, and the collet holder is removed from the head. A semiconductor manufacturing apparatus constructed.
제6항에 있어서,
상기 제어 장치는,
상기 콜릿 홀더를 상기 개폐 아암으로 클램프하고,
상기 개폐 아암에 의해 클램프된 콜릿 홀더를 상기 헤드의 아래쪽으로 이동하고,
상기 헤드를 하강시켜 상기 개폐 아암에 클램프된 콜릿 홀더를 상기 헤드에 부착하도록 구성되는, 반도체 제조 장치.
The method of claim 6,
The control device,
The collet holder is clamped with the opening / closing arm,
The collet holder clamped by the opening / closing arm is moved downward of the head,
And a collet holder clamped to the opening / closing arm by lowering the head to be attached to the head.
제7항에 있어서,
상기 헤드는, 콜릿 홀더를 자력으로 흡인하는 자석을 갖는, 반도체 제조 장치.
The method of claim 7,
The head has a magnet for attracting the collet holder magnetically, a semiconductor manufacturing apparatus.
제8항에 있어서,
상기 제어 장치는,
상기 헤드에 고정된 콜릿 홀더를 상기 개폐 아암에 의해 클램프하고,
상기 헤드를 상승하여 상기 헤드에 고정된 콜릿 홀더를 상기 헤드로부터 제거하도록 구성되는, 반도체 제조 장치.
The method of claim 8,
The control device,
The collet holder fixed to the head is clamped by the opening / closing arm,
And lifting the head to remove the collet holder fixed to the head from the head.
제1항에 있어서,
다이가 접착된 다이싱 테이프를 보유 지지하는 웨이퍼 링을 갖는 다이 공급부를 더 구비하고,
상기 헤드는 상기 다이싱 테이프에 접착된 다이를 픽업하는 픽업 헤드인, 반도체 제조 장치.
According to claim 1,
Further comprising a die supply portion having a wafer ring for holding a dicing tape to which the die is adhered,
The head is a pickup head for picking up a die adhered to the dicing tape, a semiconductor manufacturing apparatus.
제10항에 있어서,
상기 픽업 헤드로 픽업한 다이가 적재되는 중간 스테이지와,
상기 중간 스테이지로부터 픽업한 다이를 기판 또는 이미 본딩된 다이의 위에 본딩하는 본딩 헤드
를 더 구비하고,
상기 본딩 헤드는 상기 콜릿 홀더를 구비하는, 반도체 제조 장치.
The method of claim 10,
An intermediate stage on which the die picked up by the pickup head is loaded,
A bonding head that bonds the die picked up from the intermediate stage onto a substrate or an already bonded die
Further comprising,
The bonding head is provided with the collet holder, a semiconductor manufacturing apparatus.
제11항에 있어서,
상기 제어 장치는 상기 콜릿 클램프부를 상기 교환 위치인 상기 중간 스테이지의 위쪽으로 이동시키고, 상기 픽업 헤드의 콜릿 및 상기 본딩 헤드의 콜릿을 교환하도록 구성되는, 반도체 제조 장치.
The method of claim 11,
And the control device is configured to move the collet clamp part upward of the intermediate stage, which is the exchange position, and exchange the collet of the pickup head and the collet of the bonding head.
제12항에 있어서,
상기 중간 스테이지는 콜릿 타입의 스테이지이며,
상기 제어 장치는, 상기 개폐 아암을 개폐하고, 상기 중간 스테이지를 상하하여, 콜릿을 상기 중간 스테이지에 부착, 및 콜릿을 상기 중간 스테이지로부터 제거하도록 구성되는, 반도체 제조 장치.
The method of claim 12,
The intermediate stage is a collet-type stage,
The control device is configured to open and close the opening arm, move the intermediate stage up and down, attach a collet to the intermediate stage, and remove the collet from the intermediate stage.
제1항에 있어서,
다이가 접착된 다이싱 테이프를 보유 지지하는 웨이퍼 링을 갖는 다이 공급부를 더 구비하고,
상기 헤드는 상기 다이싱 테이프에 접착된 다이를 픽업하여 기판 또는 이미 본딩된 다이의 위에 본딩하는 본딩 헤드인, 반도체 제조 장치.
According to claim 1,
Further comprising a die supply portion having a wafer ring for holding a dicing tape to which the die is adhered,
The head is a bonding head for picking up a die adhered to the dicing tape and bonding it onto a substrate or an already bonded die.
(a) 제1항 내지 제12항 중 어느 한 항에 기재된 반도체 제조 장치를 준비하는 공정과,
(b) 다이가 접착된 다이싱 테이프를 보유 지지하는 웨이퍼 링을 반입하는 공정과,
(c) 기판을 준비 반입하는 공정과,
(d) 다이를 픽업하는 공정과,
(e) 상기 픽업한 다이를 상기 기판 또는 이미 본딩된 다이의 위에 본딩하는 공정
을 구비하는, 반도체 장치의 제조 방법.
(a) a process for preparing the semiconductor manufacturing apparatus according to any one of items 1 to 12,
(b) carrying a wafer ring carrying a dicing tape to which the die is adhered;
(c) a process of preparing and bringing in a substrate,
(d) the process of picking up the die,
(e) a process of bonding the picked up die onto the substrate or an already bonded die.
A method of manufacturing a semiconductor device comprising:
제15항에 있어서,
상기 (d) 공정은 상기 다이싱 테이프에 접착된 다이를 본딩 헤드로 픽업하고,
상기 (e) 공정은 상기 본딩 헤드로 픽업한 다이를 상기 기판 또는 이미 본딩된 다이의 위에 본딩하는, 반도체 장치의 제조 방법.
The method of claim 15,
In the step (d), a die adhered to the dicing tape is picked up by a bonding head,
The step (e) is a method of manufacturing a semiconductor device, wherein the die picked up by the bonding head is bonded onto the substrate or an already bonded die.
제16항에 있어서,
상기 (d) 공정은,
(d1) 상기 다이싱 테이프에 접착된 다이를 픽업 헤드로 픽업하는 공정과,
(d2) 상기 픽업 헤드로 픽업한 다이를 중간 스테이지에 적재하는 공정
을 갖고,
상기 (e) 공정은,
(e1) 상기 중간 스테이지에 적재된 다이를 본딩 헤드로 픽업하는 공정과,
(e2) 상기 본딩 헤드로 픽업한 다이를 상기 기판에 적재하는 공정
을 구비하는, 반도체 장치의 제조 방법.
The method of claim 16,
The step (d) is,
(d1) a process of picking up a die adhered to the dicing tape with a pickup head,
(d2) A process of loading the die picked up by the pickup head onto an intermediate stage
Have
The step (e) is,
(e1) a process of picking up the die mounted on the intermediate stage with a bonding head,
(e2) Process of loading the die picked up by the bonding head onto the substrate
A method of manufacturing a semiconductor device comprising:
KR1020180060161A 2017-05-31 2018-05-28 Semiconductor manufacturing apparatus and method for manufacturing semiconductor device KR102112776B1 (en)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2017108047A JP6889614B2 (en) 2017-05-31 2017-05-31 Semiconductor manufacturing equipment and manufacturing method of semiconductor equipment
JPJP-P-2017-108047 2017-05-31

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20180131425A KR20180131425A (en) 2018-12-10
KR102112776B1 true KR102112776B1 (en) 2020-05-19

Family

ID=64542806

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020180060161A KR102112776B1 (en) 2017-05-31 2018-05-28 Semiconductor manufacturing apparatus and method for manufacturing semiconductor device

Country Status (4)

Country Link
JP (1) JP6889614B2 (en)
KR (1) KR102112776B1 (en)
CN (1) CN108987305B (en)
TW (1) TWI676226B (en)

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6923950B2 (en) * 2019-04-03 2021-08-25 日精電子株式会社 Collet and its manufacturing method
JP7308429B2 (en) 2019-10-11 2023-07-14 パナソニックIpマネジメント株式会社 Parts feeder
JP7446765B2 (en) * 2019-10-21 2024-03-11 ハンファ精密機械株式会社 Collet removal device
JP6880158B1 (en) * 2019-11-29 2021-06-02 キヤノンマシナリー株式会社 Work transfer device, work transfer method, transfer body manufacturing method, semiconductor device manufacturing method, and die bonder
KR20230011357A (en) 2020-05-26 2023-01-20 캐논 가부시끼가이샤 Suction mechanism, article manufacturing equipment, semiconductor manufacturing equipment
JP2022156177A (en) 2021-03-31 2022-10-14 東レエンジニアリング株式会社 Collet exchange mechanism
JPWO2022244033A1 (en) * 2021-05-17 2022-11-24
CN114434242B (en) * 2022-02-21 2023-02-17 无锡芯坤电子科技有限公司 Wafer polishing equipment and use method thereof

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0729680Y2 (en) * 1988-05-30 1995-07-05 株式会社テンリュウテクニックス Chip mounter parts replacement mechanism
JPH0637124A (en) * 1992-07-15 1994-02-10 Fujitsu Miyagi Electron:Kk Method for aligning chip
JP4233125B2 (en) * 1996-10-30 2009-03-04 パナソニック株式会社 Electronic component mounting apparatus and electronic component mounting method
TW573337B (en) * 2002-11-07 2004-01-21 Au Optronics Corp Apparatus and method for fixing integrated circuit chip
ATE522925T1 (en) * 2003-01-16 2011-09-15 Nxp Bv CHIP TRANSFER METHOD AND APPARATUS
JPWO2005029574A1 (en) * 2003-09-18 2006-11-30 キヤノンマシナリー株式会社 Collet, die bonder and chip pickup method
JP5054933B2 (en) * 2006-05-23 2012-10-24 ルネサスエレクトロニクス株式会社 Manufacturing method of semiconductor device
KR100834837B1 (en) * 2006-12-29 2008-06-03 삼성전자주식회사 Semiconductor die pick up apparatus and semiconductor die pick up methoe thereof
JP4811499B2 (en) * 2009-06-02 2011-11-09 パナソニック株式会社 Component mounting equipment
JP6086680B2 (en) * 2012-09-13 2017-03-01 ファスフォードテクノロジ株式会社 Die bonder and bonding method
KR101340831B1 (en) * 2012-10-30 2013-12-11 세메스 주식회사 Apparatus for exchanging a collet
KR101422356B1 (en) * 2012-11-23 2014-07-23 세메스 주식회사 Die pickup unit and die bonder including the same
KR101503999B1 (en) * 2013-04-26 2015-03-18 (주)지컴 Semiconductor test handler having a exchangeable blade
KR101385443B1 (en) * 2013-09-13 2014-04-16 이향이 Pick-up transfer collet for semiconductor chip
KR102247033B1 (en) * 2014-04-16 2021-05-03 삼성전자주식회사 Die bonding apparatus
JP6400938B2 (en) * 2014-04-30 2018-10-03 ファスフォードテクノロジ株式会社 Die bonder and bonding method
JP6573813B2 (en) * 2015-09-30 2019-09-11 ファスフォードテクノロジ株式会社 Die bonder and semiconductor device manufacturing method

Also Published As

Publication number Publication date
JP6889614B2 (en) 2021-06-18
CN108987305B (en) 2022-03-29
CN108987305A (en) 2018-12-11
TW201911449A (en) 2019-03-16
KR20180131425A (en) 2018-12-10
JP2018206843A (en) 2018-12-27
TWI676226B (en) 2019-11-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR102112776B1 (en) Semiconductor manufacturing apparatus and method for manufacturing semiconductor device
KR102047035B1 (en) Die bonding apparatus
CN107180772B (en) Chip mounting device and method for manufacturing semiconductor device
KR101970401B1 (en) Semiconductor manufacturing device and manufacturing method of semiconductor device
CN108346585B (en) Semiconductor manufacturing apparatus and method for manufacturing semiconductor device
KR101449246B1 (en) Die bonder and bonding method
US8857486B2 (en) Flip arm module for a bonding apparatus incorporating changeable collet tools
JP2019047089A (en) Semiconductor manufacturing device and manufacturing method of semiconductor device
TW202025334A (en) Semiconductor manufacturing apparatus push-up jig and method for manufacturing semiconductor device
KR20200048436A (en) Bonding module and die bonding apparatus having the same
KR20190042419A (en) Semiconductor manufacturing device and manufacturing method of semiconductor device
JP2001176892A (en) Die-bonding method and device thereof
KR102050741B1 (en) Semiconductor manufacturing apparatus and method for manufacturing semiconductor device
KR101834644B1 (en) Die bonding apparatus
KR101975370B1 (en) Apparatus for handling led device and transfer tool
JP7377654B2 (en) Die bonding equipment, peeling unit, collet and semiconductor device manufacturing method
JP7328848B2 (en) Die bonding apparatus and semiconductor device manufacturing method
JP5826701B2 (en) Chip positioning device, chip positioning method, and die bonder
JPH06244245A (en) Semiconductor device bonding device

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant