KR20170097084A - 곡립 품위 판별 장치 - Google Patents

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Abstract

곡립 품위 판별 장치에 의한 곡립 (G) 의 품위 판별 정밀도를 향상시키는 것을 목적으로 한다. 곡립 (G) 에 광을 조사하고, 곡립 (G) 으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 수광 센서로 수광하여 곡립 (G) 의 표면측, 이면측으로부터 상기 품위 측정을 위한 정보를 얻는 광학부 (3) 와, 상기 정보에 기초하여 곡립 (G) 의 품위를 판별하는 품위 판별부 (7) 를 구비한다. 상기 표면측 정보와 이면측 정보를 1 개의 광학부 (3) 에서 동시에 얻어지도록 하여, 곡립 (G) 의 이동이나 자세의 변화에 수반되는 취득 정보의 어긋남을 방지하거나, 상기 정보를 보정하기 위한 기준판을 곡립의 이동 경로로부터 떼어내어 오염이나 파손을 방지함으로써 상기 정보의 왜곡을 방지하고, 또한 곡립 (G) 의 측면 정보용으로 특별한 기준판을 형성하여 측면 정보의 정밀도를 높게 하거나 함으로써 곡립 (G) 의 품위 판별 정밀도를 향상시킨다.

Description

곡립 품위 판별 장치{GRAIN QUALITY DISCRIMINATION DEVICE}
본 발명은, 곡립의 품위를 판별하는 곡립 품위 판별 장치에 관한 것이다.
종래, 곡립에 광을 조사하고, 그 곡립으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 수광하고, 그 수광한 신호에 기초하여 상기 곡립의 품위를 판별하는 곡립 품위 판별 장치는 주지이다 (예를 들어, 특허문헌 1 을 참조).
특허문헌 1 에 기재된 곡립 품위 판별 장치는, 곡립을 이송하는 이송부와, 그 이송부의 이송 방향으로 배치 형성되는 2 개의 광학 검출부, 및 품위 판별부를 구비한다.
상기 곡립 품위 판별 장치에 있어서의 제 1 광학 검출부에는, 곡립에 대해 비스듬히 상방으로부터 적색광을 조사하는 적색 발광 다이오드 램프 및 녹색광을 조사하는 녹색 발광 다이오드 램프, 상기 곡립에 대해 하방으로부터 청색광을 조사하는 청색 발광 다이오드 램프가 각각 배치 형성되어 있다. 또, 상기 제 1 광학 검출부에는, 상기 각 램프로부터 조사된 광의 상기 곡립 표면 및 측면으로부터의 반사광 또는 투과광을 수광하는 RGB 이미지 센서가 배치 형성되어 있다.
상기 곡립 품위 판별 장치에 있어서의 제 2 광학 검출부에는, 곡립에 대해 비스듬히 상방으로부터 녹색광을 조사하는 녹색 발광 다이오드 램프, 상기 곡립에 대해 상방으로부터 청색광을 조사하는 청색 발광 다이오드 램프, 상기 곡립에 대해 비스듬히 하방으로부터 적색광을 조사하는 적색 발광 다이오드 램프가 배치 형성되어 있다. 또, 상기 제 2 광학 검출부에는, 상기 각 램프로부터 조사된 광의 상기 곡립 이면으로부터의 반사광 또는 투과광을 수광하는 RGB 이미지 센서가 배치 형성되어 있다.
상기 곡립 품위 판별 장치는, 상기 품위 판별 수단에 있어서, 상기 제 1 광학 검출부의 상기 RGB 이미지 센서가 수광하는 상기 곡립 표면으로부터의 청색 투과광에 기초하여 그 곡립의 표면 (평면) 형상을 특정하고, 상기 RGB 이미지 센서가 수광하는 상기 곡립 표면으로부터의 적색광, 녹색광 및 청색광에 기초하여 색 정보, 착색 정보, 투과도 정보 등, 상기 곡립의 「표측 정보」를 취득한다.
또, 상기 품위 판별 수단에 있어서, 상기 제 1 광학 검출부의 상기 RGB 이미지 센서가 수광하는 상기 곡립 측면으로부터의 어느 색의 투과광에 기초하여 그 곡립의 측면 형상을 특정하고, 상기 곡립의 측면 형상에 기초하여 상기 곡립의 「입자 두께 정보」를 취득한다.
또한, 상기 품위 판별 수단에 있어서, 상기 제 2 광학 검출부의 상기 RGB 이미지 센서가 수광하는 상기 곡립 이면으로부터의 청색 투과광에 기초하여 그 곡립의 이면 (평면) 형상을 특정하고, 상기 RGB 이미지 센서가 수광하는 상기 곡립 이면으로부터의 적색광, 녹색광 및 청색광에 기초하여 착색 정보, 동할 (胴割) 정보 등, 상기 곡립의 「이측 정보」를 취득하고 있다.
상기 특허문헌 1 에 기재된 곡립 품위 판별 장치에 의하면, 상기 이송 수단에 의해 이송되는 곡립은, 상기 제 1 광학 검출부의 RGB 이미지 센서가 수광하는 상기 곡립 표면 및 측면으로부터의 반사광 및/또는 투과광에 기초하여 취득되는 그 곡립의 「표측 정보」 및 「입자 두께 정보」, 상기 제 2 광학 검출부의 RGB 이미지 센서가 수광하는 상기 곡립 이면으로부터의 반사광 및/또는 투과광에 기초하여 취득되는 그 곡립의 「이측 정보」에 의해, 상기 곡립의 품위를 양호한 정밀도로 판별할 수 있다.
그러나, 상기 곡립 품위 판별 장치는, 주사 속도가 동일한 2 개의 광학 검출부를 구비하기 때문에, 넓은 배치 형성 스페이스를 필요로 하여, 장치가 대형화됨과 함께 비용이 비싸지는 문제가 있다.
또, 상기 곡립 품위 판별 장치는, 곡립의 이송 방향을 따라 떨어진 위치에 광학 검출부가 배치 형성되기 때문에, 곡립 표면 및 측면으로부터의 반사광 또는 투과광과, 상기 곡립 이면으로부터의 반사광 또는 투과광을 동시에 수광할 수 없다. 이 때문에, 곡립이 상기 2 개의 광학 검출부를 각각 통과할 때의 이송 속도가 조금이라도 상이하면, 1 개의 곡립의 표면과 이면에서, 수광 신호의 양 (횟수) 이 상이하다는 문제가 있다 (이동 속도의 불안정함). 또, 2 개의 광학 검출부를 각각 통과할 때의 곡립의 자세가, 완전하게 동일하지 않으면, 1 개의 곡립의 표면과 이면에서, 평면 형상이 상이하다는 문제도 있다 (이송에 수반되는 곡립의 자세의 변화). 이들의 문제를 고려하면, 곡립의 품위 판별 정밀도를 향상시키는 데에 있어서 개선의 여지가 있다.
이들을 해결하려면, 상기 곡립 품위 판별 장치에 있어서, 1 개의 광학 검출부에 의해, 곡립의 표면, 이면 및 측면으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 동시에 수광할 수 있으면 되는데, 곡립의 평면 형상을 특정하기 위하여 필요한 청색광을 조사하는 측에 대해서는 종래, 당해 청색광을 조사하는 광원이 장해가 되어, 상기 곡립으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 수광할 수 없다.
특허문헌 2, 3 의 곡립 품위 판별 장치는, 특허문헌 1 과 동일한 구성을 개시하고 있는데, 상기 회전 원반의 상기 오목부의 일부에 장착한 기준판에 주목하고 있다.
특허문헌 2, 3 의 곡립 품위 판별 장치는, 본체 내부의 온도 변화 등의 영향에 의해, 광학 검출부에 있어서의 광원이나 수광 센서 등의 광학 소자의 특성이 변화하는 것을 상기 기준판을 사용하여 보정하는 것인데, 기준판은, 상기 곡립 이송부에 있어서의 회전 원반의 오목부에 장착되기 때문에, 상기 회전 원반 상에 공급되는 곡립 등이 접촉하여 흠집이나 오염이 발생하고, 곡립의 품위 판별 정밀도가 열화되는 문제가 있다.
또, 상기 곡립 품위 판별 장치에 있어서, 상기 기준판은, 상기 곡립 이송부에 있어서의 회전 원반의 오목부에 장착되기 때문에, 그 기준판이 파손된 경우에는, 상기 회전 원반 상에 공급되는 곡립에 파편이 혼입되는 문제가 있다.
또한, 특허문헌 4 에 기재된 곡립 품위 판별 장치가 주지이다. 그러나, 특허문헌 4 에 기재된 곡립 품위 판별 장치는, 회전 원반에 있어서의 오목부에 평면적으로 장착한 직방체 형상의 기준판으로부터의 반사광을 사용한 보정 방식이므로, 기준판의 측면으로부터 수광하는 수광량이 매우 작아, 측면측 정보에 관해서 보정 계수를 구할 수 없다. 이 때문에, 실제로는 보정할 수 없는 문제가 있다.
일본 공개특허공보 2002-202265호 일본 공개특허공보 2006-200945호 일본 공개실용신안공보 평5-90353호 일본 공개특허공보 2006-200945호
이 발명은, 곡립 품위 판별 장치에 의한 곡립의 품위 판별 정밀도를 향상시키는 것을 과제로 하고 있다.
상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명은 기본적으로, 곡립에 광을 조사하는 복수의 광원, 상기 광원으로부터 조사된 광의 상기 곡립으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 수광하는 센서를 갖는 광학부와, 상기 수광 센서의 수광에 기초하여 상기 곡립의 품위를 판별하는 품위 판별부를 구비하여 이루어지는 곡립 품위 판별 장치로 한다.
그리고, 곡립의 평면 형상을 특정하기 위하여 필요한 특정 광을 조사하는 측에 있어서도, 상기 곡립으로부터의 반사광 또는 투과광을 수광할 수 있고, 적어도 곡립의 표면 및 이면으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 1 개의 광학부에 있어서 동시에 수광할 수 있도록, 다음의 구성을 채용한다.
상기 광학부는, 상기 광원이, 상기 곡립의 일면측으로부터, 곡립의 평면 형상을 특정하기 위하여 필요한 소정 파장의 특정 광을 조사하는 특정 광원을 포함하고,
상기 수광 센서가, 상기 곡립의 타면측으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 수광하는 제 1 수광부와, 상기 곡립의 일면측으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 수광하는 제 2 수광부를 포함하고,
상기 곡립의 일면측에, 상기 특정 광원이 조사하는 특정 광을 투과 또는 반사시키는 광학 필터를 배비 (配備) 한다.
또한, 곡립의 일면측이란 예를 들어 이송부에 얹은 곡립의 이면측이다. 따라서, 타면측은 곡립의 표면측이다.
그리고, 상기 특정 광원은, 상기 광학 필터를 개재하여 상기 곡립의 일면측으로부터 상기 특정 광을 조사하고,
상기 제 1 수광부는, 상기 곡립의 일면측으로부터 조사되는 상기 특정 광원으로부터의 상기 특정 광의 투과광을 포함하여 상기 곡립의 타면측으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 수광하고,
상기 제 2 수광부는, 상기 광학 필터를 개재하여 상기 곡립의 일면측으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 수광하는 구성으로 한다.
또, 본 발명은 곡립 품위의 판별에 영향이 있는 수광 센서의 수광량을 보정하는 기준판을 형성하는 경우가 있다. 이 경우, 다음의 구성을 채용하여, 이송부에 공급되는 곡립 등의 접촉에 의해 기준판에 흠집이나 오염이 발생하는 경우가 없게 하여 흠집이나 오염에 의한 보정량의 왜곡에 의해 품위 판별부의 판별 정밀도가 열화되는 것을 방지하여 상기 과제를 해결한다. 또한, 결과적이기는 하지만, 이 구성은, 기준판이 파손된 경우에 이송부에 공급되는 곡립에 파편이 혼입되는 것을 방지하는 구조가 된다.
즉, 곡립 품위 판별 장치를,
곡립을 이송하는 이송부와,
상기 이송부로 이송되는 곡립에 광을 조사하는 광원, 상기 광원으로부터 조사된 광의 상기 곡립으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 수광하는 수광 센서를 갖는 광학부와,
상기 수광 센서의 수광량에 기초하여 상기 곡립의 품위를 판별하는 품위 판별부와,
상기 수광 센서의 수광량을 보정하기 위한 기준판을 구비한 것으로 한다.
그리고, 상기 기준판은, 상기 이송부와 상이한 위치에 배치 형성되고,
상기 광학부는, 상기 광원이 상기 곡립에 광을 조사하고, 상기 수광 센서가 상기 곡립으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 수광하는 제 1 위치와, 상기 광원이 상기 기준판에 광을 조사하고, 상기 수광 센서가 상기 기준판으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 수광하는 제 2 위치 사이를 이동할 수 있도록 배치 형성한다.
또한, 본 발명은, 상기 곡립 품위 판별 장치에 있어서, 상기 기준판의 일부를, 상기 수광 센서가 상기 곡립의 측면으로부터 수광하는 반사광 및/또는 투과광의 수광량을 보정하기 위한 측면용 기준판으로 하고,
상기 측면용 기준판은, 상기 표면측 광원 및/또는 상기 이면측 광원으로부터 조사되는 광을 측방을 향하여 반사시키는 반사면을 갖는 것으로 하는 경우가 있다.
본 발명의 곡립 품위 판별 장치에 의하면,
상기 광학부는,
상기 곡립의 일면측에, 상기 특정 광원이 조사하는 상기 특정 광을 투과 또는 반사시키는 광학 필터를 배비하여 이루어지고,
상기 특정 광원은, 상기 광학 필터를 개재하여 상기 곡립의 일면측으로부터 상기 특정 광을 조사하고,
상기 제 1 수광부는, 상기 곡립의 일면측으로부터 조사되는 상기 특정 광원으로부터의 상기 특정 광의 투과광을 포함하여 상기 곡립의 타면측으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 수광하고,
상기 제 2 수광부는, 상기 광학 필터를 개재하여 상기 곡립의 일면측으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 수광하므로,
상기 곡립의 타면측에 있어서는, 상기 제 1 수광부가, 그 곡립의 평면 형상을 특정하기 위하여 필요한 상기 특정 광원으로부터의 특정 광의 투과광을 포함하여 그 곡립의 타면측으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 수광하고, 그 곡립의 일면측에 있어서는, 상기 특정 광원이 배치 형성되어 있음에도 불구하고, 제 2 수광부가, 상기 곡립 (G) 의 일면측으로부터의 반사광 또는 투과광을 수광한다.
따라서, 본 발명에 의하면, 1 개의 곡립의 표면 및 이면의 2 개의 면으로부터의 반사광 및/또는 투과광을, 1 개의 광학부에서 동시에 수광할 수 있다.
이로써, 종래와 같이, 곡립의 이송 방향을 따라 떨어진 위치에 배치 형성한 2 개의 광학부에서, 상기 반사광 및/또는 투과광을 따로 따로 수광하는 종래의 경우와 달리, 본 발명은, 동일한 지점에서 수광하므로, 이송 속도가 불안정해도 그 영향을 받지 않고, 상기 반사광 및/또는 투과광을, 동일한 이송 속도로 수광할 수 있기 때문에, 1 개의 곡립에 있어서의 표면과 이면의 수광 신호의 양 (횟수) 을 동일하게 할 수 있다. 또, 동일한 자세 상태에서 수광할 수 있으므로, 곡립의 표면 및 이면의 평면 형상을 동일 자세의 데이터로서 취득할 수 있다. 따라서, 곡립의 품위 판별 정밀도를 향상시킬 수 있다.
또, 광학부를 1 개로 할 수 있기 때문에, 장치를 소형화하는 것이 가능해짐과 함께, 장치의 제조 공정에 있어서, 광학부의 장착 공정 수를 줄일 수 있다. 특히 광학부의 장착은, 높은 정밀도가 요구되므로, 제조 비용을 저감시킬 수 있다.
또한, 본 발명의 곡립 품위 판별 장치에 의하면,
상기 기준판이, 상기 이송부와 상이한 위치에 배치 형성되고,
상기 광학부가, 상기 광원이 상기 곡립에 광을 조사하고, 상기 수광 센서가 상기 곡립으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 수광하는 제 1 위치와, 상기 광원이 상기 기준판에 광을 조사하고, 상기 수광 센서가 상기 기준판으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 수광하는 제 2 위치 사이를 이동할 수 있도록 배치 형성되므로, 이송부에 공급되는 곡립 등의 접촉에 의해 기준판에 흠집이나 오염이 발생하는 경우가 없어, 수광 센서의 수광량의 보정에 기준판의 흠집이나 오염에 의한 왜곡이 발생하지 않는다. 이 때문에, 품위 판별부의 판별 정밀도가 향상된다.
또, 본 발명의 곡립 품위 판별 장치는, 이송부에 공급되는 곡립 등의 접촉에 의해 기준판에 흠집이나 오염이 발생하지 않기 때문에, 종래와 비교하여 기준판을 교환하는 빈도가 현격히 감소하여, 기준판의 교환 작업이나 기준판의 교환에 수반되는 기준 광량의 설정 작업 등의 노력이 현저하게 감소한다.
또한, 본 발명의 곡립 품위 판별 장치는, 기준판을 교환하는 빈도가 현격히 감소되기 때문에, 기준판의 개체 차의 영향을 잘 받지 않아, 곡립의 품위 판별 정밀도가 안정된다.
또한, 상기 곡립 품위 판별 장치에 있어서, 기준판에 흠집이나 오염이 발생한 경우나 기준판이 파손된 경우에는, 기준판을 교환하는 것이 고려되는데, 기준판에는 개체 차가 있어, 기준판마다 기준 광량이 상이하기 때문에, 그때마다 기준 광량의 설정 작업 등을 다시 할 필요가 있어, 결국, 곡립의 품위 판별 정밀도가 안정되지 않는다.
또한, 본 발명의 곡립 품위 판별 장치에 의하면,
상기 기준판이, 상기 수광 센서가 상기 곡립의 측면으로부터 수광하는 반사광 및/또는 투과광의 수광량을 보정하기 위한 측면용 기준판이고, 상기 측면용 기준판이, 상기 표면측 광원 및/또는 상기 이면측 광원으로부터 조사되는 광을 측방을 향하여 반사시키는 반사면을 갖기 때문에,
상기 측면측의 수광 센서는, 상기 측면용 기준판의 측면으로부터 수광하는 반사광 및/또는 투과광에 대해, 상기 곡립의 측면으로부터 수광하는 수광량과 대략 동 레벨의 수광량을 수광한다.
따라서, 충분한 수광량을 갖고 보정량을 산출할 수 있고, 곡립의 측면으로부터 수광하는 반사광 및/또는 투과광의 수광량을 보정할 수 있다. 상기 수광량은, 예를 들어, 2 치화 처리함으로써, 측정한 곡립의 측면 형상의 인식에 사용되지만, 2 치화할 때에, 상기 수광량이 참값으로부터 벗어나는 경우가 적어, 곡립의 측면 형상이 크거나 또는 작게 인식되는 등의 경우가 발생하지 않는다. 즉, 보정된 상기 수광량에 의해, 곡립의 측면 형상을 정확하게 인식할 수 있고, 곡립의 품위 판별 정밀도를 향상시킬 수 있다.
도 1 은 본 발명의 실시형태 1-1 에 있어서의 곡립 품위 판별 장치의 개략 설명도로서, 이송부, 광학부 및 품위 판별부의 개략 평면도이다.
도 2 는 광학부의 설명도로서, 도 1 의 A-A 단면 모식도이다.
도 3 은 광학부의 설명도로서, 도 1 의 B-B 단면 모식도이다.
도 4 는 본 발명의 실시형태 1-2 에 있어서의 광학부의 설명도이다.
도 5 는 본 발명의 실시형태 1-3 에 있어서의 광학부의 설명도이다.
도 6 은 본 발명의 실시형태 1-4 에 있어서의 광학부의 설명도이다.
도 7 은 본 발명의 실시형태 1-5 에 있어서의 광학부의 설명도이다.
도 8 은 본 발명의 실시형태 2 에 있어서의 곡립 품위 판별 장치의 개략 설명도로서, 이송부, 광학부, 품위 판별부 및 기준판을 나타낸 개략 평면도이다.
도 9 는 본 발명의 실시형태에 있어서의 곡립 품위 판별 장치의 개략 설명도로서, 이송부 및 광학부의 개략 우측면도이다.
도 10 은 본 발명의 실시형태에 있어서의 곡립 품위 판별 장치의 개략 설명도로서, 이송부 및 광학부의 개략 정면도이다.
도 11 은 본 발명의 실시형태에 있어서의 곡립 품위 판별 장치에 있어서, 광학부를 이동시키는 경우의 설명도이다.
도 12 는 본 발명의 실시형태 3 에 있어서의 곡립 품위 판별 장치의 개략 설명도로서, 이송부, 광학부, 품위 판별부 및 기준판을 나타낸 개략 평면도이다.
도 13 은 도 12 의 C-C 단면에서 본 측면용 기준판의 설명도이다.
도 14 는 다른 측면용 기준판의 설명도이다.
도 15 는 다른 측면용 기준판의 설명도이다.
도 16 은 다른 측면용 기준판의 설명도이다.
도 17 은 다른 측면용 기준판의 설명도이다.
도 18 은 다른 측면용 기준판의 설명도이다.
본 발명의 실시형태를 도면에 기초하여 설명한다.
[실시형태 1-1]
도 1 은, 본 발명의 실시형태 1-1 에 있어서의 곡립 품위 판별 장치의 개략 설명도이다.
곡립 품위 판별 장치 (1) 는, 곡립 (G) 을 이송하는 이송부 (2) 와, 상기 곡립 (G) 에 광을 조사하고, 상기 곡립 (G) 으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 수광하는 광학부 (3) 와, 상기 곡립 (G) 의 품위를 판별하는 품위 판별부 (7) 를 구비한다.
상기 이송부 (2) 는, 도시되지 않은 구동 모터에 의해 회전 구동되는 원반 (21) 을 갖는다. 상기 원반 (21) 의 둘레 가장자리 위치에는 다수의 오목부 (22) 가 형성되고, 그 오목부 (22) 에는 투명한 바닥판 (23) 이 배치 형성되어 있다.
상기 광학부 (3) 는, 곡립 (G) 에 광을 조사하는 광원, 상기 광원으로부터 조사된 광의 상기 곡립 (G) 으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 수광하는 센서를 갖는다. 그 광학부 (3) 는, 상기 이송부 (2) 에 있어서의 원반 (21) 의 반경 방향 일측방에 배치 형성되어 있다.
그리고, 상기 광학부 (3) 는, 상기 원반 (21) 상에 공급되어, 상기 원반 (21) 의 회전에 수반하여 상기 원반 (21) 의 오목부 (22) 에 수용된 상태로 연속적으로 이송되어 오는 곡립 (G) 에 상기 광원으로부터 광을 조사하고, 상기 곡립 (G) 으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 상기 수광 센서로 수광하여 수광 신호를 취득한다.
상기 품위 판별부 (7) 는, 상기 광학부 (3) 에서 취득되는 상기 수광 신호에 기초하여 상기 곡립 (G) 의 품위를 판별한다. 그 품위 판별부 (7) 에 대해서는, 예를 들어 일본 공개특허공보 2002-202265호 등에 나타내는 바와 같은 구성 외에, 여러 가지의 구성을 채용할 수 있다.
도 2 및 도 3 은, 본 발명의 실시형태 1-1 에 있어서의 곡립 품위 판별 장치의 광학부 (3) 의 설명도로서, 도 2 는 도 1 의 A-A 단면 모식도, 도 3 은 도 1 의 B-B 단면 모식도를 나타낸다.
실시형태 1-1 에 있어서, 상기 광학부 (3) 는, 광원 (31 ∼ 35) 과, 수광 센서 (41, 42), 집광 렌즈 (47) 및 다이크로익 필터 (51) 를 갖는다.
상기 광원은, 곡립 (G) 의 표면측 (타면측) 에 배치 형성되는 광원 (이하, 「표면측 광원」이라고 한다) 과, 곡립 (G) 의 이면측 (일면측) 에 배치 형성되는 광원 (이하, 「이면측 광원」이라고 한다) 으로 이루어진다.
또한 표면측 광원과 이면측 광원은 곡립 (G) 의 표리에 대해 반대의 배치여도 되기 때문에, 표면측, 이면측을 일반화하여, 이면측을 일면측, 표면측을 타면측으로 칭할 수 있다.
상기 표면측 광원은, 상기 원반 (21) 의 회전면에 대해 광축이 경사진 상태로 배치 형성되는 적색·녹색·청색 광원 (RGB 광원) (34) 과, 상기 원반 (21) 의 회전면에 대해 광축이 상기 RGB 광원 (34) 과 역방향으로 경사진 상태로 배치 형성되는 적색·녹색·청색 광원 (RGB 광원) (35) 을 포함한다 (도 3).
또, 상기 이면측 광원은, 상기 원반 (21) 의 회전면에 대해 광축이 대략 직교하는 상태로 배치 형성되는 청색 광원 (B 광원) (31), 상기 원반 (21) 의 회전면에 대해 광축이 경사진 상태로 배치 형성되는 녹색 광원 (G 광원) (32), 및 상기 원반 (21) 의 회전면에 대해 광축이 상기 G 광원 (32) 과 역방향으로 경사진 상태로 배치 형성되는 적색·녹색 광원 (RG 광원) (33) 을 포함한다. 상기 청색 광원 (31) 은, 곡립의 평면 형상을 특정하기 위하여 사용하는 청색광 (파장역 435 ∼ 500 ㎚ 의 단색광) 을 조사한다.
또한, 청색광은 곡립 (G) 에 흡수되는 비율이 적어, 곡립 (G) 의 평면 형상을 특정하기 위한 툴로서 유리하다 (이하, 특정 광원, 특정 광이라고 하는 경우가 있다).
여기서, 본 발명에 있어서, 상기 각 광원에는, 각각 적색·녹색·청색의 각 LED 를 사용하는데, 그 밖의 조명을 사용할 수도 있다.
상기 수광 센서는, 곡립 (G) 의 표면측으로서, 상기 원반 (21) 의 회전면에 대해 평행하고, 또한 상기 곡립 (G) 의 이송 방향과 직교하는 방향으로 주사 가능하게 배치 형성되는 표면측의 수광 센서 (41) 와, 상기 곡립 (G) 의 측면측으로서, 상기 원반 (21) 의 회전면에 대해 직교하는 방향으로 주사 가능하게 배치 형성되는 측면측의 수광 센서 (42) 로 이루어진다 (도 2).
상기 표면측의 수광 센서 (41) 는, 이면측에 배치한 상기 청색 광원 (31) 의 광축 상에 위치하고, 상기 곡립 (G) 의 표면측으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 수광하는 표면용 수광 영역 (a) 을 포함한다.
또, 상기 측면측의 수광 센서 (42) 는, 상기 곡립 (G) 의 이면측으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 수광하는 이면용 수광 영역 (b), 및 상기 곡립 (G) 의 측면측으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 수광하는 측면용 수광 영역 (c) 을 포함한다.
여기서, 본 발명에 있어서, 상기 각 수광 센서에는 리니어 이미지 센서를 사용하지만, 그 밖의 수광 센서를 사용할 수도 있다.
또, 상기 표면측 및 측면측의 수광 센서 (41, 42) 의 각 수광 영역의 앞에는, 각각 집광 렌즈 (47) 가 배치 형성되어 있다.
상기 다이크로익 필터는, 적 (R)·녹 (G)·청 (B) 의 광의 삼원색 중에서 청색광을 투과시키고, 녹색광 및 적색광을 반사하는 특성을 갖는 다이크로익 숏패스 필터 (51) 로서, 상기 곡립 (G) 의 이면측에 있어서, 그 곡립 (G) 과 상기 청색 광원 (31) 사이에, 상기 원반 (21) 의 회전면 및 상기 측면측 수광 센서 (42) 에 대해 45 도의 경사각으로 배치 형성되어 있다.
본 발명의 실시형태 1-1 에 있어서의 곡립 품위 판별 장치에 있어서, 품위의 판별 대상이 되는 곡립 (G) 은, 이송부 (2) 에 있어서의 원반 (21) 의 회전에 수반하여, 상기 원반 (21) 의 오목부 (22) 에 수용된 상태로 광학부 (3) 를 향하여 연속적으로 이송된다.
상기 광학부 (3) 에 있어서는, 표면측 광원과 이면측 광원이 교대로 점등하고, 당해 광학부 (3) 로 이송되어 오는 곡립 (G) 에, 그 곡립 (G) 의 표면측 및 이면측으로부터 교대로 광을 조사한다.
그리고, 표면측의 수광 센서 (41) 의 표면용 수광 영역 (a) 은, 상기 곡립 (G) 의 표면측으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 수광한다.
또, 측면측 수광 센서 (42) 의 이면용 수광 영역 (b) 은, 상기 곡립 (G) 의 이면측으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 수광하고, 그 측면측의 수광 센서 (42) 의 측면용 수광 영역 (c) 은, 상기 곡립 (G) 의 측면측으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 수광한다.
여기서, 상기 다이크로익 숏패스 필터 (51) 는, 상기 이면측 광원에 포함되는 상기 청색 광원 (31) 으로부터 조사되는 청색광을 투과시킨다.
그 때문에, 상기 표면측의 수광 센서 (41) 의 표면용 수광 영역 (a) 은, 곡립 (G) 의 평면 형상을 특정하기 위하여 필요한 상기 청색 광원 (31) 으로부터의 상기 청색광의 투과광 및 상기 곡립 (G) 의 표면측으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 교대로 수광할 수 있다.
또, 상기 다이크로익 숏패스 필터 (51) 는, 상기 곡립 (G) 의 이면측으로부터의 반사광 및/또는 투과광 중에서 청색 이외의 녹색광과 적색광을 상기 측면측 수광 센서 (42) 를 향하여 반사시킨다.
그 때문에, 상기 측면측 수광 센서 (42) 의 이면용 수광 영역 (b) 은, 상기 곡립 (G) 의 이면측에 상기 청색 광원이 있음에도 불구하고, 상기 곡립 (G) 의 이면측으로부터의 청색광 이외의 반사광 및/또는 투과광을 수광할 수 있다.
또한, 도 2 에 있어서, 수광 센서 (42) 의 제 3 수광부 (c) 를 떼어내어 수광 센서 (41) 의 수광부 (a) 와 일체로 함과 함께 상기 곡립 (G) 의 측면측으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 수광부 (c) 를 향하여 반사시키는 반사재를 배치함으로써 수광 센서 (41) 는 제 1 수광부 (a) 및 제 3 수광부 (c) 를 포함하는 것으로 하고, 수광 센서 (42) 는 제 2 수광부 (b) 를 포함하는 것으로 해도, 상기와 동일한 수광 관계를 얻을 수 있다.
즉, 곡립 (G) 의 평면 형상을 특정하기 위하여 필요한 소정 파장의 특정 광 로서 이면측으로부터 곡립 (G) 을 투과해 오는 투과광을 표면측의 수광 센서 (41) (제 1 수광부) 로 수광할 수 있는 것은 물론, 이 특정 광을 조사하는 이면측에 있어서도 표면측으로부터 곡립 (G) 을 투과해 오는 투과광 및 곡립 이면에서의 특정 광의 반사광을 이면측의 수광 센서 (42) (제 2 수광부) 로 수광할 수 있다. 이 때문에, 적어도 곡립 (G) 의 표면 및 이면으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 1 개의 광학부 (3) 에 있어서 동시에 수광할 수 있다
따라서, 상기 본 발명의 실시형태 1-1 에 의하면, 곡립 (G) 의 표면, 이면 및 측면으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 1 개의 광학부에 있어서 동시에, 또한, 동일한 지점에서 수광하므로, 이송부에 의한 곡립 (G) 의 이송 속도가 불안정해도 그 영향을 받지 않고, 상기 반사광 및/또는 투과광을, 동일한 이송 속도로 수광할 수 있고, 1 개의 곡립 (G) 에 있어서의 표면과 이면의 수광 신호의 양 (횟수) 을 동일하게 할 수 있다. 또, 동일한 자세 상태에서 수광할 수 있으므로, 곡립 (G) 의 표면 및 이면의 평면 형상을 동일 자세의 데이터로서 취득할 수 있다. 이로써, 곡립 (G) 의 품위 판별 정밀도가 향상된다.
또, 적어도 곡립 (G) 의 표면 및 이면으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 1 개의 광학부 (3) 에 있어서 동시에 수광할 수 있기 때문에, 곡립 품위 판별 장치를 소형화하는 것이 가능해져 비용을 저감시킬 수 있다.
또한, 상기의 실시형태 1-1 에서는, 곡립 (G) 의 표면측, 이면측 및 측면측의 3 방향으로부터의 반사광 및/또는 투과광을, 3 개의 수광 센서가 아니라, 2 개의 수광 센서에 의해 수광할 수 있기 때문에, 비용의 저감을 도모할 수 있다.
[실시형태 1-2]
도 4 는, 본 발명의 실시형태 1-2 에 있어서의 광학부의 설명도를 나타낸다.
이 실시형태에서는, 다이크로익 필터에, 적 (R)·녹 (G)·청 (B) 의 광의 삼원색 중에서 청색광을 반사하고, 녹색광 및 적색광을 투과시키는 특성을 갖는 다이크로익 롱패스 필터 (52) 를 사용한다.
상기 다이크로익 롱패스 필터 (52) 는, 곡립 (G) 의 이면측에 있어서, 그 곡립 (G) 과 청색 광원 (31) 사이에, 상기 원반 (21) 의 회전면 및 상기 측면측 수광 센서 (42) 에 대해 45 도의 경사각으로 배치 형성되어 있다.
또, 상기 곡립 (G) 과 상기 다이크로익 롱패스 필터 (52) 사이에, 상기 다이크로익 롱패스 필터 (52) 와 평행하게 반사재 (61) 가 배치 형성되어 있다.
여기서, 본 발명에 있어서, 상기 반사재 (61) 에는 미러를 사용하지만, 그 밖의 부재를 사용할 수도 있다.
또한, 그 밖의 구성에 대해서는 실시형태 1 과 동일하고, 여기서의 설명은 생략한다.
본 발명의 실시형태 1-2 에 있어서도, 표면측 수광 센서 (41) 의 표면용 수광 영역 (a) 은, 상기 곡립 (G) 의 표면측으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 수광한다.
또, 측면측 수광 센서 (42) 의 이면용 수광 영역 (b) 은, 상기 곡립 (G) 의 이면측으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 수광하고, 그 측면측 수광 센서 (42) 의 측면용 수광 영역 (c) 은, 상기 곡립 (G) 의 측면측으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 수광한다.
상기 다이크로익 롱패스 필터 (52) 는, 상기 청색 광원 (31) 으로부터 조사되는 청색광을 상기 반사재 (61) 를 향하여 반사시키고, 상기 반사재 (61) 는, 상기 다이크로익 롱패스 필터 (52) 에서 반사된 상기 청색광을 다시 곡립 (G) 의 이면측을 향하여 반사시킨다.
그 때문에, 상기 표면측의 수광 센서 (41) 의 표면용 수광 영역 (a) 은, 곡립 (G) 의 평면 형상을 특정하기 위하여 필요한 상기 청색광의 투과광을 포함하여 상기 곡립 (G) 의 표면측으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 수광할 수 있다.
또, 상기 다이크로익 롱패스 필터 (52) 는, 상기 곡립 (G) 의 이면측으로부터의 반사광 및/또는 투과광으로서, 상기 반사재 (61) 에서 반사된 반사광 및/또는 투과광 중에서 청색 이외의 녹색광과 적색광을 투과시킨다.
그 때문에, 상기 측면측 수광 센서 (42) 의 이면용 수광 영역 (b) 은, 상기 곡립 (G) 의 이면측으로부터의 청색광 이외의 반사광 및/또는 투과광을 수광할 수 있다.
따라서, 상기 본 발명의 실시형태 1-2 에 의해서도, 곡립 (G) 의 표면, 이면 및 측면으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 1 개의 광학부 (3) 에 있어서 동시에 수광할 수 있다.
[실시형태 1-3]
도 5 는, 본 발명의 실시형태 1-3 에 있어서의 광학부의 설명도를 나타낸다.
본 발명의 실시형태 1-3 에 있어서의 광학부 (3) 는, 수광 센서가, 곡립 (G) 의 측면측으로서, 이송부 (2) 에 있어서의 원반 (21) 의 회전면에 대해 직교하는 방향으로 주사 가능하게 배치 형성되는 측면측 수광 센서 (42) 만으로 이루어지는 점에서, 실시형태 1 에 있어서의 광학부 (3) 와 상이하다.
상기 측면측 수광 센서 (42) 는, 상기 곡립 (G) 의 표면측으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 수광하는 표면용 수광 영역 (a), 상기 곡립 (G) 의 이면측으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 수광하는 이면용 수광 영역 (b), 및 상기 곡립 (G) 의 측면측으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 수광하는 측면용 수광 영역 (c) 을 포함한다.
또, 본 발명의 실시형태 1-3 에서는, 상기 곡립 (G) 의 표면측에, 그 곡립 (G) 의 표면측으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 상기 표면용 수광 영역 (a) 을 향하여 반사시키는 반사재 (61) 가 배치 형성되어 있다.
따라서, 상기 본 발명의 실시형태 1-3 에 의해서도, 곡립 (G) 의 표면, 이면 및 측면으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 1 개의 광학부에 있어서 동시에 수광할 수 있다.
그리고, 본 발명의 실시형태 1-3 에 의하면, 곡립 (G) 의 표면, 이면 및 측면의 3 방향으로부터의 반사광 및/또는 투과광을, 1 개의 수광 센서에 의해 수광할 수 있기 때문에, 추가적인 비용의 저감화를 도모할 수 있다.
[실시형태 1-4]
도 6 은, 본 발명의 실시형태 1-4 에 있어서의 광학부의 설명도를 나타낸다.
본 발명의 실시형태 1-4 에 있어서의 광학부 (3) 는, 수광 센서가, 곡립 (G) 의 표면측으로서, 이송부 (2) 에 있어서의 원반 (21) 의 회전면에 대해 평행하고, 또한 상기 곡립 (G) 의 이송 방향과 직교하는 방향으로 주사 가능하게 배치 형성되는 표면측 수광 센서 (41) 만으로 이루어지는 점에서, 실시형태 1-3 에 있어서의 광학부 (3) 와 상이하다.
상기 표면측의 수광 센서 (41) 는, 상기 곡립 (G) 의 표면측으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 수광하는 표면용 수광 영역 (a), 상기 곡립 (G) 의 이면측으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 수광하는 이면용 수광 영역 (b), 및 상기 곡립 (G) 의 측면측으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 수광하는 측면용 수광 영역 (c) 을 포함한다.
그리고, 본 발명의 실시형태 1-4 에서는, 상기 곡립 (G) 의 측면측에, 상기 곡립 (G) 의 이면측으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 상기 이면용 수광 영역 (b) 을 향하여 반사시키는 반사재 (61) 가 배치 형성되고, 상기 곡립 (G) 의 측면측으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 상기 측면용 수광 영역 (c) 을 향하여 반사시키는 반사재 (61) 가 배치 형성되어 있다.
따라서, 상기 본 발명의 실시형태 4 에 의해서도, 곡립 (G) 의 표면, 이면 및 측면으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 1 개의 광학부에 있어서 동시에 수광할 수 있다.
상기 본 발명의 실시형태 1-4 에 의해서도, 곡립 (G) 의 표면, 이면 및 측면의 3 방향으로부터의 반사광 및/또는 투과광을, 1 개의 수광 센서에 의해 수광할 수 있기 때문에, 추가적인 비용의 저감화를 도모할 수 있다.
[실시형태 1-5]
도 7 은, 본 발명의 실시형태 1-5 에 있어서의 광학부의 설명도를 나타낸다.
본 발명의 실시형태 1-5 에 있어서의 광학부 (3) 는, 다이크로익 필터를 다이크로익 롱패스 필터 (52) 로 하고, 청색 광원 (31) 과 이면용 수광 영역 (b) 의 배치를 교체한 점에서 실시형태 1-1 에 있어서의 광학부 (3) 와 상이하다.
즉, 실시형태 1-5 에 있어서의 광학부 (3) 는, 실시형태 1-1 에 있어서의 측면측 수광 센서 (42) 의 이면용 수광 영역 (b) 의 위치에 청색 광원 (31) 을 배치 형성하고, 실시형태 1-1 에 있어서의 청색 광원 (31) 의 위치에 곡립 (G) 의 이면측으로부터의 반사광 및 또는 투과광을 수광하는 이면용 수광 영역 (b) 을 포함하는 이면측 수광 센서 (43) 를 배치 형성하는 것이다.
따라서, 상기 본 발명의 실시형태 5 에 의해서도, 곡립 (G) 의 표면, 이면 및 측면으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 1 개의 광학부에 있어서 동시에 수광할 수 있다.
상기 본 발명의 각 실시형태에서는, 곡립 (G) 의 평면 형상을 특정하기 위한 광으로서 청색광을 사용하였지만, 곡립 (G) 의 평면 형상을 특정할 수 있는 색이면 다른 단색광을 사용할 수 있다. 또, 단색광에 한정하지 않고, 「청 ＋ 적」, 「청 ＋ 녹」, 「적 ＋ 녹」, 「청 ＋ 적 ＋ 녹」등의 복수의 색을 조합한 광도 사용 가능하고, 청, 적, 녹 이외의 그 밖의 색의 가시광을 사용할 수도 있다.
또, 상기 본 발명의 각 실시형태에서는, 다이크로익 필터를 사용했지만, 청색 등의 특정 광을 투과시키고, 그 이외의 파장의 광을 반사하는 필터, 또는 청색 등의 소정 파장의 특정 광을 반사하고 그 이외의 파장의 광을 투과시키는 필터이면, 다른 광학 필터를 사용할 수도 있다.
또한, 각 실시형태 1-1 ∼ 1-5 의 곡립 품위 판별 장치는, 곡립 (G) 의 표면, 이면 및 측면으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 1 개의 광학부에 있어서 동시에 수광하는 것으로 했지만, 적어도 곡립 (G) 의 표면 및 이면으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 1 개의 광학부에 있어서 동시에 수광하는 것이면 된다.
[실시형태 2]
실시형태 2 의 곡립 품위 판별 장치 (1) 는, 상기 실시형태 1 의 구성에 추가로 상기 광학부 (3) 에 있어서의 수광 센서의 수광량을 보정하기 위한 기준판 (81) 을 구비한다. 또, 상기 기준판 (81) 은, 상기 이송부 (2) 에 있어서의 상기 원반 (21) 과 떨어진 상이한 위치에 배치 형성되는 유지 부재 (82) 에 장착되어 있다. 이 때문에, 실시형태 2 의 곡립 품위 판별 장치 (1) 는, 광학부 (3) 를 곡립 (G) 에 대한 위치와 기준판 (81) 에 대한 위치 사이에서 이동시키는 기구를 구비하고 있다.
즉, 상기 광학부 (3) 는, 상기 원반 (21) 의 회전축 (24) 과 평행하게 배치 형성되는 축 (91) (도 9, 10) 을 중심으로 회동하는 회동 부재 (92) 에 고정되어 있다. 상기 회동 부재 (92) 는 원호상의 외주 가장자리를 갖고, 그 외주 가장자리의 둘레측면에는, 당해 회동 부재 (92) 에 인접하여 배치 형성되는 모터 (95) 의 회전 구동력을 전달하는 기어 (96) 와 맞물리도록 기어 (93) 가 형성되어 있다.
실시형태 2 의 곡립 품위 판별 장치 (1) 에 있어서, 곡립 (G) 을 이송하는 이송부 (2), 상기 곡립 (G) 에 광을 조사하고, 상기 곡립 (G) 으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 수광하는 광학부 (3), 상기 곡립 (G) 의 품위를 판별하는 품위 판별부 (7) 에 관한 구성은 실시형태 1 과 변함없다. 이송부 (2) 는, 도시되지 않은 구동 모터에 의해 회전 구동되는 원반 (21) 이고, 그 둘레 가장자리 위치에는 다수의 오목부 (22) 가 형성되고, 그 오목부 (22) 에는 투명한 바닥판 (23) 이 배치 형성되어 있다.
상기 광학부 (3) 는, 곡립 (G) 에 광을 조사하는 광원, 상기 광원으로부터 조사된 광의 상기 곡립 (G) 으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 수광하는 센서를 갖고, 상기 원반 (21) 상에 공급되어, 상기 원반 (21) 의 회전에 수반하여 상기 원반 (21) 의 오목부 (22) 에 수용된 상태로 연속적으로 이송되어 오는 곡립 (G) 에 상기 광원으로부터 광을 조사하고, 상기 곡립 (G) 으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 상기 수광 센서로 수광하여 수광 신호를 취득한다. 그리고, 상기 품위 판별부 (7) 는, 상기 광학부 (3) 에서 취득되는 상기 수광 신호에 기초하여 상기 곡립 (G) 의 품위를 판별한다.
그리고, 실시형태 2 의 곡립 품위 판별 장치 (1) 는, 추가로 상기 광학부 (3) 에 있어서의 수광 센서의 수광량을 보정하기 위한 기준판 (81) 을 구비한다.
상기 기준판 (81) 은, 상기 이송부 (2) 에 있어서의 상기 원반 (21) 과 떨어진 상이한 위치에 배치 형성되는 유지 부재 (82) 에 장착되어 있다.
상기 기준판 (81) 으로서 예를 들어 백색과 유백색과 같이 농도 등이 상이한 2 장을 사용하지만, 3 장 이상을 사용할 수도 있다.
도 11 은, 실시형태 2 의 곡립 품위 판별 장치 (1) 에 있어서, 광학부 (3) 를 이동시키는 경우의 설명도이다.
상기 광학부 (3) 는, 상기 모터 (95) 의 회전 구동에 의해, 상기 회동 부재 (92) 를 통하여, 원반 (21) 상의 곡립 측정 위치 (A) (제 1 위치) 와, 상기 원반 (21) 과 떨어진 상이한 위치의 기준판 위치 (B) (제 2 위치) 사이를 이동할 수 있다.
그리고, 상기 곡립 품위 판별 장치 (1) 는, 상기 기준판 위치 (B) 에 있어서, 상기 광학부 (3) 의 광원으로부터 상기 기준판 (81) 에 광을 조사하고, 그 기준판 (81) 으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 상기 광학부 (3) 의 수광 센서로 수광하고, 그 수광 센서의 상기 반사광 및/또는 투과광의 수광량과 미리 설정되는 기준 광량을 비교하여, 상기 수광 센서의 수광량을 보정하기 위한 보정 계수를 산출한다.
또, 상기 곡립 품위 판별 장치 (1) 는, 상기 곡립 측정 위치 (A) 에 있어서, 상기 광학부 (3) 의 광원으로부터 상기 원반 (21) 의 오목부 (22) 에 수용된 곡립 (G) 에 광을 조사하고, 그 곡립 (G) 으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 상기 광학부 (3) 의 수광 센서로 수광하고, 상기 수광 센서의 수광량에 상기 보정 계수를 곱함으로써 상기 수광량을 보정한다.
실시형태 2 의 곡립 품위 판별 장치 (1) 는, 기준판 (81) 이, 상기 이송부 (2) 에 있어서의 원반 (21) 과 떨어진 상이한 위치에 배치 형성되는 유지 부재 (82) 에 장착되고, 광학부 (3) 가 원반 (21) 상의 곡립 측정 위치 (A) 와, 상기 원반 (21) 과 떨어진 상이한 위치의 기준판 위치 (B) 사이를 이동할 수 있도록 배치 형성되므로, 상기 원반 (21) 상에 공급되는 곡립 (G) 등의 접촉에 의해 상기 기준판 (81) 에 흠집이나 오염이 발생하는 경우가 적다. 이 때문에, 곡립 (G) 의 품위 판별 정밀도가 열화되지 않는다. 또, 상기 기준판 (81) 이 파손된 경우여도 상기 원반 (21) 상에 공급되는 곡립 (G) 에 파편이 혼입되는 경우가 없다.
또한, 실시형태 2 의 곡립 품위 판별 장치 (1) 는, 원반 (21) 상에 공급되는 곡립 (G) 등의 접촉에 의해 기준판 (81) 에 흠집이나 오염이 발생하지 않기 때문에, 종래와 비교하여 기준판을 교환하는 빈도가 현격히 감소하여, 기준판의 교환 작업이나 기준판의 교환에 수반되는 기준 광량의 설정 작업 등의 노력이 현저하게 감소된다.
또한, 실시형태 2 의 곡립 품위 판별 장치 (1) 는, 기준판 (81) 을 교환하는 빈도가 현격히 감소되기 때문에, 기준판 (81) 의 개체 차의 영향을 잘 받지 않아, 곡립 (G) 의 품위 판별 정밀도가 안정된다.
실시형태 2 의 곡립 품위 판별 장치 (1) 에 있어서, 상기 광학부 (3) 는, 상기 원반 (21) 의 회전축 (24) 과 평행한 축 (91) 을 중심으로 회동하므로, 상기 원반 (21) 의 회전면에 대해 평행하게 이동한다.
이 때문에, 상기 곡립 측정 위치 (A) 에 있어서의 상기 광학부 (3) 와 곡립 (G) 및 상기 기준판 위치 (B) 에 있어서의 상기 광학부 (3) 와 기준판 (81) 의 위치 관계를 동일한 것으로 할 수 있기 때문에, 상기 수광 센서의 수광량을 보정하기 위한 보정 계수를 정확하게 산출하는 것이 가능해진다.
즉, 상기 광학부가, 상기 제 1 위치에 있어서의 상기 광원과 상기 곡립 (G) 의 거리와, 상기 제 2 위치에 있어서의 상기 광원과 상기 기준판의 거리가 동등해지도록 배치 형성하거나, 상기 광학부가, 상기 제 1 위치에 있어서의 상기 수광 센서와 상기 곡립 (G) 의 거리와, 상기 제 2 위치에 있어서의 상기 수광 센서와 상기 기준판의 거리가 동등해지도록 배치 형성하거나 하는 것이 바람직하다.
상기 보정 계수를 적색광·녹색광 및 청색광의 삼원색 각각에 대해 산출하는 것으로 하면, 곡립 (G) 의 품위 판별 정밀도가 한층 더 향상된다.
실시형태 2 에 있어서, 곡립 (G) 의 측정시에는, 광학부 (3) 에 대해, 곡립 (G) 이 일정한 이송 속도로 원반 (21) 에 의해 이송되고 있다. 따라서, 기준판 (81) 의 측정시에는, 광학부 (3) 에 대해, 기준판 (81) 을 상기 이송 속도와 동일한 속도로 이송하도록 한다. 이송 방법으로는, 예를 들어, 기준판 위치 (B) 에 있어서, 유지 부재 (82) 를 원반 (21) 과 같이 회전시켜, 광학 블록 (3) 에 대해, 기준판 (81) 이 상기 이송 속도로 이송되도록 하면 된다. 혹은, 광학 블록 (3) 이 이동할 때의 회전 속도를 조정하여, 기준판 (81) 이 상기 이송 속도와 상대적으로 동일한 속도로 이송되도록 하면 된다.
또한, 상기 광학부가, 상기 제 1 위치와 상기 제 2 위치에 직선 이동하는 것이어도 된다.
[실시형태 3]
실시형태 3 의 곡립 품위 판별 장치 (1) 도 또한, 도 11 에 나타낸 실시형태 2 의 경우와 마찬가지로, 광학부 (3) 가 상기 모터 (95) 의 회전 구동에 의해, 상기 회동 부재 (92) 를 통하여, 원반 (21) 상의 곡립 측정 위치 (A) 와, 상기 원반 (21) 과 떨어진 상이한 위치의 기준판 위치 (B) 사이를 이동한다 (도 11 을 실시형태 3 의 경우에 응용한다).
상기 곡립 품위 판별 장치 (1) 는, 상기 기준판 위치 (B) 에 있어서, 먼저, 상기 광학부 (3) 의 광원으로부터 상기 표리면용 기준판 (81) 에 광을 조사하고, 그 표리면용 기준판 (81) 의 표면 및 이면으로부터의 반사광 및/또는 투과광을, 각각 상기 광학부 (3) 의 수광 센서로 수광하고, 그 수광 센서가 수광하는 표면 및 이면으로부터의 상기 반사광 및/또는 투과광의 각 수광량과 미리 설정되는 기준 광량을 비교하여, 상기 수광 센서의 상기 각 수광량을 보정하기 위한 보정 계수를 산출한다.
다음으로, 상기 곡립 품위 판별 장치 (1) 는, 상기 광학부 (3) 의 광원으로부터 상기 측면용 기준판 (84) 에 광을 조사하고, 그 측면용 기준판 (84) 의 측면으로부터의 반사광 및/또는 투과광을, 각각 상기 광학부 (3) 의 수광 센서로 수광하고, 그 수광 센서가 수광하는 측면으로부터의 반사광 및/또는 투과광의 수광량과 미리 설정되는 기준 광량을 비교하여, 상기 수광 센서의 상기 수광량을 보정하기 위한 보정 계수를 산출한다.
그리고, 상기 곡립 품위 판별 장치 (1) 는, 상기 곡립 측정 위치 (A) 에 있어서, 상기 광학부 (3) 의 광원으로부터 상기 원반 (21) 의 오목부 (22) 에 수용된 곡립 (G) 에 광을 조사하고, 그 곡립 (G) 의 표면, 이면 및 측면으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 상기 광학부 (3) 의 수광 센서로 수광하고, 그 수광 센서가 수광하는 상기 곡립 (G) 의 표면, 이면 및 측면으로부터의 상기 반사광 및/또는 투과광의 각 수광량의 각각에 상기 각 보정 계수를 곱함으로써 상기 각 수광량을 보정한다.
즉, 실시형태 3 에서는, 상기 유지 부재 (82) 에 2 개의 기준판 (81, 84) 이 장착되어 있다. 일방은 상기 수광 센서가 상기 곡립 (G) 의 표면 및/또는 이면으로부터 수광하는 반사광 및/또는 투과광의 수광량을 보정하기 위한 표리면용 기준판 (81), 타방은 상기 수광 센서가 상기 곡립 (G) 의 측면으로부터 수광하는 반사광 및/또는 투과광의 수광량을 보정하기 위한 측면용 기준판 (84) 이다.
또한, 상기 표리면용 기준판 (81) 은, 명도 (농도) 가 상이한 2 종류의 기준판, 예를 들어 백색의 제 1 기준판과 반투명한 제 2 기준판의 2 개의 기준판을 사용해도 된다. 그 경우, 상기 유지 부재 (82) 에는, 3 개의 기준판이 장착되게 된다.
실시형태 3 에 있어서, 곡립 (G) 의 측정시에는, 광학부 (3) 에 대해, 곡립 (G) 이 일정한 이송 속도로 원반 (21) 에 의해 이송되고 있다. 따라서, 기준판 (81, 84) 의 측정시에 있어서, 광학부 (3) 에 대해, 기준판 (81, 84) 을 상기 이송 속도와 동일한 속도로 이송하도록 하는데, 그 이송 방법은 상기 실시형태 2 의 경우와 동일하다.
또한, 본 발명의 실시형태에 있어서의 곡립 품위 판별 장치에 있어서, 상기 보정 계수를 적색광·녹색광 및 청색광의 삼원색 각각에 대해 산출하는 것으로 하면, 곡립 (G) 의 품위 판별 정밀도를 한층 더 향상시킬 수 있다.
상기 광학부 (3) 는, 상기 실시형태 1 과 마찬가지로, 광원 (31 ∼ 35), 수광 센서 (41, 42), 집광 렌즈 (47) 및 다이크로익 숏패스 필터 (51) 를 갖는다 (도 2, 3).
곡립 (G) 의 표면측에 배치 형성되는 표면측 광원은 2 개의 적색·녹색·청색 광원 (RGB 광원) (34, 35) 이고, 곡립 (G) 의 이면측에 배치 형성되는 이면측 광원이란, 청색 광원 (B 광원) (31), 녹색 광원 (G 광원) (32), 및 적색·녹색 광원 (RG 광원) (33) 이다.
곡립 (G) 의 표면측으로서, 상기 원반 (21) 의 회전면에 대해 평행하게 배치되는 표면측 수광 센서 (41) 는, 상기 곡립 (G) 의 이송 방향과 직교하는 방향으로 주사 가능하게 배치 형성되고, 상기 곡립 (G) 의 측면측으로서 상기 원반 (21) 의 회전면에 대해 수직으로 배치되는 측면측 수광 센서 (42) 는, 상기 원반 (21) 의 회전면에 대해 직교하는 방향으로 주사 가능하게 배치 형성된다.
상기 표면측 수광 센서 (41) 는, 상기 청색 광원 (31) 의 광축 상에 위치하고, 상기 곡립 (G) 의 표면측으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 수광하는 표면용 수광 영역 (a) 을 포함한다.
또, 상기 측면측 수광 센서 (42) 는, 상기 곡립 (G) 의 이면측으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 수광하는 이면용 수광 영역 (a), 및 상기 곡립 (G) 의 측면측으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 수광하는 측면용 수광 영역 (b) 을 포함한다.
상기 표면측 및 측면측 수광 센서 (41, 42) 의 각 수광 영역의 앞에는, 각각 집광 렌즈 (47) 가 배치 형성되어 있다.
상기 다이크로익 숏패스 필터 (51) 는, 적 (R)·녹 (G)·청 (B) 의 광의 삼원색 중에서 청색광을 투과시키고, 녹색광 및 적색광을 반사하는 특성을 갖는 것이고, 상기 곡립 (G) 의 이면측에 있어서, 그 곡립 (G) 과 상기 청색 광원 (31) 사이에, 상기 원반 (21) 의 회전면 및 상기 제 2 수광 센서 (42) 에 대해 45 도의 경사각으로 배치 형성되어 있다.
상기 광학부 (3) 는, 곡립 측정 위치 (A) 에 있어서, 상기 표면측 광원과 상기 이면측 광원이 교대로 점등하고, 곡립 (G) 에 표면측 및 이면측으로부터 교대로 광을 조사한다.
따라서, 표면측 수광 센서 (41) 의 표면용 수광 영역 (a) 은, 상기 곡립 (G) 의 표면측으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 수광하고, 측면측 수광 센서 (42) 의 이면용 수광 영역 (a) 은, 상기 곡립 (G) 의 이면측으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 수광하고, 또한, 그 측면측 수광 센서 (42) 의 측면용 수광 영역 (b) 은, 상기 곡립 (G) 의 측면측으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 수광한다.
또, 상기 광학부 (3) 는, 기준판 위치 (B) 에 있어서 예를 들어 상기 표면측 광원과 상기 이면측 광원이 교대로 점등하고, 상기 각 기준판 (81, 84) 에 표면측 및 이면측으로부터 교대로 광을 조사한다.
요컨대, 표면측 수광 센서 (41) 의 표면용 수광 영역 (a) 은, 상기 표리면용 기준판 (81) 의 표면측으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 수광하고, 또, 측면측 수광 센서 (42) 의 이면용 수광 영역 (a) 도, 상기 표리면용 기준판 (81) 의 이면측으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 수광한다. 또한, 측면측 수광 센서 (42) 의 측면용 수광 영역 (b) 은, 상기 측면용 기준판 (84) 의 측면측으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 수광한다.
도 13 내지 도 18 은 도 12 의 E-E 단면에서 본 측면용 기준판 (84) 의 설명도이고, 표면측 광원 (63) 및/또는 이면측 광원 (62) 으로부터 조사된 광의 측면용 기준판 (84) 의 측면으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 측면측 수광 센서 (65) 의 수광 영역에서 수광하는 모습을 나타내고 있다.
표면측 광원 (63) 은 도 3 의 RGB 광원 (34, 35) 이고, 이면측 광원 (62) 은 동 도면의 B 광원 (31), G 광원 (32) 및 RG 광원 (33) 이다. 또, 측면측 수광 센서 (65) 는, 측면측 수광 센서 (42) 의 측면용 수광 영역 (b) 에 상당한다.
도 13 에 나타내는 측면용 기준판 (84) 에는, 측면측 수광 센서 (65) 가 대향하는 측면과 반대측의 측면에, 상하 대칭의 직선상의 경사면을 갖는 오목부가 형성되고, 상기 경사면이 상기 표면측 광원 (63) 및/또는 상기 이면측 광원 (62) 으로부터 조사되는 광을 측방을 향하여 반사시키는 반사면 (83) 으로 되어 있다.
도 14 에 나타내는 측면용 기준판 (84) 에는, 측면측 수광 센서 (65) 가 대향하는 측면에, 상하 대칭의 원호상의 경사면을 갖는 볼록부가 형성되고, 상기 경사면이 상기 표면측 광원 (63) 및/또는 상기 이면측 광원 (62) 으로부터 조사되는 광을 측방을 향하여 반사시키는 반사면 (83) 으로 되어 있다.
도 15 에 나타내는 측면용 기준판 (84) 에는, 측면측 수광 센서 (65) 가 대향하는 측면에, 상하 대칭의 직선상의 경사면을 갖는 볼록부가 형성되고, 상기 경사면이 상기 표면측 광원 (63) 및/또는 상기 이면측 광원 (62) 으로부터 조사되는 광을 측방을 향하여 반사시키는 반사면 (83) 으로 되어 있다.
도 16 에 나타내는 측면용 기준판 (84) 에는, 측면측 수광 센서 (65) 가 대향하는 측면과 반대측의 측면에, 직선상의 하향 경사면이 형성되고, 상기 경사면이 상기 표면측 광원 (63) 및/또는 상기 이면측 광원 (62) 으로부터 조사되는 광을 측방을 향하여 반사시키는 반사면 (83) 으로 되어 있다.
여기서, 도 13 내지 도 16 에 나타내는 측면용 기준판 (84) 은, 각각 좌우를 반전시켜 사용할 수 있다.
또, 도 16 에 나타내는 측면용 기준판 (84) 은, 상하를 반전시켜 사용할 수도 있다.
또한, 상기 측면용 기준판 (84) 은, 상기 도 13 내지 도 16 에 기재한 예에 한정하는 것이 아니며, 상기 표면측 광원 (63) 및/또는 상기 이면측 광원으로부터 조사되는 광을 측방을 향하여 반사시키는 반사면을 갖는 것이면 된다.
또한, 도 16 에 나타내는 측면용 기준판 (84) 에 대해서는, 직선상의 경사면을 형성하면 되고, 가공이 용이하다.
도 16 에 나타내는 측면용 기준판 (84) 은, 상하 및/또는 좌우를 반전시킨 2 개를 사용할 수도 있다.
도 17 은, 도 16 의 측면용 기준판 (84) 을, 상하를 반전시켜 2 개 사용하는 예를 나타낸다.
도 17(a) 는, 표면측 광원 (63) 으로부터 조사되는 광을 측면용 기준판 (84) 의 하향 반사면 (83) 에서 측방을 향하여 반사시키고, 도 17(b) 는, 이면측 광원 (62) 으로부터 조사되는 광을 측면용 기준판 (84) 의 상향 반사면 (83) 에서 측방을 향하여 반사시키는 모습을 나타내고 있다.
도 18 은, 도 16 의 측면용 기준판 (84) 을, 상하 및 좌우를 반전시켜 2 개 사용하는 예를 나타낸다.
도 18(a) 는, 표면측 광원 (63) 으로부터 조사되는 광을 측면용 기준판 (84) 의 상향 반사면 (83) 에서 측방을 향하여 반사시키고, 도 18(b) 는, 이면측 광원 (62) 으로부터 조사되는 광을 측면용 기준판 (84) 의 하향 반사면에서 측방을 향하여 반사시키는 모습을 나타내고 있다.
또한, 2 개의 측면용 기준판 (84) 을 사용하는 경우, 도 12 에 나타내는 유지 부재 (82) 에는 3 개의 기준판이 장착되게 된다.
상기 각 측면용 기준판 (84) 에 의하면, 상기 측면측 수광 센서 (65) 는, 상기 각 측면용 기준판 (84) 의 측면으로부터 수광하는 반사광 및/또는 투과광에 대해, 곡립 (G) 의 측면으로부터 수광하는 반사광 및/또는 투과광의 수광량과 대략 동 레벨의 수광량을 수광할 수 있다.
따라서, 실시형태 3 의 곡립 품위 판별 장치 (1) 에 의하면, 곡립 (G) 의 표면 및 이면으로부터 수광하는 반사광 및/또는 투과광의 수광량에 더하여, 곡립 (G) 의 측면으로부터 수광하는 반사광 및/또는 투과광의 수광량의 보정을 충분한 수광량을 갖고 정확하게 실시할 수 있다.
또, 상기 각 측면용 기준판 (84) 에 있어서, 각 반사면 (83) 은 블라스트 처리 등의 기계적 처리나 에칭 처리 등의 화학적 처리 등에 의해 미세한 요철면으로 이루어지는 조면 (粗面) 으로 형성되어 있다.
따라서, 상기 측면용 기준판 (84) 의 반사면 (83) 은, 상기 조면에 의해 형성되는 광 확산면이 되므로, 상기 반사면에서 측방을 향하여 반사시키는 반사광이 확산되고, 상기 측면측 수광 센서 (65) 는 상기 측면용 기준판 (84) 의 측면으로부터 적색광·녹색광 및 청색광을 고르게 수광할 수 있다.
또한, 상기 측면용 기준판 (84) 은, 상기 반사면 (83) 에서 측방을 향하여 반사시키는 반사광으로서 당해 측면용 기준판 (84) 을 투과하는 투과광을 확산시키는 색조, 예를 들어 유백색으로 할 수 있다.
상기 측면용 기준판 (84) 을, 유백색 등의 투과광을 확산시키는 색조를 갖는 것으로 하면, 상기 반사면 (83) 에서 측방을 향하여 반사시키는 반사광으로서 당해 측면용 기준판 (84) 을 투과하는 투과광이 확산되고, 상기 측면측 수광 센서 (65) 는 상기 측면용 기준판 (84) 의 측면으로부터 적색광·녹색광 및 청색광을 고르게 수광할 수 있다.
또한, 상기 측면용 기준판 (84) 을 유백색 등의 투과광을 확산시키는 색조를 갖는 것으로 하는 경우에는, 반드시 상기 반사면을 상기 조면으로 할 필요는 없다.
또, 상기 본 발명의 실시형태에 있어서의 곡립 품위 판별 장치는, 기준판 (81, 84) 을 항상 장착하는 것이었지만, 수광 센서의 수광량을 보정할 때 상기 기준판을 장치에 일시적으로 장착하는 것이어도 된다.
이상, 실시형태에 대해 설명하였다.
그러나, 본 발명은, 상기 실시형태에 한정하는 것이 아니며, 발명의 범위를 일탈하지 않는 한에 있어서 그 구성을 적절히 변경할 수 있다.
산업상 이용가능성
본 발명의 곡립 품위 판별 장치는, 품위 판별 정밀도가 높고, 곡립 (G) 의 품위 판별에 매우 유용하다.
1 : 곡립 품위 판별 장치
2 : 이송부
21 : 원반
22 : 오목부
23 : 바닥판
24 : 회전축
3 : 광학부
31 ∼ 35 : 광원
41 : 표면측 수광 센서
42 : 측면측 수광 센서
47 : 집광 렌즈
51 : 다이크로익 숏패스 필터
61 : 반사재
62 : 이면측 광원
63 : 표면측 광원
65 : 측면측 수광 센서
7 : 품위 판별부
81 : 표리면용 기준판
82 : 유지 부재
83 : 반사면
84 : 측면용 기준판
91 : 축
92 : 회동 부재
93 : 기어
95 : 모터
96 : 기어
A : 곡립 측정 위치
B : 기준판 위치
G : 곡립

Claims (16)

  1. 곡립에 광을 조사하는 복수의 광원, 상기 광원으로부터 조사된 광의 상기 곡립으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 수광하는 수광 센서를 갖는 광학부와,
    상기 수광 센서의 수광에 기초하여 상기 곡립의 품위를 판별하는 품위 판별부를 구비하여 이루어지는 곡립 품위 판별 장치로서,
    상기 광학부는,
    상기 광원이, 상기 곡립의 일면측으로부터, 곡립의 평면 형상을 특정하기 위하여 필요한 소정 파장의 특정 광을 조사하는 특정 광원을 포함하고,
    상기 수광 센서가, 상기 곡립의 타면측으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 수광하는 제 1 수광부와, 상기 곡립의 일면측으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 수광하는 제 2 수광부를 포함하고,
    상기 곡립의 일면측에, 상기 특정 광원이 조사하는 상기 특정 광을 투과 또는 반사시키는 광학 필터를 배비하여 이루어지고,
    상기 특정 광원은, 상기 광학 필터를 개재하여 상기 곡립의 일면측으로부터 상기 특정 광을 조사하고,
    상기 제 1 수광부는, 상기 곡립의 일면측으로부터 조사되는 상기 특정 광원으로부터의 상기 특정 광의 투과광을 포함하여 상기 곡립의 타면측으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 수광하고,
    상기 제 2 수광부는, 상기 광학 필터를 개재하여 상기 곡립의 일면측으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 수광하는 것을 특징으로 하는 곡립 품위 판별 장치.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 특정 광은, 파장이 청색역에 있어, 청색광이고, 상기 특정 광원은 청색 광원인 것을 특징으로 하는 곡립 품위 판별 장치.
  3. 제 2 항에 있어서,
    상기 광학 필터가 청색광을 투과시키는 다이크로익 숏패스 필터로서,
    상기 청색 광원은, 상기 다이크로익 숏패스 필터를 투과하는 청색광을 상기 곡립의 일면측으로부터 조사하고,
    상기 제 1 수광부는, 상기 곡립의 일면측으로부터 조사되고 상기 다이크로익 숏패스 필터를 투과하는 상기 청색 광원으로부터의 청색광의 투과광을 포함하여 상기 곡립의 타면측으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 수광하고,
    상기 제 2 수광부는, 상기 다이크로익 숏패스 필터로 반사되는 상기 곡립의 일면측으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 수광하는, 곡립 품위 판별 장치.
  4. 제 2 항에 있어서,
    상기 다이크로익 필터는, 청색광을 반사하는 다이크로익 롱패스 필터로서,
    상기 청색 광원은, 상기 다이크로익 롱패스 필터로 반사되는 청색광을 상기 곡립의 일면측으로부터 조사하고,
    상기 제 1 수광부는, 상기 곡립의 일면측으로부터 조사되고 상기 다이크로익 롱패스 필터로 반사되는 상기 청색 광원으로부터의 청색광의 투과광을 포함하여 상기 곡립의 타면측으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 수광하고,
    상기 제 2 수광부는, 상기 다이크로익 롱패스 필터를 투과하는 상기 곡립의 일면측으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 수광하는, 곡립 품위 판별 장치.
  5. 제 1 항에 있어서,
    상기 수광 센서는, 상기 곡립의 측면측으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 수광하는 제 3 수광부를 포함하는, 곡립 품위 판별 장치.
  6. 제 1 항에 있어서
    곡립을 이송하는 회전 원반을 갖는 이송부를 추가로 구비하고,
    상기 광학부는, 상기 이송부로 이송되는 곡립에 광을 조사하고, 상기 곡립으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 수광하는, 곡립 품위 판별 장치.
  7. 곡립을 이송하는 이송부와,
    상기 이송부로 이송되는 곡립에 광을 조사하는 광원, 상기 광원으로부터 조사된 광의 상기 곡립으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 수광하는 수광 센서를 갖는 광학부와,
    상기 수광 센서의 수광량에 기초하여 상기 곡립의 품위를 판별하는 품위 판별부와,
    상기 수광 센서의 수광량을 보정하기 위한 기준판을 구비하는 곡립 품위 판별 장치로서,
    상기 기준판은, 상기 이송부와 상이한 위치에 배치 형성되고,
    상기 광학부는, 상기 광원이 상기 곡립에 광을 조사하고, 상기 수광 센서가 상기 곡립으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 수광하는 제 1 위치와, 상기 광원이 상기 기준판에 광을 조사하고, 상기 수광 센서가 상기 기준판으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 수광하는 제 2 위치 사이를 이동할 수 있도록 배치 형성되는 것을 특징으로 하는 곡립 품위 판별 장치.
  8. 제 7 항에 있어서,
    상기 이송부는, 곡립을 이송하는 회전 원반을 갖고,
    상기 기준판은, 상기 회전 원반과 상이한 위치에 배치 형성되는, 곡립 품위 판별 장치.
  9. 제 8 항에 있어서,
    상기 광학부는, 상기 회전 원반의 회전축과 평행한 축을 중심으로 회동 이동 가능하게 배치 형성되는, 곡립 품위 판별 장치.
  10. 제 7 항에 있어서,
    상기 광학부는, 상기 제 1 위치에 있어서의 상기 광원과 상기 곡립의 거리와, 상기 제 2 위치에 있어서의 상기 광원과 상기 기준판의 거리가 동등해지도록 배치 형성되는, 곡립 품위 판별 장치.
  11. 제 7 항에 있어서,
    상기 광학부는, 상기 제 1 위치에 있어서의 상기 수광 센서와 상기 곡립의 거리와, 상기 제 2 위치에 있어서의 상기 수광 센서와 상기 기준판의 거리가 동등해지도록 배치 형성되는, 곡립 품위 판별 장치.
  12. 제 7 항에 있어서,
    상기 수광 센서가 수광하는 상기 기준판으로부터의 반사광 및/또는 투과광의 수광량과 미리 설정되는 기준 광량에 기초하여, 상기 수광 센서의 수광량을 보정하는 보정 계수를 적색광·녹색광 및 청색광의 각각에 대해 구하는, 곡립 품위 판별 장치.
  13. 곡립에 광을 조사하는 광원, 상기 광원으로부터 조사된 광의 상기 곡립으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 수광하는 수광 센서를 갖는 광학부와,
    상기 수광 센서의 수광량에 기초하여 상기 곡립의 품위를 판별하는 품위 판별부와,
    상기 수광 센서의 수광량을 보정하기 위한 기준판을 구비하는 곡립 품위 판별 장치로서,
    상기 광원은, 상기 곡립의 표면측으로부터 광을 조사하는 표면측 광원 및/또는 상기 곡립의 이면측으로부터 광을 조사하는 이면측 광원으로 이루어지고,
    상기 기준판은, 상기 수광 센서가 상기 곡립의 측면으로부터 수광하는 반사광 및/또는 투과광의 수광량을 보정하기 위한 측면용 기준판을 포함하고,
    상기 측면용 기준판은, 상기 표면측 광원 및/또는 상기 이면측 광원으로부터 조사되는 광을 측방을 향하여 반사시키는 반사면을 갖는 것을 특징으로 하는 곡립 품위 판별 장치.
  14. 제 13 항에 있어서,
    상기 측면용 기준판의 반사면은, 조면에 의해 형성되는 광 확산면인, 곡립 품위 판별 장치.
  15. 제 13 항에 있어서,
    상기 측면용 기준판은, 상기 반사면에서 측방을 향하여 반사시키는 반사광으로서 당해 기준판을 투과하는 투과광을 확산시키는 색조를 갖는, 곡립 품위 판별 장치.
  16. 제 13 항에 있어서,
    상기 수광 센서가 수광하는 상기 기준판으로부터의 반사광 및/또는 투과광의 수광량과 미리 설정되는 기준 광량에 기초하여, 상기 수광 센서의 수광량을 보정하는 보정 계수를 적색광·녹색광 및 청색광의 각각에 대해 구하는, 곡립 품위 판별 장치.
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