KR20180067103A - 다수 개의 전자 부품의 탐지를 위한 엑스레이 장치 및 그에 의한 전자 부품의 탐지 방법 - Google Patents

다수 개의 전자 부품의 탐지를 위한 엑스레이 장치 및 그에 의한 전자 부품의 탐지 방법 Download PDF

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Abstract

본 발명은 다수 개의 전자 부품의 탐지를 위한 엑스레이 장치 및 그에 의한 전자 부품의 탐지 방법에 관한 것이고, 구체적으로 다수 개의 전자 부품에 대한 이미지를 획득하여 전자 부품의 수량 산출 또는 배치 검사가 가능하도록 하는 다수 개의 전자 부품의 탐지를 위한 엑스레이 장치 및 그에 의한 전자 부품의 탐지 방법에 관한 것이다. 다수 개의 전자 부품의 탐지를 위한 엑스레이 장치 및 그에 의한 전자 부품의 탐지 방법은 밀폐 공간의 내부와 외부로 이동 가능하도록 형성되고, 적어도 하나의 부품 저장 유닛이 배치되는 평면 트레이가 형성된 부품 검사 트레이(11); 밀폐 공간의 위쪽에 배치된 엑스레이 튜브(13); 및 상기 밀폐 공간에 배치되어 엑스레이 튜브(13)로부터 부품 검사 트레이(11)로 조사되는 엑스레이로부터 상기 부품 저장 유닛의 엑스레이 이미지를 획득하는 평면 디텍터(14)를 포함하고, 상기 부품 저장 유닛의 각각은 다수 개의 부품을 포함하면서 상기 다수 개의 부품 각각에 대한 이미지가 획득되도록 배치되는 것을 특징으로 한다.

Description

다수 개의 전자 부품의 탐지를 위한 엑스레이 장치 및 그에 의한 전자 부품의 탐지 방법{An X-ray Apparatus for Detecting a Plural of Electric Elements and a Method for Detecting the Same}
본 발명은 다수 개의 전자 부품의 탐지를 위한 엑스레이 장치 및 그에 의한 전자 부품의 탐지 방법에 관한 것이고, 구체적으로 다수 개의 전자 부품에 대한 이미지를 획득하여 전자 부품의 수량 산출 또는 배치 검사가 가능하도록 하는 다수 개의 전자 부품의 탐지를 위한 엑스레이 장치 및 그에 의한 전자 부품의 탐지 방법에 관한 것이다.
휴대용 전자기기의 전자회로 기판과 같은 전자 장치에 배치되는 전자 부품은 부품 테이프에 배치되어 테이프 피더에 의하여 픽업 위치로 이송될 수 있다. 부품 테이프는 테이퍼 피더로 공급되기 이전에 릴(reel)과 같은 장치에 감긴 상태로 공급 대기 상태로 만들어질 수 있다. 그리고 테이퍼 피더로 공급되기 이전에 릴에 감긴 상태에서 부품의 배치 상태가 검사되는 것이 유리하다. 이와 같이 다수 개의 부품의 공급을 위한 공급 유닛에 대한 검사는 다양한 전자 제품의 제조 공정에서 요구될 수 있고, 부품이 픽업 위치로 이송되기 이전에 공급 유닛의 정해진 위치에 부품이 배치되어 있는지 여부가 검사될 필요가 있다.
특허공개번호 제10-2010-0078642호는 제품을 공급하는 제품 공급부; 진공압을 이용하여 상기 제품 공급부에서 제품을 흡착하여 배출 컨베이어로 운반하는 운반 수단; 상기 제품 공급부에 설치되어 상기 운반 수단에 의해 흡착되는 제품을 감지하는 제품 감지 센서; 상기 제품 감지 센서로부터 신호를 입력받아 제품이 숫자를 계수하여 표시부에 표시하는 제어부를 포함하는 전자부품 패키지 자동 카운터 시스템에 대하여 개시한다.
특허공개번호 제10-2011-0061359호는 측정 대상물에 조명을 조사하는 조명 수단과, 상기 조명이 측정 대상물을 통과하거나 측정 대상물에 반사되면서 생성된 측정 대상물의 영상을 획득하는 카메라와, 상기 카메라에서 획득된 영상을 전송받아 해석하는 컴퓨터로 이루어진 발광 다이오드 칩 카운터에 대하여 개시한다.
선행기술 또는 공지된 부품 수량의 산출 기술은 다수 개의 칩이 공급되기 이전에 동시에 산출이 가능하도록 하는 방법에 대하여 개시하지 않는다. 또한 예를 들어 릴과 같은 공급 수단에 감긴 상태에서 하나의 릴에 배치된 다수 개의 칩의 개수를 산출할 수 있는 기술에 대하여 개시하지 않는다.
본 발명은 선행기술의 문제점을 해결하기 위한 것으로 아래와 같은 목적을 가진다.
선행기술 1: 특허공개번호 제10-2010-0078642호(원광보건대학교 산학협력단, 2010년07월08일 공개) 전자부품 패키지 자동 카운터 시스템 선행기술 2: 특허공개번호 제10-2011-0061359호((주)인텍플러스, 2011년06월09일 공개) 발광다이오드(LED) 칩 카운터
본 발명의 목적은 엑스레이로부터 얻어진 다수 개의 전자 부품에 대한 이미지를 획득하여 전자 부품의 수량 또는 배치의 검사가 가능하도록 하는 다수 개의 전자 부품의 탐지를 위한 엑스레이 장치 및 그에 의한 전자 부품의 탐지 방법을 제공하는 것이다.
본 발명의 적절한 실시 형태에 따르면, 다수 개의 전자 부품의 탐지를 위한 엑스레이 장치 및 그에 의한 전자 부품의 탐지 방법은 밀폐 공간의 내부와 외부로 이동 가능하도록 형성되고, 적어도 하나의 부품 저장 유닛이 배치되는 평면 트레이가 형성된 부품 검사 트레이; 밀폐 공간의 위쪽에 배치된 엑스레이 튜브; 및 상기 밀폐 공간에 배치되어 엑스레이 튜브로부터 부품 검사 트레이로 조사되는 엑스레이로부터 상기 부품 저장 유닛의 엑스레이 이미지를 획득하는 평면 디텍터를 포함하고, 상기 부품 저장 유닛의 각각은 다수 개의 부품을 포함하면서 상기 다수 개의 부품 각각에 대한 이미지가 획득되도록 배치된다.
본 발명의 다른 적절한 실시 형태에 따르면, 부품 검사 트레이는 슬라이딩 방식으로 이동되고, 부품 검사 트레이에 차단 플레이트가 결합된다.
본 발명의 또 다른 적절한 실시 형태에 따르면, 상기 부품 저장 유닛은 다수 개의 전자 부품이 서로 분리되어 연속적으로 배치된 부품 테이프가 감겨진 릴(reel)이 되고, 상기 릴(reel)은 부품 검사 트레이의 임의의 위치에 배치된다.
본 발명의 또 다른 적절한 실시 형태에 따르면, 평면 디텍터에 의하여 얻어진 이미지로부터 상기 릴에 배치된 전자 부품의 수량이 산출된다.
본 발명의 또 다른 적절한 실시 형태에 따르면, 부품 검사 트레이가 밀폐 공간의 외부로 슬라이딩 방식으로 배출되는 단계; 상기 부품 검사 트레이에 다수 개의 전자 부품이 감겨진 릴이 배치되는 단계; 상기 부품 검사 트레이가 상기 밀폐 공간의 내부로 투입되는 단계; 및 상기 릴에 엑스레이가 조사되어 평면 디텍터에 의하여 상기 릴에 배치된 전자부품의 엑스레이 이미지가 얻어지는 단계를 포함하고, 상기 다수 개의 전자 부품은 서로 다른 반지름을 가지는 원주를 따라 배치되는 부품 그룹으로 이루어진다.
본 발명의 또 다른 적절한 실시 형태에 따르면, 상기 다수 개의 전자 부품의 각각의 이미지는 분리된 전자부품과 겹쳐진 전자 부품이 탐지된다.
본 발명의 또 다른 적절한 실시 형태에 따르면, 상기 엑스레이 이미지가 획득되어 전자 부품에 대한 검사가 완료된 이후 상기 릴에 검사 결과에 따른 바코드가 부착되는 단계를 더 포함한다.
본 발명에 따른 엑스레이 장치는 엑스레이 이미지로부터 다수 개의 전자 부품의 수량을 비롯한 배치와 같은 다수 개의 전자 부품에 대한 수량 산출 또는 배치의 검사가 가능하도록 한다. 예를 들어 본 발명에 따른 엑스레이 장치는 부품 테이프가 릴에 감긴 상태에서 부품 테이프에 배치된 전자 부품의 수량 또는 배치 상태의 검사가 가능하도록 한다. 본 발명에 따른 엑스레이에 의한 다수 개의 전자 부품의 탐지 방법은 부품 저장 유닛에 각각의 전자 부품이 배치된 상태에서 각각의 전자 부품의 수량 또는 배치 상태의 탐지가 가능하도로 한다. 또한 본 발명에 따른 방법은 다수 개의 전자 부품이 연속적으로 배치된 부품 저장 유닛에서 부품 배치의 누락 또는 손상의 검사가 가능하도록 한다. 추가로 본 발명에 따른 검사 장치 또는 검사 방법은 검사 트레이에서 각각의 전자 부품의 배치 위치에 제한되지 않고 검사 또는 탐지가 가능하도록 한다.
도 1a 및 도 1b는 본 발명에 따른 엑스레이 장치의 실시 예를 도시한 것이다.
도 2a, 도 2b 및 도 2c는 본 발명에 따른 엑스레이 장치에 적용되는 검사 트레이의 이동 구조의 실시 예를 도시한 것이다.
도 3은 본 발명에 따른 엑스레이 장치에 의하여 얻어진 부품 테이프가 감겨진 릴(reel)의 전자 부품 이미지의 실시 예를 도시한 것이다.
도 4a 및 도 4b는 본 발명에 따른 다수 개의 전자 부품의 탐지 방법의 실시 예를 도시한 것이다.
아래에서 본 발명은 첨부된 도면에 제시된 실시 예를 참조하여 상세하게 설명이 되지만 실시 예는 본 발명의 명확한 이해를 위한 것으로 본 발명은 이에 제한되지 않는다. 아래의 설명에서 서로 다른 도면에서 동일한 도면 부호를 가지는 구성요소는 유사한 기능을 가지므로 발명의 이해를 위하여 필요하지 않는다면 반복하여 설명이 되지 않으며 공지의 구성요소는 간략하게 설명이 되거나 생략이 되지만 본 발명의 실시 예에서 제외되는 것으로 이해되지 않아야 한다.
도 1a 및 도 1b는 본 발명에 따른 엑스레이 장치의 실시 예를 도시한 것이다.
도 1a 및 도 1b를 참조하면, 다수 개의 전자 부품의 탐지를 위한 엑스레이 장치는 밀폐 공간의 내부와 외부로 이동 가능하도록 형성되고, 적어도 하나의 부품 저장 유닛이 배치되는 평면 트레이가 형성된 부품 검사 트레이(11);
밀폐 공간의 위쪽에 배치된 엑스레이 튜브(13); 및 상기 밀폐 공간에 배치되어 엑스레이 튜브(13)로부터 부품 검사 트레이(11)로 조사되는 엑스레이로부터 상기 부품 저장 유닛의 엑스레이 이미지를 획득하는 평면 디텍터(14)를 포함하고, 상기 부품 저장 유닛의 각각은 다수 개의 부품을 포함하면서 상기 다수 개의 부품 각각에 대한 이미지가 획득되도록 배치된다.
본 발명에 따른 엑스레이 장치는 육안 또는 광학 수단에 의하여 확인되기 어려운 전자 부품을 탐지하고, 탐지된 전자 부품의 수량을 산출하거나 또는 배치 상태를 탐지하기 위하여 사용될 수 있다. 전자 부품은 예를 들어 부품 테이프의 부품 포켓에 밀폐된 상태로 배치될 수 있고, 부품 테이프는 원형으로 릴에 감겨질 수 있다. 또한 하나의 릴에 배치된 전자 부품의 개수는 직접 산출되기 어렵고, 각각의 전자 부품의 배치 상태가 확인되기 어렵다. 이와 같이 릴에 배치된 전자 부품은 육안 또는 광학 검사기에 의하여 탐지 또는 확인되기 어렵고, 전자부품의 개수의 산출을 위하여 많은 시간이 요구될 수 있다. 본 발명에 따른 엑스레이 장치는 이와 같이 배치 구조, 크기 또는 전체 수량으로 인하여 부품의 배치 위치, 부품의 누락 여부 또는 전체 부품의 수량 산출이 어려운 부품 저장 유닛에 적용될 수 있지만 이에 제한되지 않는다. 또한 검사 대상이 전자 부품으로 제한되는 것은 아니다.
예를 들어 다수 개의 부품은 각각 분리된 형태로 임의의 개수가 검사 대상이 될 수 있고, 본 발명에 따른 검사 장치는 검사 트레이에 임의로 흩어져서 배치된 다수 개의 부품에 대한 이미지를 동시에 획득하여 다수 개의 부품의 수량이 산출되는 것이 가능하도록 한다.
아래에서 다수 개의 전자 부품이 연속적으로 배치된 부품 테이프가 감겨질 릴(reel)이 실시 예에 제시되지만 이는 본 발명의 명확한 이해를 위한 예시적인 것으로 본 발명은 제시된 실시 예에 제한되지 않는다.
밀폐 공간은 전체적으로 박스 형상 또는 실린더 형상이 될 수 있고, 다수 개의 수직 부재(VF) 또는 수평 부재(HF)와 그에 의하여 고정되는 벽면에 의하여 형성될 수 있다. 밀폐 공간은 다수 개의 구획으로 나누어질 수 있고, 예를 들어 수직 또는 수평 방향으로 다수 개의 구획을 형성할 수 있다. 그리고 아래쪽에 형성된 구획에 엑스레이 장치의 작동을 위한 제어 유닛 또는 구동 유닛과 같은 것이 배치될 수 있다. 그리고 위쪽에 형성된 구획에 엑스레이 튜브(13)가 배치되고 중간 구획에 부품 검사 트레이(11)가 배치될 수 있다.
부품 검사 트레이(11)는 슬라이딩 방식 또는 이와 유사한 방식으로 밀폐 공간의 내부 또는 외부로 이동될 수 있는 구조로 만들어질 수 있다. 예를 들어 부품 검사 트레이(11)는 사각 판 형상으로 만들어질 수 있고, 밀폐 공간에 형성된 투입 슬릿을 통하여 내부에서 외부로 또는 그 역으로 슬라이딩 방식으로 이동될 수 있다. 예를 들어 부품 검사 트레이(11)의 이동을 위하여 서로 마주보도록 한 쌍의 이동 가이드(12)가 설치될 수 있고, 부품 검사 트레이(11)는 이동 가이드(12)를 따라 이동될 수 있다. 부품 검사 트레이(11)의 위쪽 평면에 검사 평면이 형성될 수 있고, 검사 평면에 예를 들어 부품 테이프가 감긴 릴과 같은 부품 저장 유닛(ER)이 배치될 수 있다.
부품 검사 트레이(11)가 이동 가이드(12)를 따라 밀폐 공간의 외부로 이동되면 부품 저장 유닛(ER)이 검사 평면에 위치될 수 있다. 그리고 부품 검사 트레이(11)가 다시 이동 가이드(12)를 따라 밀폐 공간의 내부로 이동될 수 있다. 이후 부품 검사 트레이(11)가 밀폐 공간의 내부에 위치하면서 차단 플레이트(15)에 의하여 투입 슬릿이 밀폐될 수 있다.
부품 검사 트레이(11)는 예를 들어 모터와 같은 구동 유닛(17)에 의하여 이동될 수 있고, 차단 플레이트(15)에 의한 투입 슬릿의 밀폐 여부가 잠금 탐지 유닛에 의하여 확인될 수 있다. 부품 검사 트레이(11)가 밀폐 공간 내부의 정해진 위치에 배치되면 엑스레이 튜브(13)가 작동될 수 있다. 엑스레이 튜브(13)는 예를 들어 밀폐 공간의 천정 면을 형성하는 수평 부재(HF)에 고정된 배치 브래킷(16)과 같은 수단에 의하여 천정 부분에 고정될 수 있다. 그리고 부품 검사 트레이(11)의 중심 부분 또는 중심 근처에 초점이 맞추어질 수 있다. 엑스레이 튜브(13)는 정해진 위치에 고정되는 구조로 배치되거나, 배치 브래킷(16)에 의하여 이동이 가능한 구조로 배치될 수 있다.
엑스레이 튜브(13)로부터 엑스레이가 조사될 수 있고, 엑스레이는 부품 검사 트레이(11) 및 부품 저장 유닛(ER)을 투과하여 평면 디텍터(14)에 의하여 탐지될 수 있다. 평면 디텍터(14)는 밀폐 공간의 내부에서 배치될 수 있다. 평면 디텍터(14)는 부품 검사 트레이(11)의 아래쪽에 배치되면서 부품 검사 트레이(11)의 평면 면적에 대응되는 탐지 영역을 가질 수 있다. 그리고 평면 디텍터(14)에 수직 방향으로 인접하여 배치될 수 있다. 이와 같은 배치 구조에 의하여 부품 검사 트레이(11)에 배치된 부품 저장 유닛(ER)에 배치된 모든 전자 부품이 평면 디텍터(14)에 의하여 탐지될 수 있다. 평면 디텍터(14)는 엑스레이의 탐지 면이 평면이 되면서 탐지 대상이 되는 검사 평면과 동일 또는 유사한 단면적을 가지도록 만들어진 디텍터를 말한다. 다양한 구조로 만들어진 디텍터가 본 발명에 따른 엑스레이 장치에 적용될 수 있다.
엑스레이 튜브(13)와 평면 디텍터(14)는 서로 마주보는 다양한 위치에 배치될 수 있고, 평면 디텍터(14)에 의하여 부품 검사 트레이(11)의 검사 영역 전체에 대한 이미지가 얻어지는 것에 의하여 부품 저장 유닛(ER)의 위치가 정확하게 조절될 필요가 없도록 한다. 부품 저장 유닛(ER)은 부품 검사 트레이(11) 또는 검사 영역의 임의의 위치에 배치될 수 있다. 구체적으로 하나의 부품 저장 유닛(ER)이 탐지 대상이 되는 부품 저장 유닛(ER)은 검사 영역의 중앙 부위를 기준으로 배치될 수 있다. 그리고 다수 개의 부품 저장 유닛(ER)이 탐지 대상이 되는 경우 서로 분리되어 검사 영역의 임의의 위치에 배치될 수 있다. 이와 같이 본 발명에 따른 엑스레이 장치에서 부품의 탐지를 위하여 부품 저장 유닛(ER) 또는 탐지 대상이 되는 부품이 정렬되는 과정이 요구되지 않고 이로 인하여 탐지 공정이 간단해질 수 있다.
부품 검사 트레이(11)는 검사 대상이 되는 제품, 부품 또는 전자 부품과 동일 또는 유사한 소재로 만들어지거나 서로 다른 소재로 만들어질 수 있다. 예를 들어 부품 검사 트레이(11)는 금속 또는 합성수지 소재로 만들어질 수 있지만 이에 제한되지 않는다. 또한 평면 디텍터(14)는 상하 이동이 가능한 구조 또는 고정된 구조로 밀폐 공간의 내부에 배치될 수 있다.
도 1b에 도시된 것처럼, 차폐 플레이트(15)는 부품 검사 트레이(11)의 앞쪽에 결합되어 부품 검사 트레이(11)와 함께 이동될 수 있고, 밀폐 공간의 앞쪽에 형성된 투입 슬릿의 밀폐에 적합한 구조로 만들어질 수 있다. 부품 검사 트레이(11)가 밀폐 공간 내부의 검사 위치에 배치되면 차폐 플레이트(15)에 의하여 투입 슬릿이 차폐되면서 부품 검사 트레이(11)가 잠금 상태가 될 수 있다. 그리고 잠금 상태가 센서에 의하여 탐지되면 잠금 상태가 제어 유닛으로 전송되고, 이에 따라 엑스레이 튜브(13)로부터 엑스레이가 조사되어 전자 부품이 평면 디텍터(14)에 의하여 탐지되고 이미지 처리가 되어 이미지로 만들어질 수 있다. 그리고 생성된 이미지로부터 전자 부품의 수량 또는 배치 상태가 검사될 수 있고, 이미지는 필요에 따라 밀폐 공간의 외부에 배치된 디스플레이 유닛에 표시될 수 있다.
밀폐 공간은 다양한 구조로 만들어질 수 있고, 부품 검사 트레이(11)는 밀폐 공간의 내부와 외부 사이에 이동 가능한 다양한 구조로 만들어질 수 있다.
도 2a, 도 2b 및 도 2c는 본 발명에 따른 엑스레이 장치에 적용되는 부품 검사 트레이(11)의 이동 구조의 실시 예를 도시한 것이다.
도 2a 및 도 2b를 참조하면, 부품 검사 트레이(11)는 중간 부분이 빈 형상이 되는 사각형상의 테두리 부재(111) 및 테두리 부재(111)의 빈 공간에 배치되는 평면 형상의 검사 평면(112)으로 이루어질 수 있다. 검사 평면(112)에 검사 평면(112)의 중심을 나타내는 기준 포인트(BP)가 형성될 수 있고, 기준 포인트(BP)를 중심으로 1 검사 구획(RA1) 및 2 검사 구획(RA21, R22, R23, R24)이 형성될 수 있다. 1 검사 구획(RA1)은 원형으로 만들어진 하나의 부품 저장 유닛에 배치된 전자 부품의 검사를 위한 것이고, 2 검사 구획(RA21, R22, R23, R24)은 다수 개의 부품 저장 유닛을 동시에 검사하기 위한 것이다. 부품 저장 유닛은 1 검사 구획(RA1) 또는 2 검사 구획(RA21, R22, R23, R24)에 일치하도록 배치되는 것이 유리하지만 반드시 일치되어야 하는 것은 아니다. 1 검사 구획(RA1) 또는 2 검사 구획(RA21, R22, R23, R24)은 부품 저장 유닛의 배치를 위한 대략적인 기준이 될 수 있고, 기준 포인트(BP)는 엑스레이 튜브의 초점 기준이 될 수 있다.
부품 검사 트레이(11)는 유도 프레임을 따라 이동될 수 있고, 유도 프레임은 부품 검사 트레이(11)의 양쪽에 이동 방향을 따라 서로 마주보도록 선형으로 배치될 수 있다. 유도 프레임은 밀폐 공간의 내부에 고정되는 한 쌍의 고정 유도 프레임(23a, 23b); 및 한 쌍의 고정 유도 프레임(23a, 23b)에 배치되는 한 쌍의 이동 유도 부재(24a, 24b)를 포함할 수 있다. 부품 검사 트레이(11)는 양쪽 가장자리가 한 쌍의 유도 부재(24a, 24b)를 따라 슬라이딩 방식으로 이동되는 것에 의하여 밀폐 공간의 내부 또는 외부로 이동될 수 있다. 필요에 따라 한 쌍의 이동 유도 부재(24a, 24b)에 결합되는 중간 유도 부재가 검사 트레이(11)의 양쪽 가장자리에 결합될 수 있다. 한 쌍의 고정 유도 프레임(23a, 23b)은 밀폐 공간의 내부의 모서리에 설치되는 고정 브래킷(B)에 의하여 정해진 위치에 고정될 수 있고, 하나의 고정 브래킷(B)에 구동 유닛(17)이 배치될 수 있다. 그리고 구동 유닛(17)에 의하여 부품 검사 트레이(11)가 고정 유도 프레임(23a, 23b)을 따라 이동될 수 있다.
부품 검사 트레이(11)가 밀폐 공간의 외부로 이동되면 밀폐 공간의 외부에서 부품 검사 트레이(11)가 받쳐질 필요가 있다. 이를 위하여 부품 검사 트레이(11)와 분리되어 작동하는 이동 받침 부재(25a, 25b)가 배치될 수 있다. 이동 받침 부재(25a, 25b)는 부품 검사 트레이(11)의 아래쪽에서 배치될 수 있고, 밀폐 공간의 내부 또는 외부로 구동 유닛에 의하여 이동 가능하도록 배치될 수 있다. 한 쌍의 고정 유도 프레임(23a, 23b)에 이동 받침 부재(25a, 25b)의 수용을 위한 수용 부재(251a, 251b)가 배치될 수 있다.
부품 검사 트레이(11)가 부품 저장 유닛의 배치를 위하여 밀폐 공간의 내부에서 외부로 이동될 수 있고, 이를 위하여 수용 부재(251a, 251b)로부터 이동 받침 부재(25a, 25b)가 밀폐 공간의 외부로 이동될 수 있다. 부품 검사 트레이(11)의 아래쪽 부분에 이동 받침 부재(25a, 25b)와 결합되는 슬라이딩 홈이 형성될 수 있다. 대안으로 부품 검사 트레이(11)의 아래쪽에 이동 받침 부재(25a, 25b)를 따라 이동될 수 있는 선형 홈을 가진 트레이 유도 부재가 결합될 수 있다. 밀폐 공간의 외부로 부품 검사 트레이(11)가 이동되어 부품 저장 유닛이 1 검사 구획(RA1) 또는 2 검사 구획(RA21, R22, R23, R24)에 배치되면 부품 검사 트레이(11)는 밀폐 공간의 내부로 이동될 수 있다. 부품 검사 트레이(11)가 이동 받침 부재(25a, 25b)를 따라 밀폐 공간의 내부로 이동되어 정해진 위치에 고정될 수 있다. 그리고 이동 받침 부재(25a, 25b)가 예를 들어 수용 부재(251a, 251b)를 따라 밀폐 공간의 내부로 이동될 수 있다. 이후 잠금 확인 수단에 의하여 차단 플레이트(15)의 잠금 상태가 확인될 수 있다. 잠금 플레이트(15)에 이동 받침 부재(25a, 25b)의 이동을 위한 유도 홀이 형성될 수 있고, 필요에 따라 유도 홀의 차폐를 위한 수단이 형성될 수 있다.
보호 케이스(171)의 내부에 배치된 모터와 같은 구동 유닛(17)의 회전축에 피니언과 같은 회전 작동 유닛(271)이 배치되고, 이동 유도 부재(24b)에 랙과 같은 선형 작동 유닛(272)이 결합될 수 있다. 또한 작동 구조에 따라 이동 받침 부재(25b)에 선형 작동 유닛(272)과 유사한 구조를 가지는 선형 이동 유닛이 배치될 수 있다. 회전 작동 유닛(271)은 선형 작동 유닛(272)과 맞물릴 수 있고, 구동 유닛(17)의 작동에 의하여 회전 작동 유닛(271)이 회전되고 선형 작동 유닛(272)이 선형으로 이동되면서 이동 유도 부재(24b)와 함께 이동될 수 있다. 그리고 이동 유도 부재(24b)의 이동에 의하여 부품 검사 트레이(11)가 선형으로 이동될 수 있다. 이와 같은 과정에서 이동 받침 부재(25b)는 독립적으로 작동되거나 회전 작동 유닛(271)에 맞물려 이동될 수 있다. 대안으로 이동 받침 부재(25b)는 중간 연결 기어를 통하여 선형 작동 유닛(272)에 연결될 수 있다.
부품 검사 트레이(11)는 다양한 선형 이동 구조에 의하여 이동될 수 있고 본 발명은 제시된 실시 예에 제한되지 않는다.
본 발명에 따른 엑스레이 장치에 의하여 다양한 구조를 가지는 부품 저장 유닛에 배치된 부품 또는 전자 부품의 배치 상태, 누락 여부 또는 전체 부품의 개수가 검사될 수 있다.
도 3은 본 발명에 따른 엑스레이 장치에 의하여 얻어진 부품 테이프가 감겨진 릴(reel)의 전자 부품 이미지의 실시 예를 도시한 것이다.
도 3을 참조하면, 본 발명에 따른 엑스레이 장치는 부품 테이프가 감겨진 릴(W1, W2)과 부품 저장 유닛에 저장된 부품 검사에 적용될 수 있다. 부품 검사는 부품 테이프에서 부품의 배치 상태, 부품의 누락 여부 또는 릴(W1, W2)에 저장된 전체 부품의 수량 산출을 포함한다. 릴(W1, W2)은 예를 들어 380 또는 90 ㎜의 직경을 가질 수 있고, 380 ㎜의 직경 릴(W1)은 1 검사 구획에 그리고 90 ㎜의 직경 릴(W2)은 2 검사 구획에 배치될 수 있다.
전자 부품(CH)은 릴 중심(CP)으로 서로 다른 직경을 가진 동심원을 따라 연속적으로 배치될 수 있고, 동일한 동심원에서 각각의 전자 부품(CH)은 부품 테이프를 따라 일정 간격으로 배치될 수 있다. 엑스레이는 부품 테이프에 폭 방향을 관통하면서 이와 동시에 부품 테이프의 수용 포켓에 배치된 전자 부품(CH)의 폭 방향을 따라 엑스레이가 관통할 수 있다. 그리고 각각의 릴(W1, W2)에 저장된 전자 부품(CH)의 이미지가 평면 디텍터에 의하여 만들어질 수 있다. 그리고 얻어진 이미지에 의하여 전자 부품(CH)의 검사가 이루어질 수 있다.
전자 부품(CH)에 대한 이미지가 얻어지면, 다수 개의 전자 부품의 각각의 이미지는 분리된 전자 부품과 겹쳐진 전자 부품으로 나누어져 탐지될 수 있다. 서로 겹치진 전자 부품은 전자 부품의 수량 산출을 위하여 적절한 방법으로 분리될 수 있고, 이와 같이 전자 부품이 각각 분리되면 전체 전자 부품의 수량이 산출될 수 있다.
전자 부품(CH)의 검사는 서로 다른 방향에 있는 전자 부품(CH)을 기준으로 중심이 결정되고, 중심을 기준으로 지름 방향을 따라 전자 부품(CH)을 탐색하는 방법으로 이루어질 수 있다. 지름 방향을 따라 전자 부품(CH)이 탐색되면 동일 직경을 따라 기준 이미지에 기초하여 전자 부품(CH)이 탐색될 수 있다. 하나의 직경에 따른 전자 부품(CH)의 검사가 완료되면 이후 직경을 방향을 따라 전자 부품(CH)이 탐색되고, 이후 탐색된 전자 부품(CH)을 기초로 다른 직경을 따른 전자 부품(CH)이 탐색될 수 있다. 이와 같은 방법으로 릴(W1, W2)에 배치된 모든 전자 부품(CH)이 탐색될 수 있다.
릴(W1, W2)에 배치된 전자 부품(CH)은 다양한 방법으로 검사될 수 있다.
도 4a 및 도 4b는 본 발명에 따른 다수 개의 전자 부품의 탐지 방법의 실시 예를 도시한 것이다.
도 4a는 본 발명에 따른 전자 부품의 탐지 방법의 실시 예를 도시한 것이고, 도 4b는 본 발명에 따른 전자 부품의 탐지 과정에 적용되는 엑스레이 장치의 실시 예를 도시한 것이다.
도 4a를 참조하면, 본 발명에 따른 엑스레이에 의한 다수 개의 전자 부품의 탐지 방법은 부품 검사 트레이가 밀폐 공간의 외부로 슬라이딩 방식으로 배출되는 단계(P41); 상기 부품 검사 트레이에 다수 개의 전자 부품이 감겨진 릴이 배치되는 단계(P42); 상기 부품 검사 트레이가 상기 밀폐 공간의 내부로 투입되는 단계(P43); 및 상기 릴에 엑스레이가 조사되어 평면 디텍터에 의하여 상기 릴에 배치된 전자부품의 엑스레이 이미지가 얻어지는 단계(P47)를 포함하고, 상기 다수 개의 전자 부품은 서로 다른 반지름을 가지는 원주를 따라 배치되는 부품 그룹으로 이루어진다. 추가로 본 발명에 따른 전자 부품의 탐지 방법은 엑스레이 이미지가 획득되어 전자 부품에 대한 검사가 완료된 이후 상기 릴에 검사 결과에 따른 바코드가 부착되는 단계(P48)를 더 포함한다.
도 4b에 도시된 것처럼, 엑스레이 검사 장치는 프레임(41)에 의하여 형성되는 박스 형상이 ? 수 있고, 내부에 엑스레이 및 평면 디텍터가 배치될 수 있다. 엑스레이 검사 장치는 밀폐 공간을 형성할 수 있고, 필요에 따라 외부에 내부를 관찰할 수 있는 관찰 창(44)이 형성될 수 있다. 또한 터치스크린 방식에 의한 디스플레이 유닛이 배치되어 터치 방식으로 작동되는 것에 의하여 마우스 또는 키보드에 의하여 작동될 필요가 없도록 한다. 또한 이중 잠금 수단(43a, 43b)이 설치되어 두 개의 잠금 수단이 해제되어야 작동이 개시되도록 만들어질 수 있다.
검사 트레이는 차폐 플레이트(15)와 함께 이동될 수 있고, 검사 트레이가 배출되는 과정(P41)에서 차폐 플레이트(15)가 앞쪽으로 이동될 수 있다. 그리고 검사 트레이가 밀폐 공간의 내부로 이동되면(P43), 차단 플레이트(15)에 의하여 밀폐 공간에 형성된 투입 슬릿이 차폐될 수 있다. 차폐 플레이트(15)가 잠금 수단(43a, 43b)에 의하여 잠금이 되면(P44) 차폐 플레이트(15)의 잠금 상태가 잠금 센서(45)에 의하여 확인될 수 있다(P45). 만약 잠금이 되지 않았다면(NO), 다시 검사 트레이의 이동 상태가 확인될 수 있다. 이에 비하여 잠금 확인이 되었다면(YES), 엑스레이 튜브로부터 엑스레이가 조사되어 검사 트레이 및 릴을 투과할 수 있다(P46). 투과된 엑스레이는 평면 디텍터에 의하여 탐지될 수 있고, 평면 디텍터에 의하여 도 3에 도시된 것과 같은 검사 이미지가 획득될 수 있다(P47). 그리고 검사 이미지로부터 전자 부품의 배치 상태, 누락 여부 또는 전자 부품이 전체 수량 또는 전자 부품이 배치 상태가 탐지될 수 있다.
부품 저장 수단에 해당하는 릴(reel)에 바코드가 부착될 수 있고, 부품 검사 트레이에 릴이 위치되어(P42) 검사를 위하여 밀폐 공간의 내부로 투입이 되면(P43) 바코드 판독기에 의하여 바코드가 판독될 수 있다. 또는 밀폐 공간의 내부로 투입이 되기 이전에 바코드가 판독될 수 있다. 바코드는 릴에 배치된 부품 수량에 대한 정보를 포함할 수 있다. 릴에 대한 이미지가 획득되어 전자 부품의 수량 또는 배치 상태가 탐지되면, 산출된 수량의 일치 여부가 확인될 수 있다. 또한 예를 들어 겹쳐진 전자부품이 있는지 또는 부품 테이프의 정해진 위치에 누락된 부품이 있는지 여부가 탐지될 수 있다. 그리고 이와 같은 정보를 가진 바코드가 새로 생성되어 릴에 부착될 수 있다(P48).
전자 부품의 탐지는 다양한 방법으로 이루어질 수 있고 본 발명은 제시된 실시 예에 제한되지 않는다.
본 발명에 따른 엑스레이 장치는 엑스레이 이미지로부터 다수 개의 전자 부품의 수량을 비롯한 배치와 같은 다수 개의 전자 부품에 대한 수량 산출 또는 배치의 검사가 가능하도록 한다. 예를 들어 본 발명에 따른 엑스레이 장치는 부품 테이프가 릴에 감긴 상태에서 부품 테이프에 배치된 전자 부품의 수량 또는 배치 상태의 검사가 가능하도록 한다. 본 발명에 따른 엑스레이에 의한 다수 개의 전자 부품의 탐지 방법은 부품 저장 유닛에 각각의 전자 부품이 배치된 상태에서 각각의 전자 부품의 수량 또는 배치 상태의 탐지가 가능하도로 한다. 또한 본 발명에 따른 방법은 다수 개의 전자 부품이 연속적으로 배치된 부품 저장 유닛에서 부품 배치의 누락 또는 손상의 검사가 가능하도록 한다. 추가로 본 발명에 따른 검사 장치 또는 검사 방법은 검사 트레이에서 각각의 전자 부품의 배치 위치에 제한되지 않고 검사 또는 탐지가 가능하도록 한다.
위에서 본 발명은 제시된 실시 예를 참조하여 상세하게 설명이 되었지만 이 분야에서 통상의 지식을 가진 자는 제시된 실시 예를 참조하여 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위에서 다양한 변형 및 수정 발명을 만들 수 있을 것이다. 본 발명은 이와 같은 변형 및 수정 발명에 의하여 제한되지 않으며 다만 아래에 첨부된 청구범위에 의하여 제한된다.
11: 부품 검사 트레이 12: 이동 가이드
13: 엑스레이 튜브 14: 평면 디텍터
15: 차단 플레이트 16: 배치 브래킷
17: 구동 유닛 23a, 23b: 고정 유도 프레임
24a, 24b: 이동 유도 부재 25a, 25b: 이동 받침 부재
41: 프레임 43a, 43b: 이중 잠금 수단
44: 관찰 창 45: 잠금 센서
111: 테두리 부재 112: 검사 평면
171: 보호 케이스 251a, 251b: 수용 부재
271: 회전 작동 유닛 272: 선형 작동 유닛
B: 고정 브래킷 BP: 기준 포인트
CP: 릴 중심 CH: 전자 부품
ER: 부품 저장 유닛 HF: 수평 부재
RA1: 1 검사 구획 RA21, R22, R23, R24: 2 검사 구획
VF: 수직 부재 W1: 380 ㎜의 직경 릴
W2: 90 ㎜의 직경 릴

Claims (7)

  1. 밀폐 공간의 내부와 외부로 이동 가능하도록 형성되고, 적어도 하나의 부품 저장 유닛이 배치되는 평면 트레이가 형성된 부품 검사 트레이(11);
    밀폐 공간의 위쪽에 배치된 엑스레이 튜브(13); 및
    상기 밀폐 공간에 배치되어 엑스레이 튜브(13)로부터 부품 검사 트레이(11)로 조사되는 엑스레이로부터 상기 부품 저장 유닛의 엑스레이 이미지를 획득하는 평면 디텍터(14)를 포함하고,
    상기 부품 저장 유닛의 각각은 다수 개의 부품을 포함하면서 상기 다수 개의 부품 각각에 대한 이미지가 획득되도록 배치되는 것을 특징으로 하는 엑스레이 장치.
  2. 청구항 1에 있어서, 부품 검사 트레이(11)는 슬라이딩 방식으로 이동되고, 부품 검사 트레이(11)에 차단 플레이트(15)가 결합되는 것을 특징으로 하는 엑스레이 장치.
  3. 청구항 1에 있어서, 상기 부품 저장 유닛은 다수 개의 전자 부품이 서로 분리되어 연속적으로 배치된 부품 테이프가 감겨진 릴(reel)이 되고, 상기 릴(reel)은 부품 검사 트레이(11)의 임의의 위치에 배치되는 것을 특징으로 하는 엑스레이 장치.
  4. 청구항 3에 있어서, 평면 디텍터(14)에 의하여 얻어진 이미지로부터 상기 릴에 배치된 전자 부품의 수량이 산출되는 것을 특징으로 하는 전자 부품의 수량 산출을 위한 엑스레이 장치.
  5. 부품 검사 트레이가 밀폐 공간의 외부로 슬라이딩 방식으로 배출되는 단계;
    상기 부품 검사 트레이에 다수 개의 전자 부품이 감겨진 릴이 배치되는 단계;
    상기 부품 검사 트레이가 상기 밀폐 공간의 내부로 투입되는 단계; 및
    상기 릴에 엑스레이가 조사되어 평면 디텍터에 의하여 상기 릴에 배치된 전자부품의 엑스레이 이미지가 얻어지는 단계를 포함하고,
    상기 다수 개의 전자 부품은 서로 다른 반지름을 가지는 원주를 따라 배치되는 부품 그룹으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 엑스레이에 의한 다수 개의 전자 부품의 탐지 방법.
  6. 청구항 5에 있어서, 상기 다수 개의 전자 부품의 각각의 이미지는 분리된 전자부품과 겹쳐진 전자 부품이 탐지되는 것을 특징으로 하는 엑스레이에 의한 다수 개의 전자부품의 탐지 방법.
  7. 청구항 5에 있어서, 상기 엑스레이 이미지가 획득되어 전자 부품에 대한 검사가 완료된 이후 상기 릴에 검사 결과에 따른 바코드가 부착되는 단계를 더 포함하는 엑스레이 검사에 의한 다수 개의 전자 부품의 탐지 방법.
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